Method for predicting defects in assembly units
Номер патента: US20190114756A1
Опубликовано: 18-04-2019
Автор(ы): Ana Ulin, Anna-Katrina Shedletsky, Isaac Sukin, Mikhail Okunev, Samuel Bruce Weiss, Simon Kozlov
Принадлежит: Instrumental Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-04-2019
Автор(ы): Ana Ulin, Anna-Katrina Shedletsky, Isaac Sukin, Mikhail Okunev, Samuel Bruce Weiss, Simon Kozlov
Принадлежит: Instrumental Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for predicting defects in assembly units
Номер патента: US11688056B2. Автор: Samuel Bruce Weiss,Anna-Katrina Shedletsky,Isaac Sukin,Simon Kozlov,Ana Ulin,Mikhail Okunev. Владелец: Instrumental Inc. Дата публикации: 2023-06-27.