Sistemas y metodos para predecir riesgos de proceso de fabricacion.
Номер патента: MX2022002953A
Опубликовано: 12-07-2022
Автор(ы): Henrik Ohlsson, Lila Fridley, Sina Khoshfetratpakazad
Принадлежит: C3 AI Inc
Опубликовано: 12-07-2022
Автор(ы): Henrik Ohlsson, Lila Fridley, Sina Khoshfetratpakazad
Принадлежит: C3 AI Inc
Реферат: La presente divulgación proporciona sistemas, métodos, y productos de programa de computadora para predecir y detectar anomalías en un subsistema de un sistema. Un método ejemplar puede comprender (a) determinar una primera pluralidad de etiquetas que son indicativas de un desempeño operacional del subsistema. Las etiquetas se pueden obtener de (i) una pluralidad de sensores en el subsistema y (ii) una pluralidad de sensores en el sistema que no están en el subsistema. El método puede comprender además (b) procesar valores medidos de la primera pluralidad de etiquetas utilizando un autocodificador entrenado en valores históricos de la primera pluralidad de etiquetas para generar valores estimados de la primera pluralidad de etiquetas; (c) determinar si una diferencia entre los valores medidos y valores estimados cumple con un umbral; y (d) transmitir una alerta que indica que se prevé que el subsistema experimente una anomalía si la diferencia cumple con el umbral.
Metodo para generar un gemelo digital del entorno de procesos industriales.
Номер патента: MX2024006209A. Автор: Sanhong Zhang,Hanwen Yuan,Grant BREWER,Mengkai XU. Владелец: Watlow Electric Mfg. Дата публикации: 2024-08-06.