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28-11-2016 дата публикации

PROBE BLOCK FOR TESTING LIQUID CRYSTAL PANEL

Номер: KR101680319B1
Автор: PARK, JUN SANG, SHIN, JIN SUP, OH, CHANG SU
Принадлежит: TSE CO., LTD.

Provided is a probe block (200) for testing a liquid crystal panel, comprising: a probe substrate (240) having a metal pad (242) to which a plurality of probe pins (220) contacting the pad of a liquid crystal panel (210) are bonded; and an MP block (260) assembled with the probe substrate (240). The probe pin (220) of the probe block (200) is manufactured by an MEMS process and is connected to the probe substrate (240) by soldering the same with laser, by using a lead or tin (Sn). A body portion (212) formed of nickel (Ni) or an alloy containing nickel (Ni) serving as an elastic body, and a rhodium material having good hardness and electrical conductivity are formed so as to comprise a tip portion (214) that comes into direct contact with the pad of the liquid crystal panel (210). The present invention is designed to allow vertical movement in the appropriate elastic motion. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 1
22-03-2017 дата публикации

TEST SOCKET

Номер: KR101718865B1
Автор: OH, CHANG SU, KIM, BO HYUN, CHO, HAE GUK
Принадлежит: TSE CO., LTD.

An object of the present invention is to provide a test socket which can discharge heat of conductive parts to the outside and can prevent phenomena of being damaged, being opened, and being short-circuited of a semiconductor element during contact with the semiconductor element for a test, through installation of a durability enhancing member and guide member disposed on a top of an insulation part and configured to have different hardness. For this purpose, according to the present invention, provided is the test socket comprising: an insulation part which is made of silicon rubber; one or more conductive parts in which a plurality of conductive particles and silicon rubber are fused and which penetrate the insulation part; a durability enhancing member which is disposed on a top of the insulation part, which enhances durability of the insulation part made of the silicon rubber, and which prevents the conductive particles from being discharged to the outside; and a guide member which ...

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Номер записи: 2
11-04-2023 дата публикации

반도체 패키지의 테스트 장치

Номер: KR102519846B1
Автор: 오창수, 김보현
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명에 따른 반도체 패키지의 테스트장치는, 패키지 온 패키지 타입(POP)의 반도체 패키지를 테스트하기 위한 반도체 패키지의 테스트 장치로서, 테스트 신호를 제공하는 테스터 보드에 장착되고, 하부 패키지의 하부 단자에 접속되어 하부 패키지를 테스터 보드와 전기적으로 연결하기 위한 복수의 소켓 핀을 구비하는 하부 소켓과, 상부 패키지가 결합되고, 하부 소켓 측으로 접근하거나 하부 소켓으로부터 멀어질 수 있도록 이동 가능한 푸셔 바디를 갖는 푸셔와, 푸셔 바디에 결합되고, 비탄성 절연 소재로 이루어지는 절연 패드와, 절연 패드에 지지되고 일단이 상부 패키지의 상부 패키지 단자와 접촉되고 타단이 하부 패키지의 상부 단자에 접속될 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함되어 있는 복수의 도전부를 구비하는 상부 소켓을 포함한다.

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14-05-2020 дата публикации

ELECTROCONDUCTIVE PARTICLES AND SIGNAL-TRANSMITTING CONNECTOR HAVING SAME

Номер: WO2020096238A1
Автор: OH, Chang Su, KIM, Bo Hyun, YOON, Sung Ho
Принадлежит:

The purpose of the present invention is to provide electroconductive particles and a signal-transmitting connector having same, wherein the electroconductive particles are improved to prevent the phenomenon of irregular scrub between the electroconductive particles and to have improved signal delivery characteristics. Electroconductive particles according to the present invention are provided on a signal-transmitting connector having multiple electroconductive portions supported by an insulating portion made of an elastic insulating material to be spaced apart from each other such that the signal-transmitting connector can be connected to an electronic component and can transmit electric signals. Each of the electroconductive particles comprises: an electroconductive particle body having a first surface and a second surface which are flat, and which are disposed in parallel with each other; and a toothed portion. The toothed portion comprises: multiple electroconductive particle protrusions ...

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09-01-2019 дата публикации

테스트용 분산형 러버 소켓 및 그의 제작 방법

Номер: KR0101936782B1
Автор: 오창수, 김보현, 이윤형
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명은 분산형 러버 소켓에서 도전로 간 절연부 폭을 최소화할 수 있어 패키지 볼과 도전로의 접촉 면적을 극대화시킴에 따라 전기적 특성을 향상시킬 수 있고, 패키지(반도체 디바이스)의 컨택에 따른 도전로의 변형량을 최소화할 수 있어 테스트의 신뢰성을 증대시킬 수 있는 테스트용 분산형 러버 소켓 및 그의 제작 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 다수의 도전성 입자체가 두께 방향으로 배열되어 이루어지는 도전로가 면 방향으로 균일하게 분산되어 형성되고, 상기 각각의 도전로를 지지하면서 서로 인접한 도전로와의 전기적 접속을 차단하는 절연성 탄성 고분자물질로 이루어진 절연부를 포함하는 탄성 도전시트; 및 상기 탄성 도전시트의 하부에 고정되되 상기 탄성 도전시트의 하면이 노출되게 고정시키는 고정 프레임;을 포함하며, 상기 도전성 입자체는 도전 입자 및 상기 도전 입자의 상기 탄성 도전시트의 두께방향으로의 상하 양측을 제외한 외면을 피복하는 절연 코팅막으로 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트용 분산형 러버 소켓이 제공된다.

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16-07-2020 дата публикации

SIGNAL TRANSMISSION CONNECTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер: WO2020145492A1
Автор: OH, Chang Su, KIM, Bo Hyun, YOON, Sung Ho
Принадлежит:

The purpose of the present invention is to provide: a signal transmission connector capable of being stably connected with a terminal of an electronic component through a structural improvement in response to distortion in the electronic component; and a manufacturing method therefor. The signal transmission connector according to the present invention comprises: a plurality of conductive parts in which a plurality of conductive particles are included in an elastic insulating material so as to be connected with a terminal of an electronic component; an insulator which is made of an elastic insulating material, and which encompasses the plurality of conductive parts so as to support the plurality of conductive parts so that same are spaced apart from each other, and a plurality of springs which are coupled to the insulator so as to correspond to the plurality of conductive parts, and which are spaced apart from the corresponding respective conductive parts so as to encompass peripheries ...

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20-07-2017 дата публикации

LOADING FRAME STRUCTURE

Номер: KR101760130B1
Автор: OH, CHONG SOO
Принадлежит: YANGSOO METALS CO., LTD.

The present invention relates to a loading frame structure installed in a rear door of a freight vehicle loading box, comprising: an inverted U-shaped fixated frame mounted on a rear door having a friction material attached to an inner area thereof in contact with the rear door; a movable frame hinged to an upper end portion of the fixated frame and selectively rotating between a retracted position located inside the rear door and a usage position located outside the rear door; and a support plate coupled to a free end region of the movable frame to extend to be inclined upwards transversely in an extension direction of the movable frame on the usage position. Accordingly, the loading frame structure is able to stably load a long length cargo in a relatively simple structure. COPYRIGHT KIPO 2017 ...

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28-03-2018 дата публикации

SEMICONDUCTOR TEST SOCKET

Номер: KR1020180031106A
Автор: KIM, BO HYUN, CHOI, WON HUI, OH, CHANG SU
Принадлежит:

The present invention provides a semiconductor test socket which prevents foreign materials from being inputted into a conductive unit during test and cleaning processes of a semiconductor device so as to protect the conductive unit. According to the present invention, the semiconductor test socket comprises: an insulation unit made of silicon rubber; and a main body made of at least one conduction unit formed by mixing a plurality of conductive particles and silicon rubber to penetrate the insulation unit; and a support plate configured to support the main body. The main body additionally includes a foreign material input preventing member installed in a lower portion of the insulation unit to prevent foreign materials from being inputted into the conductive unit. COPYRIGHT KIPO 2018 ...

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Номер записи: 8
05-12-2022 дата публикации

테스트 소켓용 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓

Номер: KR102473943B1
Автор: 오창수, 조해국
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명에 따른 테스트 소켓용 핀은, 피검사 디바이스의 단자를 테스트 신호를 발생하는 테스터의 전극 패드에 접속시켜 상기 피검사 디바이스와 상기 테스터를 전기적으로 연결하는 테스트 소켓용 핀에 있어서, 일단에 배럴 홀이 형성된 배럴; 상기 배럴의 내부에 수용되되, 일부분이 상기 배럴 홀을 통해 상기 배럴의 일단으로부터 돌출되어 상기 전극 패드에 접촉할 수 있는 제 1 플런저; 및 상기 단자와 접촉할 수 있는 제 1 접촉부와, 상기 배럴에 접촉하는 제 2 접촉부를 구비하는 제 2 플런저;를 포함하고, 상기 제 2 플런저는 상기 제 2 접촉부가 상기 배럴의 외측에서 상기 배럴의 타단에 접촉하는 방식으로 상기 배럴과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 한다.

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16-07-2020 дата публикации

CONDUCTOR PART PROTECTION MEMBER FOR SIGNAL TRANSMISSION CONNECTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND SIGNAL TRANSMISSION CONNECTOR HAVING SAME AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер: WO2020145577A1
Автор: OH, Chang Su, KIM, Bo Hyun, YOON, Sung Ho
Принадлежит:

The purpose of the present invention is to provide a conductor part protection member for a signal transmission connector and a manufacturing method therefor, and a signal transmission connector having same and a manufacturing method therefor, the conductor part protection member being capable of protecting a conductive part so as to be able to minimize deformation of and damage to the conductive part coming into contact with the terminals of an electronic component such as a semiconductor package. The signal transmission connector according to the present invention comprises: a plurality of conductive parts in which a plurality of conductive particles are contained in an elastic insulating material so as to be able to connect to the terminals of an electronic component; an insulator, which is made of an elastic insulating material and has an insulation part that encompasses the plurality of conductive parts so as to support same, thereby spacing apart the plurality of conductive parts ...

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Номер записи: 10
23-10-2017 дата публикации

반도체 패키지 테스트 장치

Номер: KR0101782600B1
Автор: 오창수, 강기원
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명은 반도체 패키지의 테스트 시, 스크러빙에 의한 접촉을 통해 반도체 패키지의 단자와 포고핀의 접촉 면적을 확대시켜 테스트 성능을 향상시킬 수 있도록 하는 반도체 패키지의 테스트 장치를 제공하는데 있다. 이를 위해, 반도체 패키지의 단자와 테스트 기판을 전기적으로 연결시키기 위해 제공된 포고핀과, 상기 포고핀이 관통 설치되도록 관통공이 마련된 소켓을 포함하는 반도체 패키지 테스트 장치에 있어서, 상기 포고핀은 상기 소켓에 경사지도록 설치되어 테스트 시, 스크러빙 동작에 의해 단자와 포고핀의 접촉 면적을 확대시킨 것을 특징으로 하는 반도체 패키지 테스트 장치를 제공한다.

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Номер записи: 11
26-02-2016 дата публикации

SILICON RUBBER CONNECTOR

Номер: KR101593936B1
Автор: OH, DAVE, KIM, BO HYUN, WOO, SEUNG HO
Принадлежит: TSE CO., LTD.

The objective of the present invention is to provide a silicon rubber connector which can minimize contamination and damage of the silicon rubber connector by radiating heat to the outside which is generated by a high current and high temperature generated during contact for testing a semiconductor device. For the same, the present invention provides the silicon rubber connector including: a connector body part which forms an exterior appearance of the connector and is formed with a silicon rubber; a powder silicon part which is formed with a conductive powder and the silicon rubber, and is provided to penetrate the connector body part; an upper bump which is formed by being extended on an upper part of the powder silicon part in order to contact with a solder ball of the semiconductor device for testing; a lower bump which is formed by being extended on the upper part of the powder silicon part in order to contact with a test terminal of the test board; and a heat radiation part which ...

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Номер записи: 12
03-06-2015 дата публикации

TEST SOCKET INCLUDING CONDUCTIVE PARTICLES HAVING COMBINABLE SHAPE

Номер: KR101525520B1
Автор: KWON, SANG JUN, OH, CHANG SU, KIM, BO HYUN
Принадлежит: TSE CO., LTD.

The present invention relates to a test socket that provides a conduction unit including conductive particles easily combined to each other by contact of dots, lines, and surfaces, has a lower and constant initial resistance value when the conduction unit and a terminal are in contact with each other, and is capable of preventing a significant increase of the resistance value by preventing the conductive particles from being separated from the conduction unit or sinking even if used for a long time. The test socket comprises an insulation unit made of silicon rubber and at least one conduction unit made of a combination of multiple conductive particles and the silicon rubber and penetrating the insulation portion. The conductive particles are formed into a variety of pole shapes, wherein at least two conductive particles are hooked with each other in at least one direction by at least one among mechanical mixing, mechanical impact, and magnetic force applied to the conduction unit. COPYRIGHT ...

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Номер записи: 13
09-01-2019 дата публикации

테스트용 러버 소켓 및 그의 제작 방법

Номер: KR0101936783B1
Автор: 오창수, 인치훈, 김보현
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명은 도전로의 미세 피치를 구현하면서도 소켓을 구성하는 구성요소 간의 거리 오차를 획일적으로 줄일 수 있고, 위치 정밀도를 향상시킬 수 있으며, 원가 절감과 제조시간 단축을 통하여 경제성을 도모할 수 있는 테스트용 러버 소켓 및 그의 제작 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 도전부, 및 각각의 상기 도전부를 지지하면서 서로 인접한 도전부와의 전기적 접속을 단절시키는 신축가능한 절연성 지지부를 포함하는 유니버셜(universal) 도전시트를 마련하되, 피검사 디바이스의 제품별 단자의 피치에 각각 상응하는 도전부를 갖는 복수의 유니버셜 도전시트를 마련하는 유니버셜 도전시트 마련 단계; 및 상기 복수의 도전시트 중 해당 피검사 디바이스의 제품 단자의 피치에 상응한 도전부를 갖는 유니버셜 도전시트에서 피검사 디바이스의 크기에 상응하여 절단된 단위 도전시트를 마련하는 단위 도전시트 마련 단계;를 포함하는 테스트용 러버 소켓의 제작 방법으로서, 상기 마련된 단위 도전시트의 사이즈에 상응한 사이즈의 관통 안착부를 가지며, 하면에는 해당 디바이스의 제품 단자의 피치에 상응하는 관통홀을 갖는 프레임 절연시트가 부착된 지지 프레임에 상기 단위 도전시트를 장착 고정하는 단위 도전시트 고정 단계;를 더 포함하는 테스트용 러버 소켓의 제작 방법이 제공된다.

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Номер записи: 14
19-09-2022 дата публикации

도전성 입자 및 이를 갖는 신호 전송 커넥터

Номер: KR102444643B1
Автор: 오창수, 김보현, 윤성호
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명은 도전성 입자 간의 불규칙적인 스크럽(scrub) 현상을 방지하고, 신호 전달 특성을 향상시킬 될 수 있도록 개선된 도전성 입자 및 이를 갖는 신호 전송 커넥터를 제공하기 위한 것이다. 본 발명에 따른 도전성 입자는, 전자부품에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있도록 복수의 도전부가 탄성 절연물질로 이루어지는 절연부에 의해 상호 이격되도록 지지되는 신호 전송 커넥터에 구비되는 도전성 입자에 있어서, 평평하고 상호 평행하게 배치되는 일면 및 타면을 갖는 도전성 입자 바디와, 톱니부를 포함한다. 톱니부는, 도전성 입자 바디의 가장자리로부터 외측으로 돌출되되 일단부가 도전성 입자 바디의 일면과 같은 높이에 놓이고 타단부가 도전성 입자 바디의 타면과 같은 높이에 놓이는 복수의 도전성 입자 돌기와, 복수의 도전성 입자 돌기의 사이에 마련되는 복수의 도전성 입자 홈을 구비하고, 도전성 입자 돌기가 다른 도전성 입자의 도전성 입자 홈에 삽입되는 방식으로 톱니부가 다른 도전성 입자의 톱니부와 맞물려 전기적으로 연결되도록 도전부 내에 배치된다.

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Номер записи: 15
16-07-2020 дата публикации

SIGNAL TRANSMISSION CONNECTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер: WO2020145493A1
Автор: OH, Chang Su, KIM, Bo Hyun, YOON, Sung Ho
Принадлежит:

The present invention is to provide a signal transmission connector which can be stably connected to terminals of an electronic component through structural improvement that responds to distortion of the electronic component. The signal transmission connector according to the present invention comprises: a plurality of conducting portions comprising a plurality of conductive particles in an elastic insulating material so as to be connected to terminals of an electronic component; an insulating portion which is formed of an elastic insulating material and surrounds and supports the plurality of conducting portions so as to separate the plurality of conducting portions from each other; and a plurality of springs which are connected to the insulating portion to correspond to the plurality of conducting portions and which surround and are spaced apart from the corresponding conducting portions, respectively, wherein the height of at least one spring among the plurality of springs is greater ...

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Номер записи: 16
21-09-2017 дата публикации

TEST SOCKET

Номер: KR101780476B1
Автор: OH, CHANG SU, KIM, BO HYUN
Принадлежит: TSE CO., LTD.

The present invention provides a test socket, which improves a load and a deformation amount through the structural modification of a socket. The test socket comprises: a conductive part which is disposed between an inspected device and an inspecting device to electrically connect the inspecting device with the inspected device, and in which a plurality of conductive particles is arranged in a thickness direction in elastic material; an insulation supporting part which supports the conductive part and insulates from the adjacent conductive part; and a load reducing part which avoids direct contact with the inspected device at a corresponding position where the inspected device is not disposed to reduce a load applied to the inspected device. COPYRIGHT KIPO 2017 ...

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Номер записи: 17
05-09-2018 дата публикации

반도체 테스트 소켓

Номер: KR0101895002B1
Автор: 김보현, 최원희, 오창수
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명은 반도체 소자의 테스트 및 클리닝 과정에서 도전부 측으로 이물질이 유입되는 것을 방지하여 도전부를 보호할 수 있도록 하는 반도체 테스트 소켓을 제공하는데 있다. 이를 위해, 본 발명은 실리콘 고무로 이루어진 절연부와, 복수의 도전성 입자 및 실리콘 고무가 융합되어 상기 절연부를 관통하도록 형성된 적어도 하나의 도전부로 이루어진 본체 및 본체를 지지하는 지지 플레이트를 포함하며, 상기 본체에는 상기 절연부의 하부에 설치되어 상기 도전부 측으로 이물질이 유입되는 것을 방지하는 이물질 유입 방지부재가 더 포함된 것을 특징으로 하는 반도체 테스트 소켓을 제공한다.

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Номер записи: 18
05-09-2017 дата публикации

SOCKET FOR TESTING

Номер: KR101769882B1
Автор: OH, CHANG SU, KIM, KANG HEE, KIM, BO HYUN
Принадлежит: TSE CO., LTD.

The present invention provides a socket for testing which provides a conductive part including conductive particles which are continuously coupled along the magnetic force direction of the conductive part and can prevent bonding of each of the conductive particles from being separated even in various semiconductor element tests. To this end, the present invention provides the socket for testing which comprises: an insulating part composed of a silicon rubber; and at least one conductive part formed to penetrate the insulating part by combining the plurality of conductive particles and the silicon rubber. The conductive particles are formed in various shapes, and are formed so that multiple conductive particles are continuously physically connected along the magnetic force direction applied to the conductive part. COPYRIGHT KIPO 2017 ...

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Номер записи: 19
01-10-2018 дата публикации

TEST SOCKET

Номер: KR1020180105865A
Автор: OH, CHANG SU, KIM, BO HYUN, LEE, YOON HYEONG
Принадлежит:

The present invention provides a test socket which prevents damage to silicon rubber by applying conductive particles having a small surface area and a uniform micro-ball shape, included in an intermediate layer of a conductive part, and increases a contact point between conductive particles by reducing a gap therebetween. The test socket comprises an insulation part made of silicon rubber, and at least one conductive part formed to penetrate the insulation part by being fused with a plurality of conductive particles and silicon rubber. The conductive part includes: a first contact part which is disposed at an upper end of the conductive part, includes first conductive particles of a coupling shape having a large surface area, and is in contact with a terminal of a semiconductor element to be tested; a conductive part body which is disposed at a lower portion of the first contact part, includes second conductive particles having a surface area smaller than the first conductive particles ...

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Номер записи: 20
10-10-2016 дата публикации

SILICON RUBBER SOCKET

Номер: KR1020160117049A
Автор: OH, CHANG SU, KIM, BO HYUN, WOO, SEUNG HO, CHOI, WON HUI, LEE, YOON HYEONG
Принадлежит:

The present invention relates to a silicon rubber socket which is provided with a sag compensation unit such that a terminal of a semiconductor device in which sag occurs is allowed to come in uniform contact with a conductive portion of the silicon rubber socket. The silicon rubber socket comprises: an insulation unit which is made of silicon rubber to electrically connect a terminal of a semiconductor device to a conductive pad of a test board; and at least one conductive unit which is formed to penetrate the insulation unit by fusion of a plurality of conductive particles and silicon rubber, wherein the conductive unit is provided with a sag compensation unit at a position corresponding to a sag position of the semiconductor device to compensate sag of the semiconductor device at the time of contact between the terminal of the semiconductor device and the conductive unit. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 21
07-01-2019 дата публикации

건물 배관의 내진용 지지대 설계장치 및 방법

Номер: KR0101917173B1
Автор: 오창수
Принадлежит: (주)양수금속

... 본 발명은 건물의 배관 설계시 설치되는 배관이 지진 시 건물 벽면에 안전하게 고정 및 지지하도록 건물에 설치되는 배관 지지대의 길이, 설치각도 및 위치를 제공할 수 있는 건물 배관의 내진용 배관 지지대 설계장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 건물 배관의 내진용 배관 지지대 설계장치는, 지지대의 직경, 최소 회전반경, 허용하중을 포함한 지지대 정보를 입력받아 저장하는 지지대 정보 처리부와, 배관의 규격 및 설치위치를 포함한 배관정보를 입력받아 지진 시 배관에 작용하는 지진 수평하중을 산출하는 배관정보 처리부, 및 세장비(Slenderless ratio)에 따라 지지대의 길이를 산출하고, 건물 벽면과의 설치각도에 따른 지지대의 허용하중을 산출하여 배관의 설치위치에 지지대를 배치하는 지지대 설계부를 포함한다.

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Номер записи: 22
11-10-2022 дата публикации

테스트 소켓용 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓

Номер: KR20220136686A
Автор: 오창수, 조해국
Принадлежит:

... 본 발명에 따른 테스트 소켓용 핀은, 피검사 디바이스의 단자를 테스트 신호를 발생하는 테스터의 전극 패드에 접속시켜 상기 피검사 디바이스와 상기 테스터를 전기적으로 연결하는 테스트 소켓용 핀에 있어서, 일단에 배럴 홀이 형성된 배럴; 상기 배럴의 내부에 수용되되, 일부분이 상기 배럴 홀을 통해 상기 배럴의 일단으로부터 돌출되어 상기 전극 패드에 접촉할 수 있는 제 1 플런저; 및 상기 단자와 접촉할 수 있는 제 1 접촉부와, 상기 배럴에 접촉하는 제 2 접촉부를 구비하는 제 2 플런저;를 포함하고, 상기 제 2 플런저는 상기 제 2 접촉부가 상기 배럴의 외측에서 상기 배럴의 타단에 접촉하는 방식으로 상기 배럴과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 한다.

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Номер записи: 23
16-11-2022 дата публикации

테스트 소켓

Номер: KR102467671B1
Автор: 오창수
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명에 따른 테스트 소켓은, 피검사 디바이스의 단자를 테스트 신호를 발생하는 테스터의 패드에 접속시켜 상기 피검사 디바이스의 전기적 검사를 수행하는 테스트 소켓에 있어서, 상기 패드에 접촉하는 하부 플런저와, 상기 하부 플런저와 결합되는 상부 플런저와, 상기 하부 플런저와 상기 상부 플런저가 서로 멀어지게 탄성을 가하는 원통형 스프링으로 이루어지는 스프링 프로브 및 상측은 상기 피검사 디바이스의 단자와 접촉하고, 하측은 상기 상부 플런저에 접촉하는 컨택 프로브를 포함하는 검사용 프로브; 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응하는 위치마다 하우징 홀을 구비하고, 상기 하우징 홀마다 상기 컨택 프로브의 상측이 돌출되게 상기 컨택 프로브 및 상기 스프링 프로브를 수용하는 소켓 하우징; 상기 하우징 홀에 대응되는 위치마다 커버 홀을 구비하고, 상기 커버 홀마다 상기 하부 플런저의 하측이 돌출되게 상기 소켓 하우징에 체결되는 커버;를 포함하되, 상기 상부 플런저는 슬라이딩 홈을 구비하고, 상기 하부 플런저는 상기 슬라이딩 홈에 삽입되는 한 쌍의 슬라이딩 돌기를 구비하여, 상기 상부 플런저와 상기 하부 플런저가 슬라이딩 방식으로 결합된다.

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Номер записи: 24
20-10-2016 дата публикации

실리콘 러버 소켓

Номер: KR0101667929B1
Автор: 오창수, 김보현, 우승호, 최원희, 이윤형
Принадлежит: (주)티에스이

... 본 발명은 실리콘 러버 소켓에 처짐 보상부를 형성하여 처짐이 발생되는 반도체 소자의 단자와 실리콘 러버 소켓의 도전부가 균일하게 접촉될 수 있도록 하는 실리콘 러버 소켓을 제공하고자 한 것이다. 이를 위해, 본 발명은 반도체 소자의 단자와 테스트 보드의 도전 패드를 전기적으로 연결시키기 위해 실리콘 고무로 이루어진 절연부와, 복수의 도전성 입자 및 실리콘 고무가 융합되어 상기 절연부를 관통하도록 형성된 적어도 하나의 도전부를 포함하는 실리콘 러버 소켓에 있어서, 상기 도전부에는 반도체 소자의 단자와 도전부가 접촉 시 반도체 소자의 처짐을 보상하기 위해 상기 반도체 소자의 처짐 위치에 대응하는 부분에 처짐 보상부가 형성된 것을 특징으로 하는 실리콘 러버 소켓을 제공한다.

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Номер записи: 25
11-08-2016 дата публикации

TEST SOCKET HAVING CONDUCTIVE PARTICLES IN COUPLED FORM

Номер: WO2016126024A1
Автор: KWON, Sang Jun, OH, Chang Su, KIM, Bo Hyun
Принадлежит:

The purpose of the present invention is to provide a test socket, which: provides a conduction unit having conductive particles easily coupled by dot, line, and surface contact, and thus, when a semiconductor device is tested, has a lower and constant initial resistance value while the conduction unit and a terminal make contact; and can prevent the conductive particles from being separated from the conduction unit or sinking even if used for a long time, thereby preventing a significant increase of a resistance value. To this end, the present invention comprises: an insulation unit formed from silicone rubber; a plurality of conductive particles; and at least one conduction unit having a silicone rubber fused thereto so as to be formed to penetrate the insulation unit, wherein the conductive particles are formed in various column shapes, and two or more conductive particles are formed to be coupled in at least one direction by at least one of mechanical mixing, mechanical impact, and a ...

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Номер записи: 26
10-08-2017 дата публикации

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR PACKAGE

Номер: KR1020170091984A
Автор: OH, CHANG SU, KANG, KI WON
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The present invention provides an apparatus for testing a semiconductor package, capable of improving test performance by enlarging a contact area between a terminal of the semiconductor package and a pogo pin through contact by scrubbing during the testing of the semiconductor package. To this end, in the apparatus for testing a semiconductor package which includes the pogo pin provided for electrically connecting the terminal of the package to a test substrate and a socket with a through hole so that the pogo pin is installed by passing through the through hole, the pogo pin is installed to be inclined to the socket so that the contact area between the pogo pin and the terminal is enlarged by a scrubbing operation in a test. Accordingly, the present invention can improve test performance. COPYRIGHT KIPO 2017 ...

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Номер записи: 27
25-04-2023 дата публикации

내진 지지대의 배치 설계방법

Номер: KR20230054927A
Автор: 오창수
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... 본 발명은 절곡부에서 상호 연결된 제1배관과 제2배관으로 이루어진 배관유니트에 내진 지지대의 배치를 설계하는 방법에 관한 것으로, 제1배관의 출발단부로부터 소정의 횡지지대 단부거리 내에 정상 횡지지대를 배치하고, 제1배관에 절곡부로부터 제2배관의 종방향 내진 보상 가능한 소정의 종방향 보상 허용거리 내에 보상 횡지지대를 배치하는 것을 특징으로 한다.

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Номер записи: 28