Настройки

Укажите год
-

Небесная энциклопедия

Космические корабли и станции, автоматические КА и методы их проектирования, бортовые комплексы управления, системы и средства жизнеобеспечения, особенности технологии производства ракетно-космических систем

Подробнее
-

Мониторинг СМИ

Мониторинг СМИ и социальных сетей. Сканирование интернета, новостных сайтов, специализированных контентных площадок на базе мессенджеров. Гибкие настройки фильтров и первоначальных источников.

Подробнее

Форма поиска

Поддерживает ввод нескольких поисковых фраз (по одной на строку). При поиске обеспечивает поддержку морфологии русского и английского языка
Ведите корректный номера.
Ведите корректный номера.
Ведите корректный номера.
Ведите корректный номера.
Укажите год
Укажите год
Применить Всего найдено 1. Отображено 1.
18-07-2023 дата публикации

Test method and method for manufacturing semiconductor device

Номер: CN116453966A
Автор: ISHIBASHI HIDETOSHI, MINAMIDE AYUMI, OKA SEIJI, FURUTA YURIE, MASUMORI SHUNJI
Принадлежит:

The test method of the present invention comprises the steps of: disposing a heat dissipation grease (20) on a holding plate (10); a pressing plate (30) is arranged opposite to the holding plate in a manner of clamping the heat dissipation grease; changing the interval between the holding plate and the pressing plate; and observing the shape of the heat dissipation grease after the interval between the holding plate and the pressing plate is changed. Pumping performance is determined based on the shape of the heat dissipation grease.

Подробнее
Номер записи: 1