Method for Calibrating Height Using Atomic Force Microscope

09-01-2018 дата публикации

Номер:

KR101816657B1

Автор: 김준섭, 박기환, 윤여민, 정지성

Принадлежит: 광주과학기술원

Контакты:

Номер заявки:

Дата заявки:

CPC - классификация

G G0 G01 G01B G01B5 G01B5/G01B5/3 G01B5/30 G01B9 G01B9/G01B9/0 G01B9/04 G01Q G01Q1 G01Q10 G01Q10/G01Q10/0 G01Q10/04 G01Q10/045 G01Q6 G01Q60 G01Q60/G01Q60/4 G01Q60/42

IPC - классификация

G G0 G01 G01B G01B5 G01B5/G01B5/3 G01B5/30 G01B9 G01B9/G01B9/0 G01B9/04 G01Q G01Q6 G01Q60 G01Q60/G01Q60/4 G01Q60/42

Получить PDF