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05-11-2015 дата публикации

CATALYZER AND CATALYST APPARATUS

Номер: KR101566161B1
Автор: YANG, SEUNG EUN
Принадлежит: MICRO CONTACT SOLUTION CO., LTD.

Provided are a catalyzer and a catalyst apparatus capable of protecting and maintaining a catalyzer body at the same time. The catalyzer comprises: a maintaining member (32) formed into a tubular or annular shape by weaving and compressing wire; a catalyzer body (31) inserted into an inner circumferential portion of the maintaining member (32) and immersed with a metal catalyst and having a mesh shape with every fiber material or wire weaved and having a wire knit structure formed into a predetermined outer shape by wrapping the mesh; and a net member (34) disposed on a cross-section of the maintaining member (32) and having a large eye so as not to block an exhaust gas flowing into the catalyzer body (31) which is intended to prevent an escape from the maintaining member (32) of the catalyzer body (31). COPYRIGHT KIPO 2016 (AA) Upstream side (BB) Downstream side ...

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Номер записи: 1
26-07-2017 дата публикации

반도체 테스트용 테스트 소켓

Номер: KR0101761347B1
Автор: 신동진
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명은 반도체 테스트용 테스트 소켓으로서, 보다 상세하게는 반도체가 소켓 내로 삽입될 때 삽입 저항력(Insertion Force)를 줄일 수 있도록 좌우 방향으로 서로 상이한 위치에 접촉점이 위치하는 접촉 단자를 갖는 반도체 테스트용 테스트 소켓에 관한 것이다.

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Номер записи: 2
04-10-2016 дата публикации

반도체 테스트용 커넥터 패드

Номер: KR0101661311B1
Автор: 양승은
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명은 반도체 테스트용 커넥터 패드에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 소정의 면적 및 두깨를 가지며 비전도성 재질로 구성된 베이스부; 상기 베이스부의 면적에 걸쳐서 소정의 배열을 갖고 배치되는 복수의 도전부; 소정의 면적 및 두께를 가지며 상기 베이스부 상에 배치되는 레이어부; 및 상기 레이어부에 배치되는 복수 개의 도전 핀; 을 포함하며, 상기 각각의 도전부는 도전성을 갖되 상기 베이스부의 두께를 관통하게 배치되어 상기 베이스부의 두께 방향으로 통전을 형성하며, 상기 레이어부는, 복수 개의 관통 홀을 갖되 상기 각각의 관통 홀은 상기 레이어부의 두께 방향으로 관통되며 면적에 걸쳐서 소정의 배열을 갖게 구성되며, 상기 각각의 도전 핀은 상기 관통 홀에 배치되어 상기 레이어부의 일 부분을 관통하게 배치되고, 상기 각각의 관통 홀의 위치는 상기 베이스부에 구비된 각각의 도전부의 위치와 대응되어 상기 도전 핀의 하면과 상기 도전부의 상면이 접하게 구성되는 반도체 테스트용 커넥터 패드에 관한 것이다.

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Номер записи: 3
18-05-2017 дата публикации

테스트 소켓용 컨택트

Номер: KR0101737551B1
Автор: 이병철
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명은 테스트 소켓용 컨택트에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 전기적 특성을 더욱 우수하게 하는 테스트 소켓용 컨택트에 관한 것이다.

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Номер записи: 4
17-03-2023 дата публикации

세퍼레이터 장치 및 반도체 칩 테스트 소켓

Номер: KR102511066B1
Автор: 이병철
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명은 세퍼레이터 장치 및 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 세척액 배출이 촉진되는 구조를 갖는 세퍼레이터 장치 및 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것이다.

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Номер записи: 5
21-11-2016 дата публикации

GENDER STRUCTURE FOR SSD TEST

Номер: KR101677709B1
Автор: AN, WOO JIN
Принадлежит: MICRO CONTACT SOLUTION CO., LTD.

The present invention relates to a gender structure for a solid state disk (SSD) test. More specifically, the present invention relates to a gender for a SSD test in which a SSD having various sizes is stored and tested. The gender structure for a SSD test includes: a frame having a storage unit in which the SSD can be stored; and a stopper block fixing a position of the SSD in the storage unit by supporting at least one side of the SSD. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 6
19-10-2015 дата публикации

METHOD FOR MANUFACTURING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR TEST

Номер: KR101561615B1
Автор: WEE, SUNG YEOP
Принадлежит: MICRO CONTACT SOLUTION CO., LTD.

The present invention relates to a method for manufacturing a contactor for a semiconductor test. More specifically, the method for manufacturing a contactor for a semiconductor test comprises: a first step of stacking or applying a certain thickness of a mixture in which conductive powder of a conductive material is mixed with silicon to form a mixture sheet; a second step of dividing the mixture sheet into a first area and a second area to irradiate energy onto the first area, and hardening a mixture in the first area to form a conductive pattern; a third step of eliminating a mixture from the second area; a fourth step of injecting silicon into the second area from which the mixture is eliminated; and a fifth step of hardening the silicon injected into the second area. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 7
02-01-2017 дата публикации

SEMICONDUCTOR CHIP TEST SOCKET

Номер: KR101689392B1
Автор: IKEYA KIYOKAZU, KANG, KI WON
Принадлежит: MICRO CONTACT SOLUTION CO., LTD.

The present invention relates to a semiconductor chip test socket, and more particularly, to a semiconductor chip test socket capable of reducing force waste by easily transmitting force according to the movement of a cover to a latch system. The semiconductor chip test socket includes a quadrangular base, an adapter which mounts a semiconductor chip on an upper side thereof, a cover which has an opening part into which the semiconductor chip is inserted, a spring which applies elastic force between the base and the cover, and the latch system. COPYRIGHT KIPO 2017 ...

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Номер записи: 8
18-05-2017 дата публикации

콘택트 제조 방법, 콘택트, 및 콘택트를 포함하는 소켓

Номер: KR0101737550B1
Автор: 이병철
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명은 콘택트 제조 방법 및 콘택트에 관한 것으로, 와이어를 벤딩하여 콘택트를 제조함으로써 접촉면이 매끄럽고 단면적이 균일하여 신호 전달시의 손실이 방지되는 콘택트 및 콘택트 제조 방법에 관한 것이다.

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Номер записи: 9
21-11-2016 дата публикации

반도체 칩 테스트 소켓

Номер: KR0101677708B1
Автор: 위성엽
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명은 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 중심 개구부를 갖는 베이스; 상기 베이스에 결합하되 상기 베이스에 대해 상하 방향으로 이동 가능하게 결합하며 반도체 칩이 삽입되도록 개구부를 갖는 커버; 상기 베이스의 중심 개구부에 삽입되며 복수의 컨택 핀 수용부를 갖는 어댑터; 상기 베이스와 상기 커버 사이에 배치되며 상기 베이스와 상기 커버 사이에 탄성을 가하는 커버 스프링; 상기 커버의 상하이동에 따라서 개방 및 지지 위치로 이동하는 래치 시스템; 및 상기 어댑터 하부에 배치되며 상기 컨택 핀 수용홀을 통해 노출되는 복수의 컨택 핀을 포함하며, 상기 래치 시스템은, 상기 커버가 상기 커버 스프링에 의해서 상부에 위치하면 어댑터 상에 탑재된 반도체 칩을 가압하여 지지하는 지지 위치에 위치하며, 외력에 의해 상기 커버가 하방향으로 이동하면 상기 개방부를 통해 반도체 칩이 노출되도록 하는 개방 위치에 위치하되, 상기 래치 시스템은 상기 커버의 적어도 일 측에 연결되는 커버 샤프트, 일 단이 상기 커버 샤프트에 힌지 연결되는 래치, 상기 래치의 타단에 연결되며 상기 어댑터 상에 탑재된 반도체 칩을 가압하는 래치 플레이트를 포함하며, 상기 래치는 상기 커버의 상하이동에 따라서 상하이동함과 동시에 상기 커버 샤프트를 중심으로 선회하게 구성되는 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것이다.

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Номер записи: 10
24-06-2015 дата публикации

Pogo pin and manufacturing method thereof

Номер: KR0101531043B1
Автор: 유장열
Принадлежит: (주)마이크로컨텍솔루션

... 본 발명의 기술적 사상은 부품 수를 줄이고 전기적 특성을 개선할 수 있는 포고 핀 및 그 제조 방법을 제공한다. 그 포고 핀은 원통 형태를 가지며 하단에 하방 접촉부가 형성된 하부 접점부, 상기 하부 접점부에 일체로 연결되어 상단 방향으로 연장된 원통형의 스프링부, 및 상기 스프링부에 일체로 연결되고 상단에 원형 고리가 형성된 결합부를 구비한 바텀 플런저(bottom plunger); 및 원통 형태를 가지며 상단에 상방 접촉부가 형성된 상부 몸통부, 상기 상부 몸통부와 일체로 연결된 원통 형태를 가지며 상기 바텀 플런저에 삽입되는 하부 몸통부, 상기 상부 몸통부와 하부 몸통부의 연결부분에 형성된 상부 돌기, 및 상기 하부 몸통부의 상부에 형성된 하부 돌기를 구비한 탑 플런저(top plunger);를 포함하고, 상기 원형 고리가 상기 상부 돌기와 하부 돌기 사이의 상기 하부 몸통부 부분에 결합하여 상기 탑 플런저가 상기 바텀 플런저에 고정되는 구조를 갖는다.

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Номер записи: 11
07-09-2017 дата публикации

CONTACT TERMINAL AND CONNECTOR INCLUDING SAME

Номер: KR101775604B1
Автор: HONG, HYUNG SIK
Принадлежит: MICRO CONTACT SOLUTION CO., LTD.

The present invention relates to a contact terminal and a connector including the same, and more particularly, to a contact, which comprises a first contact beam and a second contact beam, and prevents the resistance thereof from increasing while improving conduction efficiency and a transmission speed thereof by allowing the first contact beam to be in contact with an external electricity terminal and be deformed so as to come in contact with the second contact beam, and a connector including the same. COPYRIGHT KIPO 2017 ...

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Номер записи: 12