熱チャック内の二重螺旋熱制御通路を有するエレクトロニックテスター
Номер патента: JP2022033145A
Опубликовано: 28-02-2022
Автор(ы): Alberto Calderon, E Lindsey Scott, P Richmond Donald, Steven C Steps, W Deboe Kenneth, アルベルト カルデロン, ケニス ダブリュー デボー, スコット イー リンゼイ, スティーブン シー ステップス, ドナルド ピー リッチモンド
Принадлежит: Aehr Test Systems Inc
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Опубликовано: 28-02-2022
Автор(ы): Alberto Calderon, E Lindsey Scott, P Richmond Donald, Steven C Steps, W Deboe Kenneth, アルベルト カルデロン, ケニス ダブリュー デボー, スコット イー リンゼイ, スティーブン シー ステップス, ドナルド ピー リッチモンド
Принадлежит: Aehr Test Systems Inc
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Double-sided probe systems with thermal control systems and related methods
Номер патента: EP4078204A1. Автор: Masahiro Sameshima. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2022-10-26.