13-08-2020 дата публикации
Номер: RU2729950C2
Группа изобретений относится к оптической измерительной технике. Система (100) для опроса одного или нескольких параметров во множестве мест в образце (108) содержит первый сверхбыстрый лазерный источник (102), сконфигурированный для подачи первого множества импульсов, причем первый источник (102) сконфигурирован для подачи гребенки частот, имеющих первую частоту повторения, при этом первое множество импульсов взаимодействует с образцом (108) во множестве мест в образце (108) для получения обработанных импульсов. Также система содержит второй сверхбыстрый лазерный источник (104), сконфигурированный для подачи второго множества импульсов, причем второй источник (104) сконфигурирован для подачи гребенки частот, имеющих вторую частоту повторения, которая отличается от первой частоты повторения. Кроме того, система содержит опорное устройство (110), выполненное с возможностью подачи опорных импульсов, имеющих переменную временную задержку, переменную задержку по фазе, переменную разность хода ...
Подробнее