Electron beam emission device

03-07-2018 дата публикации

Номер:

US10014146B2

Автор: Eun Goo Kang, Hon Zong Choi, Seok Woo Lee

Принадлежит: Korea Institute of Industrial Technology KITECH

Контакты:

Номер заявки:

Дата заявки:

CPC - классификация

H H0 H01 H01J H01J1 H01J1/H01J1/3 H01J1/30 H01J2 H01J22 H01J222 H01J2229 H01J2229/H01J2229/0 H01J2229/00 H01J2229/006 H01J2229/0069 H01J2229/4 H01J2229/48 H01J2229/483 H01J2229/4831 H01J223 H01J2237 H01J2237/H01J2237/0 H01J2237/02 H01J2237/020 H01J2237/0206 H01J2237/06 H01J2237/063 H01J2237/0632 H01J2237/06325 H01J2237/3 H01J2237/31 H01J2237/310 H01J2237/3104 H01J2237/3109 H01J2237/311 H01J2237/3114 H01J2237/312 H01J2237/3128 H01J2237/313 H01J2237/3132 H01J29 H01J29/H01J29/0 H01J29/00 H01J29/006 H01J29/04 H01J29/8 H01J29/84 H01J3 H01J37 H01J37/H01J37/0 H01J37/06 H01J37/063 H01J37/065 H01J37/3 H01J37/31 H01J37/315 H01J9 H01J9/H01J9/0 H01J9/02 H01J9/022

IPC - классификация

H H0 H01 H01J H01J2 H01J29 H01J29/H01J29/8 H01J29/84 H01J3 H01J37 H01J37/H01J37/0 H01J37/06 H01J37/063 H01J37/065

Получить PDF