Электромагнитный дефектоскоп 1
Номер патента: SU757971A1
Опубликовано: 23-08-1980
Автор(ы): Galina A Plotnikova, Vasilij S Plotnikov
Принадлежит: Tomsk Polt I
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 23-08-1980
Автор(ы): Galina A Plotnikova, Vasilij S Plotnikov
Принадлежит: Tomsk Polt I
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe for ultrasonic flaw detectors
Номер патента: US4961347A. Автор: Kazuo Yoshikawa,Takahiro Arakawa,Yoshimichi Atsuta. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 1990-10-09.