Устройство для измерения профиля распределения элементов по глубине в фотовольтаических слоях
Номер патента: RU0000169793U1
Опубликовано: 03-04-2017
Автор(ы): Бжеумихов Аниуар Абубович, Бжеумихов Казбек Абубович, Маргушев Заур Чамилович
Принадлежит: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт информатики и проблем регионального управления Кабардино-Балкарского научного центра РАН
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-04-2017
Автор(ы): Бжеумихов Аниуар Абубович, Бжеумихов Казбек Абубович, Маргушев Заур Чамилович
Принадлежит: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт информатики и проблем регионального управления Кабардино-Балкарского научного центра РАН
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Способ и устройство для измерения остаточных напряжений в детали
Номер патента: RU2600518C2. Автор: Вей-Минг СИМ. Владелец: Эйрбас Оперэйшнз Лимитед. Дата публикации: 2016-10-20.