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Применить Всего найдено 8. Отображено 8.
24-07-2018 дата публикации

반도체 장치 및 그 동작 방법

Номер: KR0101881366B1
Автор: 문영석, 이형동, 권용기, 양형균, 김홍식
Принадлежит: 에스케이하이닉스 주식회사

... 본 발명은 워드라인 디스터번스로 인하여 셀 데이터가 손상되는 것을 방지할 수 있는 반도체 장치 및 그 동작 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.본 발명에 의한 반도체 장치의 동작 방법은 제 1 기억 장치에 대한 요청을 수신하는 단계;, 데이터 손상 위험성을 나타내는 정보를 참고하여 요청된 주소에 대응하는 상기 제 1 기억 장치의 제 1 워드라인에 인접하는 제 2 워드라인에 연결된 셀들의 데이터 손상 위험성을 판단하는 단계, 데이터 손상 위험성이 있는 것으로 판단하는 경우 상기 제 2 워드라인에 연결된 셀들의 데이터를 제 2 기억 장치에 저장하는 단계를 포함한다.

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Номер записи: 1
14-11-2022 дата публикации

메모리 컨트롤러를 포함하는 메모리 시스템 및 그의 동작 방법

Номер: KR102466239B1
Автор: 양형균, 김용주, 김홍식
Принадлежит: 에스케이하이닉스 주식회사

... 호스트로부터 요청된 데이터를 저장하는 메모리 장치, 및 제1 동작 모드 시, 상기 데이터에 관한 정보를 생성하여 상기 데이터와 해당 정보를 각각 제1 및 제2 데이터 버스를 통해 상기 메모리 장치와 송/수신하고, 제2 동작 모드 시, 상기 데이터의 크기에 따라 상기 제1 및 제2 데이터 버스 중 하나를 통해 상기 데이터를 상기 메모리 장치와 송/수신하는 컨트롤러를 포함하는 메모리 시스템이 제공된다.

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Номер записи: 2
26-10-2018 дата публикации

ＥＣＣ 회로를 포함하는 반도체 장치

Номер: KR0101912372B1
Автор: 양형균, 이형동, 권용기, 문영석
Принадлежит: 에스케이하이닉스 주식회사

... 에러 정정 능력을 향상시키는 ECC 회로를 포함하는 반도체 장치를 개시한다. 본 발명의 일 실시예에 의한 반도체 장치는 복수의 뱅크 및 상기 각 뱅크 내 리던던시 영역을 포함하는 메모리 영역 및 상기 메모리 영역의 에러 발생 어드레스를 검출하고 해당 어드레스 정보를 이용하여 상기 리던던시 영역의 리던던시 라인으로 상기 에러 발생 어드레스를 대체함으로써 상기 메모리 영역의 결함을 정정하는 ECC 영역을 포함한다.

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Номер записи: 3
06-12-2016 дата публикации

메모리 장치 및 이의 리프레쉬 제어방법

Номер: KR0101682608B1
Автор: 문영석, 이형동, 권용기, 권정현, 조상구, 양형균
Принадлежит: 에스케이하이닉스 주식회사

... 본 발명에 따른 메모리 장치는, 다수의 뱅크; 상기 다수의 뱅크에 각각 대응되며, 리프레쉬 동작을 할 때 상기 다수의 뱅크 중 자신에게 대응되는 뱅크의 로우 어드레스의 하위 비트를 카운팅하는 다수의 제1카운팅부; 및 리프레쉬 동작을 할 때 상기 다수의 뱅크의 상기 로우 어드레스의 상위 비트를 카운팅하는 제2카운팅부를 포함한다.

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Номер записи: 4
10-08-2017 дата публикации

SYSTEM AND OPERATING METHOD THEREOF

Номер: KR1020170091861A
Автор: YANG, HYUNG GYUN, KIM, YONG JU, KWON, YONG KEE, KIM, HONG SIK
Принадлежит:

A system includes: a central processing device; a plurality of memory ports; a memory bus for connecting the central processing device to the plurality of memory ports; a main memory device connected to a port among the plurality of memory ports; an auxiliary memory device connected to a port among the plurality of memory ports; and a memory controller controls called data to be stored and transmitted from the auxiliary memory device to the main memory device if the data stored in the auxiliary memory device is called. Accordingly, the present invention can quickly and simply transmit the data requested from the central processing device. COPYRIGHT KIPO 2017 (410) Central processing device (420) Cache memory (430) Memory bus (440) Bus controller (450) Memory controller (460) Main memory device (470) Auxiliary memory device (490_1,490_2) Peripheral device (AA) PCI bus ...

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Номер записи: 5
16-10-2017 дата публикации

MEMORY SYSTEM INCLUDING MEMORY CONTROLLER AND OPERATION METHOD THEREOF

Номер: KR1020170114544A
Автор: YANG, HYUNG GYUN, KIM, YONG JU, KIM, HONG SIK
Принадлежит:

A memory system is provided. The memory system includes a memory device for storing data requested from a host, and a controller which generates information about the data in a first operation mode and transmits/receives the data and the corresponding information to/from the memory device via first and second data buses respectively, and transmits/receives the data to/from the memory device via one of the first and second data buses in accordance with the size of the data in a second operation mode. The controller can improve data reliability or data processing performance by selectively performing the ECC operation depending on the operation mode. COPYRIGHT KIPO 2017 (210) Controller (211) Detection part (213) Address generation part (215) ECC processing part (220) Memory device (AA) First data bus (x64) (BB) Second data bus (x8) ...

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Номер записи: 6
09-03-2023 дата публикации

시스템 및 시스템의 동작 방법

Номер: KR102507219B1
Автор: 양형균, 김용주, 권용기, 김홍식
Принадлежит: 에스케이하이닉스 주식회사

... 시스템은 중앙 처리 장치; 다수의 메모리 포트; 상기 중앙 처리 장치와 상기 다수의 메모리 포트를 연결하는 메모리 버스; 상기 다수의 메모리 포트 중 대응하는 포트에 연결된 주기억 장치; 상기 다수의 메모리 포트 중 대응하는 포트에 연결된 보조기억장치; 및 상기 중앙 처리 장치가 상기 보조기억장치에 저장된 데이터를 호출하면 호출된 데이터가 상기 보조기억장치에서 상기 주기억장치로 전송되어 저장되도록 제어하는 메모리 콘트롤러를 포함할 수 있다.

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Номер записи: 7
10-08-2018 дата публикации

테스트 회로, 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 테스트 방법

Номер: KR0101877939B1
Автор: 양형균, 이형동, 권용기, 문영석, 김홍식
Принадлежит: 에스케이하이닉스 주식회사

... 본 기술은 테스트 회로의 사이즈를 줄이면서 저장용량이 큰 메모리의 테스트를 원활하게 수행하기 위한 것으로, 본 발명에 따른 테스트 회로는 테스트 대상 메모리의 테스트를 수행하는 테스트 수행부; 상기 테스트 수행부를 위한 데이터를 저장하는 내부 저장부; 및 상기 테스트 대상 메모리의 저장공간 중 일부 또는 전부를 상기 테스트 수행부를 위한 데이터를 저장하기 위한 외부 저장부로 설정하는 전환 설정부를 포함한다.

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Номер записи: 8