Test circuit and test method of semiconductor apparatus

20-09-2016 дата публикации

Номер:

US09450587B2

Автор: Byung Kuk YOON, Kie Bong Ku

Принадлежит: SK hynix Inc

Контакты:

Номер заявки:

Дата заявки:

CPC - классификация

G G0 G01 G01R G01R3 G01R31 G01R31/G01R31/3 G01R31/30 G1 G11 G11C G11C2 G11C29 G11C29/G11C29/0 G11C29/02 G11C29/021 G11C29/1 G11C29/12 G11C29/120 G11C29/1201 G11C29/12015 G11C29/5 G11C29/50 G11C29/500 G11C29/5001 G11C29/50012 H H0 H03 H03K H03K2 H03K21 H03K21/H03K21/0 H03K21/08

IPC - классификация

G G1 G11 G11C G11C2 G11C29 G11C29/G11C29/0 G11C29/02 G11C29/5 G11C29/50 H H0 H03 H03K H03K2 H03K21 H03K21/H03K21/0 H03K21/08

Получить PDF