TEST CIRCUIT, DISPLAY SUBSTRATE, TEST METHOD THEREOF AND DISPLAY APPARATUS
Номер патента: US20190236993A1
Опубликовано: 01-08-2019
Автор(ы): GAO Hongwei, WANG Weifeng, Wang XiaoWei, Zhang Guoqing
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 01-08-2019
Автор(ы): GAO Hongwei, WANG Weifeng, Wang XiaoWei, Zhang Guoqing
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Display Substrate, Display Device and Compensation Method Thereof
Номер патента: US20240169947A1. Автор: Jing Liu,Rui Liu,Wei Sun,Yifan SONG,Zhaohui MENG,Xin Duan,Jiantao Liu,Mingming Wang,Wenchao HAN,Lianghao ZHANG,Wanzhi CHEN,Zhengri LIN,Xinle WANG. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.