Verfahren und Vorrichtung zum Testen eines Seitendecoders
Номер патента: DE112008000991T5
Опубликовано: 12-05-2010
Автор(ы): Ciro Corcelli
Принадлежит: Atmel Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 12-05-2010
Автор(ы): Ciro Corcelli
Принадлежит: Atmel Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Verfahren und vorrichtung zum prüfen von halbleiterspeichereinrichtungen
Номер патента: EP1419507A2. Автор: Eric Cordes,Christian Stocken,Jens Luepke,Georg Erhard Eggers. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-05-19.