Semiconductor X-ray Detector
Номер патента: US20180017685A1
Опубликовано: 18-01-2018
Автор(ы): CAO Peiyan
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-01-2018
Автор(ы): CAO Peiyan
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
X-ray detection method and x-ray detector
Номер патента: US20190086562A1. Автор: LI ZHANG,Liang Li,Yuxiang Xing,Zhiqiang Chen,Le SHEN,Zhi Deng,Xiaoyue GUO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.