METHOD OF EXAMINING SPECIMENS AND SYSTEM THEREOF
Номер патента: US20220291138A1
Опубликовано: 15-09-2022
Автор(ы): BACHER Marcelo Gabriel, Bar Amir, Cohen Boaz, ENGLER Shaul, Shabtay Saar, Sofer Yotam
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-09-2022
Автор(ы): BACHER Marcelo Gabriel, Bar Amir, Cohen Boaz, ENGLER Shaul, Shabtay Saar, Sofer Yotam
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of examination of a specimen and system thereof
Номер патента: US20200234417A1. Автор: Elad Cohen,Shahar ARAD. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.