Method for multiplexed sample analysis by photoionizing secondary sputtered neutrals
Номер патента: CA2981496C
Опубликовано: 05-09-2023
Автор(ы): Robert M. ANGELO
Принадлежит: Leland Stanford Junior University
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 05-09-2023
Автор(ы): Robert M. ANGELO
Принадлежит: Leland Stanford Junior University
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for multiplexed sample analysis by photoionizing secondary sputtered neutrals
Номер патента: US09797879B2. Автор: Robert M. ANGELO. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2017-10-24.