Fail bit repair method and device
Номер патента: US11853152B2
Опубликовано: 26-12-2023
Автор(ы): Yui-Lang CHEN
Принадлежит: Changxin Memory Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 26-12-2023
Автор(ы): Yui-Lang CHEN
Принадлежит: Changxin Memory Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Fail bit repair method and device
Номер патента: US20220058079A1. Автор: Yui-Lang CHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-02-24.