Universal verification device and method for split type SF6 density relay

具体实施方式

下面将结合附图对本申请实施例的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请所请求保护的范围。

在本申请实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可更换连接，或一体地连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

请参阅图1，本申请实施例中第一方面提供一种可用于分体式SF₆密度继电器的通用型校验装置，包括：充气接头10、充气阀门11、校验接头20、校验阀门21、四通管30、微量排气口40与校验压力表50；充气接头10一端连接充气阀门11的一端，另一端用于连接气室60的充气口61；校验接头20一端连接校验阀门21的一端，另一端用于连接密度继电器64的校验口62；四通管30的四个端口分别连接充气阀门11的另一端、校验压力表50、校验阀门21的另一端以及微量排气口40。充气接头10内有逆止阀撞针，将充气接头连接后，逆止阀撞针将气室60的充气口61中的逆止阀打开，使密度继电器64与校验装置连接。

具体来说，密度继电器64连接于气室60上。常规的断路器中密度继电器64可能设置于气室60内；西门子分体式结构断路器中，密度继电器64与气室60分体设置。现有的对SF₆密度继电器的接点动作值与复归值进行校验的方式中，对于常规的断路器是先关闭SF₆密度继电器与气室60之间的阀门，然后使用通用工具将气室60的充气口逆止阀顶开使气室60内的气体排出；对于西门子分体式结构断路器则是将密度继电器64的校验口62的顶针取出，使得其密度继电器64与外部大气连通。

本实施例提供的可用于分体式SF6密度继电器的通用型校验装置可以适用于常规的断路器，也可以适用于西门子分体式结构断路器。在应用中，可以通过微量排气口40控制四通管30与外部大气之间连通道的开闭而控制气室60的出气量，使得工作人员可以对比校验压力表50与气室60所连接的继电器压力表63二者的压力值，实现对接点动作值与复归值的校验而无需外接气源，可以有效提高工作效率。

在更具体的实施例中，微量排气口40上设置有用于控制排气流量的微控阀。从而通过微控阀而控制四通管30与外部大气之间连通道的开启量，实现更准确的排气量控制。

进一步地，校验压力表50上设置有温度补充件，可以保证在不同环境温度下校验的准确性。

在一个实施例中，四通管30的四个端口均设置有螺纹，且与充气阀门11的另一端、校验压力表50、校验阀门21的另一端以及微量排气口40均螺纹连接。

通过在四通管30的四个端口设置螺纹，使得充气阀门11、校验压力表50、校验阀门21以及微量排气口40与四通管30可拆卸连接，便于在实际应用中维护和更换。

在一个实施例中，充气阀门11的一端通过第一过渡接头31连接充气接头10。校验阀门21的一端通过第二过渡接头32连接校验接头20。

其中，使用第一过渡接头31和第二过渡接头32可以实现充气阀门11和校验阀门21与同规格的充气接头10和校验接头20连接的目的。需要说明的是，充气阀门11和校验阀门21可以均通过透明软管连接充气接头10和校验接头20。

进一步地，四通管30是四个端口均设置有密封圈。5、密封圈老化变形后可方便进行更换，保证密封面不存在漏气情况。

本申请第二方面提供一种可用于分体式SF₆密度继电器的通用型校验方法，为分体式SF₆密度继电器校验方法，应用于上述任一项的可用于分体式SF6密度继电器的通用型校验装置；

该方法包括以下步骤：

S1、将密度继电器64的校验口62开启，以使校验口62与外部大气连通；

其中，以西门子分体式结构断路器为例，将密度继电器64的校验口62开启的方式可以是将密度继电器64的校验口62的顶针取下，此时气室60与密度继电器64脱离，密度继电器64内部气体自然排出大气中。

S2、使充气接头10连接密度继电器的充气口61以及使校验接头20连接密度继电器的校验口62，开启充气阀门11和校验阀门21并关闭微量排气口40。

此时继电器压力表63显示气室60的实际压力。

S3、对比校验压力表50的校验压力值与密度继电器上的继电器压力表63的继电器压力值。

具体来说，通过对比校验压力值与继电器压力值，可以校验继电器压力表63的显示值是否准确。

S4、关闭充气阀门11和校验阀门21并开启微量排气口40，以使密度继电器64内气压下降从而校验密度继电器的报警闭锁动作值。

具体来说，在开启微量排气口40后，密度继电器64内的气压逐渐下降，从而可以校验密度继电器64的报警闭锁动作值。

S5、关闭微量排气口40并使充气阀门11逐渐开启，以校验密度继电器64的报警闭锁复归值。

具体来说，使充气阀门11逐渐开启是指缓慢开启充气阀门11，从而可以校验密度继电器64的报警闭锁复归值。之后将校验装置拆除，并将校验口62的顶针装回，恢复气室60与密度继电器64至工作前状态。

上述方法可以应用于分体式结构的SF6密度继电器；下述方法可以应用于如图2所示的常规一体式结构的SF6密度继电器。

本申请第三方面提供一种可用于分体式SF₆密度继电器的通用型校验方法，为常规一体式SF₆密度继电器校验方法，应用于上述任一项所述的可用于分体式SF6密度继电器的通用型校验装置；

该方法包括以下步骤：

S1、保持校验阀门21关闭，将充气接头10连接气室的充气口61以使密度继电器64与校验压力表50连通，对比校验压力表50与气室60上的继电器压力表63二者的显示值；

具体来说，在常规一体式结构的SF6密度继电器中，继电器压力表63与密度继电器64为一体式。因此，由于继电器压力表63与充气口61连通，在充气口61连接充气接头10后，密度继电器64则已经与校验压力表50连通，从而可以直接对比校验压力表50和继电器压力表63的显示值，以校验继电器压力表63的显示准确度。

S2、关闭密度继电器64与气室60之间的阀门65，并开启微量排气口40，以使密度继电器64内气压下降从而校验密度继电器64的报警闭锁动作值；

报警闭锁动作值也即报警接点、闭锁接点的动作气压值。

S3、关闭微量排气口40并使充气阀门11逐渐开启，以校验密度继电器64的报警闭锁复归值。

同理地，在上述步骤完成后将校验装置拆除，并将校验口62的顶针装回，即可恢复气室60与密度继电器64至工作前状态。

以上为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照实例对本申请进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述实例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，但是凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。