Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Non-contact measurement of the dopant content of semiconductor layers

Non-contact measurement of the dopant content of semiconductor layers

Номер патента: EP2567217A1
Опубликовано: 13-03-2013
Автор(ы): E. Michael Heaven, Gordon Matthew Deans, Kenneth Cadien, Stephen Warren Blaine
Принадлежит: Aurora Control Technologies Inc

Реферат: A system and method of non-contact measurement of the dopant content of semiconductor material by reflecting infrared (IR) radiation off of the material and splitting the radiation into two beams, passing each beam through pass band filters of differing wavelength ranges, comparing the level of energy passed through each filter and calculating the dopant content by referencing a correlation curve made up of known wafer dopant content for that system.

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Non-contact measurement of the dopant content of semiconductor layers

Номер патента: EP2567217A4. Автор: Kenneth Cadien,Gordon Matthew Deans,E Michael Heaven,Stephen Warren Blaine. Владелец: Aurora Control Technologies Inc. Дата публикации: 2016-03-09.

System for measuring levels of radiation reflecting from semiconductor material for use in measuring the dopant content thereof

Номер патента: US20170248528A1. Автор: Stephen Warren Blaine. Владелец: Aurora Solar Technologies Canada Inc. Дата публикации: 2017-08-31.

System for measuring levels of radiation reflecting from semiconductor material for use in measuring the dopant content thereof

Номер патента: EP3186826A1. Автор: Stephen Warren Blaine. Владелец: Aurora Solar Technologies Canada Inc. Дата публикации: 2017-07-05.

Model based optical measurements of semiconductor structures with anisotropic dielectric permittivity

Номер патента: WO2018044572A1. Автор: Qiang Zhao,Zhengquan Tan,Andrei Shchegrov,Houssam Chouaib. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-08.

Simultaneous multi-bandwidth optical inspection of semiconductor devices

Номер патента: US12068207B2. Автор: Xiaomeng Chen,Chien-Huei Chen,Hung-Yi Chung,Shih-Chang Wang,Hsiu-Hui Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Non-contact measurement of a stress in a film on a substrate

Номер патента: US10964730B2. Автор: Wojciech Jan Walecki,Oanh Nguyen. Владелец: Applejack 199 LP. Дата публикации: 2021-03-30.

Method for non-destructive, non-contact measurement of dielectric constant of thin films

Номер патента: US5528153A. Автор: Wei-Yung Hsu,Kelly J. Taylor. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1996-06-18.

Method for forming thermal oxide film of semiconductor substrate

Номер патента: EP4160657A1. Автор: Tatsuo Abe,Tsuyoshi Ohtsuki. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Method and apparatus for performing heterodyne lock-in imaging and quantitative non-contact measurements of electrical properties

Номер патента: US9131170B2. Автор: Andreas Mandelis,Alexander Melnikov. Владелец: Alexander Melnikov. Дата публикации: 2015-09-08.

Systems and methods for non-destructive inspection of semiconductor devices using reflective x-ray microscope tomographic imaging

Номер патента: US20230417687A1. Автор: Shogo Tomita,Michiaki Sano,Tatsuya Hinoue. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Measurement of composition for thin films

Номер патента: US20130006539A1. Автор: XIANG Gao,Leonid Poslavsky,Qiang Zhao,Torsten R. Kaack,Ming Di. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2013-01-03.

Measurement of composition for thin films

Номер патента: WO2013003122A2. Автор: XIANG Gao,Leonid Poslavsky,Torsten Kaack,Qiang Zhao,Ming Di. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-03.

Measurement of composition for thin films

Номер патента: WO2013003122A3. Автор: XIANG Gao,Leonid Poslavsky,Torsten Kaack,Qiang Zhao,Ming Di. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-06.

Formation method of metallic electrode of semiconductor device and metallic electrode formation apparatus

Номер патента: US8263490B2. Автор: Yutaka Fukuda,Yuji Fukuda,Akira Tai,Kazuo Akamatsu,Manabu Tomisaka,Yoshiko Fukuda,Hidetoshi Katou,Mika Ootsuki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Formation method of metallic electrode of semiconductor device and metallic electrode formation apparatus

Номер патента: US20110207241A1. Автор: Yutaka Fukuda,Akira Tai,Kazuo Akamatsu,Manabu Tomisaka,Yoshiko Fukuda,Hidetoshi Katou. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF A STRESS IN A FILM ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20200152783A1. Автор: Nguyen Oanh,Walecki Wojciech Jan. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF A STRESS IN A FILM ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20180308971A1. Автор: Nguyen Oanh,Walecki Wojciech Jan. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-25.

Method and apparatus for non-contact measurement of forward voltage, saturation current density, ideality factor and i-v curves in p-n junctions

Номер патента: CN105637624A. Автор: V·N·法伊费尔,I·S·G·凯利-摩根. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Non-contact measurement of memory cell threshold voltage

Номер патента: US20190189237A1. Автор: Zengtao T. Liu,Hongmei Wang,Amitava Majumdar,Shawn D. Lyonsmith,Ervin T. Hill,Rajesh Kamana,Marlon W. Hug. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-06-20.

Method and device for measuring dimension of semiconductor structure

Номер патента: US20220229087A1. Автор: ZHENG Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Method and device for measuring dimension of semiconductor structure

Номер патента: US11656245B2. Автор: ZHENG Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-05-23.

Apparatus of inspecting resistive defects of semiconductor devices and inspecting method using the same

Номер патента: US20160084901A1. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Mi-Ra PARK,Sang-Kil Lee,Yong-Deok Jeong,Na-Kyoung LEE,Dae-Jin SUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-03-24.

Endoscopic non-contact measurement device

Номер патента: WO2019137946A1. Автор: Jacques Deviere,Alain Delchambre,Benjamin Mertens,Maxime Petre,Dimitri Leduc. Владелец: Universite Libre de Bruxelles. Дата публикации: 2019-07-18.

Endoscopic non-contact measurement device

Номер патента: CA3086089A1. Автор: Jacques Deviere,Alain Delchambre,Benjamin Mertens,Maxime Petre,Dimitri Leduc. Владелец: Universite Libre de Bruxelles ULB. Дата публикации: 2019-07-18.

Endoscopic non-contact measurement device

Номер патента: AU2019207675A1. Автор: Jacques Deviere,Alain Delchambre,Benjamin Mertens,Maxime Petre,Dimitri Leduc. Владелец: Universite Libre de Bruxelles ULB. Дата публикации: 2020-06-25.

Method of fabricating specimen for analyzing defects of semiconductor device

Номер патента: US5840205A. Автор: Doo-Jin Park,Jeong-Hoi Koo. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-11-24.

Magnetic field sensor arrangement and method for non-contact measurement of a magnetic field

Номер патента: DE102005060713B4. Автор: Dr. Abwa Sari,Josef Janisch,Manfred Brandl. Владелец: austriamicrosystems AG. Дата публикации: 2019-01-24.

Magnetic field sensor arrangement and method for non-contact measurement of a magnetic field

Номер патента: WO2007071383A3. Автор: Josef Janisch,Manfred Brandl,Sari Abwa. Владелец: Sari Abwa. Дата публикации: 2007-08-09.

Magnetic field sensor arrangement and method for non-contact measurement of a magnetic field

Номер патента: US7906961B2. Автор: Josef Janisch,Manfred Brandl,Sari Abwa. Владелец: Austria Mikro Systeme International GmbH. Дата публикации: 2011-03-15.

Manufacturing method and program of semiconductor device

Номер патента: US20180217203A1. Автор: Tomoaki Tamura,Yoshiyuki Nakamura,Kouichi KUMAKI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Manufacturing Method of Semiconductor Device

Номер патента: US20120077310A1. Автор: Hiromi Abe,Toshihiko Akiba,Masanao Sato,Bunji Yasumura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20180145001A1. Автор: Hiromi Abe,Toshihiko Akiba,Masanao Sato,Bunji Yasumura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-05-24.

Manufacturing Method of Semiconductor Device

Номер патента: US20160035636A1. Автор: Hiromi Abe,Toshihiko Akiba,Masanao Sato,Bunji Yasumura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-02-04.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US8415199B2. Автор: Hiromi Abe,Toshihiko Akiba,Masanao Sato,Bunji Yasumura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2013-04-09.

Method for evaluating electrical defect density of semiconductor layer, and semiconductor element

Номер патента: EP3675154A1. Автор: Hiroshi Iwai,Hitoshi Wakabayashi,Kazuo Tsutsui,Taiki Yamamoto,Kuniyuki Kakushima,Takuya HOSHII. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-01.

Method for evaluating electrical defect density of semiconductor layer, and semiconductor element

Номер патента: US20200225276A1. Автор: Hiroshi Iwai,Hitoshi Wakabayashi,Kazuo Tsutsui,Taiki Yamamoto,Kuniyuki Kakushima,Takuya HOSHII. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-16.

Method of measuring breakdown voltage of semiconductor element and method of manufacturing semiconductor element

Номер патента: US20160064292A1. Автор: Mitsuhiko Sakai,Susumu Yoshimoto. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Method and apparatus for non-destructive detection of defects in the interior of semiconductor material

Номер патента: US20110061465A1. Автор: Klaus Kraemer. Владелец: Institut fuer Akustomikroskopie Dr Kraemer GmbH. Дата публикации: 2011-03-17.

Yield rate prediction method, yield rate prediction system and model training device of semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20220076146A1. Автор: Shih-Fang Hong. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Semiconductor device and method for determining deterioration of semiconductor device

Номер патента: US20230369142A1. Автор: Takaaki Tanaka,Motohito Hori,Yoshinari Ikeda,Qichen Wang. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Method and apparatus for non-contact measurement of internal quantum efficiency in light emitting diode structures

Номер патента: WO2015038992A1. Автор: Vladimir N. Faifer. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-03-19.

Device for non-contact measurement of a layer thickness on an object to be measured

Номер патента: DE2167281C2. Автор: Matthias Twann Brunner,Peter Lyss Nopper,Bruno Orpund Zumbach. Владелец: Zumbach Electronic AG. Дата публикации: 1983-04-07.

Differential wavelength photoluminescence for non-contact measuring of contaminants and defects located below the surface of a wafer or other workpiece

Номер патента: TWI391645B. Автор: Buczkowski Andrzej,Walker Tom,Shachaf Amit,LAURENT Nicolas,Hummel Steve. Владелец: Nanometrics Inc. Дата публикации: 2013-04-01.

Differential wavelength photoluminescence for non-contact measuring of contaminants and defects located below the surface of a wafer or other workpiece

Номер патента: TW200706856A. Автор: NICOLAS Laurent,Steve Hummel,Andrzej Buczkowski,Tom Walker,Amit Shachaf. Владелец: Accent Optical Tech Inc. Дата публикации: 2007-02-16.

Non-contact measurement device for golf course green

Номер патента: WO2017217698A1. Автор: 오진우. Владелец: 오진우. Дата публикации: 2017-12-21.

Method for non-contact measurement of complex dielectric permeability of semiconducting liquids

Номер патента: RU2688825C1. Автор: Евгений Борисович Атутов,Юрий Лупонович Ломухин,Борис Вениаминович Басанов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Инстит физического материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук (ИФМ СО РАН). Дата публикации: 2019-05-22.

A system and method of non-contact measurement of one or more mechanical properties of a material

Номер патента: WO2023075694A2. Автор: LIN Ke,Lei Zhang. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-05-04.

A system and method of non-contact measurement of one or more mechanical properties of a material

Номер патента: WO2023075694A3. Автор: LIN Ke,Lei Zhang. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-07-06.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20160079102A1. Автор: Kazuhiro Murakami,Shinya Fukayama,Yukifumi Oyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Determining spacing of semiconductor dies using a spatially varying charge distribution

Номер патента: EP2764539A1. Автор: Ivan E. Sutherland. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2014-08-13.

Determining spacing of semiconductor dies using a spatially varying charge distribution

Номер патента: WO2013052502A1. Автор: Ivan E. Sutherland. Владелец: ORACLE INTERNATIONAL CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-11.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20190057913A1. Автор: Hiromi Abe,Toshihiko Akiba,Masanao Sato,Bunji Yasumura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same

Номер патента: US20060158211A1. Автор: Eun-Seok Lee,Sung-Ok Kim,Jeong-Ho Bang,Kyeong-Seon Shin,Dae-Gab Chi,Ae-Yong Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-07-20.

Automated fault isolation of flight control surfaces and damage detection of aircraft through non-contact measurement

Номер патента: US20190375520A1. Автор: Edward Parker,Stefan Alexander Schwindt. Владелец: GE Aviation Systems Ltd. Дата публикации: 2019-12-12.

Methods and systems for data driven parameterization and measurement of semiconductor structures

Номер патента: WO2023101917A3. Автор: Stilian Ivanov Pandev,Arvind Jayaraman,Proteek Chandan Roy,Hyowon Park,Sungchul Yoo,Antonio GELLINEAU. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-08-03.

Method and apparatus for measuring temperature of semiconductor layer

Номер патента: CA2837164C. Автор: YVES Lacroix. Владелец: YSystems Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and System for Wafer Level Testing of Semiconductor Chips

Номер патента: US20120013359A1. Автор: Zhaojun SHAO. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2012-01-19.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device corresponding to loop back test

Номер патента: US20070245179A1. Автор: Hiroshi Noda. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-10-18.

Fabrication method of semiconductor device and test method of semiconductor device

Номер патента: US20220301948A1. Автор: Atsushi Shoji,Soichi Yoshida. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-22.

Detecting defects of semiconductor manufacturing assemblies

Номер патента: WO2024107370A1. Автор: Chih-Yang Chang,Yao-Hung Yang,Shannon WANG. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-05-23.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240054276A1. Автор: Joongwon Jeon,Subin KIM,Jaehyun KANG,Junsu Jeon,Byungmoo KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor Arrangement and Method for the Measurement of a Resistance

Номер патента: US20090237105A1. Автор: Alexander Costa. Владелец: austriamicrosystems AG. Дата публикации: 2009-09-24.

Current application device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US20150194353A1. Автор: Hitoshi Saito,Koichiro Sato,Hiroyuki Yamagishi,Satoshi Hasegawa,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Machie Saitou,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-09.

Manufacturing method of semiconductor device and test socket for use in the same

Номер патента: US20240201223A1. Автор: Toshitsugu Ishii. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Semiconductor device and operating method of semiconductor device

Номер патента: US12034322B2. Автор: Takayuki Ikeda,Kei Takahashi,Yuki Okamoto,Takahiko Ishizu. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Apparatus for testing reliability of semiconductor sample

Номер патента: WO2006065073A1. Автор: Tae Hong Kim,Jong Jun You,Young Goo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2006-06-22.

Device for non-contact measurement of volume of a moving load having a complex geometrical shape

Номер патента: RU2734085C1. Автор: Александр Васильевич Кононов. Владелец: Александр Васильевич Кононов. Дата публикации: 2020-10-12.

Modular non-contact measurement device for quickly and accurately obtaining dimensional measurement data

Номер патента: US6858857B2. Автор: Alfred A. Pease,Tim Ewald. Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

A modular non-contact measurement device for quickly and accurately obtaining dimensional measurement data

Номер патента: EP1629304A2. Автор: Alfred A. Pease,Tim Ewald. Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2006-03-01.

Non-contact measurement method and apparatus

Номер патента: US3682554A. Автор: Lawrence F Flaczynski. Владелец: Reliance Electric Co. Дата публикации: 1972-08-08.

Device for non-contact measurement of the surface of a three dimensional object

Номер патента: US6055056A. Автор: Wolfgang Schreiber,Gunther Notni,Peter Kuehmstedt. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2000-04-25.

Non-contact measurement of surface profile

Номер патента: CA1164094A. Автор: Thomas M. Cipolla,Joseph L. Mundy,Gilbert B. Porter, Iii. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1984-03-20.

Method and system for automatic non-contact measurements of optical properties of optical objects

Номер патента: EP1061329A3. Автор: Peter A. Vokhmin. Владелец: Prolaser Ltd. Дата публикации: 2001-04-25.

Non-Contact Measurement of Material Remaining in Expendable Spools

Номер патента: US20210229947A1. Автор: David Alan Bultman,Rudy Padilla. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2021-07-29.

Three-dimensional non-contact measurement

Номер патента: GB2301183A. Автор: Piero Cerruti. Владелец: DEA Digital Electronic Automation SpA. Дата публикации: 1996-11-27.

Anti-two block device using non-contact measuring and detecting devices

Номер патента: CA2255234C. Автор: Dennis W. Eckstine,William W. Banks, Jr.,Jon E. Fleagle,Francis R. Eyler. Владелец: Grove US LLC. Дата публикации: 2006-03-28.

Photo-acoustic device and method for non-contact measurement of thin layers

Номер патента: US10436754B2. Автор: Andreas Bauer,Heinrich PRINZHORN,Ales Charvat,Bernd Abel,Thomas Wuttke,Stefan Erdmann. Владелец: Novelis Inc Canada. Дата публикации: 2019-10-08.

Apparatus and method for non-contact measuring momentum by using ir-uwb radar

Номер патента: US20220225916A1. Автор: Sung Ho Cho,Hyun Kyung Park,Won Hyuk Lee,Dae Hyeon Yim. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2022-07-21.

Non-contact measurement of flow parameters

Номер патента: RU2435523C2. Автор: Надер НАЗАРИФАР,Юрий М. ШКАРЛЕТ,Лоуренс Дж. ДРОСТ. Владелец: Алькон, Инк.. Дата публикации: 2011-12-10.

Multi-sensor synchronous non-contact measuring probe of an infrared thermometer

Номер патента: EP4368954A1. Автор: LIANG Cao. Владелец: Famidoc Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Multi-sensor synchronous non-contact measuring probe of infrared thermometer

Номер патента: US20230280213A1. Автор: LIANG Cao. Владелец: Famidoc Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Selection of regions of interest for measurement of misregistration and amelioration thereof

Номер патента: WO2020263461A1. Автор: Roie VOLKOVICH,Moran Zaberchik. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2020-12-30.

Non-contact measuring method and apparatus of Seebeck coefficient

Номер патента: KR101408681B1. Автор: 한승우,우창수,박현성. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2014-07-02.

Means and method for on-line determination of the aromatic naphthene and paraffin contents of charge oil

Номер патента: CA963835A. Автор: William D. White. Владелец: Texaco Development Corp. Дата публикации: 1975-03-04.

Turbine blade fatigue life analysis using non-contact measurement and dynamical response reconstruction techniques

Номер патента: WO2014055822A1. Автор: Jingdan Zhang,Shaohua Kevin Zhou,Nikolai R. Tevs,Nancy H. Ulerich,Xuefei GUAN,Nam Eung Kim. Владелец: Siemens Corporation. Дата публикации: 2014-04-10.

System and method for the measurement of the mineral and/or elemental content of ore

Номер патента: WO2024173979A1. Автор: Christopher Beal. Владелец: NextOre Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method and device for non-contact measurement of accuracy control of the dimensions of glass articles, in particular tubes

Номер патента: FR1465159A. Автор: . Владелец: STEINKOHLENBERGWERKE MATHIAS STINNES AG. Дата публикации: 1967-01-06.

System and method for non-invasive and non-contact measurement in early therapeutic intervention

Номер патента: US20180296154A1. Автор: Matthew J. Johnson,Janos Redei,Ethan C. GREEN. Владелец: I2DX Inc. Дата публикации: 2018-10-18.

Method and apparatus for non-contact measurement of object surfaces

Номер патента: US5251156A. Автор: Karl-Hermann Breyer,Helmut Heier,Klaus-Peter Koch. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1993-10-05.

Non-contacting measuring probe

Номер патента: US3692414A. Автор: Harry L Hosterman,Charles B Barnett,Clarence A Ripley Jr. Владелец: Individual. Дата публикации: 1972-09-19.

Precision non-contact measurement of core-to-ferrule offset vectors for fiber optic assemblies

Номер патента: US20240060851A1. Автор: David Andrew Pastel,Dragan Pikula,Sterling Michael Clarke,Michael Brian Webb,Elvis Alberto Zambrano,Richard Hagan,Stefan Wolfgang Kramel,David Matthew Berg,Christine Cecala. Владелец: Corning Research and Development Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Precision non-contact measurement of core-to-ferrule offset vectors for fiber optic assemblies

Номер патента: EP4341659A1. Автор: David Andrew Pastel,Dragan Pikula,Sterling Michael Clarke,Michael Brian Webb,Elvis Alberto Zambrano,Richard Hagan,Stefan Wolfgang Kramel,David Matthew Berg,Christine Cecala. Владелец: Corning Research and Development Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

Multiple axis multipoint non-contact measurement system

Номер патента: CA2536411C. Автор: Leonard Metcalfe,Terry Arden. Владелец: LMI Technologies Ltd. Дата публикации: 2014-01-14.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF MEMORY CELL THRESHOLD VOLTAGE

Номер патента: US20190189237A1. Автор: Lyonsmith Shawn D.,Liu Zengtao T.,Wang Hongmei,HILL Ervin T.,Majumdar Amitava,Kamana Rajesh,Hug Marlon W.. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-20.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF MEMORY CELL THRESHOLD VOLTAGE

Номер патента: US20190341122A1. Автор: Lyonsmith Shawn D.,Liu Zengtao T.,Wang Hongmei,HILL Ervin T.,Majumdar Amitava,Kamana Rajesh,Hug Marlon W.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-07.

Apparatus and method for non-contact measurement of surface chemistry

Номер патента: JP6309583B2. Автор: ポール ジー． ヴァイー，,ポール ジー． ヴァイー，,グレゴリー ジェー． ウェルナー，,グレゴリー ジェー． ウェルナー，,ポール エイチ． シェリー，,ポール エイチ． シェリー，. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-04-11.

Non-contact measurement of memory cell threshold voltage

Номер патента: US10672500B2. Автор: Zengtao T. Liu,Hongmei Wang,Amitava Majumdar,Shawn D. Lyonsmith,Ervin T. Hill,Rajesh Kamana,Marlon W. Hug. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2020-06-02.

Non-contact measuring device

Номер патента: US10982948B1. Автор: Ai-Ning Wang. Владелец: Triple Win Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Vehicle equipment with the scanning system for non-contact measurement

Номер патента: CN106461378B. Автор: 贾恩卡洛·托里,加布里埃莱·科拉因. Владелец: SAMBO CO Ltd. Дата публикации: 2019-10-25.

Systems and methods for making a non-contact measurement of insertion loss for an optical fiber connector

Номер патента: EP3770576A1. Автор: Dmitri Vladislavovich Kuksenkov,William James Miller,Nikolay Timofeyevich Timofeev,Jinxin Huang,William Allen Wood. Владелец: Corning Research and Development Corp. Дата публикации: 2021-01-27.

Method of materials electromagnetic parameters non-contact measurement

Номер патента: RU2610878C1. Автор: Борис Владимирович Скворцов,Сергей Анатольевич Борминский,Александра Валерьевна Солнцева. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2017-02-17.

Device for non-contact measurement of the object temperature

Номер патента: RU2622239C1. Автор: Борис Анатольевич Матвеев,Сергей Евгеньевич Александров,Геннадий Андреевич Гаврилов,Александр Анатольевич Капралов,Максим Анатольевич Ременный,Галина Юрьевна Сотникова. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ИоффеЛЕД". Дата публикации: 2017-06-13.

Non-contacting measurement of surface temperature

Номер патента: US4501504A. Автор: Laszlo Urmenyi,William R. Urmenyi. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-02-26.

Means and Apparatus for Rapid, Accurate, Non-Contacting Measurement of the Core Temperature of Animals and Humans

Номер патента: US20080194983A1. Автор: Michael R. Williams,James Derwin King,Laird W. Laurence,Jack C. Laurence,James C. Lyman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-14.

ENDOSCOPIC NON-CONTACT MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210068708A1. Автор: DEVIERE Jacques,DELCHAMBRE Alain,Mertens Benjamin,PETRE Maxime,LEDUC Dimitri. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

Non-contact measurement systems for wireline and coiled tubing

Номер патента: CA2735692A1. Автор: Kenneth R. Newman,Trevor K.C. Pugh,Patrick A. Kelleher. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2010-04-29.

Non-contact measurement systems for wireline and coiled tubing

Номер патента: EP2356612A4. Автор: Kenneth R Newman,Trevor K C Pugh,Patrick A Kelleher. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2014-07-02.

Non-contact measurement systems for wireline and coiled tubing

Номер патента: WO2010047964A1. Автор: Kenneth R. Newman,Trevor K.C. Pugh,Patrick A. Kelleher. Владелец: NATIONAL OILWELL VARCO L.P.. Дата публикации: 2010-04-29.

Endoscopic non-contact measurement device

Номер патента: EP3737285C0. Автор: Jacques Deviere,Alain Delchambre,Benjamin Mertens,Maxime Petre,Dimitri Leduc. Владелец: Universite Libre de Bruxelles ULB. Дата публикации: 2023-08-09.

Semiconductor structure and method of overlay measurement of semiconductor structure

Номер патента: US20240266234A1. Автор: Chan Hen YANG,Yun Chen WU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE REFRACTIVE INDEX OF A MATERIAL BY OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY, APPLICATION TO THE MEASUREMENT OF THE VOLUMIC MASS OF A POROUS MATERIAL.

Номер патента: FR2934901B1. Автор: Laurent Jeannot,Florent Sandras. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 2012-07-13.

Automated fault isolation of flight control surfaces and damage detection of aircraft through non-contact measurement

Номер патента: GB201809313D0. Автор: . Владелец: GE Aviation Systems Taleris Ltd. Дата публикации: 2018-07-25.

Semiconductor device having a crystallized island semiconductor layer

Номер патента: US5567967A. Автор: Naoto Kusumoto. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 1996-10-22.

Method of semiconductor manufacturing apparatus and non-transitory computer-readable storage medium storing a program of causing computer to execute design method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US10890899B2. Автор: Ryuichiro Mitani,Akihiko Ogawa,Mitsunori Sugiyama. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Design method of semiconductor manufacturing apparatus and non-transitory computer-readable storage medium storing a program of causing computer to execute design method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20190171193A1. Автор: Ryuichiro Mitani,Akihiko Ogawa,Mitsunori Sugiyama. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Apparatus, Systems And Methods For Integrative Photo-Optical/Mechanical Test For Noncontact Measurement Of Polymerization

Номер патента: US20240044867A1. Автор: Damir Khismatullin,Daishen Luo. Владелец: Tulane University. Дата публикации: 2024-02-08.

Apparatus, systems and methods for integrative photo-optical/mechanical test for noncontact measurement of polymerization

Номер патента: US11815506B2. Автор: Damir Khismatullin,Daishen Luo. Владелец: Tulane University. Дата публикации: 2023-11-14.

Apparatus, systems and methods for integrative photo-optical/mechanical test for noncontact measurement of polymerization

Номер патента: CA3051365C. Автор: Damir B. KHISMATULLIN,Daishen LOU. Владелец: Tulane University. Дата публикации: 2024-03-05.

Method and apparatus for non-contact measurement of internal quantum efficiency in light emitting diode structures

Номер патента: SG11201601952RA. Автор: Vladimir N Faifer. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-04-28.

System and method for non-contact measurement of optoelectronic properties of thin film

Номер патента: US20190086458A1. Автор: Jinsoo Kim,Sanghun Lee,Chulki Kim,Minah SEO,Q-Han PARK,Jongho CHOE. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2019-03-21.

Relay contact alignment non-contact measurement method based on machine vision

Номер патента: CN111624203A. Автор: 李文华,赵正元,解卫东,潘如政. Владелец: HEBEI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-09-04.

System for simultaneous non-contact measurement of element content and temperature of molten metal

Номер патента: CN105973872A. Автор: 曾强,王秋平,潘从元,王声波,费腾. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2016-09-28.

Method and Apparatus for Non-Contact Measurement of Internal Quantum Efficiency in Light Emitting Diode Structures

Номер патента: US20150077741A1. Автор: Faifer Vladimir N.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-19.

Sorption and fluorescent method of quantitative determination of content of polycyclic aromatic hydrocarbons in aqueuos solutions

Номер патента: RU2647475C1. Автор: Анна Борисовна Шиповская,Светлана Михайловна Рогачева,Анна Владимировна Страшко,Тамара Ивановна Губина,Елена Владимировна Волкова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2018-03-15.

A kind of aggregate gradation method for quickly identifying of non-contact measurement

Номер патента: CN110458119A. Автор: 陈强,李杨,李曙光,周磊,冯炜,张鹏鹏,汪洋,宋文龙,李明宇,刘中伟,李翔宇,贾金生,郑璀莹,赵春,杨会臣,岳建伟,李爱丽,程慧,张亚珍,雷添杰,吕娟,曲伟,张炬,王嘉宝,史婉丽,陈文晋,宋宏权,李世灿,慎利,宫阿都,万金红,娄和震,程子懿,路京选,黄锦涛,赵林洪,徐瑞瑞. Владелец: China Institute of Water Resources and Hydropower Research. Дата публикации: 2019-11-15.

Non-contact measurement method and device for mass of particles

Номер патента: JP2023125301A. Автор: Kenichi Ogawa,健一 小川,Osamu Matsuda,修 松田. Владелец: Kyushu University NUC. Дата публикации: 2023-09-07.

Method for reagentless measurement of the total organic carbon content of an aqueous sample

Номер патента: US5672516A. Автор: Eldon L. Jeffers. Владелец: Fellweger Analytics Inc. Дата публикации: 1997-09-30.

Asphaltene content of heavy oil

Номер патента: US10012074B2. Автор: Albert Ballard Andrews,Andrew E. Pomerantz,Zied Ben HAMAD,Youxiang Zuo,Oliver Clinton Mullins. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2018-07-03.

Method for inductive measurement of a dimension of an object

Номер патента: AU6035600A. Автор: Sten Linder. Владелец: ABB AB. Дата публикации: 2001-01-31.

CONTINUOUS AND NON-CONTACT MEASUREMENT DEVICE OF THE THICKNESS OF A THIN CONDUCTIVE LAYER ON AN INSULATING SUPPORT, OF THE FIBER OR TAPE TYPE, WHICH RUNS.

Номер патента: FR2674623B1. Автор: Boniort Jean-Yves,Roussy Georges. Владелец: Alcatel Fibres Optiques SA. Дата публикации: 1993-06-04.

Photo-acoustic device and method for non-contact measurement of thin layers

Номер патента: KR101940891B1. Автор: 안드레아스 바우어,하인리히 프린츠호른,스테판 에드만,토마스 붓케,베른트 아벨,엘리스 샤르뱃. Владелец: 노벨리스 인크.. Дата публикации: 2019-01-21.

Photo-acoustic device and method for non-contact measurement of thin layers

Номер патента: WO2015126784A1. Автор: Andreas Bauer,Heinrich PRINZHORN,Ales Charvat,Bernd Abel,Stefan ERDMAN,Thomas Wuttke. Владелец: Novelis Inc.. Дата публикации: 2015-08-27.

Photo-acoustic device and method for non-contact measurement of thin layers.

Номер патента: MX2016010701A. Автор: Bauer Andreas,PRINZHORN Heinrich,ABEL Bernd,WUTTKE THOMAS,CHARVAT ALES,ERDMAN Stefan. Владелец: Novelis Inc. Дата публикации: 2017-01-05.

Photo-acoustic device and method for non-contact measurement of thin layers

Номер патента: CA2939534A1. Автор: Andreas Bauer,Heinrich PRINZHORN,Ales Charvat,Bernd Abel,Thomas Wuttke,Stefan Erdmann. Владелец: Novelis Inc Canada. Дата публикации: 2015-08-27.

Photoacoustic device and method for non-contact measurement of thin layers

Номер патента: ES2928703T3. Автор: Andreas Bauer,Heinrich PRINZHORN,Ales Charvat,Bernd Abel,Thomas Wuttke,Stefan Erdmann. Владелец: Novelis Inc Canada. Дата публикации: 2022-11-22.

Method and device for adapting temperatures of semiconductor components

Номер патента: US20230228810A1. Автор: Michael Maercker,Jonathan WINKLER,Jan Homoth,Sebastian Strache,Karl Oberdieck,Manuel Riefer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2023-07-20.

ACOUSTIC MEASUREMENT DEVICE FOR LOCALIZED AND NON-CONTACT MEASUREMENT OF ELASTIC AND DISSIPATIVE NON-LINEARITIES AND VISCOELASTICITY

Номер патента: FR2932887B1. Автор: Guillaume Renaud,Marielle Defontaine,Samuel Calle,Jean Pierre Remenieras. Владелец: UNIVERSITE FRANCOIS RABELAIS DE TOURS. Дата публикации: 2016-02-05.

Method and device for non-contact measurement of the thickness of strip materials

Номер патента: FR67779E. Автор: . Владелец: EXATEST GES fur MESSTECHNIK M. Дата публикации: 1958-03-19.

Sensor for non-contact measurement of the characteristics of a very long linear product compared to its other dimensions, on a production machine or other.

Номер патента: FR2701119B1. Автор: Pierre Henry,Bernard Durand,Robert Enderlin. Владелец: Superba SAS. Дата публикации: 1995-03-17.

Device and method for non-contact measurement of the conductivity of a liquid in a flow channel

Номер патента: DE19823836C2. Автор: Peter Kaiser,Franz-Wilhelm Koerdt,Hans Georg Huelsmann. Владелец: FRESENIUS MEDICAL CARE DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2000-05-04.

VISCOSIMETER AND METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF VISCOSITY OF FLUID MASSES

Номер патента: FR2756924B1. Автор: Michel Daniel,Nelly Kernevez,Claude Parayre. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1999-01-08.

VISCOSIMETER AND METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF VISCOSITY OF FLUID MASSES

Номер патента: FR2756924A1. Автор: Michel Daniel,Nelly Kernevez,Claude Parayre. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1998-06-12.

Non-contact measurement apparatus for conductivity and permitivity change of non-conductor using rf signal

Номер патента: KR101885666B1. Автор: 이규영. Владелец: (주) 멀티패스. Дата публикации: 2018-08-06.

Non-contact measurement apparatus for conductivity and permittivity change of non-conductor using rf signal

Номер патента: KR102201202B1. Автор: 이규영. Владелец: (주) 멀티패스. Дата публикации: 2021-01-11.

Test method for non-contact measurement of wave velocity of rock in fidelity environment

Номер патента: ZA202100601B. Автор: Gao Feng,BAI YUN,Xie Jing,GAO Mingzhong,GAO Yanan. Владелец: Univ China Mining. Дата публикации: 2022-01-26.

PHOTO-ACOUSTIC DEVICE AND METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THIN LAYERS

Номер патента: US20180003679A1. Автор: Bauer Andreas,PRINZHORN Heinrich,ABEL Bernd,WUTTKE THOMAS,ERDMANN STEFAN,CHARVAT ALES. Владелец: Novelis Inc.. Дата публикации: 2018-01-04.

PHOTO-ACOUSTIC DEVICE AND METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THIN LAYERS

Номер патента: US20150233870A1. Автор: Bauer Andreas,PRINZHORN Heinrich,ABEL Bernd,WUTTKE THOMAS,ERDMANN STEFAN,CHARVAT ALES. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Method and device for non-contact measurement of high moisture contents in strip materials

Номер патента: FR1421757A. Автор: Heinz Mahlo. Владелец: . Дата публикации: 1965-12-17.

Non contact measuring system of tube using laser ultrasonics

Номер патента: KR100508782B1. Автор: 김현묵,장경영,정경일. Владелец: 학교법인 한양학원. Дата публикации: 2005-08-22.

Turbine blade fatigue life analysis using non-contact measurement and dynamical response reconstruction techniques

Номер патента: US10352794B2. Автор: Jingdan Zhang,Shaohua Kevin Zhou,Nikolai R. Tevs,Nancy H. Ulerich,Xuefei GUAN,Nam Eung Kim. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2019-07-16.

Method for determining the type of diet in calves regarding the content of vitamin c in it

Номер патента: RU2768157C1. Автор: Матвей Михайлович Орлов,Владимир Владимирович Зайцев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Самарский государственный аграрный университет». Дата публикации: 2022-03-23.

Device for Online Measurement of Shape and Particle Size Distribution of Crystals

Номер патента: AU2021101687A4. Автор: Yinglong WANG,Zhaoyou Zhu,Baoming Shan,Fangkun Zhang. Владелец: Univ Qingdao Science & Technology. Дата публикации: 2021-06-24.

Contactless sensor for measurement of contents of a reactor

Номер патента: WO2023192983A1. Автор: Geraint Owen. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2023-10-05.

The method of the high sugar fruit moisture content of the spouted freeze-drying intelligent measurement of microwave and texture

Номер патента: CN108519398A. Автор: 李琳琳,王玉川,张慜,范东翠. Владелец: JIANGNAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-09-11.

METHOD FOR DETERMINING THE CONTENT OF THE ELEMENTS AND / OR THE CONTENT OF MINERALS

Номер патента: EA200801354A1. Автор: Кристиан Вон Альфтхан,Кари Салохеймо. Владелец: Ототек Оюй. Дата публикации: 2008-12-30.

Real time determination of the alkane and carbon dioxide content of fuel gas comprises using an infrared absorption measuring system having measuring channels which acquire the infrared adsorption in different wavelength regions

Номер патента: DE10302487A1. Автор: Hanspeter Zinn,Klaus Doebbeling,Ken-Yves Haffner,Rolf Rueetschi. Владелец: Alstom Schweiz AG. Дата публикации: 2003-07-31.

Indirect measurement of interferon levels in vivo by determining content of Mx proteins

Номер патента: DE19748287A1. Автор: Peter Von Dr Med Wussow. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-01-07.

Semiconductor element and multiplexer including a plurality of semiconductor elements

Номер патента: US20230141173A1. Автор: Seunggeol NAM,Jinseong Heo,Hagyoul BAE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-05-11.

Semiconductor memory device and control method of semiconductor memory device

Номер патента: US20190267097A1. Автор: Tomoya Sanuki,Yusuke Higashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Measurement of stitching error using split targets

Номер патента: US12094100B2. Автор: YOEL Feler,Mark Ghinovker. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20210126115A1. Автор: Takahiro Iguchi,Junichi Koezuka,Yasutaka Nakazawa,Masami Jintyou. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-29.

Device for measuring the diameter of the wire

Номер патента: RU2757473C1. Автор: Александр Сергеевич Совлуков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2021-10-18.

Semiconductor memory device and control method of semiconductor memory device

Номер патента: US10424384B2. Автор: Tomoya Sanuki,Yusuke Higashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Semiconductor manufacturing apparatus and processing method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230170235A1. Автор: Hiromichi Fujii,Takashi KUNIEDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Semiconductor package including a plurality of semiconductor chips in a stacked structure

Номер патента: US20240258275A1. Автор: Minseok KANG,Sungwook Moon,Duhyoung AHN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for computer aided design of semiconductor integrated circuits

Номер патента: US20060288321A1. Автор: Akinori Shibayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-12-21.

Semiconductor package including a plurality of semiconductor chips in a stacked structure

Номер патента: EP4411813A1. Автор: Minseok KANG,Sungwook Moon,Duhyoung AHN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-07.

Semiconductor device having a plurality of semiconductor layers covering an emission layer

Номер патента: US12009309B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20170178897A1. Автор: Takuya Hagiwara. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-06-22.

Semiconductor device, driving method of semiconductor device, and electronic device

Номер патента: US20240298447A1. Автор: Hiromichi Godo,Hitoshi KUNITAKE,Kazuki Tsuda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Temperature control of semiconductor processing chambers

Номер патента: WO2014040038A2. Автор: Michael Nam,David Gunther,Jae Yeol Park,Kyle PETERSEN. Владелец: Semicat, Inc.. Дата публикации: 2014-03-13.

Thin film transistor comprising oxide semiconductor layer and silicon semiconductor layer and display apparatus comprising the same

Номер патента: US11495692B2. Автор: Pilsang YUN,Jiyong NOH,Intak Cho,Jaeman JANG. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Display panel and display device with reduced charge accumulation in semiconductor layer

Номер патента: US11699373B2. Автор: Yaolin Wang,Rui Ding,Zhiyong XIONG. Владелец: Wuhan Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-11.

Organic light-emitting diode (OLED) display having a semiconductor layer including a third portion extending in a third direction joining a first and second portions that extending in different directions

Номер патента: US12069897B2. Автор: Wang Woo LEE,Jung Hwa KIM,Moo Soon KO,Min Woo Woo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Method of decomposing layout of semiconductor device for quadruple patterning technology process and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20160070848A1. Автор: Dong-Gyun Kim,Ji-Young JUNG,Dae-Kwon Kang,Jae-Seok Yang,Sung-Wook Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-03-10.

Display device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20180308916A1. Автор: Sun Ho Kim,Sun Hee Lee,Young Gug Seol,Ju Chan Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-25.

Production process standardization system of semiconductor device and method of same and storage medium storing that method

Номер патента: EP1187045A3. Автор: Nakamura Tadahiko,Kadowaki Tomohiko. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2006-05-03.

Semiconductor device, semiconductor memory device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230307010A1. Автор: Yoshiyuki Takasu,Fumiharu Nakajima. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Fabrication system of semiconductor device and method of fabricating a semiconductor device using the same

Номер патента: US20200348599A1. Автор: Jinhong Park,Seungmin Lee,Suntaek LIM,Jinseok Heo,Keunhee Bai. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-11-05.

A method and a device for inductive measurement of measures and positions of objects of electrically conductive material

Номер патента: WO1997014013A1. Автор: Sten Linder. Владелец: Asea Brown Boveri AB. Дата публикации: 1997-04-17.

Method for remote measurement of ice thickness, method for remote measurement of ice strength, device for remote measurement of ice thickness, device for remote measurement of ice strength and remote measuring module

Номер патента: RU2712969C2. Автор: Такатоши МАТСУЗАВА,Казутака ТАТЕЙАМА. Владелец: Нэйшнл Юниверсити Корпорэйшн Китами Инститют Оф Текнолоджи. Дата публикации: 2020-02-03.

System for calculating the parameters of the geometric position of wheels and frames of multi-axle vehicles according to the data of three-dimensional scanning of the surfaces of the wheels and the frame (options)

Номер патента: RU2757970C1. Автор: Алексей Владимирович Самсонов,Илия Ангелов Илиев,Михаил Викторович Жихарев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью «Технокар». Дата публикации: 2021-10-25.

Apparatus and method for dynamic measurement of surface roughness

Номер патента: WO1996027776A1. Автор: James Glenn Valiant,David George Goebel. Владелец: Optical Dimensions, L.L.C.. Дата публикации: 1996-09-12.

Multiple axis multipoint non-contact measurement system

Номер патента: US20070210240A1. Автор: Leonard Metcalfe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-13.

Non-contact measurement system for the dimensional measurement of a workpiece has an arrangement of digital cameras or similar that can accurately determine the position of the dimension sensor

Номер патента: FR2783318A1. Автор: Laurent Rouard. Владелец: Laurent Rouard. Дата публикации: 2000-03-17.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE LENGTH OF A MOVING OBJECT AND MEASURING DEVICE FOR CARRYING OUT THE METHOD.

Номер патента: ATE43714T1. Автор: Robert Prof Dr Massen. Владелец: Massen Robert. Дата публикации: 1989-06-15.

Assembly comprising a wall and a system for non-contact measurement of a deformation of the wall, and associated measurement method

Номер патента: FR3111422B1. Автор: Stephane Gaillot,Gilles Gobillot. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2023-01-20.

Measuring system employing a measuring method based on the triangulation principle for the non-contact measurement of a distance from the surface of a contoured object to a reference level. _

Номер патента: US4701049A. Автор: Leo H. J. F. Beckman,Gysbert L. Oomea. Владелец: Optische Industrie de Oude Delft NV. Дата публикации: 1987-10-20.

METHOD FOR THE AUTOMATIC NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE HEIGHT OF VANE OF MOVING TURBINES

Номер патента: FR2287677A1. Автор: . Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1976-05-07.

DEVICE FOR THE NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE LENGTH OF SHAPED BODIES IN MOVEMENT, PARTICULARLY OF INCANDESCENT SEMI-PROCESSED

Номер патента: IT7868279D0. Автор: . Владелец: Nukem GmbH. Дата публикации: 1978-06-02.

Measuring system employing a measuring method based on the triangulation principle for the non-contact measurement of a distance from the surface of a contoured object to a reference level

Номер патента: IL72183A. Автор: . Владелец: Optische Ind De Oude Delft Nv. Дата публикации: 1988-12-30.

Method and device for the continuous non-contact measurement of the length of an integral moving body

Номер патента: DE3502406A1. Автор: Erfinder Wird Nachtraeglich Benannt Der. Владелец: Peter & Steinwender Tech Gerae. Дата публикации: 1986-07-24.

Method and apparatus for non-contact measurement of the shape of an object

Номер патента: KR19980081410A. Автор: 가비 호로비치. Владелец: 넥스텍 리미티드. Дата публикации: 1998-11-25.

Method for non-contact measurement of cross-sectional area of non-conducting bundles of microplastic fibers of polymer materials

Номер патента: RU2672190C2. Автор: Алексей Сергеевич Мигачев,Михаил Николаевич Ларин,Владимир Иванович Степыгин,Ренат Романович Андрюхин,Константин Васильевич Баранов,Владислав Игоревич Родионов,Дмитрий Александрович Ломакин,Павел Андреевич Симченко. Владелец: МИНИСТЕРСТВО ОБОРОНЫ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ КАЗЁННОЕ ВОЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ Военная академия ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого. Дата публикации: 2018-11-12.

Method and device for non-contact measurement of the alignment of motor vehicle wheels

Номер патента: EP1887317A1. Автор: Fabio Boni,Monica Carfagni,Rocco Furferi,Lapo Governi. Владелец: FASEP 2000 Srl. Дата публикации: 2008-02-13.

Method and device for non-contact measurement of the alignment of motor vehicle wheels

Номер патента: US7774946B2. Автор: Fabio Boni,Monica Carfagni,Rocco Furferi,Lapo Governi. Владелец: FASEP 2000 Srl. Дата публикации: 2010-08-17.

DEVICE FOR AUTOMATIC AND NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE VOLUME OF A LAYER DEPOSITED ON A SUBSTRATE

Номер патента: FR2537716A1. Автор: . Владелец: Carreras Michelle. Дата публикации: 1984-06-15.

OPTICAL MEASUREMENT METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THICKNESS OF TRANSLUCENT MATERIALS, AND ASSOCIATED DEVICE

Номер патента: FR2803027B1. Автор: Philippe Nerin. Владелец: Nanotec Solution SAS. Дата публикации: 2003-03-21.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE POSITION OF A FIRST PART IN RELATION TO A SECOND PART

Номер патента: FR2621114B1. Автор: Hugues Chollet,Jean-Louis Maupu. Владелец: INST NAL RECH TRANSPORTS. Дата публикации: 1991-05-17.

Assembly comprising a wall and a non-contact measurement system of a deformation of the wall, and associated measurement method

Номер патента: FR3111422A1. Автор: Stephane Gaillot,Gilles Gobillot. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-12-17.

METHOD AND APPARATUS FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF SURFACE COATINGS

Номер патента: FR2526937B1. Автор: Daniel Garcia. Владелец: GERZAT METALLURG. Дата публикации: 1986-01-03.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE CURVATURE OF AN OPHTHALMIC OBJECT

Номер патента: FR2879736B1. Автор: Xavier Levecq,Sylvain Chene. Владелец: Essilor International Compagnie Generale dOptique SA. Дата публикации: 2007-02-02.

Method and device for non-contact measurement of the thickness of metallic objects

Номер патента: DE2144472B2. Автор: Jurij Georgiewitsch Bulgakow,Nikolaj Parfir'ewitsch Bystrjakow,Wladimir Iwanowitsch Chomenko,Eduard Stepanowitsch Karmas',Fedor Isaakowitsch Kolomojzew,Wladimir Egorowitsch Igren'dnepropetrowskoj Oblasti Ljaptschenko,Wasilij Pawlowitsch Prudkij,Ewgenij Matweewitsch Sneschko. Владелец: GOSUDARSTWENNIJ UNIWERSITET IMENI 300 LETIJA WOSSOJEDINENIJA UKRAINIJ S ROSSIEJ DNEPROPETROWSK (SOWJETUNION). Дата публикации: 1974-01-10.

Improvements to devices for continuous non-contact measurement of the cross section of a body

Номер патента: FR1529875A. Автор: . Владелец: Compagnie dEtudes et de Realisation de Cybernetique Industrielle CERCI. Дата публикации: 1968-06-21.

A METHOD OF NON-CONTACT MEASURING OF OUTER DIMENSIONS OF CROSS SECTIONS OF METALLURGICAL ROD MATERIAL AND A MODULAR FRAME FOR PERFORMING THEREOF

Номер патента: US20150300810A1. Автор: FOJTÍK David,CERNAVA Petr. Владелец: VYSOKÁ SKOLA BÁÑSKÁ- TECHNICKÁ UNIVERZITA OSTRAVA. Дата публикации: 2015-10-22.

Method of non-contact measurement of deformation of blades of turbomachine

Номер патента: SU1649259A1. Автор: Камиль Музагитович Валитов,Владимир Викторович Патосин,Владимир Ильич Зиновьев,Владимир Станиславович Фетисов,Виталий Николаевич Шестаков. Владелец: Уфимский авиационный институт им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1991-05-15.

Multi-shaft interlocked vision, laser combined type non-contact measurement device for measuring and measuring method

Номер патента: CN107289876A. Автор: 张耀,黄文广. Владелец: Zhejiang Institute of Mechanical and Electrical Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Non-contact measurement method, measurement equipment and measurement system thereof

Номер патента: CN105387847A. Автор: 周彬. Владелец: 周彬. Дата публикации: 2016-03-09.

A method of non-contact measuring of outer dimensions of cross sections of metallurgical rod material and a modular frame for performing thereof

Номер патента: CA2889281A1. Автор: David Fojtik,Petr Cernava. Владелец: Vysoka Skola Banska Technicka Univerzita Ostrava. Дата публикации: 2015-04-02.

Non-contact measurement device for quickly and accurately obtaining dimensional measurement data

Номер патента: US6593587B2. Автор: Alfred A. Pease. Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2003-07-15.

Device and method for non-contact measurement of edge covering thickness of optical crystal

Номер патента: CN111795649B. Автор: 汪丹,王亚楠,李密,周唐建,尚建力,高清松,王君涛,邬映臣. Владелец: Institute of Applied Electronics of CAEP. Дата публикации: 2021-08-10.

Method for non-contact measurement of position or geometry of large components or assemblies or to position manipulation units or tool machines; involves using moving and fixed laser distance sensors

Номер патента: DE19945717A1. Автор: . Владелец: LEHMANN MASCHB GmbH. Дата публикации: 2001-04-26.

Non-contact measurement device for accurate angle measurement in vertical and horizontal directions

Номер патента: JP2004513374A. Автор: アルフレッド・エイ・ピース. Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2004-04-30.

Non-contact measuring device for the thickness of a contact wire of a catenary

Номер патента: FR3091919A1. Автор: Benoit Gasselin,Anthony Leguel. Владелец: 4NRJ SARL. Дата публикации: 2020-07-24.

MODULAR NON-CONTACT MEASUREMENT DEVICE AND CORRESPONDING MEASUREMENT AND CONTROL SYSTEM

Номер патента: FR3035207A1. Автор: Neel Didier Le,Gwenael Samson. Владелец: Mesure-Systems3d. Дата публикации: 2016-10-21.

PHOTOGRAPHIC DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT AND 3D REPRESENTATION OF THE CUTANEOUS MICRO RELIEF

Номер патента: FR2821152B3. Автор: Hertsel Adhoute. Владелец: Hertsel Adhoute. Дата публикации: 2003-03-14.

Non-contact measurement device for quickly and accurately obtaining dimensional measurement data

Номер патента: US20030209678A1. Автор: Alfred Pease. Владелец: Pease Alfred A.. Дата публикации: 2003-11-13.

METHOD AND APPARATUS FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF A SOLIDIFIED SHELL OF A CAST-METALLIC PIECE

Номер патента: FR2548351A1. Автор: Seigo Ando,Nobuyasu Sugaya. Владелец: Nippon Kokan Ltd. Дата публикации: 1985-01-04.

NON-CONTACT MEASURING DEVICE OF THE DIAMETER OF A SUBSTANTIALLY CYLINDRICAL OBJECT, FOR EXAMPLE AN OPTICAL FIBER.

Номер патента: FR2679646B1. Автор: Philippe Grosso. Владелец: France Telecom SA. Дата публикации: 1995-03-10.

Non-contact measuring method of curvature of ophthalmic supplies and measuring device implementing the method

Номер патента: JP4974117B2. Автор: ザビエ ルベック，,シルバン シェーネ，. Владелец: エシロール アンテルナシオナル （コンパニー ジェネラル ドプティック）. Дата публикации: 2012-07-11.

Device and method for non-contact measurement of internal coatings of cast iron pipes.

Номер патента: FR2707109B1. Автор: RENARD Christophe,Muller Jean-Marie,Rowdo Claude. Владелец: Pont a Mousson SA. Дата публикации: 1995-09-01.

Non-contact measurement device for accurately determining angular measurements in relation to plumb and level

Номер патента: CA2428373A1. Автор: Alfred A. Pease. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-16.

ANALYSIS METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF LOCAL CURVES OF AN OPHTHALMIC OBJECT

Номер патента: FR2913493B1. Автор: Sylvain Chene. Владелец: Essilor International Compagnie Generale dOptique SA. Дата публикации: 2009-04-17.

A kind of method of the roads non-contact measurement railway Qi Ba tamping car tamping unit displacement

Номер патента: CN108759684A. Автор: 马世宏. Владелец: Changsha Hanpeng Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-06.

Non-contact measurement device for radius of curvature and thickness of lens and measurement method thereof

Номер патента: US10260988B2. Автор: Po-Jui Chen,Chun-Cheng Chen,Ming-Fu Chen,Chi-Hung Huang,Wei-Yao Hsu,Wei-Jei Peng,Zong-Ru YU,Jung-Hsin Wang,Cheng-Fang HO,Hua-Lin Chen,Yi-Hao Lin. Владелец: NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 2019-04-16.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF LINEAR DISTANCES AND IN PARTICULAR OF DIAMETERS

Номер патента: FR2408815A1. Автор: . Владелец: Spindler & Hoyer KG. Дата публикации: 1979-06-08.

Close the non-contact measurement method as measurement Fine and Deep Hole class aperture

Номер патента: CN106767469B. Автор: 刘斌,罗梅. Владелец: SICHUAN LINGFENG AERO HYDRAULIC MACHINERY Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-29.

Non-contact measurement of camber and track of vehicle wheels - with auxiliary point reflected on wheel and detected by T.V. recorder

Номер патента: DE2353965A1. Автор: Alfred Dr Ing Schief. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 1975-05-07.

Three-dimensional non-contact measuring device and method of measurement herewith

Номер патента: DE19618283B4. Автор: Piero Cerruti. Владелец: Hexagon Metrology SpA. Дата публикации: 2008-11-06.

Method of non-contact measurement of angular object orientation

Номер патента: RU2667343C1. Автор: Иван Степанович Омельчук,Алексей Александрович Косогор,Юрий Владимирович Вахтин,Алексей Олегович Семилеткин,Андрей Владимирович Цицилин. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2018-09-18.

A modular non-contact measurement device for quickly and accurately obtaining dimensional measurement data

Номер патента: WO2004099818A3. Автор: Tim Ewald,Alfred A Pease. Владелец: Alfred A Pease. Дата публикации: 2005-01-20.

Method for non-contact measurement of displacement of live conductor from geometrical centre of cable core

Номер патента: RU2722167C1. Автор: Сергей Викторович Тюрин. Владелец: Казанцев Игорь Дмитриевич. Дата публикации: 2020-05-27.

Method for non-contact measurement of surface shape of large-aperture optical element based on laser tracker

Номер патента: CN111023971B. Автор: 李�杰,陈林,杨杰. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2021-06-01.

Non-contact measurement system for optical imaging quality of the eye

Номер патента: JP4782359B2. Автор: ヘルムス トーマス,タン リエン・チョン. Владелец: カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング. Дата публикации: 2011-09-28.

METHOD AND DEVICE FOR THE NON-CONTACT MEASUREMENT OF LENGTH AND SPEED OF A MOVING TIRE MATERIAL.

Номер патента: NL7704009A. Автор: . Владелец: Saint Gobain. Дата публикации: 1977-10-18.

Method for non-contact measurement of height of powder elements in a sleeve

Номер патента: RU2743336C1. Автор: Евгений Михайлович Устинов,Андрей Алексеевич Маруженко,Сергей Николаевич Курков,Юрий Борисович Шпагин,Дмитрий Сергеевич Курков,Олег Владимирович Духанов. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ МАТЕРИАЛЬНО-ТЕХНИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ имени генерала армии А.В. Хрулева". Дата публикации: 2021-02-17.

Method for carrying out the non-contact measurement of geometries of objects

Номер патента: EP1299691B1. Автор: Ralf Christoph. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2004-12-08.

Method for non-contact measurement of geometric properties of objects and devices for this method

Номер патента: CZ2020107A3. Автор: Rudolf Rusnák,Ján Kacmárik,Rusnák Rudolf Ing., Ph.D.,Ján Ing. Kačmárik. Владелец: TRIFID AUTOMATION s.r.o.. Дата публикации: 2021-09-15.

Non-contact measurement for interface gaps

Номер патента: US11920915B2. Автор: Farahnaz Sisco,Jeffrey Martin Devlin,Nathan Christopher McRae. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-03-05.

SYSTEM AND METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF 3D GEOMETRY

Номер патента: US20150103358A1. Автор: Flascher Ittai. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

Non-Contact Measurement of Material Remaining in Expendable Spools

Номер патента: US20210229947A1. Автор: David Alan Bultman,Rudy Padilla. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2021-07-29.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF A STRESS IN A FILM ON SUBSTRATE

Номер патента: US20190353475A1. Автор: HUNG WEI-CHUN,WALECKI Wojciech J.,Morency Raphael. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Capacitive sensor and method for non-contact measurement of gaps and dielectric media

Номер патента: JP4713205B2. Автор: ジャック・イー・ハワード,オリバー・エイチ・リーダー,ブライアン・バーケット・ボウルズ,ポール・オースティン・リンゼイ. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2011-06-29.

INTEGRATED OPTICAL DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF ALTITUDES AND THICKNESSES

Номер патента: FR3006758A1. Автор: David Reolon,David Marsaut. Владелец: Asentys Sas. Дата публикации: 2014-12-12.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF A DIMENSION

Номер патента: FR2479447A1. Автор: Urs Peter Studer. Владелец: Zumbach Electronic AG. Дата публикации: 1981-10-02.

OPTO-ELECTRONIC DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF OBJECT DIMENSIONS

Номер патента: FR2615612B3. Автор: Veselin Kanev. Владелец: Artos Italia SpA. Дата публикации: 1989-07-07.

OPTO-ELECTRONIC DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF OBJECT DIMENSIONS

Номер патента: FR2615612A3. Автор: Veselin Kanev. Владелец: Artos Italia SpA. Дата публикации: 1988-11-25.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF A DIMENSION

Номер патента: FR2479447B1. Автор: Urs Peter Studer. Владелец: Zumbach Electronic AG. Дата публикации: 1986-06-27.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF LINEAR DISTANCES AND IN PARTICULAR DIAMETERS

Номер патента: FR2408815B1. Автор: . Владелец: Spindler & Hoyer KG. Дата публикации: 1985-06-21.

Method and device for non-contact measurement of fixed-point three-dimensional relative position coordinates

Номер патента: CN108680105B. Автор: 杨强,孙昊,钟晨,邱豪,丁宏军,司洪轩. Владелец: Shenyang Fire Research Institute of Ministry of Public Security. Дата публикации: 2020-09-11.

Non-contact measurement of filter rod recess depth

Номер патента: GB2205727A. Автор: San De Silva,Peter Webster. Владелец: Celanese Canada Inc. Дата публикации: 1988-12-21.

Method and device for non-contact measurement of three-dimensional surface contours

Номер патента: DE102017220720A1. Автор: Richard Kowarschik,Eugene Wong,Stefan HEIST,Christian Bräuer-Burchardt. Владелец: Friedrich Schiller Universtaet Jena FSU. Дата публикации: 2019-05-23.

Method and device for non-contact measurement of wall thickness

Номер патента: DE19818190B4. Автор: Carsten Tuch,Peter Dr. Herrmann,Bernd Dr. Kießling. Владелец: Vma Gesellschaft fur Visuelle Messtechnik und Automatisierung Mbh. Дата публикации: 2004-02-19.

System and method for non-contact measurement of 3d geometry

Номер патента: EP2823252A1. Автор: Ittai FLASCHER. Владелец: Galil Soft Ltd. Дата публикации: 2015-01-14.

Method for the non-contact measurement of seam width and seam center

Номер патента: DE2129531A1. Автор: Werner Schulze. Владелец: Zentralinstitut fuer Schweisstechnik der DDR. Дата публикации: 1972-03-02.

Non-contact measurement of a stress in a film on substrate

Номер патента: US11105611B2. Автор: Wei-Chun HUNG,Wojciech J Walecki,Raphael Morency. Владелец: Applejack 199 LP. Дата публикации: 2021-08-31.

Method and device for non-contact measuring of surface contours

Номер патента: WO2015022384A1. Автор: Gunther Notni,Peter KÜHMSTEDT,Stefan HEIST. Владелец: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.. Дата публикации: 2015-02-19.

Method for non-contact measurement of three-dimensional objects using a shadow from a thin rod or thread

Номер патента: RU2706806C2. Автор: Яков Борисович Ландо. Владелец: Яков Борисович Ландо. Дата публикации: 2019-11-21.

Method and device for non-contact measuring of surface contours

Номер патента: EP3033588B1. Автор: Gunther Notni,Peter KÜHMSTEDT,Stefan HEIST. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2017-04-05.

Apparatus and method for non-contact measurement of at least one curved surface

Номер патента: DE102006017400B4. Автор: Christoph Dietz,Matthias Kunkel,Berthold Dr. Michelt. Владелец: PRECITEC OPTRONIK GMBH. Дата публикации: 2010-01-07.

Method for non-contact measurement of current-carrying wire deviation relative to cable core geometric center

Номер патента: CN113811739A. Автор: 李宏达,谢尔盖·秋林. Владелец: Shenyang Aviaoer Measurement And Control Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-12-17.

Process for the non-contact measurement of seam width and seam center as well as for controlling the welding parameters and for tracking the welding head

Номер патента: CH536678A. Автор: Schulze Werner. Владелец: ZENTRALINSTITUT SCHWEISS. Дата публикации: 1973-05-15.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THREE-DIMENSIONAL OBJECTS WITH TWO LAYERS BY OPTICAL OMBROSCOPY WITH A SINGLE VIEW

Номер патента: FR2905170B1. Автор: Laurent Jeannot,Jean Paul Gauthier,Alexandre Choux,Eric Busvelle. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 2009-02-27.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING SURFACES

Номер патента: US20140071263A1. Автор: LAGUARTA BERTRAN Ferran,Artigas Pursals Roger,Cadevall Artigues Cristina,Pintó Vila Agustí. Владелец: UNIVERSITAT POLITÈCNICA DE CATALUNYA. Дата публикации: 2014-03-13.

Non-contact measurement device

Номер патента: US20140192187A1. Автор: Clark H. Briggs,Frederick John York,Paul C. Atwell. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2014-07-10.

Imaging device and method for three-dimensional non-contact measurement

Номер патента: DE19618283A1. Автор: Piero Cerruti. Владелец: DEA Brown and Sharpe SpA. Дата публикации: 1996-11-21.

Non-contact measurement device

Номер патента: JP2003527590A. Автор: アルフレッド・エイ・ピース. Владелец: PERCEPTRON, INCORPORATED. Дата публикации: 2003-09-16.

Non-contact measurement method and apparatus

Номер патента: US7327857B2. Автор: Van-Duc Nguyen,Victor Nzomigni,Thomas Watkins Lloyd, Jr.,Joseph Benjamin Ross,Glen William Brooksby,John Lewis Schneiter,Steven Jeffrey Gordon,Faycal Benayad-Cherif,Donald Hamilton. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2008-02-05.

Method and device for non-contact measuring surfaces

Номер патента: KR101838329B1. Автор: 페란 라구아르타 베르트란,아구스티 핀토 빌라,로저 아르티가스 퍼살스,크리스티나 카데발 아르티구에스. Владелец: 유니베르시타트 폴리테크니카 데 카탈루냐. Дата публикации: 2018-03-13.

NON-CONTACT MEASUREMENT DEVICE FOR CHANGES IN THE POSITION OF A CONTINUOUS TABLE OF MATERIAL

Номер патента: FR2746705B1. Автор: Said Saab. Владелец: Heidelberg Harris SA. Дата публикации: 1998-06-19.

NON-CONTACT MEASURING APPARATUS FOR SMALL MOVEMENTS

Номер патента: FR2491205A1. Автор: . Владелец: Ogasawara Hiromi. Дата публикации: 1982-04-02.

Third rail dynamic point laser and line laser combined non-contact measuring method

Номер патента: CN110966941A. Автор: 王瑞涛,林凤涛,史振帅. Владелец: East China Jiaotong University. Дата публикации: 2020-04-07.

Plane scratch length non-contact measurement method based on machine vision

Номер патента: CN109489591A. Автор: 张志辉,刘思远,张云辉,梁云虹,于征磊,邵天池. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2019-03-19.

Method for non-contact measurement

Номер патента: DE102006005874C5. Автор: Hans-Günter Vosseler. Владелец: Carl Zeiss Automated Inspection GmbH. Дата публикации: 2017-05-18.

Method and device for non-contact measuring surfaces

Номер патента: CN103547883A. Автор: F·拉古尔塔·伯特兰,A·皮恩托·维拉,R·阿蒂加斯·珀萨尔斯,C·卡德瓦尔·阿蒂古埃斯. Владелец: Universitat Politecnica de Catalunya UPC. Дата публикации: 2014-01-29.

Systems and methods for non-contact measuring sputtering target thickness using ultrasonics

Номер патента: KR20060004956A. Автор: 알렉산더 레이보비크. Владелец: 토소우 에스엠디, 인크. Дата публикации: 2006-01-16.

Method to determine circumference or radius of cylindrical body; involves using optical triangulation, non-contact measurement procedure and mathematical algorithm

Номер патента: DE19854834A1. Автор: Martin Sternberg,Arno Stracke,Jochen Verrieth. Владелец: Martin Sternberg. Дата публикации: 2000-05-31.

Non-contact measuring method for displacement of rotary motion object

Номер патента: CN114252015A. Автор: 吴光强,张逸,毛礼波,赵国强. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-03-29.

Non-contact measurement apparatus and method

Номер патента: EP2183544B1. Автор: Nicholas John Weston,Yvonne Ruth Huddart,Andrew John Moore. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2015-07-15.

Non-contact measurement system and method

Номер патента: JP4619677B2. Автор: ピーター・ヘンリー・トゥ,ラグー・コック,グレン・ウィリアム・ブルックスビー. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2011-01-26.

Non-contact measuring method for step difference and device therefor

Номер патента: EP0545519A3. Автор: Hiroshi Matsuoka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1993-10-06.

Non-contact measuring method of linear position of object

Номер патента: KR880012982A. Автор: 로버트 모리슨 브루스,스튜어트 헨리 레이크 존. Владелец: 존 라이사트(오스트레일리아)리미티드. Дата публикации: 1988-11-29.

Plane scratch length non-contact measuring method based on machine vision

Номер патента: CN109489591B. Автор: 张志辉,刘思远,张云辉,梁云虹,于征磊,邵天池. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2020-09-25.

High-precision non-contact measurement method and device for three-dimensional profile of optical freeform curved surface

Номер патента: CN102305601B. Автор: 张宏伟,刘书桂,李绍辉. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-10-10.

Hub bearing spinning surface height array eddy current non-contact measuring probe

Номер патента: CN114646255A. Автор: 李二龙,柯瑞,陈奕铭,袁子岚,袁逸文. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2022-06-21.

Device and method for non-contact measurement on a workpiece

Номер патента: DE3411342C2. Автор: Gunther Dr.-Phys. ETH Stein am Rhein Wulff. Владелец: SCHWEIZERISCHE ALUMINIUM AG CHIPPIS CH. Дата публикации: 1986-01-23.

Non-contact measurement apparatus and method

Номер патента: CN101821578B. Автор: 尼古拉斯·约翰·韦斯顿,伊冯娜·鲁思·赫德阿特,安德鲁·约翰·穆尔. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2014-03-12.

Non-contact measuring device and method for household appliance, appliance and medium

Номер патента: CN114642352A. Автор: 王云峰,马志海,雷俊,刘志才,许智波,刘传兰,江德勇. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-21.

A kind of method of non-contact measurement wild animal individual morphology parameter

Номер патента: CN106679571B. Автор: 刘辉,赵鹏,杨红生,张涛,周毅. Владелец: Institute of Oceanology of CAS. Дата публикации: 2019-04-02.

The non-contact measurement system of material members high temperature deformation and method

Номер патента: CN106500612A. Автор: 张建芳,黎敏,孙冬柏,孟繁强,张昊阳,阳建宏,刘福佳,宋金连. Владелец: University of Science and Technology Beijing USTB. Дата публикации: 2017-03-15.

Magnetostrictive displacement sensor for non-contact measurement

Номер патента: CN112525057A. Автор: 张拴祥. Владелец: Shaanxi Hangyu Satellite Measurement Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-03-19.

Non-contact measuring apparatus

Номер патента: GB9719514D0. Автор: . Владелец: Thames Water Utilities Ltd. Дата публикации: 1997-11-19.

The change in position of two interconnected, to be loaded and loaded objects to each other non-contact measuring device

Номер патента: DE102013011972A1. Автор: Christian Voigt,Roger Scholz,Christoph Arndt,Bernhard Steiger. Владелец: HOCHSCHULE MITTWEIDA (FH). Дата публикации: 2015-01-15.

Systems and methods for non-contact measuring sputtering target thickness ultrasonics

Номер патента: US20060266121A1. Автор: Alexander Leybovich. Владелец: Tosoh SMD Inc. Дата публикации: 2006-11-30.

Non-contact measuring device

Номер патента: FR1276558A. Автор: . Владелец: Compagnie Francaise Thomson Houston SA. Дата публикации: 1961-11-17.

Device and method for non-contact measurement

Номер патента: KR101951689B1. Автор: 이병수,신백규. Владелец: 주식회사 템퍼스. Дата публикации: 2019-02-25.

Non-contact measuring process and device for metallic profiles

Номер патента: DE3272755D1. Автор: Jean-Jacques Campas,Marc Bobrie. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1986-09-25.

Measurement of torsional dynamics of rotating shafts using magnetostrictive sensors

Номер патента: WO1998034455A3. Автор: Hegeon Kwun,Gary L Burkhardt,Cecil M Teller. Владелец: Cecil M Teller. Дата публикации: 1998-10-22.

Current measuring device for non-contact current measurement, use, magnetic field sensor unit for non-contact measurement and method for non-contact current measurement

Номер патента: DE102021206756A1. Автор: Philipp Ziegler,Jörg Haarer. Владелец: Stuttgart Koerperschaft Des Oeffentlichen Rechts, University of. Дата публикации: 2022-12-29.

Self-calibrating optical device for the contactless measurement of the level of a liquid ________________________

Номер патента: CA3094116A1. Автор: Nicolas Riviere,Romain Ceolato. Владелец: Arcys. Дата публикации: 2019-05-23.

Apparatus for fast measurements of current and power with scaleable wand-like sensor

Номер патента: WO1999041616A8. Автор: Joel Libove,Jerome Singer. Владелец: Jerome Singer. Дата публикации: 1999-11-11.

Apparatus for fast measurements of current and power with scaleable wand-like sensor

Номер патента: WO1999041616A3. Автор: Joel Libove,Jerome Singer. Владелец: Jerome Singer. Дата публикации: 1999-09-23.

METHOD AND APPARATUS FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE VOLTAGE OF MOVABLE SURFACE PRODUCTS

Номер патента: BE897786A. Автор: . Владелец: Rhone Poulenc Fibres. Дата публикации: 1984-03-20.

FORCE MEASURING DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE MOVEMENT FORCE OF A MOTOR

Номер патента: FR2563004B1. Автор: Klaus Dobler,Hanskorg Hachtel. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1990-03-02.

METHOD FOR DETECTING THE OPERATING CONDITION OF ROTATING DRUMS SUCH AS ROTATING TUBULAR OVENS, AND APPARATUS FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE SURFACE TEMPERATURE OF SUCH DRUMS

Номер патента: FR2524130B1. Автор: Gernot Jager,Hubert Spitz,Herbert Specht. Владелец: Kloeckner Humboldt Deutz AG. Дата публикации: 1987-05-29.

Method for the non-contact measurement of the speed of movement of bands, more especially bands of incandescent metal

Номер патента: FR1472555A. Автор: . Владелец: Licentia Patent Verwaltungs GmbH. Дата публикации: 1967-03-10.

Method and device for non-contact measurement of the tension and the running speed of a wire.

Номер патента: FR2698962B1. Автор: Eric Barat,Andre Salles. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1995-02-10.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE VOLUME OR MASS FLOW OF A MOVING MEDIUM

Номер патента: FR2602587B1. Автор: Schneider Et Hans Braun Georg. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 1994-01-21.

OPTICAL AUTOCALIBRANT DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE LEVEL OF A LIQUID

Номер патента: FR3073940B1. Автор: Nicolas Riviere,Romain Ceolato. Владелец: Arcys. Дата публикации: 2019-11-08.

Method and apparatus for rapid, non-contact measurement of the core temperature of animals and humans

Номер патента: US7336987B2. Автор: James D. King,Laird W. Laurence,Jack C. Laurence. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-02-26.

Method and device for non-contact measurement of the fill level of a transparent liquid

Номер патента: DE3030259C2. Автор: Wilhelm Dipl.-Ing. 7514 Eggenstein-Leopoldshafen Rapp. Владелец: Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH. Дата публикации: 1982-05-27.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE SPEED OF A MOVING MEDIUM

Номер патента: FR2577322B1. Автор: Hans Braun,Georg Schneider. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 1987-09-18.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE VOLTAGE OF FILIFORM PRODUCTS AND SURFACES IN MOTION

Номер патента: FR2533314A1. Автор: Robert Konopatsky,Jean-Pierre Jarry. Владелец: Rhone Poulenc Fibres SA. Дата публикации: 1984-03-23.

Non-contact measurement system for accurate measurement of frequency and amplitude of mechanical vibration

Номер патента: US7848896B2. Автор: Jenshan Lin,Changzhi Li. Владелец: University of Florida Research Foundation Inc. Дата публикации: 2010-12-07.

OPTICAL AUTOCALIBRANT DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE LEVEL OF A LIQUID

Номер патента: FR3073940A1. Автор: Nicolas Riviere,Romain Ceolato. Владелец: Arcys. Дата публикации: 2019-05-24.

EQUIPMENT FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE WEIGHT OF A MOBILE CREW

Номер патента: FR3089077B1. Автор: Paolo Stringari,Thibault Plays. Владелец: Association pour la Recherche et le Developpement des Methodes et Processus Industriels. Дата публикации: 2020-10-30.

Means and apparatus for rapid, accurate, non-contact measurement of the core temperature of animals and humans

Номер патента: WO2003064987A1. Автор: Laird W. Laurence,Jack C. Laurence,James D King. Владелец: James D King. Дата публикации: 2003-08-07.

Measuring device for a non-contact measurement of distances at a target object

Номер патента: DE102010043136A1. Автор: Torsten Gogolla,Jean-Phillippe Doyen,Stefan Tiefenthaler,Christoph Würsch,Peer Schmidt,Herwig Habenbacher. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2012-05-03.

Measuring device and method for a non-contact measurement of distances at a target object

Номер патента: DE102010043136B4. Автор: Torsten Gogolla,Jean-Phillippe Doyen,Stefan Tiefenthaler,Christoph Würsch,Peer Schmidt,Herwig Habenbacher. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2018-10-31.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT AND CONTROL OF THE VIBRATORY STATE OF THE MOBILE FINS OF AN AXIAL TURBOMACHINE

Номер патента: FR2349828A1. Автор: . Владелец: Sulzer Ag. Дата публикации: 1977-11-25.

A kind of the fluctuating procession of the water level non-contact measurement device and method

Номер патента: CN109443476A. Автор: 赵宇航,朱森林,王芳芳,高昂,俞雷,杨倩倩,吴时强,吴修锋,戴江玉,薛万云. Владелец: Nanjing Hydraulic Research Institute of National Energy Administration Ministry of Transport Ministry of Water Resources. Дата публикации: 2019-03-08.

Method and Apparatus for Non-Contact Measurement of Sheet Resistance and Shunt Resistance of P-N Junctions

Номер патента: US20150241512A1. Автор: Faifer Vladimir N.,Kelly-Morgan Ian Sierra Gabriel. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-27.

Non-contact measurement of multi-temperature profile of an object

Номер патента: US20150292950A1. Автор: Loyal Bruce Shawgo,Ricky Lance Haney,Mark David Rogers. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2015-10-15.

NON-CONTACT MEASUREMENT DEVICE FOR RADIUS OF CURVATURE AND THICKNESS OF LENS AND MEASUREMENT METHOD THEREOF

Номер патента: US20180356311A1. Автор: Chen Ming-Fu,Chen Po-Jui,Huang Chi-Hung,Chen Chun-Cheng,Ho Cheng-Fang,Hsu Wei-Yao,Peng Wei-Jei,YU ZONG-RU,WANG JUNG-HSIN,CHEN HUA-LIN,LIN YI-HAO. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-13.

A kind of device and method of high precision and large measuring range non-contact measurement magneto-strain

Номер патента: CN106646293B. Автор: 杨波,左良,李宗宾,赵骧. Владелец: Northeastern University China. Дата публикации: 2019-02-26.

Method and apparatus for non-contact measurement of sheet resistance and shunt resistance of p-n junctions

Номер патента: CN105849577A. Автор: V·N·法伊费尔,I·S·G·凯利-摩根. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-08-10.

On-site calibration method and transient voltage measurement method of converter station direct current field transient voltage non-contact measurement device

Номер патента: CN108896947B. Автор: 曾嵘,刘凡,张榆,张晨萌,庄池杰,谢施君,时卫东,曹树屏,姜南希,花若蓉. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Sichuan Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF RELATIVE DISPLACEMENT OR RELATIVE POSITIONING OF A FIRST OBJECT IN RELATION TO A SECOND OBJECT INDUCINGLY.

Номер патента: FR2888319B1. Автор: Didier Roziere. Владелец: NANOTEC SOLUTION CIVILE Ste. Дата публикации: 2008-02-15.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF OSCILLATIONS OF AN OBJECT

Номер патента: FR2916534A1. Автор: Matthias Schussler. Владелец: POLYTEC GMBH. Дата публикации: 2008-11-28.

Non-contact measurement method and device for overall dropper load of railway contact network

Номер патента: CN114049559B. Автор: 韩峰,陈维荣,吴积钦,刘继冬,梁茹楠,程军营,陈交. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2022-10-14.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF RELATIVE DISPLACEMENT OR RELATIVE POSITIONING OF A FIRST OBJECT IN RELATION TO A SECOND OBJECT INDUCINGLY.

Номер патента: FR2888319A1. Автор: Didier Roziere. Владелец: NANOTEC SOLUTION CIVILE Ste. Дата публикации: 2007-01-12.

Method and apparatus for non-contact measurement of sheet resistance and shunt resistance of P-N junctions

Номер патента: TW201538996A. Автор: Vladimir N Faifer,Ian Sierra Gabriel Kelly-Morgan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-10-16.

Method and apparatus for non-contact measurement of sheet resistance and shunt resistance of P-N junction

Номер патента: CN105849577B. Автор: V·N·法伊费尔,I·S·G·凯利-摩根. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-01-03.

Method and device for non-contact measurement of small distances by means of wave reflection

Номер патента: DE2445653C3. Автор: Alois Dr.-Ing. 8012 Ottobrunn Knopf,Hermann Dr.-Ing. 8000 Muenchen Woerrlein. Владелец: Messerschmitt Bolkow Blohm AG. Дата публикации: 1980-06-19.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING POINTS AT DIFFERENT BALL GAMES

Номер патента: FR3026017A1. Автор: Norbert Marc Melikian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-03-25.

SYSTEMS AND METHODS FOR MAKING A NON-CONTACT MEASUREMENT OF INSERTION LOSS FOR AN OPTICAL FIBER CONNECTOR

Номер патента: US20210025780A1. Автор: Kuksenkov Dmitri Vladislavovich,Miller William James,Wood William Allen,Timofeev Nikolay Timofeyevich,Huang Jinxin. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Method and Apparatus for Non-Contact Measurement of Forward Voltage, Saturation Current Density, Ideality Factor and I-V Curves in P-N Junctions

Номер патента: US20150061715A1. Автор: Faifer Vladimir N.,Kelly-Morgan Ian Sierra Gabriel. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

Arrangement for non-contact measurement of static and dynamic torques

Номер патента: DE3031997C2. Автор: Horst Dipl.-Phys. 6072 Dreieich Winterhoff. Владелец: Licentia Patent Verwaltungs GmbH. Дата публикации: 1986-01-16.

Device and method for non-contacting measurement of distance and/or profile

Номер патента: CN102341730A. Автор: T·奥托,P·梅雅,T·施塔梅斯特. Владелец: Micro Epsilon Optronic GmbH. Дата публикации: 2012-02-01.

Method and apparatus for non-contact measurement of a rotational speed

Номер патента: FR2704063A1. Автор: RICHTER Ingo,Skibowski Klaus. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1994-10-21.

System and device for non-contact measurement of an individual's body temperature

Номер патента: FR3111700B1. Автор: Alessandro Manneschi,Luca Manneschi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-08-19.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF A DIRECT CURRENT

Номер патента: FR2643460A1. Автор: Andreas Kraus,Walter Fleischmann,Juergen Ludwig. Владелец: Diehl GmbH and Co. Дата публикации: 1990-08-24.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF A DIRECT CURRENT

Номер патента: FR2643460B1. Автор: Andreas Kraus,Walter Fleischmann,Juergen Ludwig. Владелец: Diehl GmbH and Co. Дата публикации: 1992-08-14.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF A RACE AND / OR SPEED

Номер патента: FR2463933A1. Автор: Klaus Dr Dobler. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1981-02-27.

Device for making non-contacting measurements of electric fields which are static and/or varying in time

Номер патента: GB2212907B. Автор: Horst Ehrler. Владелец: Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH. Дата публикации: 1992-05-13.

System and device for portable and non-contact measurement of an individual's body temperature

Номер патента: FR3111701B1. Автор: Alessandro Manneschi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-29.

Non-contact measurement of moving bodies

Номер патента: DE4405122A1. Автор: Eckart Dipl Ing Kinderling. Владелец: Eckart Dipl Ing Kinderling. Дата публикации: 1995-08-24.

Method and apparatus for non-contact measuring of metal bed parameters

Номер патента: US6538433B1. Автор: Michel Cervantes,Christer Enström,Håkan Kelvesjö,Willy Ohlsson. Владелец: MPC Metal Process Control AB. Дата публикации: 2003-03-25.

Optical fiber sensing system and method for non-contact measurement of high-voltage transmission conductor voltage

Номер патента: CN111323636B. Автор: 陶勇,姜淳,周齐,华卫,宋俊盈,肖茂杰,袁登汉. Владелец: Guizhou Jiangyuan Electric Power Construction Co ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Sensor for non-contact measurement of torques, especially on rotating shafts

Номер патента: DE19854959A1. Автор: Heinrich Acker. Владелец: Heinrich Acker. Дата публикации: 2000-05-31.

1 - 12An arrangement and method for non-contact measurement of a moment on a machine element

Номер патента: DE102015206152B3. Автор: Christian Mock,Florian Königer. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2016-07-07.

Process and device for non-contact measurement of speed on surfaces

Номер патента: WO1996022549A1. Автор: Norbert Weber,Dieter Seitzer,Harald LÜFTNER. Владелец: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.. Дата публикации: 1996-07-25.

Correlator for non-contact measurement of speed with several sensors

Номер патента: DE2544826C2. Автор: Rainer Dipl.-Ing. 7500 Karlsruhe Fritsche,Franz Prof. Dr.-Ing. Mesch. Владелец: Ernst Leitz Wetzlar GmbH. Дата публикации: 1985-11-14.

Method and device for non-contact measurement of a rotational speed.

Номер патента: FR2704063B1. Автор: Ingo Richter,Klaus Skibowski. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1998-01-30.

Method for non-contact measurement of angles and distances

Номер патента: DE502004006828D1. Автор: Stefan Schuessler,Bernhard Hulin,Bernhard Dr Sarnes. Владелец: Db Netz Ag. Дата публикации: 2008-05-29.

System and device for non-contact measurement of an individual's body temperature

Номер патента: FR3111700A1. Автор: Alessandro Manneschi,Luca Manneschi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-12-24.

Systems and methods for making a non-contact measurement of insertion loss for an optical fiber connector

Номер патента: EP3770576B1. Автор: Dmitri Vladislavovich Kuksenkov,William James Miller,Nikolay Timofeyevich Timofeev,Jinxin Huang,William Allen Wood. Владелец: Corning Research and Development Corp. Дата публикации: 2022-10-26.

TURBINE BLADE FATIGUE LIFE ANALYSIS USING NON-CONTACT MEASUREMENT AND DYNAMICAL RESPONSE RECONSTRUCTION TECHNIQUES

Номер патента: US20140100798A1. Автор: Zhou Shaohua Kevin,Zhang Jingdan,Tevs Nikolai R.,Guan Xuefei,Ulerich Nancy H.,Kim Nam Eung. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-10.

Non-contact measuring apparatus of organ motion

Номер патента: JPS6125543A. Автор: アクセル、ウイルト,ジークフリート、シユナイダー. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1986-02-04.

A kind of non-contact measurement pile driving system and pile-driving method

Номер патента: CN110221327A. Автор: 郝志刚,李宁,马原,陶超,王江林,闫少霞,文述生,周光海,肖浩威,黄劲风,徐丹龙,杨艺,丁永祥,庄所增,潘伟锋,张珑耀,刘国光,韦锦超,赵瑞东,闫志愿,陈奕均,纪君平,葛珍. Владелец: Guangzhou South Positioning Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-10.

Spacecraft surface heat flow non-contact measurement method based on vacuum thermal test

Номер патента: CN112213137A. Автор: 赵欣,周宇鹏,李日华,杨晓媛,孙玉玮,林博颖,肖福根. Владелец: Beijing Institute of Spacecraft Environment Engineering. Дата публикации: 2021-01-12.

NON-CONTACT MEASUREMENT METHOD OF VIBRATION OF A ROTATING BODY

Номер патента: FR2807834B1. Автор: Pierre Jean Emile Beausseroy,Jean Louis Eyraud,Regis Leo Marie Jean Lengelle. Владелец: SNECMA Moteurs SA. Дата публикации: 2002-06-28.

NON-CONTACT MEASURING DEVICE FOR ELECTRIC FIELDS THAT MODIFY STATISTICALLY AND / OR IN TIME

Номер патента: FR2623910A1. Автор: Herr Horst Erler. Владелец: Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH. Дата публикации: 1989-06-02.

NON-CONTACT MEASURING DEVICE OF A LEVEL IN A RESERVOIR

Номер патента: FR3040484B1. Автор: Regis Munoz. Владелец: MGI Coutier SA. Дата публикации: 2019-01-25.

NON-CONTACT MEASURING DEVICE OF A LEVEL IN A RESERVOIR

Номер патента: FR3040484A1. Автор: Regis Munoz. Владелец: MGI Coutier SA. Дата публикации: 2017-03-03.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING THE VOLUMIC OR MASS FLOW OF A MOVING MEDIUM

Номер патента: FR2602587A1. Автор: Hans Braun,Georg Schneider. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 1988-02-12.

Device for non-contact measurement

Номер патента: DE2163200C2. Автор: Karl 6301 Atzbach Lang. Владелец: Ernst Leitz Wetzlar GmbH. Дата публикации: 1983-06-09.

A kind of alpha particle non-contact measurement apparatus and method

Номер патента: CN106093999A. Автор: 程金星,张斌,周文平,吴友朋,温伟伟,刘军辉,胡玉新,朱左明,李凤强,赵锋涛,吕亚超,徐荣政. Владелец: Sixth Research Institute Of Rocket Equipment Research Institute Of Pla. Дата публикации: 2016-11-09.

Apparatus and method for non-contact measuring the torque of a rotating shaft

Номер патента: KR102110890B1. Автор: 박찬훈,최태용,김두형. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2020-05-15.

Device for non-contact measuring the temperature of heated components in rail vehicles in circulation

Номер патента: ES2392618T3. Автор: Reiner Henn. Владелец: Voestalpine Signaling Siershahn GmbH. Дата публикации: 2012-12-12.

Non-contact measuring method of current flowing in a plurality of superconducting wires connected in parallel

Номер патента: KR100934448B1. Автор: 박찬,이승욱,김우석,최경달,이지광. Владелец: 한국산업기술대학교산학협력단. Дата публикации: 2009-12-29.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING HEIGHT ABOVE A REFERENCE POINT OF A LOAD CARRIER ON A CARRIER VEHICLE

Номер патента: FR2463390A1. Автор: Heiner Barfuss. Владелец: Jungheinrich Unternehmensverwaltung KG. Дата публикации: 1981-02-20.

Wireless networking type current non-contact measuring device and method for magnetic sensing unit

Номер патента: CN110726869A. Автор: 唐军. Владелец: Sichuan Newworth Automation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-24.

High-precision large-range non-contact measurement apparatus and method for magnetoelastic strain

Номер патента: CN106646293A. Автор: 杨波,左良,李宗宾,赵骧. Владелец: Northeastern University China. Дата публикации: 2017-05-10.

Non-contact measurement device

Номер патента: US7639346B2. Автор: Reginald Earl Booker, Jr.. Владелец: Booker Jr Reginald Earl. Дата публикации: 2009-12-29.

A kind of alpha particle non-contact measurement apparatus and method

Номер патента: CN106093999B. Автор: 程金星,张斌,周文平,吴友朋,温伟伟,刘军辉,付永生,胡玉新,朱左明,李凤强,赵锋涛,吕亚超,徐荣政,徐金操. Владелец: Sixth Research Institute Of Rocket Equipment Research Institute Of Pla. Дата публикации: 2018-11-09.

Non-contact measuring device of an electric voltage in a medium or high voltage power network cable

Номер патента: ES2644080T3. Автор: Jozef Cardinaels,Eduard De Ridder,Kevin WEYGAERTS,Heilke KEYMEULEN. Владелец: Nexans SA. Дата публикации: 2017-11-27.

High-speed railway track geometric parameter detection method based on non-contact measurement

Номер патента: CN110658543A. Автор: 王海军,马小艳,邓继权,郭玉胜,张吉先,艾赢涛,莫明岗. Владелец: Beijing Automation Control Equipment Institute BACEI. Дата публикации: 2020-01-07.

NON-CONTACT MEASURING DEVICE PARTICULARLY FOR DETERMINING THE SPEED OR DISPLACEMENT OF AN OBJECT

Номер патента: IT977774B. Автор: . Владелец: Leitz Ernst Gmbh. Дата публикации: 1974-09-20.

Apparatus and method for non-contact measuring momentum by using ir-uwb radar

Номер патента: WO2020242102A1. Автор: 조성호,임대현,박현경,이원혁. Владелец: 한양대학교 산학협력단. Дата публикации: 2020-12-03.

Non-contact measuring device for absolute vibration of turbine shaft

Номер патента: JPS573017A. Автор: Hirugunaa Rainharuto,Shiyureeda Hainritsuhi,Utsutsu Uorufugangu. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1982-01-08.

Semiconductor acceleration sensor using doped semiconductor layer as wiring

Номер патента: CA2431625C. Автор: Hitoshi Yoshida,Kazushi Kataoka,Koji Goto,Daisuke Wakabayashi. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 2007-08-14.

Method of determining parameters of artificial satellite orbit of the earth

Номер патента: RU2652603C1. Автор: Вячеслав Леонидович Беспалов,Владимир Витальевич Севидов,Александр Анатольевич Пономарев,Вячеслав Вячеславович Балабанов,Андрей Хазарович Кельян,Алексей Олегович Чемаров. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Новые технологии телекоммуникаций" (ООО НПП "НТТ"). Дата публикации: 2018-04-27.

NON-INVASIVE AND NON-CONTACT MEASUREMENT IN EARLY THERAPEUTIC INTERVENTION

Номер патента: US20210321933A1. Автор: Johnson Matthew J.,Redei Janos,GREEN Ethan C.. Владелец: I2DX, INC.. Дата публикации: 2021-10-21.

SYSTEM AND METHOD FOR NON-INVASIVE AND NON-CONTACT MEASUREMENT IN EARLY THERAPEUTIC INTERVENTION

Номер патента: US20180296154A1. Автор: Johnson Matthew J.,Redei Janos,GREEN Ethan C.. Владелец: I2DX, INC.. Дата публикации: 2018-10-18.

Method for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasound microscope

Номер патента: US20180113096A1. Автор: Helmut APPEL. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-04-26.

Method for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasound microscope

Номер патента: US10677760B2. Автор: Helmut APPEL. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2020-06-09.

Image forming apparatus capable of backing up contents of settings for job

Номер патента: US20240134585A1. Автор: Maria Johanna Ybanez,Roy Vincent Maranon,Eliot Emerson Uy,Kenneth Kienzle Arrieta,Hazel Ozon,Gerald Galanida,Peter James Bulat-ag,Romel Dianon, Jr.,Fritzer Abapo,Keanu Go,July DESCARTIN,J'Mark Ramos. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Image forming apparatus capable of backing up contents of settings for job

Номер патента: US20240231724A9. Автор: Maria Johanna Ybanez,Roy Vincent Maranon,Eliot Emerson Uy,Kenneth Kienzle Arrieta,Hazel Ozon,Gerald Galanida,Peter James Bulat-ag,Romel Dianon, Jr.,Fritzer Abapo,Keanu Go,July DESCARTIN,J'Mark Ramos. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

METHOD AND DEVICE OF SYNCHRONOUS PLAYBACK RECORDED ON THE INTERACTIVE RECORDING MEDIA OF THE MAIN CONTENT AND ADDITIONAL CONTENT OF IT

Номер патента: RU2005132651A. Автор: Пюн Чин КИМ,Александр ЛИМОНОВ,Чжэ Ен Ю,У. Сон ЮН,Александр ЛИМОНОВ (KR),Пюн Чин КИМ (KR),Чжэ Ен Ю (KR),У. Сон ЮН (KR). Владелец: Эл Джи Электроникс Инк. (Kr). Дата публикации: 2006-08-27.

Secure transport of encrypted virtual machines with continuous access of the owner

Номер патента: RU2693313C2. Автор: Нильс Т. ФЕРГЮСОН,Марк Фишел НОВАК,Нир БЕН-ЗВИ. Владелец: МАЙКРОСОФТ ТЕКНОЛОДЖИ ЛАЙСЕНСИНГ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-07-02.

Systems and methods for acoustic emission monitoring of semiconductor devices

Номер патента: EP3500850A2. Автор: Gal Shaul,Saar Yoskovitz,Ori NEGRI,Eduard Rudyk. Владелец: Augury Systems Ltd. Дата публикации: 2019-06-26.

Systems and methods for acoustic emission monitoring of semiconductor devices

Номер патента: US20230273159A1. Автор: Gal Shaul,Saar Yoskovitz,Ori NEGRI,Eduard Rudyk. Владелец: Augury Systems Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Method for observing tungsten plug of semiconductor device microscopically

Номер патента: US5989930A. Автор: Shu-Ying Lu,Fei-Chun Tseng. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 1999-11-23.

Non-contact measuring method for semiconductor wafer

Номер патента: JPS5717142A. Автор: Akira Usami,Yoshinobu Fujiwara,Nobue Inage. Владелец: Shimada Rika Kogyo KK. Дата публикации: 1982-01-28.

Method for non-contact measurement of intraocular pressure

Номер патента: RU2725854C1. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Анатолий Владимирович Скрипаль,Сергей Юрьевич Добдин,Татьяна Борисовна Усанова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2020-07-06.

Method for automated monitoring of thermal resistances of semiconductor devices

Номер патента: RU2698512C1. Автор: Леонид Алексеевич Потапов,Игорь Юрьевич Бутарев,Алексей Николаевич Школин. Владелец: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет". Дата публикации: 2019-08-28.

Device for a non-contact measurement of distance at a radiotherapy of the human body

Номер патента: US20030185349A1. Автор: Armin Roeckseisen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-02.

Non-contact measuring method and apparatus in pediatrics

Номер патента: CA2830889C. Автор: SHI Yin. Владелец: Image Technology Inc China. Дата публикации: 2018-07-31.

Device and method for non-contact measurement of an intraocular pressure

Номер патента: US20240016381A1. Автор: Oren Globerman,Mordechay Beyar,Danielle VALES. Владелец: NMB Medical Applications Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Systems and methods for monitoring the surface temperature of an object using the temperature-dependent absorption properties of semiconductors

Номер патента: US20240110837A1. Автор: Axel Scherer,Jack Jewell,John Richard ORDONEZ-VARELA,Paromita MITCHELL. Владелец: TotalEnergies Onetech SAS. Дата публикации: 2024-04-04.

Monitoring the surface temperature of an object using temperature-dependent absorption properties of semiconductors

Номер патента: WO2024076618A3. Автор: Axel Scherer,Jack Jewell,John Richard ORDONEZ-VARELA,Paromita MITCHELL. Владелец: TOTALENERGIES ONETECH. Дата публикации: 2024-05-16.

Systems and methods for monitoring the surface temperature of an object using the temperature-dependent absorption properties of semiconductors

Номер патента: WO2024076618A2. Автор: Axel Scherer,Jack Jewell,John Richard ORDONEZ-VARELA,Paromita MITCHELL. Владелец: TOTALENERGIES ONETECH. Дата публикации: 2024-04-11.

Systems and methods for monitoring the surface temperature of an object using an imager and the temperature-dependent absorption properties of semiconductors

Номер патента: US20240295440A1. Автор: Axel Scherer,Jack Jewell,John Richard ORDONEZ-VARELA,Paromita MITCHELL. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-09-05.

Apparatus of measuring characteristics of semiconductor devices

Номер патента: US20070216435A1. Автор: Yasuhiko Iguchi. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-09-20.

Test method of semiconductor device and semiconductor test apparatus

Номер патента: US20140133254A1. Автор: Zhiliang Xia,Sung Hee Lee,Chiho Kim,Nara KIM,Dae Sin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-15.

Current application device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US9417264B2. Автор: Hitoshi Saito,Koichiro Sato,Hiroyuki Yamagishi,Satoshi Hasegawa,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Machie Saitou,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Method for wafer-level burn-in stressing of semiconductor devices and semiconductor device substrates configured to effect the method

Номер патента: US20040032277A1. Автор: Kenneth Marr. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-19.

Predicting Failure Parameters of Semiconductor Devices Subjected to Stress Conditions

Номер патента: US20220065919A1. Автор: Moinuddin Ahmed,John N. Hryn,Christopher Stankus. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2022-03-03.

Apparatus including a measurement time counting device for measuring an electrical characteristic of semiconductor

Номер патента: US5786689A. Автор: Mikihiro Kimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-07-28.

On-wafer burn-in of semiconductor devices using thermal rollover

Номер патента: US20040119486A1. Автор: Charlie WANG,Hong Hou,Wenlin Luo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-24.

Semiconductor apparatus and method of detecting characteristic degradation of semiconductor apparatus

Номер патента: US8717058B2. Автор: Ikuo Fukami. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2014-05-06.

Configuration for testing a multiplicity of semiconductor chips

Номер патента: US20010005144A1. Автор: Dominique Savignac,Robert Feurle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-28.

Methods, apparatus and systems for wafer-level burn-in stressing of semiconductor devices

Номер патента: US20050156618A1. Автор: Kenneth Marr. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-21.

Device isolation method of semiconductor memory device and flash memory device fabricating method using the same

Номер патента: US20050142796A1. Автор: Sung Jung,Jum Kim. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Method for local contacting and local doping of a semiconductor layer

Номер патента: US8828790B2. Автор: Andreas Wolf,Ralf Preu,Jochen Rentsch,Marc Hofmann,Daniel Biro,Andreas Grohe,Jan-Frederik Nekarda. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2014-09-09.

Semiconductor structure and manufacturing method of the same

Номер патента: US20110248282A1. Автор: Huilong Zhu,Haizhou Yin,Zhijiong Luo. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2011-10-13.

Non-contact measurement of semiconductor wafer

Номер патента: JPS5955013A. Автор: Akira Usami,宇佐美　晶. Владелец: NIPPON SILICON KK. Дата публикации: 1984-03-29.

Semiconductor device and manufacturing method of the semiconductor device

Номер патента: US7968396B2. Автор: Nobuyuki Mise,Shinji Migita,Yukimune Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-06-28.

Semiconductor device and manufacturing method of the semiconductor device

Номер патента: US7645655B2. Автор: Nobuyuki Mise,Shinji Migita,Yukimune Watanabe. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2010-01-12.

Bipolar junction transistors and p-n junction diodes including stacked nano-semiconductor layers

Номер патента: US20230361112A1. Автор: Jaehong Lee,Kang-ill Seo,Sooyoung Park,Byounghak Hong,Gunho JO,Hyoeun Park,Wookhyun Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-09.

Polishing composition, production method of the same, polishing method, and manufacturing method of semiconductor substrate

Номер патента: US20210301176A1. Автор: Akiko Soumiya. Владелец: Fujimi Inc. Дата публикации: 2021-09-30.

Mesoscopic optoelectronic devices comprising arrays of semiconductor pillars deposited from a suspension and production method thereof

Номер патента: EP2649653A1. Автор: Rodrigo Ferrao De Paiva Martins,Elvira Maria Correia Fortunato,Pawel Jerzy Wojcik. Владелец: Universidade Nova De Lisboa. Дата публикации: 2013-10-16.

Bonding wire, wire bonding method using the bonding wire, and electrical connection part of semiconductor device using the bonding wire

Номер патента: US20180026004A1. Автор: Jae Heung Lee,Won-Gil HAN,Sangho An,Yong Je Lee,Seungweon Ha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Inspection and Adjustment Method of the Automatic Conveying System of Conveyed Goods of Semiconductor Line

Номер патента: KR102314090B1. Автор: 김진태. Владелец: 케이탑아이앤씨 주식회사. Дата публикации: 2021-10-18.

Polishing composition, production method of the same, polishing method, and manufacturing method of semiconductor substrate

Номер патента: KR20210119876A. Автор: 아키코 소미야. Владелец: 가부시키가이샤 후지미인코퍼레이티드. Дата публикации: 2021-10-06.

Improved stabilization of the annealing heat treatment applied to slices of semiconductor materials used in micro-electronic, optical and opto-electronic applications

Номер патента: FR2856194A1. Автор: Walter Schwarzenbach,Jean Marc Waechter. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2004-12-17.

Stack of multiple deposited semiconductor layers

Номер патента: US20200091019A1. Автор: LONG Lin,Chentsau Ying,Xinhai Han,Liyan Miao. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Methods of forming a stack of multiple deposited semiconductor layers

Номер патента: EP3649670A1. Автор: LONG Lin,Chentsau Ying,Xinhai Han,Liyan Miao. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-05-13.

Measurement of lateral diffusion of implanted ions in doped well region of semiconductor devices

Номер патента: US20140011304A1. Автор: YIN Long,Kai Wang,Hunglin Chen,Qiliang Ni,Rongwei FAN. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2014-01-09.

Method for forming thermal oxide film of semiconductor substrate

Номер патента: EP4148769A1. Автор: Tatsuo Abe,Tsuyoshi Ohtsuki. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-15.

Secure inspection and marking of semiconductor wafers for trusted manufacturing thereof

Номер патента: US20210134682A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240071971A1. Автор: Osamu Koike. Владелец: Lapis Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Characterizing defects in semiconductor layers

Номер патента: EP4381538A1. Автор: Milan PESIC. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-12.

Fabrication method of semiconductor test piece

Номер патента: US5814528A. Автор: Nam Yang Lee,Yun Hi Lee,Byeong Kwon Ju,Myung Hwan Oh,Keun Ha Koh,Dong Ky Shin. Владелец: Korea Institute of Science and Technology KIST. Дата публикации: 1998-09-29.

Shift control method in manufacture of semiconductor device

Номер патента: US20220077108A1. Автор: Chih-Wei Wu,Ying-Ching Shih,Hsien-Ju Tsou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-03-10.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20230352351A1. Автор: Ling-Sung Wang,Kun-Ei Chen,Chen-Chieh Chiang,Hsueh-Han Lu,Pei-Lum MA,Kun Da Jhong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Characterizing defects in semiconductor layers

Номер патента: US12094787B2. Автор: Milan PESIC. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Method which can form contact holes in wafer of semiconductor

Номер патента: US20130316470A1. Автор: Jun Zhou. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Memory device through use of semiconductor device

Номер патента: US11915757B2. Автор: Koji Sakui,Nozomu Harada. Владелец: Unisantis Electronics Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Switching voltage supply of voltage domain of semiconductor circuit

Номер патента: US20070052470A1. Автор: Gerald Sellmair,Pramod Acharya. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2007-03-08.

Switching voltage supply of voltage domain of semiconductor circuit

Номер патента: US7482715B2. Автор: Gerald Sellmair,Pramod Acharya. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2009-01-27.

Method for measuring withstand voltage of semiconductor epitaxial wafer and semiconductor epitaxial wafer

Номер патента: US20050118736A1. Автор: Makoto Kiyama,Masashi Yamashita,Katsushi Akita. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2005-06-02.

Method for measuring withstand voltage of semiconductor epitaxial wafer and semiconductor epitaxial wafer

Номер патента: US7195937B2. Автор: Makoto Kiyama,Masashi Yamashita,Katsushi Akita. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2007-03-27.

Device and method for on-line measurement of wafer grinding force

Номер патента: US11404329B2. Автор: Pei Chen,Fei Qin,Shuai ZHAO,Tong An,Lixiang ZHANG,Yanwei Dai. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-08-02.

Device And Method For On-line Measurement Of Wafer Grinding Force

Номер патента: US20210407863A1. Автор: Pei Chen,Fei Qin,Shuai ZHAO,Tong An,Lixiang ZHANG,Yanwei Dai. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-12-30.

Methods for Forming a Plurality of Semiconductor Devices on a Plurality of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20160359014A1. Автор: Jochen Hilsenbeck,Jens Peter Konrath. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-12-08.

Methods for Forming a Plurality of Semiconductor Devices on a Plurality of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20180122918A1. Автор: Jochen Hilsenbeck,Jens Peter Konrath. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-05-03.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20160197050A1. Автор: Toshihiko Akiba,Yuki YAGYU,Akihiro Tobita. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-07-07.

System and method for the non-contacting measurement of the axis length and/or cornea curvature and/or anterior chamber depth of the eye, preferably for intraocular lens calculation

Номер патента: CA2353921C. Автор: Roland Barth,Lothar Müller,Roland Bergner,Klaus-Ditmar Voigt,Frank Behrendt,Burkhard Dietzel,Siegfried Schubert,Dietmar Steinmetz,Axel Doering. Владелец: CARL ZEISS MEDITEC AG. Дата публикации: 2009-03-10.

Toilet device for non-contact measurement of micturition parameters

Номер патента: US20220400998A1. Автор: Frank Willems,Marcel Morcinczyk,Thomas Prokopp,Paul Bandi,Jan Haan. Владелец: Medipee GmbH. Дата публикации: 2022-12-22.

Non-contact measurement of slider fly height by electrostatic force

Номер патента: US20080123214A1. Автор: Li-Yan Zhu,Ellis T. Cha,Yen Fu,Chao-Hui Yang. Владелец: SAE Magnetics HK Ltd. Дата публикации: 2008-05-29.

AUTOMATED FAULT ISOLATION OF FLIGHT CONTROL SURFACES AND DAMAGE DETECTION OF AIRCRAFT THROUGH NON-CONTACT MEASUREMENT

Номер патента: US20190375520A1. Автор: SCHWINDT Stefan Alexander,Parker Edward. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-12.

Light strip center extraction method for line structured light non-contact measurement

Номер патента: CN112241964A. Автор: 冯志杰,王太勇,韩文灯,张凌雷. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-01-19.

Method of coordinating content of functional units of training courses

Номер патента: RU2715006C1. Автор: Алексей Юрьевич Кореневский,Роман Сергеевич Журавлёв,Александр Александрович Нестоянов,Алексей Игоревич Григоренко. Владелец: Публичное акционерное общество «Аэрофлот - российские авиалинии». Дата публикации: 2020-02-21.

Boiler for combustion of the gas with a higher content of hydrogen with a nozzle for this combustion

Номер патента: WO2013010514A3. Автор: Petr Kuchta. Владелец: KARLA spol. s.r.o.. Дата публикации: 2013-11-14.

Process for the preparation of the product with a high content of maltitol and applications of this product

Номер патента: CA1266644A. Автор: Francis Devos,Pierre-Antoine Gouy. Владелец: Roquette Freres SA. Дата публикации: 1990-03-13.

By having the method and system of the intelligent event dynamically aggregated content of non-illustration content

Номер патента: CN104160389B. Автор: S.斯里瓦斯塔瓦,J.S.艾伦,P.L.H.卡罗尔,S.乔德哈里,R.A.金,V.潘迪亚拉詹. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-14.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for controlling operation of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240203768A1. Автор: Kazuma Ideguchi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Fabrication of semiconductor materials and devices with controlled electrical conductivity

Номер патента: CA2402662A1. Автор: Brian Thibeault,David Kapolnek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-20.

"fabrication of semiconductor materials and devices with controlled electrical conductivity"

Номер патента: MY126104A. Автор: Brian Thibeault,David Kapolnek. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2006-09-29.

Semiconductor substrate, semiconductor device and manufacturing method of semiconductor substrate

Номер патента: US20160315220A1. Автор: Kai Cheng. Владелец: Enkris Semiconductor Inc. Дата публикации: 2016-10-27.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20140091316A1. Автор: Toshihide Kikkawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-04-03.

Fabrication of semiconductor materials and devices with controlled electrical conductivity

Номер патента: US20020173165A1. Автор: Brian Thibeault,David Kapolnek. Владелец: Cree Lighting Co. Дата публикации: 2002-11-21.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20210119055A1. Автор: Masashi TSUBUKU,Tatsuya TODA. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2021-04-22.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US12027377B2. Автор: Hiroki Miyake,Shuhei ICHIKAWA. Владелец: Mirise Technologies Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Ldd-free semiconductor structure and manufacturing method of the same

Номер патента: US20160254351A1. Автор: Chun Hsiung Tsai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Ldd-free semiconductor structure and manufacturing method of the same

Номер патента: US20200373389A1. Автор: Chun Hsiung Tsai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Ldd-free semiconductor structure and manufacturing method of the same

Номер патента: US20180286949A1. Автор: Chun Hsiung Tsai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Structure and formation method of semiconductor device with metal gate

Номер патента: US20230268409A1. Автор: Cheng-Lung Hung,Hui-Chi CHEN,Chia-Wei Chen,Chi On Chui,Chih-Wei Lee,Jo-Chun Hung,Hsin-Han Tsai,Hsiang-Ju LIAO,Yi-Lun Li. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Semiconductor device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20180069135A1. Автор: Nariaki Tanaka,Kazuya Hasegawa,Tohru Oka. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-08.

Direct gas-phase doping of semiconductor wafers using an organic dopant source of phosphorus

Номер патента: US5641707A. Автор: Mehrdad M. Moslehi. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1997-06-24.

Manufacturing method of semiconductor device having semiconductor layers with different thicknesses

Номер патента: US8962418B2. Автор: Yutaka Hoshino. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2015-02-24.

Semiconductor Layer Separation from Single Crystal Silicon Substrate by Infrared Irradiation of Porous Silicon Separation Layer

Номер патента: US20170372966A1. Автор: Tirunelveli S. Ravi,Stephen Daniel Miller. Владелец: Crystal Solar Inc. Дата публикации: 2017-12-28.

Methods of treating a semiconductor layer

Номер патента: WO2014036494A1. Автор: Roman Shuba,Donald Franklin Foust,Scott Daniel Feldman-Peabody,Hongbo Cao,Laura Anne Clark,Wyatt Keith Metzger,Yinghui Shan,Robert Andrew Garber. Владелец: First Solar Malaysia Sdn. Bhd.. Дата публикации: 2014-03-06.

Fabrication method of semiconductor device with MOSFET and capacitor having lower and upper polysilicon regions

Номер патента: US5814542A. Автор: Chika Nakajima. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-09-29.

Semiconductor substrate and semiconductor device, and manufacturing method of semiconductor substrate

Номер патента: US20130306979A1. Автор: Masayuki Iwami,Takuya Kokawa. Владелец: ADVANCED POWER DEVICE RESEARCH ASSOCIATION. Дата публикации: 2013-11-21.

Substrates of semiconductor devices having varying thicknesses of semiconductor layers

Номер патента: US20240063225A1. Автор: Hong Yu,David Pritchard,Shafiullah Syed,Jianwei PENG,Man Gu,Hongru Ren. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Semiconductor device, manufacturing method of semiconductor device, power unit, and amplifier

Номер патента: US20180090595A1. Автор: Shirou Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Method for fabrication of semiconductor device

Номер патента: US12062722B2. Автор: Shunpei Yamazaki,Masahiro Takahashi,Tatsuya Honda,Takehisa Hatano. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Method for preparing semiconductor layer

Номер патента: US20240213021A1. Автор: Yi-Chia CHOU,Chang-Hsun HUANG. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2024-06-27.

Passivation layer structure of semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20140042440A1. Автор: Wen-Ching Sun,Tzer-Shen Lin,sheng-min Yu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-02-13.

Manufacturing method of semiconductor substrate and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20110244660A1. Автор: Junichi Koezuka. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-06.

System and Method of Planar Processing of Semiconductors into Detector Arrays

Номер патента: US20110260278A1. Автор: Chris Coretsopoulos,John P. PRINEAS,Jonathan T. OLESBERG. Владелец: University of Iowa Research Foundation UIRF. Дата публикации: 2011-10-27.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US9123739B2. Автор: Takashi Inoue,Yasuhiro Okamoto,Tatsuo Nakayama,Hironobu Miyamoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160172476A1. Автор: Toshihide Kikkawa. Владелец: Transphorm Japan Inc. Дата публикации: 2016-06-16.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20170207319A1. Автор: Toshihide Kikkawa. Владелец: Transphorm Japan Inc. Дата публикации: 2017-07-20.

Array of semiconductor light-emitting elements and method of making said element

Номер патента: RU2469435C1. Автор: Кендзи ХИРУМА,Синдзиро ХАРА,Дзунити МОТОХИСА,Такаси ФУКУИ. Владелец: Нэшнл Юниверсити Корпорейшн Хоккайдо Юниверсити. Дата публикации: 2012-12-10.

Gas phase doping of semiconductor material in a cold-wall radiantly heated reactor under reduced pressure

Номер патента: US5324684A. Автор: Kristian E. Johnsgard,Ahmad Kermani,Carl Galewski. Владелец: AG Processing Technologies Inc. Дата публикации: 1994-06-28.

A Process for the Production of Semiconductor Diodes

Номер патента: GB1196515A. Автор: . Владелец: CIT Compagnie Industrielle des Telecommunications SA. Дата публикации: 1970-06-24.

Method and device of preventing delamination of semiconductor layers

Номер патента: US20100276788A1. Автор: Ajay Jain. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-11-04.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11342463B2. Автор: Masashi TSUBUKU,Tatsuya TODA. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2022-05-24.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US9818881B2. Автор: Toshinari Sasaki,Isao Suzumura. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Manufacturing method of semiconductor element, semiconductor layer support structure, and semiconductor substrate

Номер патента: EP4362066A1. Автор: Takahito Suzuki,Kenichi Tanigawa,Yutaka Kitajima,Hiroto Kawada,Toru Kosaka,Yusuke Nakai,Shinya Jumonji,Genichirou MATSUO. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Semiconductor memory device and manufacturing method of semiconductor memory device

Номер патента: US20180277560A1. Автор: Shinya Naito,Tomofumi Zushi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

CMOS image sensor structure with microstructures on backside surface of semiconductor layer

Номер патента: US11996429B2. Автор: Shih-Shiung Chen,Hsing-Chih LIN,Yu-Lung Yeh,Chien-Chang Huang,Chien-Nan Tu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20190051740A1. Автор: Yasuhiro Okamoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20170054028A1. Автор: Toshinari Sasaki,Isao Suzumura. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2017-02-23.

Method for producing a plurality of semiconductor chips and semiconductor chip

Номер патента: US20180069147A1. Автор: Stefan Illek,Dominik Scholz,Norwin von Malm,Lutz Hoeppel,Alexander F. Pfeuffer,Isabel OTTO. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-03-08.

Manufacturing method of semiconductor element, semiconductor layer support structure, and semiconductor substrate

Номер патента: US20240145631A1. Автор: Takahito Suzuki,Kenichi Tanigawa,Yutaka Kitajima,Hiroto Kawada,Toru Kosaka,Yusuke Nakai,Shinya Jumonji,Genichirou MATSUO. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Method of production of semiconductor device

Номер патента: US20170186874A1. Автор: Tetsuya Goto,Makoto Takeshita. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

A method for transferring and stacking of semiconductor devices

Номер патента: EP1252654A2. Автор: Eric Beyne,Staf Borghs,Raf Vandersmissen. Владелец: Umicore NV SA. Дата публикации: 2002-10-30.

Device for liquid chemical etching of semiconductor products

Номер патента: RU2746672C1. Автор: Юлия Валерьевна Сухорослова,Денис Сергеевич Веселов,Юрий Александрович Воронов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ). Дата публикации: 2021-04-19.

Vertical structure of semiconductor devices using nanotubes and method of making them

Номер патента: RU2342315C2. Автор: Тошихару ФУРУКАВА,Марк Чарлз ХЕЙКИ,Стивен Джон ХОЛМС,Дейвид Вацлав ХОРАК,Чарлз Уилль м КОУБУРГЕР III,Чарлз Уилльям КОУБУРГЕР III. Владелец: Интернэшнл Бизнес Машинз Корпорейшн. Дата публикации: 2008-12-27.

Method of forming semiconductor plates doped on one side, particularly solar semiconductor plates, and manipulation system for loading process tray with batches of semiconductor plates

Номер патента: RU2411608C1. Автор: Штефан ЙОНАС,Лутц РЕДМАНН. Владелец: Йонас Унд Редманн Аутомационстехник Гмбх. Дата публикации: 2011-02-10.

Manufacturing method of SOI substrate and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US8895407B2. Автор: Yoji Nagano,Hidekazu Miyairi,Akihisa Shimomura,Eiji Higa,Tatsuya Mizoi. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-25.

Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and manufacturing apparatus of semiconductor device

Номер патента: US11469304B2. Автор: Hajime Nago,Toshiki Hikosaka,Jumpei Tajima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-10-11.

Display apparatus having flourine at interfaces of semiconductor layer and manufacturing method thereof

Номер патента: US11825704B2. Автор: Moonsung Kim,Sooim JEONG,Jaebum Han,Younggil PARK. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Method of manufacturing semiconductor optical device and intermediate article of semiconductor optical device

Номер патента: US11894502B2. Автор: Tetsuya Ikuta,Yoshitaka Kadowaki,Yuta Koshika. Владелец: Dowa Electronics Materials Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Semiconductor memory device and manufacturing method of semiconductor memory device

Номер патента: US20240015965A1. Автор: Dae Hyun Kim,Changhan Kim,Ga Ram CHOI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20150214343A1. Автор: Toru Arakawa,Masami Jintyou,Katsuaki TOCHIBAYASHI,Yamato Aihara. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-30.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20140147969A1. Автор: Toru Arakawa,Masami Jintyou,Katsuaki TOCHIBAYASHI,Yamato Aihara. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: US20230115949A1. Автор: Kuang-Hao Chiang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Method for Producing a Plurality of Semiconductor Chips Having a Mask Layer with Openings and Semiconductor Chip Having a Mask Layer with Openings

Номер патента: US20190139763A1. Автор: Korbinian Perzlmaier,Jürgen Off,Tobias Gotschke. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2019-05-09.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20200052100A1. Автор: Kenichi Okazaki,Junichi Koezuka,Masataka Nakada,Yasuharu Hosaka. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and manufacturing apparatus of semiconductor device

Номер патента: US20210234008A1. Автор: Hajime Nago,Toshiki Hikosaka,Jumpei Tajima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20150097275A1. Автор: Atsushi Imai,Takashi Ushijima,Yoshiaki Kominami. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-09.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20170373168A1. Автор: Naoya Okamoto,Shirou Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-12-28.

Production Method of Semiconductor Device and Semiconductor Device

Номер патента: US20090283773A1. Автор: Takuto Yasumatsu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-11-19.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20070128833A1. Автор: Tomoyuki Aoki,Takuya Tsurume,Tomoko Tamura,Koji Dairiki. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Method of measuring parameters of semiconductor structures

Номер патента: RU2622600C2. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Владимирович Скрипаль,Денис Викторович Пономарев,Екатерина Викторовна Латышева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2017-06-16.

Process for lift off and transfer of semiconductor devices onto an alien substrate

Номер патента: WO2000046847A1. Автор: William N. Carr,Alexander Y. Usenko. Владелец: Silicon Wafer Technologies, Inc.. Дата публикации: 2000-08-10.

Field-effect transistor, semiconductor device, a method for manufacturing them, and a method of semiconductor crystal growth

Номер патента: US7981744B2. Автор: Koji Hirata,Naoki Shibata,Masanobu Senda,Masayoshi Kosaki. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-19.

Fabrication method of semiconductor device using epitaxial growth process

Номер патента: US5723378A. Автор: Fumihiko Sato. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Semiconductor layer structure and method for fabricating a semiconductor layer structure

Номер патента: US20110151650A1. Автор: Brian Murphy,Jörg LINDNER,Maik Häberlen,Bernd Stritzker. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2011-06-23.

Semiconductor device and fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US20150311328A1. Автор: Manabu Takei,Yoshiyuki Yonezawa. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-29.

Structure and formation method of semiconductor device with epitaxial structures

Номер патента: US20230378268A1. Автор: Chien-Tai CHAN,Yu-Ching Huang,Chien-Chih Lin,Hsueh-Jen Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Formation method of semiconductor device with oxide semiconductor channel

Номер патента: US20220270872A1. Автор: Yu-Ming Lin,Sai-Hooi Yeong,Chih-Yu Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-08-25.

Through-vias for wiring layers of semiconductor devices

Номер патента: US20140312467A1. Автор: Christopher V. Jahnes,Bucknell C. Webb,Xiao Hu Liu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Method for fabrication of semiconductor light-emitting device and the device fabricated by the method

Номер патента: WO2006019180A1. Автор: Koji Yakushiji. Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2006-02-23.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240088212A1. Автор: Masakazu Watanabe,Yasuhiro Hirabayashi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Manufacturing method of semiconductor element, semiconductor layer support structure, and semiconductor substrate

Номер патента: EP4362065A1. Автор: Takahito Suzuki,Kenichi Tanigawa,Yutaka Kitajima,Hiroto Kawada,Toru Kosaka,Yusuke Nakai,Shinya Jumonji,Genichirou MATSUO. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Organic Electronic Component with Dopant, Use of a Dopant and Method for the Production of the Dopant

Номер патента: US20180108849A1. Автор: Guenter Schmid,Andreas Kanitz,Jan Hauke Wemken,Renate KELLERMANN,Benedict Hendrik Sandmann. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2018-04-19.

Semiconductor structure and semiconductor device including alternating semiconductor layers

Номер патента: EP4246555A1. Автор: Joseph Dion,Devendra DIWAN,Rakesh B. JAIN,Mohamed Lachab,Brandon Alexander Robinson,Mark GEPPERT. Владелец: Sensor Electronic Technology Inc. Дата публикации: 2023-09-20.

Semiconductor element for oscillating or detecting terahertz wave and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US20200111929A1. Автор: Yasushi Koyama,Jun Iba. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-04-09.

Defect reduction of semiconductor layers and semiconductor devices by anneal and related methods

Номер патента: US20200161142A1. Автор: Ali Salih. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-05-21.

Monolithic Integration of Semiconductor Materials

Номер патента: US20180025911A1. Автор: Amey Mahadev Walke,Nadine Collaert,Rita Rooyackers. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2018-01-25.

Epitaxial structure of semiconductor device, device and method of manufacturing epitaxial structure

Номер патента: US20240021671A1. Автор: HUI Zhang,Wenlong Zhou,Shiqiang Li,Kewei Tan,Susu KONG,Xiaoqing Du. Владелец: Dynax Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Semiconductor laser, semiconductor laser device, and fabrication method of semiconductor laser

Номер патента: US20110222569A1. Автор: Takashi Kondo,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2011-09-15.

Manufacturing method of semiconductor element, semiconductor layer support structure, and semiconductor substrate

Номер патента: US20240145239A1. Автор: Takahito Suzuki,Kenichi Tanigawa,Yutaka Kitajima,Hiroto Kawada,Toru Kosaka,Yusuke Nakai,Shinya Jumonji,Genichirou MATSUO. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11631694B2. Автор: Masaki Noguchi,Tatsunori Isogai. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-04-18.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20210272979A1. Автор: Masaki Noguchi,Tatsunori Isogai. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Method of making less electric current dependence of electric current gain of semiconductor device

Номер патента: US20140030878A1. Автор: Yutaka Hayashi,Toshitaka Ota,Yasushi Nagamune. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2014-01-30.

Method for fabricating stack structure of semiconductor packages

Номер патента: US20110070697A1. Автор: Han-Ping Pu,Cheng-Hsu Hsiao,Ho-Yi Tsai,Fang-Lin Tsai. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-24.

Method for fabricating stack structure of semiconductor packages

Номер патента: US8420521B2. Автор: Han-Ping Pu,Cheng-Hsu Hsiao,Ho-Yi Tsai,Fang-Lin Tsai. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-16.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240030056A1. Автор: Akira Mori,Masatake Nagaya,Masakazu Takeda,Mitsuru Kitaichi,Yuji NAGUMO,Masashi UECHA,naoya Kiyama,Masaru OKUDA. Владелец: Mirise Technologies Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: EP4290566A1. Автор: Akira Mori,Masatake Nagaya,Masakazu Takeda,Mitsuru Kitaichi,Yuji NAGUMO,Masashi UECHA,naoya Kiyama,Masaru OKUDA. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-13.

Apparatus and method of treating surface of semiconductor substrate

Номер патента: US20180082832A1. Автор: Yoshihiro Ogawa,Hiroshi Tomita,Shinsuke Kimura,Hisashi Okuchi,Tatsuhiko Koide. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Apparatus and method of treating surface of semiconductor substrate

Номер патента: US20160049289A1. Автор: Yoshihiro Ogawa,Hiroshi Tomita,Shinsuke Kimura,Hisashi Okuchi,Tatsuhiko Koide. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Holder manufacturing method for loading substrate of semiconductor manufacturing device, batch type boat having holder, loading/unloading method of semiconductor substrate using the same, and semiconductor manufacturing device having the same

Номер патента: US20060239799A1. Автор: Byoung Lee,Taek Jang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Semiconductor package including a plurality of semiconductor chips

Номер патента: US12057441B2. Автор: Manho Lee,Eunseok Song,Kyungsuk Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-06.

High voltage diodes for wafer on wafer packaging of semiconductor device

Номер патента: US20240322049A1. Автор: Haitao Liu,Michael A. Smith,Shyam Surthi. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240312976A1. Автор: Keiichi NIWA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Method of the drip etching of the contact platform of the built-in diode of a photo converter

Номер патента: RU2681660C1. Автор: Борис Николаевич Самсоненко. Владелец: Публичное акционерное общество "Сатурн" (ПАО "Сатурн"). Дата публикации: 2019-03-12.

Method of manufacture of semiconductor structures

Номер патента: RU2680606C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2019-02-25.

Method of epitaxial growth of semiconductor

Номер патента: US5373803A. Автор: Takashi Noguchi,Toshiharu Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1994-12-20.

Manufacturing method of semiconductor devices

Номер патента: US4143178A. Автор: Nobuhisa Kubota,Nozomu Harada. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1979-03-06.

Semiconductor device, driver circuit and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20060180862A1. Автор: Tetsuya Nitta,Yasunori Yamashita,Shinichiro Yanagi,Fumitoshi Yamamoto. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2006-08-17.

Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and manufacturing apparatus of semiconductor device

Номер патента: US11757006B2. Автор: Hajime Nago,Toshiki Hikosaka,Jumpei Tajima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230378313A1. Автор: Chung-Yi Chiu,Da-Jun Lin,Fu-Yu Tsai,Bin-Siang Tsai. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: US20230292497A1. Автор: Yao-Hsiung Kung. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Semiconductor device and a manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11810970B2. Автор: Tatsuo Harada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20200373407A1. Автор: Yi-Chun Shih,Shun-Min Yeh. Владелец: Glc Semiconductor Group Cq Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Epitaxial structure of semiconductor device and manufacturing method thereof and semiconductor device

Номер патента: US20230019524A1. Автор: HUI Zhang,Yi Pei,Hongtu QIAN. Владелец: Dynax Semiconductor Inc. Дата публикации: 2023-01-19.

Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and manufacturing apparatus of semiconductor device

Номер патента: US20220367644A1. Автор: Hajime Nago,Toshiki Hikosaka,Jumpei Tajima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Manufacturing method and support of semiconductor device

Номер патента: US20210280416A1. Автор: Tatsuo Migita. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Method for converting semiconductor layers

Номер патента: US20130240892A1. Автор: Patrik Stenner,Stephan Wieber,Matthias Patz,Michael Coelle. Владелец: EVONIK DEGUSSA GmbH. Дата публикации: 2013-09-19.

Method for Producing a Plurality of Semiconductor Chips and Semiconductor Chip

Номер патента: US20170309481A1. Автор: Korbinian Perzlmaier,Juergen Off,Tobias Gotschke. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2017-10-26.

Semiconductor device and a manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220254908A1. Автор: Tatsuo Harada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240222437A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Soldering system of semiconductor laser element

Номер патента: US20170373466A1. Автор: Tetsuhisa Takazane. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-12-28.

Isolation of semiconductor devices by buried separation rails

Номер патента: US20230197527A1. Автор: Richard Geiger,Peter Baumgärtner,Uwe Hodel,Walther Lutz,Georgios Panagopoulos,Richard HUDECZEK,Alexander Bechtold,Carla Moran Guizan,Johannes Xaver Rauh,Roshini Sachithanandan. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Semiconductor apparatus and manufacturing method of semiconductor apparatus

Номер патента: US20240096702A1. Автор: Yuta Sugimoto,Kenta Kuroda. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US7803716B2. Автор: Hiroshi Tanaka. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-28.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20200287009A1. Автор: Toru Anezaki,Fumitaka Ohno. Владелец: United Semiconductor Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Semiconductor device having a plurality of semiconductor elements interconnected by a redistribution layer

Номер патента: US20020050639A1. Автор: Yoshitaka Aiba,Toshio Hamano,Mitsutaka Sato. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-05-02.

Structure and formation method of semiconductor device with gate stack

Номер патента: US20160049482A1. Автор: Yung-Tsun LIU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-02-18.

Semiconductor device, manufacturing method of semiconductor device and testing device

Номер патента: US20210320184A1. Автор: Kensuke Okumura,Tomoo Yamanouchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-10-14.

Semiconductor device, manufacturing method of semiconductor device and testing device

Номер патента: US11764278B2. Автор: Kensuke Okumura,Tomoo Yamanouchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230307532A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Hiroshi TAKISHITA,Noriaki Yao. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Manufacturing method of semiconductor device using a heat-resistant adhesive sheet

Номер патента: MY164683A. Автор: Chang-Hoon Sim,Ki-Jeong Moon,Sung-Hwan Choi,Hae-Sang Jeon,Yun-Min Park. Владелец: Toray Advanced Mat Korea Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Semiconductor device, static random access memory cell and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US10170483B2. Автор: Ming-Hua Yu,Kun-Mu Li,Tsz-Mei Kwok,Yi-Jing Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-01-01.

Fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US7439190B2. Автор: Hiroshi Tanaka. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2008-10-21.

Fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US20080299752A1. Автор: Hiroshi Tanaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-12-04.

Manufacturing and reuse of semiconductor substrates

Номер патента: EP4420152A1. Автор: Hans-Joachim Schulze,Bernhard Goller,Martin Huber,Francisco Javier Santos Rodriguez,Matteo Piccin,Tobias Franz Wolfgang Hoechbauer,Iris Moder,Alexander Christian BINTER. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-08-28.

Manufacturing method and manufacturing apparatus of semiconductor device

Номер патента: US8445359B2. Автор: Shunpei Yamazaki,Koichiro Tanaka. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-21.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240274698A1. Автор: Takashi Yoshimura,Misaki Uchida,Shuntaro Yaguchi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US10347644B2. Автор: Chieh-Te Chen,Feng-Yi Chang,Fu-Che Lee. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-09.

Apparatuses and methods for coupling a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US20240290752A1. Автор: Timothy M. Hollis,Matthew B. Leslie,Roy E. Greeff. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Multi terminal capacitor within input output path of semiconductor package interconnect

Номер патента: US20180053717A1. Автор: Charles L. Arvin,Jean Audet,Charles L. REYNOLDS,Brian R. Sundlof,Brian W. Quinlan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-22.

Versatile system for limiting electric field degradation of semiconductor structures

Номер патента: US20050258494A1. Автор: Greg Baldwin,PR Chidambaram. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-11-24.

Bed structure underlying electrode pad of semiconductor device and method for manufacturing same

Номер патента: US20010040242A1. Автор: Noboru Koike. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-11-15.

Production managing system of semiconductor device

Номер патента: US20040167656A1. Автор: Keizo Yamada,Yousuke Itagaki,Takeo Ushiki,Tohru Tsujide. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-26.

Production managing system of semiconductor device

Номер патента: US6711453B2. Автор: Keizo Yamada,Yousuke Itagaki,Takeo Ushiki,Tohru Tsujide. Владелец: Fab Solutions Inc. Дата публикации: 2004-03-23.

Semiconductor device and nonvolatile semiconductor memory device comprising a plurality of semiconductor elements as well as process for the same

Номер патента: US20020117708A1. Автор: Naho Nishioka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-08-29.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20080220568A1. Автор: Hiroshi Sato,Akira Muto,Masahiko Osaka,Hiroyuki Nakamura,Katsuo Arai,Takuya Nakajo,Ichio Shimizu,Hidemasa Kagii,Keiichi Okawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-11.

Wet processing apparatus, wet processing method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20040262265A1. Автор: Kazunori Nemoto,Norio Suzuki,Michimasa Funabashi,Hiroyuki Mima,Masakatsu Kuwabara. Владелец: Trecenti Technologies Inc. Дата публикации: 2004-12-30.

Semiconductor light-emitting element, protective film of semiconductor light-emitting element, and method for fabricating same

Номер патента: US20130037850A1. Автор: Hisao Kawasaki,Toshihiko Nishimori,Hidetaka Kafuku. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2013-02-14.

Dry etching of semiconductor structures with fluorine-containing gases

Номер патента: US20230064393A1. Автор: Pinyen Lin,Fang-Wei Lee,Li-Te Lin,Han-Yu Lin,Tze-Chung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Method for surface modification of semiconductor layer and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20090011574A1. Автор: Chia-Wei Wu,Wei-Yao Tang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2009-01-08.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: WO2015177685A1. Автор: Yasumasa Yamane,Ryo Tokumaru,Shunpei Yamazaki,Masayuki Sakakura,Yuhei Sato,Tetsuhiro Tanaka. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2015-11-26.

Method for forming a trench in a first semiconductor layer of a multi-layer system

Номер патента: US20220230886A1. Автор: Nicolas Schorr,Christof Schwenk. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2022-07-21.

Semiconductor module and manufacturing method of semiconductor module

Номер патента: US12021001B2. Автор: Kazuo Enomoto. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20210327779A1. Автор: Shotaro SAKUMOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

Combined power electronics for an electric drive and a transmission control of the electric drive, inverter with such combined power electronics, electric drive with such an inverter

Номер патента: US20220140724A1. Автор: Marco Igel,Pengshuai Wang,Michael Kohr,Wolfgang Scherm,Maxim Pereverzev,Roman Huff. Владелец: ZF FRIEDRICHSHAFEN AG. Дата публикации: 2022-05-05.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240162092A1. Автор: Akira Mori,Masatake Nagaya,Masakazu Takeda,Mitsuru Kitaichi,Yuji NAGUMO,Masashi UECHA,naoya Kiyama,Masaru OKUDA. Владелец: Mirise Technologies Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Structure and formation method of semiconductor device with embedded capacitor

Номер патента: US20160064385A1. Автор: Chun-Sheng Wu,Chun-Li Lin,Yung-Tsun LIU,Yi-Fang LI,Geng-Shuoh Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20240071916A1. Автор: Shuai Guo. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20240162284A1. Автор: Takashi Yoshimura,Hiroshi TAKISHITA,Yuusuke OOSHIMA,Shuntaro Yaguchi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US9530839B2. Автор: Kimitoshi Okano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Structure and formation method of semiconductor device with metal gate stack

Номер патента: US20220037491A1. Автор: Chih-Hao Wang,Kuo-Cheng Chiang,Jia-Chuan You,Huan-Chieh Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20070032056A1. Автор: Izuo Iida. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2007-02-08.

Configuration and fabrication of semiconductor structure having bipolar junction transistor in which non-monocrystalline semiconductor spacing portion controls base-link length

Номер патента: US20100244143A1. Автор: Constantin Bulucea,Jeng-Jiun Yang. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2010-09-30.

Semiconductor device, power conversion apparatus, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220301956A1. Автор: Masayuki Mafune. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20200279917A1. Автор: Yu-Chih Su,Yao-Jhan Wang,Che-Hsien Lin,Chun-jen Huang,Cheng-Yeh Huang,Te-Chang Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2020-09-03.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220415712A1. Автор: Naruhisa Nagata. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-29.

Method of forming wiring on a plurality of semiconductor devices from a single metal plate, and a semiconductor construction assembly formed by the method

Номер патента: US8067274B2. Автор: Takeshi Wakabayashi,Ichiro Mihara. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-29.

Positional relationship among components of semiconductor device

Номер патента: US20200013702A1. Автор: Noriyuki Takahashi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2020-01-09.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20170125553A1. Автор: Yasumasa Yamane,Ryo Tokumaru,Shunpei Yamazaki,Masayuki Sakakura,Yuhei Sato,Tetsuhiro Tanaka. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-04.

Fabrication method of semiconductor package

Номер патента: US20140342505A1. Автор: Chun-Tang Lin,Yan-Heng Chen,Mu-Hsuan Chan,Chieh-Yuan Chi,Yan-Yi Liao. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-20.

Combined power electronics for an electric drive and a transmission control of the electric drive, inverter with such combined power electronics, electric drive with such an inverter

Номер патента: US12058831B2. Автор: Marco Igel,Pengshuai Wang,Michael Kohr,Wolfgang Scherm,Maxim Pereverzev,Roman Huff. Владелец: ZF FRIEDRICHSHAFEN AG. Дата публикации: 2024-08-06.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240274707A1. Автор: Tsung-Yu Yang,Shin-Hung Li,Ruei-Jhe Tsao,Che-Hua CHANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Semiconductor package, method and mold for producing same, input and output terminals of semiconductor package

Номер патента: US20140077345A1. Автор: Takashi Uno,Tomohide Kamiyama,Hiroshi Naitou,Hikaru Ikeda,Kazuhiro Yahata,Motoyoshi Iwata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-03-20.

Manufacturing method of semiconductor device and dry etching apparatus for the same

Номер патента: US20140273482A1. Автор: Masaki Matsui,Yoshinori Tsuchiya,Shinichi Hoshi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2014-09-18.

Method of grinding back surface of semiconductor wafer and semiconductor wafer grinding apparatus

Номер патента: SG131917A1. Автор: Tomoo Hayashi,Motoi Nezu. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-28.

Reduction of semiconductor stresses

Номер патента: EP2164099A3. Автор: Kai Johansson,Kari Tikkanen,Kjell Ingman,Tomi Väisälä. Владелец: ABB Oy. Дата публикации: 2016-11-09.

Structure and Formation Method of Semiconductor Device Structure

Номер патента: US20170133490A1. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-05-11.

Structure and Formation Method of Semiconductor Device Structure

Номер патента: US20170084499A1. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-23.

Structure and formation method of semiconductor device structure

Номер патента: US20160351700A1. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-01.

Structure of Semiconductor Device Structure Having Fins

Номер патента: US20200312985A1. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Structure and Formation Method of Semiconductor Device Structure

Номер патента: US20180308956A1. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-10-25.

Structure of semiconductor device structure having fins

Номер патента: US10686059B2. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-06-16.

Structure and formation method of semiconductor device with metal gate

Номер патента: US10014394B2. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-07-03.

Structure and formation method of semiconductor device structure

Номер патента: US9899271B2. Автор: Che-Cheng Chang,Yu-Cheng Liu,Wei-Ting Chen,Chen-Hsiang LU,Jui-Ping Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US9076777B2. Автор: Yoshiharu Kaneda,Naoko Taniguchi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2015-07-07.

Semiconductor device utilizing annealed semiconductor layer as channel region

Номер патента: US6097038A. Автор: Yushi Jinno. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2000-08-01.

Method for forming a silicide layer of semiconductor device

Номер патента: US20030119309A1. Автор: Jeong Lee,Chang Ryoo,Yong Sohn. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-06-26.

Method of manufacture of semiconductor device

Номер патента: US20070166977A1. Автор: Hiroshi Itokawa,Kyoichi Suguro,Haruko Akutsu,Yoshimasa Kawase,Toshihiko Iinuma. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-19.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20100159702A1. Автор: Masaru Yamada,Akihiko Tsudumitani. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-24.

Method of fabrication of semiconductor structures by ion implantation

Номер патента: US20020013039A1. Автор: Fernando Gonzalez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-31.

Method and system for detaching a semiconductor layer, and semi-finished product

Номер патента: WO2024156689A1. Автор: Martin Hörner,Matthias Leo HEILIG,Giuliano Vescovi,Kumara Vamsi Krishna Vandanapu. Владелец: NexWafe GmbH. Дата публикации: 2024-08-02.

Electrode structure of rear electrode of semiconductor substrate, method of its obtaining and sputtered target for use in production of electrode structure

Номер патента: RU2718134C1. Автор: Тецуя КАТО,Йохей МИЗУНО,Тихару ИСИКУРА. Владелец: Танака Кикинзоку Когио К.К.. Дата публикации: 2020-03-30.

Manufacturing method of soi substrate and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20100151663A1. Автор: Shunpei Yamazaki,Junpei Momo,Hideto Ohnuma. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Method of forming transparent, conductive film, method of compensating defective region of semiconductor layer, photovoltaic element, and method of producing photovoltaic element

Номер патента: US20020144726A1. Автор: Yasuyoshi Takai,Toshihiro Yamashita,Hiroshi Izawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-10.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US8476166B2. Автор: Toshiyuki Kosaka,Tsutomu Komatani,Haruo Kawata. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2013-07-02.

Method of forming transparent, conductive film, method of compensating defective region of semiconductor layer, photovoltaic element, and method of producing photovoltaic element

Номер патента: EP1229595A3. Автор: Yasuyoshi Takai,Toshihiro Yamashita,Hiroshi Izawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-06-27.

Manufacturing method of semiconductor package

Номер патента: US12033928B2. Автор: Ming-Chih Yew,Shin-puu Jeng,Po-Yao Lin,Shu-Shen Yeh,Chia-Kuei Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Mounting method of semiconductor element and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20080124834A1. Автор: Seiki Sakuyama,Toshiya Akamatsu,Joji Fujimori. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-05-29.

Light-emitting element and light-emitting device including a first p-side semiconductor layer and a second p-side semiconductor layer

Номер патента: US9780261B2. Автор: Yoshiki Inoue,Hiroaki Kageyama,Keiji Emura. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Structure and formation method of semiconductor device with backside contact

Номер патента: US12015060B2. Автор: Wei-Yang Lee,Chia-Pin Lin,Feng-Ching Chu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Gate structure over corner segment of semiconductor region

Номер патента: EP4376094A2. Автор: Shady Ahmed Abdelwahed Ahmed Elshafie,Kiril Biserov Borisov,Mohammed Ahmed Fouad Ibrahim Darwish,Francois C. Weisbuch,David Charles PRITCHARD,Benoit Francois Claude Ramadout. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-05-29.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20110183470A1. Автор: Ryosuke Watanabe. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-28.

Low-temperature method for transfer and healing of a semiconductor layer

Номер патента: US12027421B2. Автор: Shay REBOH. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2024-07-02.

Temporary bonding laminates for used in manufacture of semiconductor devices and method for manufacturing semiconductor devices

Номер патента: US20160013088A1. Автор: Kazuhiro Fujimaki,Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Fabrication method of semiconductor die and chip-on-plastic packaging of semiconductor die

Номер патента: US11901322B2. Автор: Jae Sik Choi,Jin Won JEONG,Byeung Soo SONG. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20150235901A1. Автор: Tamotsu Owada,Hirosato Ochimizu,Hikaru Ohira. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2015-08-20.

Electronic device including a semiconductor layer within a trench and a semiconductor layer and a process of forming the same

Номер патента: US20230282688A1. Автор: Ralph N. Wall,Raymond LAPPAN. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2023-09-07.

Semiconductor device and method of making including cap layer and nitride semiconductor layer

Номер патента: US20160163822A1. Автор: Kohji Ishikura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-06-09.

Heat radiation structure of semiconductor element and heat sink

Номер патента: US20050174740A1. Автор: Makoto Hayakawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2005-08-11.

Method for reducing nonuniformity of forward voltage of semiconductor wafer

Номер патента: US20160005622A1. Автор: Shinya Iwasaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-01-07.

Electrical discharge machining of semiconductors

Номер патента: US20230395381A1. Автор: Gregory Nielson. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2023-12-07.

Semiconductor structure comprising an active semiconductor layer of the III-V type on a buffer layer stack and method for producing semiconductor structure

Номер патента: US9991346B2. Автор: Stefan Degroote,Joff Derluyn. Владелец: EPIGAN NV. Дата публикации: 2018-06-05.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US12046630B2. Автор: Tao Liu,Jun Xia,Penghui Xu,Sen Li,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Methods of reinforcing integrated circuitry of semiconductor devices and related semiconductor devices and packages

Номер патента: US20190393110A1. Автор: AJAY Kumar,John House,Hyunsoo Yeom. Владелец: Microchip Technology Inc. Дата публикации: 2019-12-26.

Hybrid bonding of semiconductor structures to advanced substrate panels

Номер патента: WO2024019974A1. Автор: Ronald Patrick Huemoeller,Vincent DiCaprio,Anup Pancholi,Marvin Louis Bernt,Avinash Shantaram. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-01-25.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240038711A1. Автор: Akira Mori,Masatake Nagaya,Masakazu Takeda,Mitsuru Kitaichi,Teruaki Kumazawa,Yuji NAGUMO,Masashi UECHA,naoya Kiyama,Masaru OKUDA. Владелец: Mirise Technologies Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230268230A1. Автор: Yuji NAGUMO,Masashi UECHA,Fumihito Tachibana. Владелец: Mirise Technologies Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20200243514A1. Автор: Shunpei Yamazaki,Katsuaki TOCHIBAYASHI,Tatsuya Onuki. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-30.

Thin film transistor, manufacturing method of the same, and display device having the same

Номер патента: US20240234580A9. Автор: Min Ji Kim,Sun Woo Lee,Jae Bum HAN,Bo Hwa KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Protection of semiconductor-oxide-containing gate dielectric during replacement gate formation

Номер патента: US9577068B2. Автор: Ravikumar Ramachandran,Gregory Costrini,Richard S. Wise,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Thin film transistor, manufacturing method of the same, and display device having the same

Номер патента: US20240136443A1. Автор: Min Ji Kim,Sun Woo Lee,Jae Bum HAN,Bo Hwa KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Ultraviolet light emitting devices having a dielectric layer and a transparent electrode layer disposed in between patterned nitride semiconductor layers

Номер патента: US20190189841A1. Автор: Mi Hyun Kim,Young Hwan Park,Joo Sung KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-20.

Semiconductor apparatus and manufacturing method of semiconductor apparatus

Номер патента: US20080054463A1. Автор: Hiroyuki Nakanishi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2008-03-06.

Gate structure over corner segment of semiconductor region

Номер патента: EP4376094A3. Автор: Shady Ahmed Abdelwahed Ahmed Elshafie,Kiril Biserov Borisov,Mohammed Ahmed Fouad Ibrahim Darwish,Francois C. Weisbuch,David Charles PRITCHARD,Benoit Francois Claude Ramadout. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230069568A1. Автор: Tsutomu Kato. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

mask sheet for assembly of semiconductor device and assembling method of semiconductor device

Номер патента: MY138636A. Автор: Toshihiro NAKAJIMA,Yuichi Moriya,Katsuji Nakaba. Владелец: Tomoegawa Paper Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-31.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: WO2007043285A9. Автор: Ryosuke Watanabe. Владелец: Ryosuke Watanabe. Дата публикации: 2007-06-07.

Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20090117709A1. Автор: Yoshiyuki Abe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-05-07.

Process for collectively fabricating a plurality of semiconductor structures

Номер патента: US11876073B2. Автор: David Sotta. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2024-01-16.

Semiconductor memory device and manufacturing method of semiconductor memory device

Номер патента: US20240266339A1. Автор: Nam Jae LEE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Display device including a semiconductor layer having a region with a widened width

Номер патента: US11765936B2. Автор: Dong Ha Lee,Hui-Won Yang,Sang Hyung LIM,Kyu Min Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Power converter for reducing a difference between reference potentials of semiconductor devices that are simultaneously turned on and off

Номер патента: US10291149B2. Автор: Tomohisa Sano,Yohei Kondo,Yuu YAMAHIRA,Kengo MOCHIKI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-05-14.

Semiconductor device and manufacturing method thereof, and mounting method of semiconductor device

Номер патента: US20150035156A1. Автор: Kazuhito Ichinose,Kazuyuki Omori,Seiji Muranaka. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Controlling the stoichiometry and doping of semiconductor materials

Номер патента: US20150221810A1. Автор: James Burst,David Albin,Joel DUENOW,Stuart FARRELL,Wyatt METZGER,Eric COLEGROVE. Владелец: Alliance for Sustainable Energy LLC. Дата публикации: 2015-08-06.

Integration of semiconductor on implanted insulator

Номер патента: US6768130B2. Автор: Matthew J. Comard. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2004-07-27.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US12080758B2. Автор: Weichao ZHANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Electrical discharge machining of semiconductors

Номер патента: WO2022087524A1. Автор: Gregory Nielson. Владелец: Nielson Scientific, Llc. Дата публикации: 2022-04-28.

Method of forming junction of semiconductor device

Номер патента: US20090111233A1. Автор: Dong Ho Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-04-30.

Semiconductor device and fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US20210005751A1. Автор: Shunpei Yamazaki,Ryota Hodo,Katsuaki TOCHIBAYASHI. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240282817A1. Автор: Yuuki Oda,Tohru SHIRAKAWA,Atsushi ONOGAWA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Layout of semiconductor device, semiconductor device and method of forming the same

Номер патента: US10553577B2. Автор: Yu-Cheng Tung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2020-02-04.

Manufacturing method of semiconductor apparatus and semiconductor apparatus

Номер патента: US20160197163A1. Автор: Hidenori Takahashi,Takumi Fujimoto,Takeyoshi Nishimura,Yasushi Niimura,Sota Watanabe,Takamasa Wakabayashi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-07.

Selective Plating of Semiconductor Package Leads

Номер патента: US20200020621A1. Автор: Jayaganasan Narayanasamy,Jagen KRISHNAN,Syahir Abd Hamid. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-01-16.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20180261617A1. Автор: Hideaki Matsumura,Satoshi Torii,Shu Ishihara. Владелец: Mie Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US10249637B2. Автор: Hideaki Matsumura,Satoshi Torii,Shu Ishihara. Владелец: Mie Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2019-04-02.

Protection of semiconductor-oxide-containing gate dielectric during replacement gate formation

Номер патента: US20160351687A1. Автор: Ravikumar Ramachandran,Gregory Costrini,Richard S. Wise,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-01.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20220302253A1. Автор: Weichao ZHANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Semiconductor structure and manufacturing method thereof and terminal area structure of semiconductor device

Номер патента: US20180337229A1. Автор: Chih-Hung Chen,Chin-Fu Chen,Yi-Yun Tsai. Владелец: Ubiq Semiconductor Corp. Дата публикации: 2018-11-22.

Formation of control and floating gates of semiconductor non-volatile memories

Номер патента: EP1042810A1. Автор: Steven Keetai Park. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2000-10-11.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20010053579A1. Автор: TAKESHI Toda,Yoshiro Goto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-20.

Method for forming inner capacitor of semiconductor devices using oxide layers formed by the SACVD method

Номер патента: US20020039827A1. Автор: Jai-Sun Roh. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2002-04-04.

Laser scribe on front side of semiconductor wafer

Номер патента: US20040211750A1. Автор: Byron Palla. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2004-10-28.

Stacked assembly of semiconductor packages with fastening lead-cut ends of leadframe

Номер патента: US20090127678A1. Автор: Wen-Jeng Fan. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2009-05-21.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20100140691A1. Автор: Chul-Jin Yoon. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2010-06-10.

Method for the manufacture of semiconductor devices and circuits

Номер патента: US20020109139A1. Автор: Kramadhati Ravi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-15.

Structure and Formation Method of Semiconductor Device Structure

Номер патента: US20240274691A1. Автор: Po-Chi WU,Chai-Wei Chang,Yi-Cheng Chao,Kuo-Hui Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and Treatment System for Uniform Processing of Semiconductor Devices

Номер патента: US20240234192A1. Автор: Ching-Hua Hsieh,Hsiu-Jen Lin,Wei-Yu Chen,Hao-Jan Pei,Chih-Chiang Tsao,Cheng-Shiuan Wong,Chao-Wei Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method of semiconductor device fabrication

Номер патента: WO1999025016A1. Автор: Paul A. Jerred. Владелец: Zetex PLC. Дата публикации: 1999-05-20.

Method for stripping a iii-v semiconductor layer epitaxially grown on a semiconductor wafer

Номер патента: US20240304746A1. Автор: Wolfgang Koestler,Chérubin Noumissing Sao,Steffen Sommer. Владелец: AZUR SPACE SOLAR POWER GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Manufacturing method of functional element of semiconductor device

Номер патента: RU2727557C1. Автор: Сергей Арсеньевич Кукушкин,Андрей Викторович Осипов,Николай Александрович Феоктистов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-технический центр "Новые технологии". Дата публикации: 2020-07-22.

Oxide semiconductor layer and preparation method thereof, device, substrate and means

Номер патента: US11087978B2. Автор: Jun Liu,Liangchen YAN,Guangcai Yuan,Wuxia FU,Dongfang Wang,Tongshang Su,Qinghe Wang. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-10.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220005957A1. Автор: Chia-Jung Hsu,Chih-Kai Hsu,Ssu-I Fu,Chun-Ya Chiu,Chin-Hung Chen,Yu-Hsiang Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-01-06.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20170047409A1. Автор: Yoshitake Kato,Toshihiro Iizuka,Shin Koyama. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-02-16.

Oxide semiconductor layer and preparation method thereof, device, substrate and means

Номер патента: US20200027729A1. Автор: Jun Liu,Liangchen YAN,Guangcai Yuan,Wuxia FU,Dongfang Wang,Tongshang Su,Qinghe Wang. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Method for production of semiconductor chip and semiconductor chip

Номер патента: EP1695378A1. Автор: Katsuki c/o Showa Denko HD KK KUSUNOKi. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2006-08-30.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240204075A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Cell structure of semiconductor device, preparation method thereof and semiconductor device

Номер патента: US20240014301A1. Автор: Bo Shi,Ting Xiao,Yiren LIN. Владелец: Edgeless Semiconductor Co Ltd Of Zhuhai. Дата публикации: 2024-01-11.

Lead frame of semiconductor device, integrated-type lead frame of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20230317572A1. Автор: Shogo Shibata,Kazufumi Oki,Shuhei Yokoyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Semiconductor device including oxide semiconductor layer

Номер патента: US12034047B2. Автор: Sang Woo Lee,Min Hee Cho,Woo Bin Song. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device including oxide semiconductor layer and electronic device including the semiconductor device

Номер патента: US20240222515A1. Автор: Yongsung Kim,Kwanghee Lee,Jeeeun YANG,Sangwook Kim,Moonil Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Semiconductor substrate, and manufacturing method and manufacturing apparatus of semiconductor substrate

Номер патента: US20240234137A9. Автор: Fumio Yamashita,Kazuma Takeuchi,Takeshi Kamikawa,Yuta Aoki,Katsuaki Masaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Contact via structures of semiconductor devices

Номер патента: US20230395425A1. Автор: Yung Fu Chong,Rui Tze TOH,Fangyue Liu. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2023-12-07.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20240055506A1. Автор: Takashi Yoshimura,Motoyoshi KUBOUCHI,Makoto Shimosawa,Misaki Uchida. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20130264576A1. Автор: Takashi Onizawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2013-10-10.

Terminal protection circuit of semiconductor chip

Номер патента: US20210225833A1. Автор: Hiroshi Maruyama. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220262672A1. Автор: Yutaka Uchida. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-18.

Doped semiconductor layer forming method

Номер патента: US20210184073A1. Автор: Hubert Bono,Julia Simon,Virginie MAFFINI ALVARO. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-06-17.

Compound semiconductor device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20130126897A1. Автор: Tadahiro Imada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-05-23.

Layer arrangement of hetero-connected semiconductor layers, comprising at least one intermediate separation layer, and method for the production thereof

Номер патента: AU2003283185A1. Автор: Martha Christina Lux-Steiner,David Fuertes Marrón,Alexander Meeder,Thomas Schedel-Niedrig,Roland WÜRZ. Владелец: Hahn Meitner Institut Berlin GmbH. Дата публикации: 2004-05-04.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20030096505A1. Автор: Kenji Shintani,Junji Tanimura,Takahiro Maruyama,Mutumi Tuda,Ryoichi Yoshifuku. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-05-22.

Semiconductor device having superlattice semiconductor layer and method of manufacturing the same

Номер патента: EP1505698B1. Автор: Won-seok Lee,Joon-seop Kwak,Kyoung-ho Ha,Ho-sun Paek,Sung-nam Lee,Tan B-502 Stbobo 2-cha Sakong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-09-09.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20190273156A1. Автор: Hidenori Takahashi,Tohru SHIRAKAWA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-05.

Dynamic random access memory cell employing trenches located between lengthwise edges of semiconductor fins

Номер патента: US20150145010A1. Автор: Ravikumar Ramachandran,Herbert L. Ho,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Nitride semiconductor device, nitride semiconductor wafer, and method for manufacturing nitride semiconductor layer

Номер патента: US20120292593A1. Автор: Hung Hung,Shinya Nunoue,Taisuke Sato,Naoharu Sugiyama,Tomonari SHIODA,Jongil Hwang. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-11-22.

Heat dissipation structure of semiconductor device

Номер патента: US20190027421A1. Автор: Takeo Nishikawa,Eiichi Omura,Takayoshi Tawaragi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-01-24.

Release film for semiconductor package, manufacturing method thereof, and manufacturing method of semiconductor package using the same

Номер патента: US20240222146A1. Автор: Jeong-Eun Lee,Goan-Hee Yoon. Владелец: Siltech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Transistor of semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20120313183A1. Автор: Ki Bong Nam. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-12-13.

Device isolation using preferential oxidation of the bulk substrate

Номер патента: US10249719B2. Автор: Yu Zhu,Anirban Basu,Amlan Majumdar,Guy M. Cohen. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-04-02.

Metal clip assembly, semiconductor device assembly, method for manufacturing semiconductor device assembly, and application of semiconductor device assembly

Номер патента: US20240250005A1. Автор: Xin Huang,Limin Wang. Владелец: Chongqing Alpha And Omega Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Capacitor, semiconductor device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US12041765B2. Автор: Yuichi Sato,Tomoaki Moriwaka,Ryota Hodo,Yuta IIDA. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Structure with photodiode, high electron mobility transistor, surface acoustic wave device and fabricating method of the same

Номер патента: US20240162208A1. Автор: Chih-Wei Chang,Chung-Yi Chiu,Da-Jun Lin,Fu-Yu Tsai,Bin-Siang Tsai. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Isolation Structures Of Semiconductor Devices

Номер патента: US20240250122A1. Автор: I-Sheng Chen,Chao-Ching Cheng,Tzu-Chiang CHEN,Hung-Li Chiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Graphene growth on a carbon-containing semiconductor layer

Номер патента: US20120193603A1. Автор: Alfred Grill,Chun-Yung Sung,Jack O. Chu,Christos D. Dimitrakopoulos. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Multi-semiconductor layer photodetector and related method

Номер патента: US12051761B2. Автор: Eng Huat Toh,Yongshun SUN,Shyue Seng Tan,Xinshu CAI,Khee Yong Lim,Kiok Boone Elgin Quek,Cancan Wu,Thanh Hoa Phung. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2024-07-30.

Electronic component and package including stress release structure as lateral edge portion of semiconductor body

Номер патента: US20240258372A1. Автор: Alexander Heinrich,Sebastian Polster,Martin Richard Niessner. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor layer stack and method for producing same

Номер патента: US11424596B2. Автор: Armin Dadgar,Andre Strittmatter. Владелец: Otto Von Guericke Universitaet Magdeburg. Дата публикации: 2022-08-23.

Epitaxial structure of semiconductor light-emitting element, semiconductor light-emitting element, and light-emitting device

Номер патента: US20240145627A1. Автор: Chung-Ying Chang,Meng-hsin YEH,Bing-Yang Chen,Zhousheng JIANG,Dongpo CHEN. Владелец: Quanzhou Sanan Semiconductor Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Package Structure of Semiconductor and Wafer-level Formation Thereof

Номер патента: US20060216859A1. Автор: Kuo-Pin Yang,Wei-Min Hsiao. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2006-09-28.

Photoelectric converter having chalcopyrite compound semiconductor layer partitioned into pixels and shielding layer arranged around each pixel

Номер патента: US8963272B2. Автор: Osamu Matsushima,Takuji Maekawa,Toshihisa Maeda. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2015-02-24.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20110156220A1. Автор: Satoru Nakayama,Shoetsu KOGAWA,Seigo Kamata,Shigemitsu Seito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-06-30.

High electron mobility transistor with semiconductor layer having a thickness varying along the transistor width

Номер патента: WO2019077784A1. Автор: Koon Hoo Teo,Nadim CHOWDHURY. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2019-04-25.

Barrier layer for contact structures of semiconductor devices

Номер патента: US20230260792A1. Автор: Tsung-Yu CHIANG,Chi-Ruei YEH,Hsin Hsiang TSENG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Methods for reducing vibration of semiconductor manufacturing apparatuses and semiconductor manufacturing apparatuses

Номер патента: US20240247700A1. Автор: Chien Ting Lin,Ker-Hsun LIAO,Wei-Ming Wang,Yi-Chen Ho,Chih Ping Liao,Chi-Hsun Lin,Jie-Ying YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Method and a device for oxidation of a semiconductor layer of SIC

Номер патента: US5698472A. Автор: Christopher Harris. Владелец: ABB Research Ltd Switzerland. Дата публикации: 1997-12-16.

Method of semiconductor device fabrication

Номер патента: US10446396B2. Автор: Tsung-Yao Wen,Angus Hsiao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-10-15.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US11634356B2. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2023-04-25.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20050158943A1. Автор: Yoshihiko Miyawaki. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Method for fabricating a display substrate by generating heat with a light shielding layer for crystallization of a semiconductor layer

Номер патента: US10923505B2. Автор: LU Wang,Guangcai Yuan,Yang Lv,Jianhua Du,Feng Guan,Zhaohui QIANG,Woobong Lee. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-16.

Method for forming step channel of semiconductor device

Номер патента: US20060141800A1. Автор: Young Cho. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-06-29.

Method for forming step channel of semiconductor device

Номер патента: US7309656B2. Автор: Young Man Cho. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-12-18.

Wafer treatment method for protecting fuse box of semiconductor chip

Номер патента: US20030080360A1. Автор: Jae-Il Lee,Jeong-Ho Bang,Hyo-geun Chae,Young-Moon Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-05-01.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160276291A1. Автор: Keisuke Nakazawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160047046A1. Автор: Takayuki Matsui,Hajime Nagano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Method for forming semiconductor layer and method for manufacturing light emitting device

Номер патента: EP2360743A3. Автор: Sang Hoon Han,Dae Sung Kang. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

Method for forming semiconductor layer and method for manufacturing light emitting device

Номер патента: US20110195539A1. Автор: Sang Hoon Han,Dae Sung Kang. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-11.

Shielding elements for packages of semiconductor devices

Номер патента: US20230056509A1. Автор: Ranjan Rajoo,Venkata Narayana Rao Vanukuru. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2023-02-23.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: US12080629B2. Автор: Ming-Fa Chen,Hsien-Wei Chen,Sen-Bor Jan,Chih-Chia Hu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Semiconductor device, manufacturing method of semiconductor device, and electronic apparatus

Номер патента: US20230090278A1. Автор: Eiichirou Kishida. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Semiconductor device, manufacturing method of semiconductor device, and electronic apparatus

Номер патента: US12014968B2. Автор: Eiichirou Kishida. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Thin film transistor having oxide semiconductor layer as ohmic contact layer

Номер патента: US20140048800A1. Автор: Chun-Gi You. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-20.

Method and apparatus for thin-layer chemical processing of semiconductor wafers

Номер патента: EP1639629A1. Автор: Sophia Wen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-29.

Thin film transistor having oxide semiconductor layer as ohmic contact layer

Номер патента: US8921863B2. Автор: Chun-Gi You. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-30.

Tungsten plug structure of semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20070102824A1. Автор: In Chun. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-05-10.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20080102572A1. Автор: Hirotaka Komatsubara. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-01.

Process of forming an electronic device including a doped semiconductor layer

Номер патента: US20090042373A1. Автор: Bich-Yen Nguyen,Stefan Zollner. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-02-12.

Method of forming isolation structure of semiconductor device for preventing excessive loss during recess gate formation

Номер патента: US20090029521A1. Автор: Dong Sun Sheen,Sang Tae Ahn,Seok Pyo Song,Hyeon Ju An. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-01-29.

Formation method of semiconductor structure

Номер патента: US12080589B2. Автор: Hong Lin,Weijun Wang. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING HETERODYNE LOCK-IN IMAGING AND QUANTITATIVE NON-CONTACT MEASUREMENTS OF ELECTRICAL PROPERTIES

Номер патента: US20130278749A1. Автор: Mandelis Andreas,Melnikov Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

Optical transmitter implemented with two QPSK modulators made of semiconductor material and a method to control optical power output therefrom

Номер патента: US9197328B2. Автор: Shingo Yamanaka. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2015-11-24.

Technologies of the black list for evaluation of the detected event schedule

Номер патента: RU2655650C2. Автор: Цзяньцзунь ЧЭНЬ,Хён-Нам ЦОЙ,Михаэль ЦИЦМАН. Владелец: ИНТЕЛ АйПи КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2018-05-29.

Semiconductor light-emitting element, manufacturing method of semiconductor light-emitting element, and semiconductor device

Номер патента: US20150255950A1. Автор: Kota Tokuda,Takayuki Kawasumi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Fabrication method of semiconductor luminescent device

Номер патента: US7629187B2. Автор: Hiroyuki Sumitomo,Makoto Ueda,Satoshi Kajiyama. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Fabrication method of semiconductor luminescent device

Номер патента: US20070166961A1. Автор: Hiroyuki Sumitomo,Makoto Ueda,Satoshi Kajiyama. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2007-07-19.

Method for producing a plurality of semiconductor lasers and semiconductor laser

Номер патента: US20240047935A1. Автор: Sven GERHARD,Lars Nähle. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-02-08.

Conductor and manufacturing method of the same

Номер патента: US20230120391A1. Автор: Yoshinobu Suzuki,Takumi Okamoto,Keisuke FUGANE. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Chemically-doped composite insulator for early detection of potential failures due to exposure of the fiberglass rod

Номер патента: CA2534084A1. Автор: Stephen J. Hudak,Joseph N. Mitchell,Andrew J. Phillips,Mary C. Marshall,Ralph H. Hill, Jr.. Владелец: Ralph H. Hill, Jr.. Дата публикации: 2005-03-03.

Multi-junction bottom emitting vertical cavity surface emitting laser and the fabrication method of the same

Номер патента: EP4369537A2. Автор: Yuhui Luo,Chuyuen CHAN. Владелец: Brightlaser Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Multi-junction bottom emitting vertical cavity surface emitting laser and the fabrication method of the same

Номер патента: EP4369537A3. Автор: Yuhui Luo,Chuyuen CHAN. Владелец: Brightlaser Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Semiconductor laser body, semiconductor laser element, semiconductor laser substrate, electronic apparatus, and manufacturing method and manufacturing apparatus of semiconductor laser device

Номер патента: US20240283219A1. Автор: Yoshinobu Kawaguchi,Takeshi Kamikawa,Kentaro Murakawa. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Semiconductor laser device and method of controlling light amount of semiconductor laser

Номер патента: US20010048697A1. Автор: Kiyoshi Kondou. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2001-12-06.

Indirect monitoring of semiconductor light source within a photonic package

Номер патента: US20030164448A1. Автор: Richard Booman,David Ohm. Владелец: Network Elements Inc. Дата публикации: 2003-09-04.

Conformal metallization process for the fabrication of semiconductor laser devices

Номер патента: US20130163631A1. Автор: Jia-Sheng Huang,Phong Thai. Владелец: Emcore Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

Wavelength control in phase region of semiconductor lasers

Номер патента: EP2220732A1. Автор: Jacques Gollier. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2010-08-25.

Apparatus and method for the treatment of semiconductor substrates

Номер патента: WO2009150226A2. Автор: Andreas Tikovsky. Владелец: INTEGA GmbH. Дата публикации: 2009-12-17.

Method for compensating for output of semiconductor luminous device and apparatus therefor

Номер патента: US20020006142A1. Автор: Shin Nagata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-17.

Apparatus and method for the treatment of semiconductor substrates

Номер патента: WO2009150226A3. Автор: Andreas Tikovsky. Владелец: INTEGA GmbH. Дата публикации: 2010-02-04.

Recordable optical storage medium comprising a semiconductor layer, and respective manufacturing method

Номер патента: EP2223297B1. Автор: Christophe Fery,Stephan Knappmann,Larisa von Riewel. Владелец: Thomson Licensing SAS. Дата публикации: 2012-03-28.

Recordable optical storage medium comprising a semiconductor layer, and respective manufacturing method

Номер патента: EP2223297A1. Автор: Christophe Fery,Stephan Knappmann,Larisa von Riewel. Владелец: Thomson Licensing SAS. Дата публикации: 2010-09-01.

Recordable optical storage medium comprising a semiconductor layer, and respective manufacturing method

Номер патента: US8377537B2. Автор: Christophe Fery,Stephan Knappmann,Larisa von Riewel. Владелец: Thomson Licensing SAS. Дата публикации: 2013-02-19.

Recordable optical storage medium comprising a semiconductor layer, and respective manufacturing method

Номер патента: WO2009080486A1. Автор: Christophe Fery,Stephan Knappmann,Larisa Pacearescu. Владелец: THOMSON LICENSING. Дата публикации: 2009-07-02.

Design method of semiconductor integrated circuit device, a program, and the support method of measurement evaluation

Номер патента: US20070079263A1. Автор: Yasuyoshi Noguchi,Kei Mohara. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-04-05.

Test methods of semiconductor devices and semiconductor systems used therein

Номер патента: US20180068743A1. Автор: Sang Gu JO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-03-08.

Methods and systems for managing memory blocks of semiconductor devices in embedded systems

Номер патента: US20180039716A1. Автор: KODAVALLA Vijay Kumar. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

Semiconductor memory, test method of semiconductor memory and system

Номер патента: US20090040850A1. Автор: Kaoru Mori,Toshikazu Nakamura,Jun Ohno,Masaki Okuda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-02-12.

Semiconductor device, nonvolatile semiconductor memory, system including a plurality of semiconductor devices or nonvolatile semiconductor memories, electric card including semiconductor device or nonvolatile semiconductor memory, and electric device with which this electric card can be used

Номер патента: US20030133338A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Kenichi Imamiya,Koichi Kawai,Kazushige Kanda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-17.

Methods and apparatus for automated design of semiconductor photonic devices

Номер патента: US20160171149A1. Автор: Luca Alloatti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-16.

Semiconductor integrated circuit and power supply control system provided with a plurality of semiconductor integrated circuits

Номер патента: US9880572B2. Автор: Yoshinori Okajima,Kazuhisa Tanaka,Takahiro Ichinomiya,Masayuki Taniyama,Takeshi Yado,Hidemi HARAYAMA. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Thermoelectric cooling device for thermoelectric refrigerator, process for the fabrication of semiconductor suitable for use in the thermoelectric cooling device, and thermoelectric refrigerator using the thermoelectric cooling device

Номер патента: US5409547A. Автор: Atsushi Osawa,Hideo Watanabe,Motohiro Sakai,Hirofusa Tezuka,Fumio Hisano. Владелец: Thermovonics Co Ltd. Дата публикации: 1995-04-25.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US12102021B2. Автор: HE Qian,Taiwei CHIU,Tingying SHEN. Владелец: Xiamen Industrial Technology Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Limiting of temperature variations of semiconductor component

Номер патента: US20160118975A1. Автор: Marko Raatikainen,Teemu Salmia,Jukka-Peeka Kittilä. Владелец: ABB Technology Oy. Дата публикации: 2016-04-28.

Limiting of temperature variations of semiconductor component

Номер патента: US9712150B2. Автор: Marko Raatikainen,Teemu Salmia,Jukka-Peeka Kittilä. Владелец: ABB Technology Oy. Дата публикации: 2017-07-18.

Cooling of semiconductors for optimised service life

Номер патента: US20240268087A1. Автор: Bernd Roppelt,Jens Schmenger,Thomas Schwinn,Jürgen Kimpel. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-08.

Connection structure and input/output connection structure of semiconductor microwave generator for microwave oven, and microwave oven

Номер патента: US20170094731A1. Автор: Xiangwei Tang,Xiantao DU,Feina ZHANG. Владелец: Guangdong Midea Kitchen Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Semiconductor integrated circuit and control method of semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20170201697A1. Автор: Hiroaki Niitsuma. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-13.

Semiconductor integrated circuit that stops power supply to at least a storage area of a first SRAM in a power-saving mode, and control method of semiconductor integrated circuit

Номер патента: US10027906B2. Автор: Hiroaki Niitsuma. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-07-17.

Method and apparatus for zone-melting recrystallization of semiconductor layer

Номер патента: US5741359A. Автор: Manabu Kato,Takashi Motoda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-04-21.

System and method for the non-contacting measurement of the axis length and/or cornea curvature and/or anterior chamber depth of the eye, preferably for intraocular lens calculation

Номер патента: EP1139857A2. Автор: Roland Barth,Lothar Müller,Roland Bergner,Klaus-Ditmar Voigt,Frank Behrendt,Burkhard Dietzel,Siegfried Schubert,Dietmar Steinmetz,Axel Doering. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2001-10-10.

SYSTEM AND METHOD FOR THE NON-CONTACTING MEASUREMENTS OF THE EYE

Номер патента: US20140375951A1. Автор: Bergner Roland,Barth Roland,Mueller Lothar,Steinmetz Dietmar,Schubert Siegfried,Voigt Klaus-Ditmar,Behrendt Frank,Dietzel Burkhard,Doering Axel. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-25.

Apparatus for non-contact measurement of the temperature of bearings of moving rail-bound vehicles

Номер патента: DE59912513D1. Автор: Johannes Karner. Владелец: Oesterr Bundesbahnen. Дата публикации: 2005-10-13.

Method of non-contact measurement of biological rhythms accompanied by mechanical movements of human body surface

Номер патента: RU2651900C1. Автор: Владимир Анатольевич Канаков,Владимир Николаевич Иконников,Александр Геннадьевич Панкратов,Юлия Павловна Потехина,Дмитрий Евгеньевич Мохов,Сергей Михайлович Стариков,Андрей Евгеньевич Кантинов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "АФС52". Дата публикации: 2018-04-24.

METHOD AND SYSTEM FOR INFERENCE OF EEG SPECTRUM IN BRAIN BY NON-CONTACT MEASUREMENT OF PUPILLARY VARIATION

Номер патента: US20180235505A1. Автор: Lee Dong Won,WHANG Min Cheol,PARK Sang In,WON Myoung Ju. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

High-temperature object three-dimensional contour non-contact measuring device and measuring method thereof

Номер патента: CN114264253A. Автор: 刘阳,阳建宏,刘福佳. Владелец: University of Science and Technology Beijing USTB. Дата публикации: 2022-04-01.

TOILET DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF MICTURITION PARAMETERS

Номер патента: US20220400998A1. Автор: Willems Frank,Prokopp Thomas,Bandi Paul,MORCINCZYK Marcel,HAAN Jan. Владелец: . Дата публикации: 2022-12-22.

Device for non-contact measurement of rail temperature on light rail tracks during rail vehicle operation

Номер патента: AT521894B1. Автор: . Владелец: Akademia Gorniczo Hutnicza Im Stanislawa Staszica W Krakowie. Дата публикации: 2023-05-15.

Device for non-contact measurement of a distance whilst irradiating a human body

Номер патента: EP1348376A2. Автор: Armin Dr. Roeckseisen. Владелец: LAP GmbH Laser Applikationen. Дата публикации: 2003-10-01.

Automatic tracking heating system and method using non-contact measuring module

Номер патента: CN109059093B. Автор: 孙建辉,单晓杭,万鸿超. Владелец: Zhejiang University of Technology ZJUT. Дата публикации: 2021-06-15.

Non-contact measuring method of cardiogram

Номер патента: CN110115585B. Автор: 冉立新,董淑琴. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2020-07-10.

Pulse rate signal processing method and device for non-contact measurement

Номер патента: CN110547782B. Автор: 王元. Владелец: Suning Financial Services Shanghai Co ltd. Дата публикации: 2022-12-09.

Feed for common carp and method of rearing common carp with increased content of omega 3 fatty acids

Номер патента: WO2012046148A2. Автор: Jan Mraz,Pavel Kozák,Jana PICKOVÁ. Владелец: Fakulta Rybárybarstvi A Ochrany Vod, Jihoceska Univerzita V Ceskych Budojovicich. Дата публикации: 2012-04-12.

Liquid stabilizer for chlorine-containing resin and application of the liquid stabilizer

Номер патента: US20200291203A1. Автор: Yuji Yoshida. Владелец: Sakai Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Method and the device for reduction of the contents of nitrogen oxides in the gases

Номер патента: RU2318581C2. Автор: Майнхард ШВЕФЕР,Майкл Гроувз,Рольф Зиферт,Райнер МАУРЕР. Владелец: Уде Гмбх. Дата публикации: 2008-03-10.

Catalyst of the steam conversion of carbon monoxide, method of its preparation and the method of its usage

Номер патента: RU2314870C1. Автор: Тамара Михайловна Юрьева,Маргарита Петровна Демешкина,Александр Александрович Хасин,Татьяна Петровна Минюкова,Наталья Алексеевна Баронская,Марина Ивановна Целютина,Ольга Михайловна Посохова,Ирина Дмитриевна Резниченко,Леонид Геннадьевич Волчатов,Татьяна Ивановна Андреева,Александр Петрович Бочаров,Людмила Михайловна Плясова,Марина Валерьевна Лебедева. Владелец: Открытое акционерное общество Ангарский завод катализаторов и органического синтеза (ОАО АЗКиОС). Дата публикации: 2008-01-20.

Hydraulic fracturing fluid based on a synthetic gelatinising agent and highly mineralised water, method for preparation thereof, and method for treatment of the formation using said fluid

Номер патента: RU2760115C1. Автор: Павел Геннадьевич Русинов,Екатерина Валерьевна Русинова,Ильдар Гаязович Файзуллин,Артем Владимирович Чураков,Максим Николаевич Пичугин,Руслан Радикович Кайбышев,Руслан Павлович Учуев,Николай Владимирович Чебыкин,Михаил Юрьевич Ширев,Данил Александрович Горелов,Иван Игоревич Добровольский,Анна Руслановна Марышева,Семен Олегович Потапов,Евгений Дмитриевич Тимаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью «Газпромнефть Научно-Технический Центр». Дата публикации: 2021-11-22.

Snack rice chips with high content of visible inclusions that are manufactured using equipment for tortilla sheets rolling out

Номер патента: RU2498623C2. Автор: Димитрис ЛИКОМИТРОС,Дианне Ренее РИПБЕРГЕР. Владелец: Фрито-Лэй Норт Америка, Инк.. Дата публикации: 2013-11-20.

Process for adjusting the moisture content of tobacco

Номер патента: CA2109153C. Автор: Warren D. Winterson,John C. Crump, Iii,Eugene B. Fischer. Владелец: Philip Morris Products Inc. Дата публикации: 2006-07-11.

Peroxide-curable rubber mixture containing halobutyl ionomers wiht high content of multi-olefin

Номер патента: RU2425071C2. Автор: Руи РИЗЕНДЕС,Ахтар ОСМАН,Дженис Николь ХИККИ. Владелец: Ленксесс Инк.. Дата публикации: 2011-07-27.

A method and an apparatus for transferring elemental carbon impurities present in a silicon rod to an end of the rod

Номер патента: GB1148706A. Автор: . Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1969-04-16.

Polyolefin preparation with maximum molar weight being situated in the part of the preparation having the highest content of comonomer

Номер патента: CZ366298A3. Автор: Lee Spencer,David R. Wilson,Deepak R. Parikh,Ian M. Munro,Kevin P. Peil,Teresa P. Karjala,Philip Howard,Larry D. Cady,Christopher J. Frye,Peter J. Maddox,Peter S. Williams,Volkenburgh William R. Van,Roy S. Partington,Mark J. Winter. Владелец: The Dow Chemical Company. Дата публикации: 1999-04-14.

AGENT FOR INCREASING THE WEIGHT OF THE ROOTS AND THE SUGAR CONTENT OF SUGAR BEET

Номер патента: FR2399206A1. Автор: . Владелец: URAD PREDSEDNICTVA SLOVENSKEJ. Дата публикации: 1979-03-02.

COMPOSITIONS FOR CARE OF THE ORAL CAVITY WITH HIGH CONTENT OF WATER AND HIGH LEVEL OF PROTECTION AGAINST MICROORGANISMS

Номер патента: RU2017120062A. Автор: Агнежка КОСИНСКА,Пьер ЛАМБЕРТ. Владелец: КОЛГЕЙТ-ПАЛМОЛИВ КОМПАНИ. Дата публикации: 2019-01-23.

Method of semiconductor phototransformer manufacturing

Номер патента: RU2349002C1. Автор: Владимир Иванович Поляков,Виталий Викторович Заддэ,Дмитрий Семенович Стребков,ков Владимир Иванович Пол. Владелец: Российская Академия Сельскохозяйственных наук Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт электрификации сельского хозяйства (ГНУ ВИЭСХ). Дата публикации: 2009-03-10.

Method to produce epitaxial filiform nanocrystals of semiconductors of permanent diameter

Номер патента: RU2456230C2. Автор: Валерий Александрович Небольсин,Александр Игоревич Дунаев,Максим Алексеевич Завалишин,Герман Александрович Сладких,Александр Федорович Татаренков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2012-07-20.

Console device for horizontal contactless driving of semiconductor plates in diffusion furnace

Номер патента: RU2684335C2. Автор: Геннадий Васильевич Перов. Владелец: Акционерное Общество "Новосибирский Завод Полупроводниковых Приборов С Окб" (Ао "Нзпп С Окб"). Дата публикации: 2019-04-08.

Ignition system in combustion chamber of gas turbine engine, comprising spark plug of semiconductor type, combustion chamber, comprising such spark plug and gas turbine engine

Номер патента: RU2501963C2. Автор: Дени Жан Морис САНДЕЛИ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2013-12-20.

Method for independent control of sizes of semiconductor quantum dots a3b5

Номер патента: RU2766832C1. Автор: Максим Сергеевич Солодовник,Наталия Евгеньевна Черненко,Сергей Вячеславович Балакирев,Михаил Михайлович Еременко. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет". Дата публикации: 2022-03-16.

Crucible for epitaxy from the liquid phase of semiconductor layers having a "controlled" composition

Номер патента: CA1278984C. Автор: Bernard Latorre,Manuel Montero. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1991-01-15.

Temporary mechanical stabilization of semiconductor cavities

Номер патента: US20180086632A1. Автор: Joachim Mahler,Alfred Sigl,Daniel Porwol,Dominic Maier. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-03-29.

Cleaning method of semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20070074738A1. Автор: Takayuki Furusawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-04-05.

Method for the non-contact measurement of the electric resistance of the metallic solid sample or its smelt by the method of the rotating magnetic field and the device for its realization

Номер патента: RU2299425C1. Автор: Аркадий Моисеевич Поводатор,Владимир Викторович Вьюхин,Владимир Степанович Цепелев,Андрей Геннадьевич Тягунов,гунов Андрей Геннадьевич Т. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет-УПИ". Дата публикации: 2007-05-20.

Method for non-contact measurement of metal melts viscosity and device for its realisation

Номер патента: RU2366925C1. Автор: Аркадий Моисеевич Поводатор,Владимир Викторович Вьюхин,Виктор Васильевич Конашков,Владимир Степанович Цепелев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет УГТУ-УПИ". Дата публикации: 2009-09-10.

Device for non-contact measurement of torque

Номер патента: RU2274841C2. Автор: Александр Петрович Шевцов,Владимир Николаевич Сушков,Галина Ильинична Ковалева,В чеслав Александрович Коробов,Вячеслав Александрович Коробов,Виктор Иванович Гоптарев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Финансово-промышленная компания "Космос-Нефть-Газ". Дата публикации: 2006-04-20.

Device for non-contact measuring of torque

Номер патента: RU2252402C1. Автор: И.Г. Лачугин,А.П. Шевцов,В.И. Гоптарев,В.Н. Сушков,Г.И. Ковалева. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Финансово-промышленная компания "Космос-Нефть-Газ". Дата публикации: 2005-05-20.

Method of non-contact measurement of the dielectric constant

Номер патента: RU2442179C2. Автор: Ирен Евгеньевна Кузнецова,Борис Давыдович Зайцев,Александр Магомедович Шихабудинов,Андрей Алексеевич Теплых. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН. Дата публикации: 2012-02-10.

Method for non-contact measurement of cross-section area of micro-wire

Номер патента: RU2293947C1. Автор: к Владимир Владимирович Бур,Владимир Владимирович Буряк,Геннадий Федорович Синицын. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева". Дата публикации: 2007-02-20.

NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE DOPANT CONTENT OF SEMICONDUCTOR LAYERS

Номер патента: US20130043393A1. Автор: Heaven E. Michael,Cadien Kenneth,Deans Gordon Matthew,Blaine Stephen Warren. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-21.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR METALS

Номер патента: RU2008136160A. Автор: Алексей Валентинович Алексеев,Виктор Сергеевич Белоусов,Михаил Михайлович Беляков,Геннадий Леонидович Горский,Виктор Сергеевич Белоусов (RU),Алексей Валентинович Алексеев (RU),Михаил Михайлович Беляков (RU),Геннадий Леонидович Горский (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Телеком-СТВ" (RU). Дата публикации: 2010-03-20.

ELECTROMAGNETIC INSTRUMENT FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF CURRENT AND DEPTH OF DEPOSITION OF UNDERGROUND MAIN PIPELINE

Номер патента: RU2007117088A. Автор: Юрий Кириллович Федосенко,Юрий Кириллович Федосенко (RU). Владелец: ЗАО НИИИН МНПО "Спектр" (RU). Дата публикации: 2008-11-20.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF TEMPERATURE OF OBJECTS

Номер патента: RU2014135799A. Автор: Павел Васильевич Коптяев. Владелец: Павел Васильевич Коптяев. Дата публикации: 2016-03-27.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF PRODUCT DIAMETER

Номер патента: RU2008147491A. Автор: Игорь Павлович Иерусалимов,Игорь Павлович Иерусалимов (RU). Владелец: Игорь Павлович Иерусалимов (RU). Дата публикации: 2010-06-10.

Device a for non-contact measurement of space coordinates for objects

Номер патента: TW201132924A. Автор: Ming-Hsiang Shih,Shih-Heng Tung. Владелец: Nat Univ Kaohsiung. Дата публикации: 2011-10-01.

Non-contact measuring method of and apparatus for measuring physical nature of metal strip continuously moving

Номер патента: JPS5797442A. Автор: Jiimusu Muurii Aanesuto. Владелец: EREKUTORISHICHII KAUNSHIRU ZA. Дата публикации: 1982-06-17.

Method for comparative assessment of reliability of batches of semiconductor articles

Номер патента: RU2538032C2. Автор: Дмитрий Юрьевич Смирнов,Митрофан Иванович Горлов,Дмитрий Михайлович Жуков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-01-10.

Method of non-contact measurement of semiconductor-filmsъ electrical resistivity

Номер патента: RU1835522C. Автор: Адольф Александрович Гасанов,Михаил Николаевич Титов,Аркадий Семенович Филимонов,Александр Николаевич Ануфриев,Юрий Адольфович Ходос,Сергей Сергеевич Чурин. Владелец: Специальное Конструкторско-Технологическое Бюро При Заводе "Аналог". Дата публикации: 1993-08-23.

Device for non-contact measurement of semiconductor material parameters

Номер патента: SU1345100A1. Автор: Лаймис Вацловович Лауринавичюс. Владелец: Институт физики полупроводников АН ЛитССР. Дата публикации: 1987-10-15.

The system of non-contact measurements of the characteristics of the roadway

Номер патента: RU2016104727A. Автор: Илья Анатольевич Евлампиев,Татьяна Олеговна Литвинова. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "КАТ". Дата публикации: 2017-08-16.

Non-contact measuring systems

Номер патента: GB9224462D0. Автор: . Владелец: British Aerospace PLC. Дата публикации: 1993-01-13.

SYSTEM AND METHOD FOR THE NON-CONTACTING MEASUREMENTS OF THE EYE

Номер патента: US20120287399A1. Автор: . Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2012-11-15.

Body temperature measurement system for non-contact measurement of target animal body temperature

Номер патента: JP6677473B2. Автор: 良治 澁谷,道博 庄内,一真 武田. Владелец: 株式会社Ｃｓソリューション. Дата публикации: 2020-04-08.

Non-contact measuring method and measuring system for measuring coordinates of target surface

Номер патента: JP5260175B2. Автор: ペータースン ボー,ズィールクス クヌート,ツェブハオザー ベネディクト. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2013-08-14.

Servo device for non-contact measuring of parameters of angular movement of object

Номер патента: SU1562702A1. Автор: Александр Анатольевич Александров,Сергей Анатольевич Новоселов,Михаил Витальевич Шахматов. Владелец: Предприятие П/Я А-3325. Дата публикации: 1990-05-07.

Method of non-contact measurement of profile of polished aspherical surfaces of revolution

Номер патента: SU1348640A1. Автор: Борис Алексеевич Чунин. Владелец: Предприятие П/Я Р-6681. Дата публикации: 1987-10-30.

Device for non-contact measurement of junction temperature of white LED by use of peak wavelength displacement method

Номер патента: CN103411702A. Автор: 金尚忠,郑健,邵茂丰,鲁玉红,杨初. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2013-11-27.

Device for non-contact measuring of parameters of vibrations of rotating parts having equidistant fixed marks located in circumference of their surface

Номер патента: SU1562710A1. Автор: Эдуард Леонович Айрапетов,Олег Иванович Косарев,Александр Григорьевич Кричевский,Рудольф Львович Иоффе,Евгений Константинович Протопопов,Герман Евгеньевич Рудашевский,Николай Семенович Герасимов. Владелец: Институт Машиноведения Им.А.А.Благонравова Ан Ссср. Дата публикации: 1990-05-07.

METHOD OF NON-CONTACT MEASUREMENT OF GEOMETRICAL CHARACTERISTICS OF LARGE-DIMENSIONS AND DEVICE FOR USING THIS

Номер патента: PL201278A1. Автор: Jan Piatkowski,Stefan Piwowar. Владелец: TS OSRODEK BADAWCZO ROZWO. Дата публикации: 1978-09-25.

PNEUMATIC DEVICE OF COMPENSATION TYPE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF DIMENSIONS

Номер патента: SU375479A1. Автор: В. И. Глухов В. И. Леун С. М. Ломов А. А. Туполев Авторы изобретени М. М. Биккин. Владелец: Омский политехнический институт. Дата публикации: 1973-03-23.

Method of non-contact measurement of magnetic permeability and electric conductivity of conductor materials

Номер патента: SU1173365A1. Автор: Вадим Пантелеевич Себко,Василий Ильич Тюпа,Владимир Александрович Друнов. Владелец: Предприятие П/Я В-8851. Дата публикации: 1985-08-15.

Method of non-contact measurements of distances

Номер патента: SU1682766A1. Автор: Андрей Григорьевич Рудник,Арсентий Васильевич Куцевич,Юрий Степанович Мальчевский,Мирослав Васильевич Новосад,Владимир Иосифович Лушпак,Андрей Игоревич Коковский. Владелец: Тернопольский Филиал Львовского Политехнического Института Им.Ленинского Комсомола. Дата публикации: 1991-10-07.

Method for non-contact measurement of physical parameters of vs skripaleva media

Номер патента: SU504920A1. Автор: Владимир Степанович Скрипалев. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1976-02-28.

Device for non-contact measurement of electrical conduction of active systems

Номер патента: SU1742745A1. Автор: Алдона Павловна Сащук,Илья Саулович Левитас,Витаутас-Юозапас Винцентович Ващила,Юрий Давидович Тон,Лаймис Повило Яшинскас. Владелец: Литовская сельскохозяйственная академия. Дата публикации: 1992-06-23.

Device for non-contact measuring of profile of parts

Номер патента: SU1608425A1. Автор: Мирон Исакович Гроссман,Вячеслав Борисович Бирман,Вячеслав Аркадьевич Седельников. Владелец: Саратовский Филиал Института Машиноведения Им.А.А.Благонравова. Дата публикации: 1990-11-23.

Device for non-contact measurement of surface distribution of charges

Номер патента: SU1427309A1. Автор: Ирина Александровна Матвеева,Вячеслав Леонидович Грищенко,Людмила Михайловна Науменко,Светлана Александровна Вислова. Владелец: Научно-исследовательский институт механики и физики при Саратовском государственном университете. Дата публикации: 1988-09-30.

Method of non-contact measurement of intraocular pressure

Номер патента: RU2471406C2. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Анатолий Владимирович Скрипаль,Сергей Юрьевич Добдин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2013-01-10.

Method of non-contact measurement of current carrier concentration in semiconductors

Номер патента: SU702966A1. Автор: Е.К. Галанов,Г.Н. Потихонов. Владелец: Предприятие П/Я Р-6681. Дата публикации: 1986-07-30.

METHOD FOR DETERMINING THE ATTENUATION DECREE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF VISCOSITY OF HIGH-TEMPERATURE METAL MELTS

Номер патента: RU2008113518A. Автор: Аркадий Моисеевич Поводатор,Владимир Викторович Вьюхин,Виктор Васильевич Конашков,Владимир Степанович Цепелев,Аркадий Моисеевич Поводатор (RU),Владимир Степанович Цепелев (RU),Владимир Викторович Вьюхин (RU),Виктор Васильевич Конашков (RU). Владелец: Государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический универ. Дата публикации: 2009-10-20.

Method of non-contact measurement of intraocular pressure

Номер патента: SU1697721A1. Автор: Сергей Леонидович Чернин,Андрей Сергеевич Гуров. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Медицинского Приборостроения. Дата публикации: 1991-12-15.

Procedure for non-contact measurement of viscosity of high temperature melt

Номер патента: RU2408002C1. Автор: Аркадий Моисеевич Поводатор,Владимир Викторович Вьюхин,Виктор Васильевич Конашков,Владимир Степанович Цепелев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н.Ельцина". Дата публикации: 2010-12-27.

METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT SPEED MEASUREMENT

Номер патента: RU2009108195A. Автор: Станислав Федорович Растопов,Евгений Сергеевич Воеводенко,Михаил Сергеевич Воеводенко,Евгений Сергеевич Воеводенко (DE),Станислав Федорович Растопов (RU),Михаил Сергеевич Воеводенко (DE). Владелец: Михаил Сергеевич Воеводенко (DE). Дата публикации: 2010-10-20.

A kind of system of the Mode Shape of non-contact measurement flexible structure

Номер патента: CN104931218B. Автор: 孙涛,邱辉,娄军强,杨依领,廖江江. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2018-03-13.

Method and device for non-contact measurement of interior temperature of open-air coal stack

Номер патента: CN103063328A. Автор: 李瑛�,刘宇,董丽丽,许文海,谷红伟,梁建兵,杨精志,高广亮,白增辉. Владелец: Beijing Shenhua Changyun High Technology Coal Blending Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-24.

Apparatus and method for non-contact measurement of thermal performance of micro heat pipe

Номер патента: TWI718896B. Автор: 李卓翰,李芳壽. Владелец: 瑞領科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-02-11.

Non-contact measurement method and system for human outside measurement

Номер патента: CN101228973A. Автор: 殷实. Владелец: 殷实. Дата публикации: 2008-07-30.

Non-contact measuring method and measuring apparatus

Номер патента: JP4159809B2. Автор: 義昭 垣野,平三郎 中川. Владелец: Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-01.

Method of non-contact measurement of capillary blood flow microcirculation

Номер патента: RU2396911C1. Автор: Иван Петрович Бойко,Александр Александрович Плеханов,Галина Ивановна Каторгина. Владелец: Александр Александрович Плеханов. Дата публикации: 2010-08-20.

Method of non-contact measuring of current

Номер патента: SU1725138A1. Автор: Владимир Васильевич Долгих,Александр Васильевич Есаулов,Владимир Владимирович Михайлов,Евгений Владимирович Кириевский. Владелец: Особое конструкторско-технологическое бюро "Старт". Дата публикации: 1992-04-07.

Method of non-contact measurement of hole diameter

Номер патента: SU1651093A1. Автор: Владимир Александрович Остафьев,Григорий Семенович Тымчик,Игорь Анатольевич Нестеренко,Юрий Евгеньевич Райфурак. Владелец: Киевский Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции. Дата публикации: 1991-05-23.

Device for non-contact measurement of strength of current

Номер патента: SU1652922A1. Автор: Артур Петрович Медвидь,Валентин Николаевич Добровольский,Юрис Эрнестович Шитц. Владелец: Рижский политехнический институт им.А.Я.Пельше. Дата публикации: 1991-05-30.

DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SILICON RAW MATERIAL

Номер патента: RU2008136162A. Автор: Виктор Сергеевич Белоусов,Михаил Михайлович Беляков,Виктор Сергеевич Белоусов (RU),Михаил Михайлович Беляков (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Телеком-СТВ" (RU). Дата публикации: 2010-03-20.

Measurement range expansion method for non-contact measurement device

Номер патента: JP2020060394A. Автор: Myunghun Woo,明▲勲▼ 禹. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2020-04-16.

Non-contact measurement system for measuring object contour

Номер патента: TW202035945A. Автор: 許光城,梁軒齊,葉自容. Владелец: 國立高雄科技大學. Дата публикации: 2020-10-01.

Non-contact measuring method and measuring apparatus

Номер патента: JP4136475B2. Автор: 義昭 垣野,平三郎 中川. Владелец: Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-20.

Method and apparatus for non-contact measuring thickness of non-metal coating on surface of metal matrix

Номер патента: CN1094191C. Автор: 李岩,张玲香,张书练,韩艳梅. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2002-11-13.

OPTICAL-ELECTRONIC CONVERTER FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF MOVEMENT OF OBJECTS RELATIVELY TO ANOTHER

Номер патента: RU2002118536A. Автор: Александр Евгеньевич Алексеев,Сергей Николаевич Натаровский,Лев Васильевич Ольховиков,Андрей Леонидович Дубовиков. Владелец: Федеральноое государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им. Д.В. Ефремова". Дата публикации: 2004-03-20.

DEVICE AND METHOD FOR NON-CONTACTING MEASUREMENT OF A DISTANCE AND/OR PROFILE

Номер патента: US20120038900A1. Автор: . Владелец: MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH. Дата публикации: 2012-02-16.

Device for non-contact measuring of conducting medium electric resistivity

Номер патента: SU1762261A1. Автор: Евгений Сергеевич Катышев. Владелец: Научно-исследовательский и проектно-конструкторский институт геофизических исследований. Дата публикации: 1992-09-15.

Instrument for automatic non-contact measurement of sheet material thickness

Номер патента: SU129340A1. Автор: А.М. Богачев,Б.И. Верховский,М.Н. Макаров. Владелец: М.Н. Макаров. Дата публикации: 1959-11-30.

Device for non-contact measuring of current

Номер патента: SU1691797A1. Автор: Александр Иванович Демченко,Александр Борисович Артамонов,Игорь Эдуардович Заливский,Эдуард Миронович Колесник,Федор Павлович Коршунов,Александр Львович Потапов. Владелец: Предприятие П/Я Р-6495. Дата публикации: 1991-11-15.

Device for non-contact measurement of rotating machine parts

Номер патента: SU461320A2. Автор: Лев Александрович Черкасов. Владелец: Украинский научно-исследовательский институт целлюлозно-бумажной промышленности. Дата публикации: 1975-02-25.

Electric cyratory device for non-contact measuring of high voltages

Номер патента: SU1550428A2. Автор: Владимир Григорьевич Николайченко,Богдан Евгеньевич Михалишин,Алексей Борисович Лопатин,Борис Григорьевич Голота. Владелец: Проектно-конструкторское бюро электрогидравлики АН УССР. Дата публикации: 1990-03-15.

Device for non-contact measurement of rotating machine parts

Номер патента: SU460457A1. Автор: Лев Александрович Черкасов. Владелец: Украинский научно-исследовательский институт целлюлозно-бумажной промышленности. Дата публикации: 1975-02-15.

Device for non-contact measurements of part dimensions

Номер патента: SU1472760A1. Автор: Валентин Максимович Коротков,Виктор Ефимович Шройт,Азат Флорович Гумеров. Владелец: Завод-Втуз При Московском Автомобильном Заводе Им.В.А.Лихачева. Дата публикации: 1989-04-15.

Device for non-contact measurement of vibration parameters

Номер патента: SU1740995A1. Автор: Юрий Павлович Щуров,Геннадий Александрович Маликов,Вячеслав Сергеевич Лузгин. Владелец: Научно-исследовательский институт измерительной техники. Дата публикации: 1992-06-15.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF RADIAL VIBRATIONS AND ROTATION SPEED

Номер патента: RU2017125702A. Автор: Алексей Андреевич Калмыков,Станислав Олегович Поляков. Владелец: Станислав Олегович Поляков. Дата публикации: 2019-01-18.

Device for non-contact measurement of liquid electric conduction

Номер патента: SU1350585A1. Автор: Владимир Георгиевич Гусев,Евгений Леонидович Леонидов,Олег Владимирович Луговой,Андрей Павлович Торгашов. Владелец: Уфимский авиационный институт им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1987-11-07.

Non-contact measuring of foot

Номер патента: SU1673029A1. Автор: Александр Григорьевич Комиссаров,Юрик Алавердиевич Карагезян,Ирина Олеговна Сиротина. Владелец: Ленинградский институт текстильной и легкой промышленности им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1991-08-30.

Device for non-contact measuring of foot and shin surface

Номер патента: SU1673028A1. Автор: Владимир Васильевич Налетов,Александр Григорьевич Комиссаров,Юрик Алавердиевич Карагезян. Владелец: Ленинградский институт текстильной и легкой промышленности им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1991-08-30.

Method for non-contact measurement of part size

Номер патента: SU1640533A1. Автор: Владимир Ильич Миронченко. Владелец: Предприятие П/Я В-8916. Дата публикации: 1991-04-07.

Device for non-contact measurement of currents in underground main pipe-lines

Номер патента: SU1746320A1. Автор: Петр Петрович Драбич,Роман Михайлович Джала. Владелец: Физико-механический институт им.Г.В.Карпенко. Дата публикации: 1992-07-07.

Apparatus for non-contact measuring of linear displacements

Номер патента: SU1603191A1. Автор: Алексей Петрович Лысенко,Оксен Суренович Тораманян,Виктор Витальевич Лукоянов,Ирина Константиновна Желанкина,Георгий Дмитриевич Храмцов. Владелец: Ленинградский механический институт им.Маршала Советского Союза Устинова Д.Ф.. Дата публикации: 1990-10-30.

METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF EXTRUDED MATERIAL PARAMETERS AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION

Номер патента: RU2005139180A. Автор: Александр Владимирович Швец,Дмитрий Викторович Пшонкин,Дмитрий Викторович Пшонкин (RU),Александр Владимирович Швец (RU). Владелец: Александр Владимирович Швец (RU). Дата публикации: 2007-06-27.

DEVICE FOR AUTOMATIC AND INDEPENDENT CHANNEL NON-CONTACT MEASUREMENT OF DEFORMATION MOBILE DETAILS

Номер патента: SU428804A1. Автор: . Владелец: В. П. Шилов, Г. Ф. Болилый, Б. Е. Житомирский , А. А. Филатов Одесский политехнический институт. Дата публикации: 1974-05-25.

Pneumatic device for non-contact measurement of dimensions

Номер патента: SU94635A1. Автор: А.Б. Челюсткин. Владелец: А.Б. Челюсткин. Дата публикации: 1951-11-30.

Photoelectric device for non-contact measurement of object displacement

Номер патента: SU1425436A1. Автор: Александр Сергеевич Овчинников,Николай Иванович Бушмелев,Сергей Федорович Злобин,Александр Иванович Манвелов. Владелец: Предприятие П/Я В-8274. Дата публикации: 1988-09-23.

Non-contact measurement of high voltage

Номер патента: JPS63238466A. Автор: Mitsuaki Aida,Yasuhiro Tanahashi,康博 棚橋,相田　光朗. Владелец: Energy Support Corp. Дата публикации: 1988-10-04.

Instrument for automatic non-contact measurement of sheet material thickness

Номер патента: SU141317A1. Автор: Ю.С. Плискин,С.В. Медведев,Л.К. Таточенко,Б.Н. Васичев,В.К. Латышев,А.К. Фелингер. Владелец: А.К. Фелингер. Дата публикации: 1960-11-30.

Method and device for non-contact measurement of surface roughness

Номер патента: JPH10170247A. Автор: Akira Takahashi,Kazuhiro Hirayama,Kazuhiro Watabe,一博 渡部,昌 高橋,和弘 平山. Владелец: FUKUSHIMA PREF GOV. Дата публикации: 1998-06-26.

Optical-electronic converter for non-contact measurement of objects displacements relatively to one another

Номер патента: RU2244904C2. Автор: Л.В. Ольховиков,А.Е. Алексеев,С.Н. Натаровский,А.Л. Дубовиков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им. Д.В. Ефремова" (ФГУП "НИИЭФА им. Д.В. Ефремова"). Дата публикации: 2005-01-20.

Apparatus and method for non-contact measurement of solution concentration

Номер патента: CN101430275A. Автор: 胡晔,何永红. Владелец: Shenzhen Graduate School Tsinghua University. Дата публикации: 2009-05-13.

OPTICAL APPARTUS FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OR TESTING OF A BODY SURFACE

Номер патента: US20120069351A1. Автор: . Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2012-03-22.

NON-CONTACT MEASUREMENT SIGNAL TRANSMISSION SYSTEM AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120152035A1. Автор: . Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-06-21.

Electric non-contact measuring tape thickness of a ferromagnetic material

Номер патента: SU97533A1. Автор: А.Г. Фролов,Ю.В. Журавский. Владелец: Ю.В. Журавский. Дата публикации: 1953-11-30.

Currnet-vortical device for non-contact measuring electroconductive articles parameters

Номер патента: SU564587A1. Автор: Виктор Сергеевич Никульшин,Олег Николаевич Лазуткин. Владелец: Предприятие П/Я А-1857. Дата публикации: 1977-07-05.

Device for non-contact measuring amplitude of pulse current in digit electronic unit

Номер патента: SU1628021A1. Автор: Николай Иванович Яковлев,Владимир Ефимович Хавкин,Анатолий Тимофеевич Смолин. Владелец: Организация П/Я Х-5263. Дата публикации: 1991-02-15.

Non-contact measurement probe

Номер патента: JP3021090B2. Автор: 直 中村. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2000-03-15.

Non-contact measurement method for cabin capacity

Номер патента: CN105115560A. Автор: 张强,田丽,朱炜,张跃华,胡敏捷,欧健,漆光林,辛倩倩. Владелец: Cssc No604 Research Institute. Дата публикации: 2015-12-02.

Non-contact measurement apparatus of inner and outer diameters of large-diameter circular ring type component

Номер патента: CN104180763A. Автор: 叶青,田建国,梅剑春. Владелец: Nankai University. Дата публикации: 2014-12-03.

NON-CONTACT MEASURING DRIVE SCREW SCREEN

Номер патента: SU421579A1. Автор: . Владелец: В. С. Михайлов , С. В. Степанов. Дата публикации: 1974-03-30.

Method of simultaneous and non-contact measuring direct current and voltage

Номер патента: SU1659883A1. Автор: Владимир Александрович Воробьев,Василий Андреевич Сычик,Александр Викторович Бреднев. Владелец: Белорусский Политехнический Институт. Дата публикации: 1991-06-30.

Non-contact measuring method for magnetic field strength of iron core in coil

Номер патента: CN105182261A. Автор: 不公告发明人. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-23.

A kind of non-contact measurement method of forging's block dimension

Номер патента: CN104034263B. Автор: 田丽,杨延竹,齐亮,朱炜,李建丽,张茂松,辛倩倩,汤雪华,陈能洁,盛佳伟,马贺贺. Владелец: Shanghai Electric Group Corp. Дата публикации: 2016-12-07.

Electric-field sensor and ac high-voltage signal phase non-contact measurement apparatus

Номер патента: CN204495915U. Автор: 邓凸,施华君. Владелец: CETC 23 Research Institute. Дата публикации: 2015-07-22.

A kind of non-contact measurement method of cabin volume of compartment

Номер патента: CN105115560B. Автор: 张强,田丽,朱炜,张跃华,胡敏捷,欧健,漆光林,辛倩倩. Владелец: Cssc No604 Research Institute. Дата публикации: 2019-07-05.

Calibrating method for visual non-contact measuring head

Номер патента: CN1316228C. Автор: 张志伟,金明,解则晓. Владелец: OCEAN UNIVERSITY OF CHINA. Дата публикации: 2007-05-16.

Non-contact measurement device for polished surface roughness of curved surface

Номер патента: CN202432999U. Автор: 刘建新,谭平. Владелец: XIHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-09-12.

Method of non-contact measuring diameter of a hole

Номер патента: SU1728649A1. Автор: Игорь Анатольевич Нестеренко. Владелец: Киевский Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции. Дата публикации: 1992-04-23.

Standard device used in three-dimensional non-contact measuring system calibration

Номер патента: CN203177885U. Автор: 张波,姜志华,唐冬梅,杨晓栋,曾燕华. Владелец: Shanghai Institute of Measurement and Testing Technology. Дата публикации: 2013-09-04.

Method for carrying out non-contact measurement on plane transformation by using low-dimensional nano material

Номер патента: CN103743620A. Автор: 亢一澜,仇微,富东慧. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-04-23.

Crack width non-contact measuring device

Номер патента: CN212843423U. Автор: 方卫华,周楷,庞红,何淇,周晓泉. Владелец: Nanjing Institute Of Hydrologic Automation Ministry Of Water Resources. Дата публикации: 2021-03-30.

A kind of method of non-contact measurement composite dielectric spectroscopy

Номер патента: CN104931796B. Автор: 谢从珍,李立浧,罗兵,袁超,何子兰,廖帆,廖一帆. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2017-11-07.

Forge piece online non-contacting measuring system

Номер патента: CN201002124Y. Автор: 王建新,杨庆光,王光儒,常怀德. Владелец: CFHI Dalian Design and Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2008-01-09.

Thermal-elongation non-contact measuring mechanism of double grinding heads of guiding rail forming grinding machine

Номер патента: CN102059652B. Автор: 傅建中,贺永,沈洪垚,姚鑫骅,甘文峰. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2012-07-18.

Fatigue driving identification system based on heart rate variability non-contact measuring

Номер патента: CN103824420A. Автор: 张波,张伟,成波. Владелец: Suzhou Tsingtech Microvision Electronic Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-28.

Non-contact measurement

Номер патента: GB8816348D0. Автор: . Владелец: KYRIAKIS J. Дата публикации: 1988-08-10.

Non-contact measurement method for thermal state sizes of forgings

Номер патента: CN101713640B. Автор: 刘巍,贾振元,杜剑,王邦国,贾兴华. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2011-08-03.

High-speed non-contact measurement data communication system

Номер патента: JP5496394B2. Автор: 聖樹 加藤,正和 赤塚,凱 張,ハイトウ チャン,マリ ゴン,ドンセン ワン,ピン ヤン,チャン リュウ,レイ ファン,ショウドン チョウ. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-05-21.

Method for high precision non-contact measurement for rotation speed

Номер патента: CN101149387A. Автор: 刘岩,左春柽,钱生君,栗利刚. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2008-03-26.

Non-contact measuring method for rotation angle of strip-shaped water nozzle

Номер патента: CN109931884B. Автор: 周丽佳,冯盼盼,侯学青,夏美霞,唐敏俊,程云斌,陈卓樑,杨乔馨. Владелец: Shanghai Institute of Quality Inspection and Technical Research. Дата публикации: 2021-06-04.

Non -contact measures thermometer of human body or object

Номер патента: CN205126208U. Автор: 余志鹏,蔡泽凡,谭耀全,牛俊英. Владелец: Shunde Vocational and Technical College. Дата публикации: 2016-04-06.

NON-CONTACT MEASURING THRESHOLD THICKNESS

Номер патента: SU376656A1. Автор: С. И. Кадлец Киевский филиал Всесоюзного научно исследовательского проектно конструкторского института автоматизации предпри тий промышленности строительных материалов А. А. лик. Владелец: . Дата публикации: 1973-04-05.

Online non-contact measuring head capable of being switched rapidly

Номер патента: CN215177824U. Автор: 柳兆蒙,张朦斐. Владелец: Jiaxing Fanshi Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-12-14.

System for non -contact measures flexible construction's mode mode of vibration

Номер патента: CN204903118U. Автор: 吴钢,邱辉,娄军强,杨依领,廖江江. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2015-12-23.

Non-contact measurement method for thermal state sizes of forgings

Номер патента: CN101713640A. Автор: 刘巍,贾振元,杜剑,王邦国,贾兴华. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2010-05-26.

Liquid level non-contact measurement device

Номер патента: CN203455053U. Автор: 姜洋,宋硕,宋纯东,王金诚,牧劲松. Владелец: Baosteel Group Xinjiang Bayi Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-26.

Device for non-contact measuring curvature radius with laser displacement sensor

Номер патента: CN101113895A. Автор: 朱万彬. Владелец: Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics of CAS. Дата публикации: 2008-01-30.

Non-contact measuring device and method for dynamic tension and twist of yarn

Номер патента: CN1299959A. Автор: 张智明,梅顺齐,吴世林,余联庆,尤洪松,向新柱,杜雄星,赵延雯. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2001-06-20.

Non-contact measuring method for deformation of aircraft wing structure

Номер патента: CN102288164A. Автор: 万兵兵,张陈安,史爱明. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2011-12-21.

Wet flue gas desulfurization absorption tower liquid level non-contact measuring device

Номер патента: CN217220874U. Автор: 王磊,刘勇,唐鹏,宋庆,吴迅,黄可,龙海波,周显春,孔祥贞,唐胜利,罗雪松,卿绍伟,周佳良,郭荣东,任上昆. Владелец: Huaneng Chongqing Luohuang Power Generation Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-19.

Non-contact measuring device for radial runout of output shaft of motor in state of motion

Номер патента: CN202119413U. Автор: 邓谨,裘文阳,吴燎兰. Владелец: ELECTROMECHANICAL PRODUCTS DETECTING TECHNOLOGY CENTER OF SHANGHAI ENTRY-EXIT INSPECTION AND QUARANTINE BUREAU. Дата публикации: 2012-01-18.

System of modal vibration mode of non-contact measuring flexible structure

Номер патента: CN104931218A. Автор: 孙涛,邱辉,娄军强,杨依领,廖江江. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2015-09-23.

Dynamic-torque non-contact measuring device based on radio frequency data transmission

Номер патента: CN201476912U. Автор: 王娜,杨墨,艾长胜,沈文众,靖卫星. Владелец: University of Jinan. Дата публикации: 2010-05-19.

Non-contact measuring machine

Номер патента: JP2548769Y2. Автор: 一由 入沢,猛 光井. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1997-09-24.

Non-contact measuring method and equipment of thermal expansion coefficient

Номер патента: CN1152124A. Автор: 王恒,何冠虎,周本濂. Владелец: Institute of Metal Research of CAS. Дата публикации: 1997-06-18.

Non-contact measurement method for electromagnetic interference

Номер патента: TW201142314A. Автор: Tzyy-Sheng Horng,Cheng-Yu Ho,Kai-Syuan Chen,Kang-Chun PENG,Jian-Ming Wu. Владелец: Univ Nat Sun Yat Sen. Дата публикации: 2011-12-01.

Method to monitor content of mechanical impurities in fluid, device for its realisation and system of monitoring of mechanical impurities content in fluid flow

Номер патента: RU2563813C2. Автор: Николай Евгеньевич Сыроедов,Мария Анатольевна Смульская,Анатолий Васильевич Смульский,Анатолий Анатольевич Браилко,Никита Александрович Дружинин,Лев Александрович Дружинин. Владелец: Лев Александрович Дружинин. Дата публикации: 2015-09-20.

Device for adjusting the width of the molten zone during the zone melting of semiconductor materials

Номер патента: SU134430A1. Автор: А.Е. Волпянский,нский А.Е. Волп,Б.И. Голубь. Владелец: Б.И. Голубь. Дата публикации: 1960-11-30.

DEVICE FOR DETERMINATION OF THE INSTABILITY OF REVERSE CURRENTS OF TRANSITIONS OF SEMICONDUCTOR

Номер патента: SU366423A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1973-01-16.

Method of determining content of acetone-insoluble substances (phospholipids) in rapeseed lecithin

Номер патента: RU2581447C1. Автор: Николай Николаевич Корнен,Олег Сергеевич Агафонов,Елена Павловна Викторова,Екатерина Валерьевна Лисовая,Сергей Михайлович Прудников,Глеб Витальевич Руснак,Наталья Батровна Тарасова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Краснодарский научно-исследовательский институт хранения и переработки сельскохозяйственной продукции" (ФГБНУ КНИИХП). Дата публикации: 2016-04-20.

Method of purification of the spent potassium fluoride

Номер патента: RU2296710C1. Автор: Лев Иванович Варфоломеев,Тать на Александровна Дудкина,Татьяна Александровна Дудкина,Александр Олегович Мозолов,Юрий Федорович Охотников,Ростислав Леонидович Рабинович,к Анатолий Иванович Струшл,Анатолий Иванович Струшляк,Виктор Михайлович Юрочкин. Владелец: ФГУП "Ангарский электролизный химический комбинат". Дата публикации: 2007-04-10.

Method of generating quasi-structured models of factographic information content of documents

Номер патента: RU2517428C2. Автор: Юрий Владимирович Полищук. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный университет путей сообщения" (СамГУПС). Дата публикации: 2014-05-27.

Method for determining optimal content of depressor additive in lubricant compositions

Номер патента: RU2583921C1. Автор: Борис Александрович Соломин,Андрей Александрович Подгорнов,Валерий Борисович Галкин,Андрей Викторович Елизаров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2016-05-10.

Mixing device of the reactor of the hydrocarbons catalytic cracking

Номер патента: RU2280503C1. Автор: Валерий Александрович Крылов,Михаил Юрьевич Егоров,Сергей Николаевич Кондрашов,Александр Николаевич Борисов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Лукойл-Пермнефтеоргсинтез". Дата публикации: 2006-07-27.

Method of detection of the lignin substances in the waste waters of the sulfate-cellulose production

Номер патента: RU2291418C1. Автор: Аркадий Михайлович Айзенштадт,Константин Григорьевич Боголицын,Михаил Владиславович Богданов,Анна Александровна Абросимова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Архангельский государственный технический университет". Дата публикации: 2007-01-10.

Sorption fluorescent method of determining content of polycyclic aromatic hydrocarbons in aqueous solutions and sorbent applied for this method

Номер патента: RU2581411C1. Автор: Анна Борисовна Шиповская,Светлана Михайловна Рогачева,Анна Владимировна Страшко,Тамара Ивановна Губина,Андрей Геннадьевич Мельников. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2016-04-20.

METHOD FOR DIAGNOSTIC OF INFLUENCE OF THE HERPES VIRUS ON THE CONTENT OF OLEIC ACID (ENDOGENOUS ANTIOXIDANT) IN THE PERIPHERAL BLOOD OF PREGNANT WOMEN, THIRD TRIMESTER EXTRESSED BY HERPESION

Номер патента: RU2010134071A. Автор: Михаил Тимофеевич Луценко,Наталия Александровна Ишутина,Михаил Тимофеевич Луценко (RU),Наталия Александровна Ишутина (RU). Владелец: Учреждение Российской академии медицинских наук Дальневосточный научный центр физиологии и патологии дыхания Сибирского отделения РА. Дата публикации: 2012-02-20.

Method of determining content of acetone-insoluble substances (phospholipids) in soya lecithin

Номер патента: RU2582913C1. Автор: Николай Николаевич Корнен,Олег Сергеевич Агафонов,Елена Павловна Викторова,Екатерина Валерьевна Лисовая,Сергей Михайлович Прудников,Глеб Витальевич Руснак. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Краснодарский научно-исследовательский институт хранения и переработки сельскохозяйственной продукции" (ФГБНУ КНИИХП). Дата публикации: 2016-04-27.

METHOD FOR DIAGNOSTIC OF INFLUENCE OF THE HERPES VIRUS ON THE CONTENT OF OLEIC ACID (ENDOGENOUS ANTIOXIDANT) IN THE PERIPHERAL BLOOD OF PREGNANT WOMEN, THIRD TRIMESTER EXTRESSED BY HERPESION

Номер патента: RU2010135468A. Автор: Михаил Тимофеевич Луценко,Наталия Александровна Ишутина,Михаил Тимофеевич Луценко (RU),Наталия Александровна Ишутина (RU). Владелец: Учреждение Российской академии медицинских наук Дальневосточный научный центр физиологии и патологии дыхания Сибирского отделения РА. Дата публикации: 2012-02-27.

Multifunction device to analyse physical-and-chemical properties of semiconductors, dielectrics and insulating materials

Номер патента: RU2348045C1. Автор: Виктор Михайлович Тимохин. Владелец: ФГОУ ВПО "Морская государственная академия имени адмирала Ф.Ф. Ушакова". Дата публикации: 2009-02-27.

Method for determining nonuniformity of doping semiconductor layers on insulating substrates

Номер патента: RU2059324C1. Автор: Виталий Иванович Кузнецов,Александр Владимирович Цикунов,Петр Федорович Лугаков,Леонид Александрович Казакевич. Владелец: Леонид Александрович Казакевич. Дата публикации: 1996-04-27.

Method to determine electroconductivity and energy of activation of admixture centres of semiconductor layers

Номер патента: RU2516238C2. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Эдуардович Постельга. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2014-05-20.

DEVICE FOR COULOMETRIC MEASUREMENT OF ELECTROPHYSICAL PARAMETERS OF n-MOS TRANSISTOR NANOSTRUCTURES IN CMOS/SOI TECHNOLOGIES

Номер патента: RU2456627C1. Автор: Владимир Константинович Киселев,Александр Николаевич Качемцев,Татьяна Александровна Палицына. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова". Дата публикации: 2012-07-20.

Device for contactless measurement of resistivity of silicon material

Номер патента: RU2421742C1. Автор: Виктор Сергеевич Белоусов,Михаил Михайлович Беляков,Ирина Олеговна Шагаева. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ". Дата публикации: 2011-06-20.

Device for measurement of heat resistance transition-housing of semi-conductor device

Номер патента: RU2392631C1. Автор: Алексей Александрович Мальцев,Иван Алексеевич Мальцев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Казанский государственный технический университет им. А.Н. Туполева. Дата публикации: 2010-06-20.

Method for oriented modification of semiconductor device structures using pulse electromagnetic field

Номер патента: RU2545077C1. Автор: Владимир Константинович Киселев,Максим Михайлович Венедиктов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова". Дата публикации: 2015-03-27.

Method for stabilisation of electric parameters of semiconductor devices sealed in plastic

Номер патента: RU2484550C1. Автор: Вадим Леонидович Романов. Владелец: Открытое акционерное общество "ОКБ-Планета" (ОАО "ОКБ-Планета"). Дата публикации: 2013-06-10.

Cassette for group transportation of semiconductor plates

Номер патента: RU2485623C1. Автор: Алексей Владимирович Чернов,Александр Михайлович Куликов,Ольга Борисовна Пименова,Евгения Григорьевна Балашова,Николай Андреевич Мишенин,Евгений Абрамович Фролов,Наталия Борисовна Сорокина,Елена Леонидовна Доможирова. Владелец: Елена Леонидовна Доможирова. Дата публикации: 2013-06-20.

Device to remove heat from crystal of semiconductor integrated circuit

Номер патента: RU2440641C1. Автор: Дмитрий Павлович Шматов,Игорь Геннадьевич Дроздов,Валерий Александрович Небольсин,Андрей Юрьевич Савинков,Дмитрий Альбертович Коновалов,Николай Николаевич Кожухов,Сергей Викторович Дахин. Владелец: Закрытое акционерное общество "Кодофон". Дата публикации: 2012-01-20.

Method for determination of conductivity and thickness of semiconductor layers

Номер патента: RU2439541C1. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Эдуардович Постельга. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2012-01-10.

Method to form epitaxial films of cobalt on surface of semiconductor substrates

Номер патента: RU2465670C1. Автор: Юрий Павлович Иванов,Людмила Алексеевна Чеботкевич,Андрей Вадимович Зотов,Александр Вячеславович Давыденко,Алексей Игоревич Ильин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный федеральный университет". Дата публикации: 2012-10-27.

Method of heat removal from heat dissipating electronic components on basis of use of semiconductor lasers

Номер патента: RU2562742C2. Автор: Тагир Абдурашидович Исмаилов,Хаджимурат Магомедович Гаджиев,Татьяна Алексеевна Челушкина,Тимур Декартович Нежведилов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дагестанский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-09-10.

Method of determining duration of plasma-chemical etching of surface of semiconductor plates for submicron technology

Номер патента: RU2535228C1. Автор: Степан Степанович Волков,Михаил Юрьевич Тимашев,Дмитрий Владимирович Суворов,Геннадий Владимирович Гололобов,Алевтина Анатольевна Аристархова,Николай Николаевич Бисярин,Юрий Евгеньевич Дмитревский,Татьяна Ивановна Китаева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2014-12-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.