Method of controlling result parameter of ic manufacturing procedure
Номер патента: US20090259330A1
Опубликовано: 15-10-2009
Автор(ы): Hong Ma
Принадлежит: United Microelectronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-10-2009
Автор(ы): Hong Ma
Принадлежит: United Microelectronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of controlling result parameter of IC manufacturing procedure
Номер патента: US8019457B2. Автор: Hong Ma. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2011-09-13.