Optimized jtag interface.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20110289370A1
Опубликовано: 24-11-2011
Автор(ы): Lee D. Whetsel
Принадлежит: Texas Instruments Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Optimized jtag interface

Номер патента: US20160077155A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-03-17.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20100095178A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-15.

Optimized JTAG interface

Номер патента: US7669099B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-02-23.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20150012789A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-01-08.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20110010595A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-01-13.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20080288843A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-11-20.

Optimized JTAG interface

Номер патента: US7823037B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-10-26.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20130227363A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-08-29.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20170059652A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20120284579A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-11-08.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20120284579A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-11-08.

Optimized jtag interface

Номер патента: US20150012789A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-01-08.

Wafer scale testing using a 2 signal JTAG interface

Номер патента: US09482717B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Wafer scale testing using a 2 signal jtag interface

Номер патента: US20150026533A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-01-22.

WAFER SCALE TESTING USING A 2 SIGNAL JTAG INTERFACE

Номер патента: US20210088584A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

WAFER SCALE TESTING USING A 2 SIGNAL JTAG INTERFACE

Номер патента: US20190120899A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-25.

WAFER SCALE TESTING USING A 2 SIGNAL JTAG INTERFACE

Номер патента: US20180128875A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

WAFER SCALE TESTING USING A 2 SIGNAL JTAG INTERFACE

Номер патента: US20200124667A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-23.

Wafer scale testing using a 2 signal jtag interface

Номер патента: US20180321307A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-11-08.

Wafer scale testing using a 2 signal jtag interface

Номер патента: US20220113351A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2022-04-14.

Wafer Scale Testing Using a 2 Signal JTAG Interface

Номер патента: US20070145997A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2007-06-28.

Wafer scale testing using a 2 signal JTAG interface

Номер патента: US11782091B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

FPGA chip with protected JTAG interface

Номер патента: US11941133B2. Автор: Siung Siew Liew,Khai Chiah Chng. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2024-03-26.

Full/reduced pin JTAG interface shadow protocol detection, command, address circuits

Номер патента: US09645198B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Methodology and system to set jtag interface

Номер патента: US20090045795A1. Автор: Richard J. Wells. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-02-19.

WAFER SCALE TESTING USING A 2 SIGNAL JTAG INTERFACE

Номер патента: US20170016956A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-19.

HIGH SPEED DOUBLE DATA RATE JTAG INTERFACE

Номер патента: US20180024190A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

HIGH SPEED DOUBLE DATA RATE JTAG INTERFACE

Номер патента: US20170089980A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

High speed double data rate jtag interface

Номер патента: US20110072325A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-03-24.

DDR JTAG interface setting flip-flops in high state at power-up

Номер патента: US8898528B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-11-25.

Transitioning POLL IN to set MRST and CE high states

Номер патента: US8880966B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-11-04.

Tap and control with data I/O, TMS, TDI, and TDO

Номер патента: US8020059B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-09-13.

Tap SPC with tap state machine reset and clock control

Номер патента: US09958503B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-05-01.

Serial/parallel control, separate tap, master reset synchronizer for tap domains

Номер патента: US09535122B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Master reset and synchronizer circuit with data and clock inputs

Номер патента: US8433962B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-04-30.

Integrated circuit (IC) for reconstructing values of flip-flops connected in a scan-chain by using a joint test action group (JTAG) interface, a method of operating the IC, and devices having the IC

Номер патента: US09465073B2. Автор: Bum Ju Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

Integrated circuit for reconstructing values of flip-flops connected scan-chain using jtag interface, method thereof, and devices having same

Номер патента: KR102066661B1. Автор: 김범주. Владелец: 삼성전자 주식회사. Дата публикации: 2020-01-15.

Combinatorial serial and parallel test access port selection in a jtag interface

Номер патента: US20200064405A1. Автор: Manish Sharma,Venkata Narayanan Srinivasan. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2020-02-27.

Protection of a digital quantity contained in an integrated circuit comprising a JTAG interface

Номер патента: US20070088985A1. Автор: Fabio Sozzani. Владелец: STMICROELECTRONICS SA. Дата публикации: 2007-04-19.

Electronic device comprising a memory accessible via a jtag interface, and corresponding method of accessing a memory

Номер патента: US20220326305A1. Автор: Filippo MINNELLA. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2022-10-13.

Electronic device comprising a memory accessible via a JTAG interface, and corresponding method of accessing a memory

Номер патента: US11789078B2. Автор: Filippo MINNELLA. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-10-17.

WAFER SCALE TESTING USING A 2 SIGNAL JTAG INTERFACE

Номер патента: US20160061887A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

COMBINATORIAL SERIAL AND PARALLEL TEST ACCESS PORT SELECTION IN A JTAG INTERFACE

Номер патента: US20190064270A1. Автор: Sharma Manish,Srinivasan Venkata Narayanan. Владелец: STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.. Дата публикации: 2019-02-28.

OPTIMIZED JTAG INTERFACE

Номер патента: US20130227363A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2013-08-29.

OPTIMIZED JTAG INTERFACE

Номер патента: US20170059652A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

OPTIMIZED JTAG INTERFACE

Номер патента: US20160077155A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

Encrypted JTAG interface

Номер патента: US20060242465A1. Автор: William Dalzell,Edwin Cruzado,Brian Bernier. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Encrypted jtag interface

Номер патента: EP1896948A2. Автор: William J. Dalzell,Edwin D. Cruzado,Brian R. Bernier. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2008-03-12.

HIGH SPEED DOUBLE DATA RATE JTAG INTERFACE

Номер патента: US20160003906A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

HIGH SPEED DOUBLE DATA RATE JTAG INTERFACE

Номер патента: US20150058689A1. Автор: Whetsel Lee D.. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2015-02-26.

INTEGRATED CIRCUIT (IC) FOR RECONSTRUCTING VALUES OF FLIP-FLOPS CONNECTED IN A SCAN-CHAIN BY USING A JOINT TEST ACTION GROUP (JTAG) INTERFACE, A METHOD OF OPERATING THE IC, AND DEVICES HAVING THE IC

Номер патента: US20150067425A1. Автор: Kim Bum Ju. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

System on chip for debugging a cluster regardless of power state of the cluster, method of operating the same, and system having the same

Номер патента: US09619011B2. Автор: Gyoung Hwan Hyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-11.

Configurable JTAG-to-serial bus translator

Номер патента: US09817066B1. Автор: Randal M. Kuramoto,Stephanie Trapp,Matthew K. Nielson. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Method of localization of short-circuit faults of outputs of microcircuit chips jtag by interface and device for its implementation

Номер патента: RU2703493C1. Автор: Александр Александрович Курицкий,Владимир Михайлович Гречишников,Алексей Дмитриевич Бутько. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2019-10-17.

Номер патента: RU2694759C1. Автор: Владимир Михайлович Гречишников,Алексей Дмитриевич Бутько. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2019-07-16.

Номер патента: RU2612069C1. Автор: Виктор Андреевич Немкевич,Ростислав Борисович Назьмов,Ирина Соломоновна Шмакова,Александр Сергеевич Алипенков,Евгений Сергеевич Ляшко. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственный центр автоматики и приборостроения имени академика Н.А. Пилюгина" (ФГУП "НПЦАП"). Дата публикации: 2017-03-02.

Optimized jtag interface

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты