Scanning electron microscope

04-09-2018 дата публикации

Номер:

US10068746B2

Автор: Jeonghoi KOO

Принадлежит: Seron Technologies Inc

Контакты:

Номер заявки:

Дата заявки:

CPC - классификация

H H0 H01 H01J H01J2 H01J22 H01J223 H01J2237 H01J2237/H01J2237/0 H01J2237/02 H01J2237/026 H01J2237/1 H01J2237/14 H01J2237/141 H01J2237/2 H01J2237/24 H01J2237/244 H01J2237/2446 H01J2237/24465 H01J2237/2447 H01J2237/24475 H01J2237/26 H01J2237/260 H01J2237/2608 H01J3 H01J37 H01J37/H01J37/0 H01J37/06 H01J37/2 H01J37/20 H01J37/24 H01J37/244 H01J37/28

IPC - классификация

H H0 H01 H01J H01J3 H01J37 H01J37/H01J37/2 H01J37/20 H01J37/24 H01J37/244 H01J37/28

Получить PDF