반도체 장치 동시 연속 테스트 방법 및 테스트 장비

... 본 발명의 사상은 반도체 장치의 최종 테스트 시 동시에 테스트하는 반도체 장치의 수를 증가시킴으로써, 단위 장치당 테스트 시간을 감축할 수 있는 반도체 장치 동시 연속 테스트 방법 및 테스트 장비를 제공한다. 그 동시 연속 테스트 방법은 테스트용 회로를 각각 구비한 다수의 반도체 장치를 테스트용 보드에 장착시키는 단계; 상기 테스트용 보드 내의 상기 다수의 반도체 장치 각각의 상기 테스트용 회로에 테스트 소프트웨어를 로딩하는 단계; 상기 테스트 소프트웨어에 기초하여 각각의 상기 테스트용 회로가 대응하는 각각의 상기 반도체 장치를 동시에 자가(self) 테스트하는 단계; 및 테스트가 종료된 상기 다수의 반도체 장치를 상기 테스트용 보드로부터 탈착시키는 단계;를 포함하고, 상기 테스트 소프트웨어를 로딩하는 단계는 상기 자가 테스트하는 단계와 별도로 어느 하나의 상기 테스트용 보드에서의 상기 테스트 소프트웨어 로딩이 종료되면 다음의 상기 테스트용 보드로 이동하여 상기 테스트 소프트웨어 로딩을 수행한다.