OPTICAL TEST SYSTEM

光学测试系统 技术领域

本发明涉及光学测试系统。 背景技术

在对待测模组进行光学测量时， 当待测模组旋转时， 也需要保证测量轴 位于待测模组的表面上。 为了满足上述的需求， 现有技术中的光学测试系统 如图 1所示， 包括：

机台 201 ;

设置于机台 201表面的夹具 2; 以及

光学测量仪 3。

如图 1所示， 该夹具 2为固定型夹具， 只能匹配一种型号的液晶模组产 品。 夹具 2一般是在一整块材料 (电木等）上挖一个容纳待测模组的凹槽。

在测试过程中， 将待测模组放置在凹槽中进行测量。

由于测量时， 机台 1可能需要按照图 1虚线所示的两个轴旋转， 由于待 测模组旋转时， 也需要保证测量轴位于待测模组的表面上， 所以对于长、 宽 和高不同的模组都需要制作对应的夹具。 导致夹具成本过高。 发明内容

本发明实施例的目的在于提高一种光学测试系统， 使得夹具及测试系统 能适应不同尺寸的待测模组， 提高夹具的适应性， 降低测试成本中的夹具成 本。

本发明的一方面提供一种光学测试系统， 包括： 机台； 安装于所述机台 上的第一导轨， 与机台表面平行； 第一滑块和第二滑块， 设置于所述第一导 轨上， 可在所述第一导轨上滑动， 能够配合以夹持待测模组。

例如， 光学测试系统还包括： 安装于所述机台上的第二导轨， 与机台表 面平行， 且垂直于所述第一导轨； 第三滑块， 设置于所述第二导轨上， 可在 所述第二导轨上滑动， 能够与所述第一滑块和第二滑块配合夹持所述待测模 组。

例如，所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。 例如， 所述第一滑块和第二滑块每个具有一夹持面， 所述第一滑块、 第 二滑块每个具有一阻挡机构， 所述阻挡机构在垂直于所述夹持面的方向上突 出于所述夹持面。

例如， 待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构下表面时， 测量轴位于所述 待测模组的表面。

例如， 第三滑块具有一夹持面和一阻挡机构， 所述阻挡机构在垂直于所 述夹持面的方向上突出于所述夹持面。

例如， 所述第一滑块和第二滑块至少其中之一的上表面形成有一凹槽结 构。

例如， 第一滑块和第二滑块至少其中之一的上表面形成有一凹槽结构， 所述凹槽结构的底部不高于所述阻挡机构的下表面。

例如， 所述第三滑块的上表面形成有一凹槽结构。

例如， 第三滑块的上表面形成有一凹槽结构， 所述凹槽结构的底部不高 于所述阻挡机构的下表面。

例如， 光学测试系统还包括： 用于承载所述待测模组的承载机构； 所述 承载机构具有一承载面， 所述承载面与机台表面平行， 且能够沿垂直于机台 表面的方向运动。

例如， 承载面通过弹性件与所述承载机构的主体连接。 附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案， 下面将对实施例的附图作 简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例， 而非对本发明的限制。

图 1为现有技术的光学测试系统的结构示意图；

图 2为本发明实施例的一种光学测试系统的结构示意图；

图 3为本发明实施例的另一种光学测试系统的结构示意图； 图 4为本发明实施例的滑块的结构示意图；

图 5为本发明实施例的再一种光学测试系统的结构示意图

图 6为图 5所示的光学测试系统的不同状态下的示意图；

图 7为滑块阻挡测试光线的示意图；

图 8a、 8b和 8c为滑块上设置的三种凹槽的示意图。

其中， 附图标记如下：

2 夹具 201机台 3 光学测量仪

202 第一导轨 203第一滑块 204第二滑块

205 第二导轨 206第三滑块 401夹持面

402 阻挡机构 501承载机构 5011 承载面

601 待测模组 具体实施方式

为使本发明实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合本发 明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、 完整地描述。显然， 所描述的实施例是本发明的一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于所描 述的本发明的实施例， 本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获 得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。

本发明实施例的光学测试系统中设置有一导轨， 并且在导轨上设置有能 够滑动的两个滑块。 当待测模组的长度或宽度不同时， 可以滑动两个滑块， 使得滑块的夹持面之间的距离等于待测模组的长度或宽度， 因此能够适用长 度或宽度不同的待测模组。 因此本发明实施例的光学测试系统提高了夹具的 适应性， 降低了测试成本中的夹具成本。

本发明实施例的一种光学测试系统， 如图 2所示， 包括：

机台 201 ;

安装于所述机台上的第一导轨 202, 与机台表面平行；

设置于所述第一导轨 202上， 可在所述第一导轨 202上滑动， 能够配合 夹持待测模组的第一滑块 203和第二滑块 204。

如图 2所示， 当需要对待测模组进行光学测量时， 将待测模组置于滑块 203和 204之间，然后根据待测模组的长 /宽调整第一滑块 203和第二滑块 204 的位置， 使得第一滑块 203和第二滑块 204的夹持面贴紧待测模组的两端， 然后固定第一滑块 203和第二滑块 204。

以图 2所示的情况为例， 由于第一滑块 203和第二滑块 204可在第一导 轨 202上滑动， 因此当下一次测试时待测模组的长 /宽发生变化时， 则可以调 整第一滑块 203和第二滑块 204在导轨上的位置， 使得第一滑块 203和第二 滑块 204的夹持面贴紧待测模组的两端， 从而夹持固定当前待测模组即可。

因此， 本发明实施例的光学测试系统能够适用于长 /宽不同的待测模组， 提高了夹具的适应性， 也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、 制造夹具， 降低了测试成本中的夹具成本。

通过上述的方式， 本发明实施例的光学测试系统可以适用不同长度或宽 度的待测模组， 但在另一个方向上需要测试人员自行调整。 为了提高测试效 率， 在本发明的另一实施例中， 如图 3所示， 该光学测试系统还包括：

安装于所述机台 201上的第二导轨 205, 与机台表面平行， 且垂直于所 述第一导轨 202;

设置于所述第二导轨 202上， 可在所述第二导轨 202上滑动， 能够与所 述第一滑块 203和第二滑块 204配合夹持所述待测模组的第三滑块 206。

通过第二导轨 205以及其上的第三滑块 206的设置， 测试人员可以很方 便的通过 3个滑块来唯一确定待测模组的位置。

同时， 通过 3个滑块的设置， 可以对长度和宽度均不同的待测模组进行 固定， 提高了夹具的适应性， 也使得用户的测试操作更加方便。

在本发明的示例实施例中， 由于每个待测模组均有各自的长度和宽度， 为了使得待测模组位于合适的位置。 保证待测模组位于合适的位置可以通过 用户手动调整来实现， 但考虑到精度问题， 在本发明的另一示例实施例中， 在所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。

通过游标卡尺的设置， 测试人员能够很精确的设置第一滑块 203、 第二 滑块 204和第三滑块 206的位置， 进而也就精确设置了滑块夹持面的位置， 进而精确定位待测模组的位置。

之前提到， 机台 1可能需要按照图 1虚线所示的两个轴旋转， 当待测模 组旋转时， 需要保证测量轴位于待测模组的表面上。

对于上述的测量条件， 可以通过用户不断手动调整待测模组相对于机台 表面的高度来保证。 即： 首先确定测量轴的位置， 进而确定待测模组相对于 机台表面的高度， 然后在第一滑块 203、 第二滑块 204和第三滑块 206的位 置确定之后， 通过沿夹持面上下调整待测模组即可使待测模组位于一个恰当 的高度， 当机台沿图 1所示的轴线旋转时， 测量轴位于待测模组的表面上。

但上述的方式可能需要多次繁瑣的调整，在本发明的另一示例实施例中 , 通过一简单改进滑块使得上述的调整过程更加简单， 说明如下。

如图 4所示， 本发明实施例中的滑块具有一夹持面 401 , 所述第一滑块、 第二滑块和第三滑块至少其中之一具有一阻挡机构 402, 所述阻挡机构 402 在垂直于所述夹持面 401的方向 X上突出于所述夹持面 401 , 所述待测模组 的上表面贴紧所述阻挡机构时， 测量轴位于所述待测模组的表面。

也可以说， 测量轴位于第一滑块、 第二滑块和第三滑块上的阻挡机构的 下表面所在的平面即可。

下面对上述的结构的工作说明如下。

在第一滑块 203、 第二滑块 204和第三滑块 206的位置确定之后， 将待 测模组放入第一滑块 203、 第二滑块 204和第三滑块 206的夹持面之间， 此 时在平行于机台表面的方向上固定了待测模组。

在此之后， 推动待测模组沿着夹持面向上移动， 直至待测模组的上表面 贴紧阻挡机构的下表面， 此时测量轴位于所述待测模组的表面， 满足测量要 求。

上述方式下， 只需要测试人员将待测模组向上推动到无法推动的位置的 即可， 不用测试人员手动测试待测模组的高度， 大大提高了测试的方便性。

在本发明的一示例实施例中，该光学测试系统中可以通过第一滑块 203、 第二滑块 204和第三滑块 206夹持待测模组， 使得待测模组在垂直于机台表 面的方向上固定。

为了进一步提高待测模组夹持的稳定性， 如图 5所示， 在本发明的另一 示例实施例中， 光学测试系统还包括： 用于承载所述待测模组的承载机构 501 ; 所述承载机构具有一承载面 5011 , 所述承载面与机台表面平行， 且能 够沿垂直于机台表面的方向运动。

通过承载机构的设置， 可以为待测模组在垂直于机台表面的方向上提供 支撑， 使得待测模组的位置更加稳固， 避免了测试过程中待测模组从第一滑 块 203、 第二滑块 204和第三滑块 206中掉落的情况。

同时， 由于承载面 5011能够沿垂直于机台表面的方向运动， 因此，对于 不同高度的待测模组都能够适用， 进一步提高了夹具的适应性， 降低了测试 成本中的夹具成本。

在本发明的一示例实施例中， 该承载面的底部通过弹性件例如弹簧与所 述承载机构的主体连接， 当待测模组放置于承载面上时， 在弹簧弹性力的作 用下将承载面向上顶， 从而带动待测模组沿着夹持面向上运动， 当待测模组 上表面抵达阻挡机构的下表面时， 被阻挡机构阻挡， 无法继续向上移动， 达 到稳定状态。

同时， 由于测量轴位于第一滑块、 第二滑块和第三滑块上的阻挡机构的 下表面所在的平面， 因此， 当所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构时， 测量轴位于所述待测模组的表面， 满足测量要求。

如图 6所示， 为图 5所示的光学测试系统的不同状态下的示意图。

如图 6所示， 当机台绕横向的旋转轴旋转到如图 7所示的位置时， 滑块 会阻挡光学测量仪 3发出的光线照射到待测模组 601的中心点， 导致测试无 法完成。

在本发明的又一示例实施例中， 为了避免上述情况的发生， 在至少一个 滑块（第一滑块、 第二滑块和第三滑块至少其中之一） 的上表面形成有一凹 槽结构。 例如， 该凹槽结构的底部可不高于阻挡机构的下表面。 在所述第一 滑块、 第二滑块和第三滑块配合夹持所述待测模组时， 例如， 所述凹槽结构 的底部可以不高于所述待测模组的上表面。

也就是说， 在滑块上表面形成了个让光线能够直接通过的通道， 使得光 学测量仪 3发出的光线照射到待测模组 601的中心点。

在本发明的示例实施例中， 该 槽结构多种多样， 对其中的几种实现方 式说明如下。

如图 8a、 图 8b和图 8c所示， 为本发明示例实施例的三种凹槽结构的示 意图， 但 3种结构中， 凹槽结构的底部都不高于所述待测模组的上表面， 也 就是说光学测量仪的光出口到待测模组的上表面中心点之间没有阻挡物， 保 证光学测量仪 3发出的光线照射到待测模组 601的中心点实现光学项目测试。

本发明实施例至少具有以下有益效果： 本发明实施例中， 当需要对待测模组进行光学测量时， 将待测模组置于 滑块之间， 然后根据待测模组的长 /宽调整滑块的位置， 使得滑块的夹持面贴 紧待测模组的两端， 然后通过固定滑块来固定待测模组。

由于滑块可在导轨上滑动， 因此当下一次测试时待测模组的长 /宽发生变 化时， 则可以调整滑块在导轨上的位置， 使得滑块的夹持面贴紧待测模组的 两端， 从而夹持固定当前待测模组即可。

因此， 本发明实施例的光学测试系统能够适用于长 /宽不同的待测模组， 提高了夹具的适应性， 也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、 制造夹具， 降低了测试成本中的夹具成本。

以上所述仅是本发明的示范性实施方式， 而非用于限制本发明的保护范 围， 本发明的保护范围由所附的权利要求确定。