Electron microscope and electron microscope sample retaining device

25-06-2015 дата публикации

Номер:

US20150179396A1

Автор: Toshie Yaguchi, Yasuhira Nagakubo

Принадлежит: Hitachi High Technologies Corp

Контакты:

Номер заявки:

Дата заявки:

CPC - классификация

H H0 H01 H01J H01J2 H01J22 H01J223 H01J2237 H01J2237/H01J2237/0 H01J2237/00 H01J2237/006 H01J2237/06 H01J2237/063 H01J2237/2 H01J2237/20 H01J2237/200 H01J2237/2001 H01J2237/2002 H01J2237/2003 H01J2237/2007 H01J2237/24 H01J2237/244 H01J2237/2448 H01J2237/26 H01J2237/260 H01J2237/2602 H01J3 H01J37 H01J37/H01J37/2 H01J37/20 H01J37/24 H01J37/244 H01J37/26 H01J37/261

IPC - классификация

H H0 H01 H01J H01J3 H01J37 H01J37/H01J37/2 H01J37/20 H01J37/24 H01J37/244 H01J37/28

Получить PDF