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10-09-2018 дата публикации

테스트핸들러용 픽앤플레이스장치

Номер: KR0101896552B1
Автор: 나윤성, 김두우
Принадлежит: (주)테크윙

... 본 발명은 테스트핸들러용 픽앤플레이스장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 테스트핸들러용 픽앤플레이스장치는 반도체소자를 제 1 위치에서 파지하여 제 2 위치로 이송시켜 파지 해제하는 다수 개의 픽커모듈을 X축 방향으로 나란히 구비하는 테스트핸들러용 픽앤플레이스장치로서, 상기 픽커모듈은, 상하 방향으로 피스톤을 이동시킬 수 있는 실린더가 내부에 설치되는 본체; 상기 피스톤에 연결되며, 적어도 하나 이상의 픽커가 설치되고, 상기 피스톤과 함께 상하 방향으로 이동되는 제 1 결합체; 상기 제 1 결합체에 Y축 방향으로 이동 가능하게 설치되며, 적어도 하나 이상의 픽커가 설치되고, 상기 제 1 결합체와 함께 상하 방향으로 이동되는 제 2 결합체; 및 상기 본체의 저부에 연결되는 기둥부와, 상기 제 2 결합체의 하방 이동에 따라 상기 제 2 결합체가 Y축 방향으로 밀려 이동되도록 상기 기둥부의 단부에 제공되는 경사부를 구비하는 가이드부를 포함할 수 있다.

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31-12-2015 дата публикации

TEST HANDLER

Номер: KR1020150146240A
Принадлежит:

Disclosed is a test handler. The test handler according to an embodiment comprises: a loading device for loading an electronic component; a salk chamber for pre-cooling or pre-heating the electronic component, so the loaded electronic component has a test setting temperature; a test chamber for testing the pre-heated or pre-cooled electronic component; a desalk chamber for recovering a temperature of the test-completed electronic component to a predetermined level, and having a flow path formed in one side wall thereof, wherein the flow path includes a first feeding hole, a discharge hole, and a second feeding hole which is adjacent to the discharge hole; a circulating device for circulating air in the desalk chamber in the flow path; and an unloading device for unloading the electronic component having a temperature recovered to a predetermined level. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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