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29-08-2016 дата публикации

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер: KR1020160102113A
Автор: TOMIMATSU SATOSHI, SATO MAKOTO, UEMOTO ATSUSHI, ASAHATA TATSUYA
Принадлежит:

A charged particle beam apparatus of the present invention automatically repeats an operation to extract and transfer a sample piece, which is formed by processing a sample by using an ion beam, to a sample piece holder. The charged particle beam apparatus includes a computer which controls a needle driving device so as to approach a needle to the sample piece by using a template formed by an absorbed current image obtained by a charged particle beam emitted to the needle, and a tip coordinate of the needle acquired from a secondary electron image obtained by the charged particle beam emitted to the needle. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 1
28-11-2016 дата публикации

무여자 작동형 브레이크용 로터

Номер: KR0101680415B1
Автор: 사토 다츠야, 사토 마코토
Принадлежит: 미키풀리주식회사

... 본 발명은, 무여자 작동형 브레이크용 로터에 있어서, 충분한 강도, 내구성을 확보하는 것으로 경량화를 양립하는 것에 관한 것이다. 축 끼워맞춤 구멍(16)을 갖고 높은 기계적 강도가 필요한 로터 중심측은 금속제의 코어판(12)에 의해서 구성하며, 중심 부분에 비하여 높은 기계적 강도를 필요로 하지 않는 라이닝 부착부인 로터 외주측의 디스크부(22)를 수지화한다.

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Номер записи: 2
13-09-2018 дата публикации

하측 배선 레벨의 실드 라인에 전기적으로 결합된 상측 배선 레벨의 실드 라인을 갖는 어셈블리

Номер: KR1020180101725A
Автор: 사토 마코토, 스즈키 료타
Принадлежит:

... 일부 실시예는 복수의 제1 실드 라인 및 제1 신호 라인을 갖는 제1 배선 레벨을 갖는 어셈블리를 포함한다. 제1 실드 라인 및 제1 신호 라인은 제1 방향을 따라 연장되는 제1 세그먼트, 제1 방향을 따라 연장되고 제1 세그먼트로부터 측방으로 오프셋된 제2 세그먼트를 갖는다. 어셈블리는 제1 배선 레벨 아래에, 복수의 제2 실드 라인 및 제2 신호 라인을 갖는 제2 배선 레벨을 포함한다. 제2 실드 라인 및 제2 신호 라인은 제1 방향을 따라 연장되는 제3 세그먼트와 제1 방향을 따라 연장되고 제3 세그먼트로부터 측방으로 오프셋된 제4 세그먼트를 갖는다. 제2 실드 라인의 제4 세그먼트는 제1 실드 라인의 제1 세그먼트 아래로 연장되고 수직 상호연결을 통해 제1 실드 라인의 제1 세그먼트에 전기적으로 결합된다.

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Номер записи: 3
20-11-2015 дата публикации

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND IMAGE PROCESSING METHOD

Номер: KR0101570666B1
Автор: 이와세 요시히코, 마키히라 토모유키, 사토 마코토, 미야타 카즈히데, 토미타 리쓰야, 신바타 히로유키, 키베 다이스케
Принадлежит: 캐논 가부시끼가이샤

... 본 화상처리장치는, 피검안의 안저 화상을 취득하는 안저 화상 취득 유닛과, 상기 피검안의 편광 민감성 단층 화상을 취득하는 단층 화상 취득 유닛과, 상기 편광 민감성 단층 화상에 나타낸 피검안의 미리 결정된 층의 불연속 부분에 대응하는 안저 화상의 위치에, 불연속 부분을 나타내는 표시 형태를 중첩시켜 표시 유닛에 표시시키는 표시 제어 유닛을 구비한다.

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Номер записи: 4
02-10-2015 дата публикации

FOCUSED ION BEAM APPARATUS

Номер: KR1020150110392A
Автор: ASAHATA TATSUYA, SUZUKI HIDEKAZU, SATO MAKOTO
Принадлежит:

It is possible to prepare a sample having uniformity of quality by means of an easy operation. A FIB lens barrel (32) irradiates a focused ion beam to a sample flake. A detector (13) irradiates a focused ion beam and thereby detects secondary particles generated from a sample flake. A control unit (16) forms an observation image of a sample flake from detection information from the detector (13). A storage unit (18) stores a positional relationship between a first processing region set on an observational image of a first sample and a cross-section of the first sample. A control unit (16) automatically sets a second processing region on an observation image of a second sample based on the positional relationship derived from the storage unit (18) and a position of a cross-section of the second sample on the observation image of the second sample. COPYRIGHT KIPO 2016 (AA) Z axis (BB) Y axis (CC) X axis ...

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Номер записи: 5
27-10-2017 дата публикации

저작력 판정용 컬러 스케일

Номер: KR0101791275B1
Автор: 미나쿠치 ?스케, 우치다 다츠로, 가나자와 마나부, 사토 마코토, 히라오카 야스타카, 사사키 료타, 스기타 다이고
Принадлежит: 가부시키가이샤 롯데

... 건강한 유치악자의 저작 진행에 수반하는 껌의 변색 특성을 분석하여, 변색 추잉껌에 의한 저작력의 평가에 사용하기 위한 보다 객관적인 판정 기준으로서 사용 가능한 컬러 스케일을 작성하는 방법을 제공한다. 복수의 건강한 유치악자에게 변색 추잉껌을 저작시키고, 저작 후의 껌이 나타내는 색과 저작 전후의 껌의 색차의 회귀식을 구하고, 다시 저작 횟수와 저작 전후의 껌의 색차의 회귀식을 구함으로써, 건강한 유치악자에 의한 저작 횟수와 저작 후의 껌이 나타내는 색의 색차를 구하여 컬러 스케일을 작성하는 방법.

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Номер записи: 6
28-12-2016 дата публикации

반도체 장치 및 그 제조 방법

Номер: KR0101690626B1
Автор: 혼다 가즈타카, 나가이 아키라, 사토 마코토
Принадлежит: 히타치가세이가부시끼가이샤

... 반도체 칩 및 배선 회로 기판의 각각의 접속부가 서로 전기적으로 접속된 반도체 장치, 또는 복수의 반도체 칩의 각각의 접속부가 서로 전기적으로 접속된 반도체 장치의 제조 방법으로서, 상기 접속부 중 적어도 일부를, 하기 식(1)으로 표시되는 기를 가지는 화합물을 함유하는 반도체용 접착제를 사용하여 봉지(封止)하는 공정을 포함하는, 반도체 장치의 제조 방법. [화학식 1] [식 중, R1은, 전자 공여성기를 나타낸다.] ...

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Номер записи: 7
13-10-2016 дата публикации

반도체용 접착제, 플럭스제, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치

Номер: KR0101666101B1
Автор: 혼다 가즈타카, 나가이 아키라, 사토 마코토
Принадлежит: 히타치가세이가부시끼가이샤

... 에폭시 수지, 경화제 및 하기 식(1)으로 표시되는 기를 가지는 화합물을 함유하는, 반도체용 접착제. [화학식 1] [식 중, R1은, 전자 공여성기를 나타낸다.] ...

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Номер записи: 8
27-07-2018 дата публикации

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер: KR1020180085669A
Автор: SUZUKI MASATO, TOMIMATSU SATOSHI, SATO MAKOTO
Принадлежит:

Provided is a charged particle beam apparatus which extracts a sample piece formed by processing a sample with an ion beam and automatically repeats an operation of transferring the extracted sample piece to a sample piece holder. The charged particle beam apparatus, as a charged particle beam apparatus for automatically manufacturing a sample piece from a sample, includes: a charged particle beam emitting optical system emitting a charged particle beam; a sample stage moving the sample in a state that the sample is put on the sample stage; a sample piece transfer means maintaining and transferring the sample piece separated and extracted from the sample; a holder fixing stand maintaining the sample piece holder to which the sample piece is transferred; and a computer performing a control operation of removing the sample piece maintained by the sample piece transfer means when an abnormality occurs after maintaining the sample piece by the sample piece transfer means. COPYRIGHT KIPO 2018 ...

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Номер записи: 9
27-07-2018 дата публикации

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер: KR1020180085670A
Автор: TOMIMATSU SATOSHI, SATO MAKOTO, SUZUKI MASATO
Принадлежит:

Provided is a charged particle beam apparatus which extracts a sample piece formed by processing a sample with an ion beam and automatically repeats an operation of transferring the extracted sample piece to a sample piece holder. The charged particle beam apparatus, as a charged particle beam apparatus for automatically manufacturing a sample piece from a sample, includes: a charged particle beam emitting optical system emitting a charged particle beam; a sample stage moving the sample in a state that the sample is put on the sample stage; a sample piece transfer means maintaining and transferring the sample piece separated and extracted from the sample; a holder fixing stand maintaining the sample piece holder to which the sample piece is transferred; a conduction sensor detecting conduction between the sample piece transfer means and an object; and a computer setting a time management mode if the conduction sensor does not detect a conduction between the sample piece transfer means and ...

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23-06-2017 дата публикации

신호 처리 장치 및 방법

Номер: KR1020170071468A
Автор: 코바야시 세이지, 히로이 토시유키, 타나카 카츠유키, 이케다 타모츠, 토미야마 히토시, 사토 마코토, 미타 히로유키
Принадлежит:

... 본 기술은, 소비 전력의 증대를 억제할 수 있도록 하는 신호 처리 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 기술의 한 측면은, 송신 대상의 디지털 데이터를 이용하여, 캐리어 신호의 주파수 변조를 제어하는 제어 데이터로서, 그 디지털 데이터를 이용하여 캐리어 신호의 주파수 변조를 제어하는 경우보다도 주파수 변조량의 시간 평균의 변동량을 억제하는 제어 데이터를 생성하고, 생성된 제어 데이터에 의거하여 캐리어 신호의 주파수 변조를 행하고, 주파수 변조된 캐리어 신호를 송신 신호로서 송신한다. 본 기술은, 예를 들면, 신호 처리 장치, 송신 장치, 수신 장치, 통신 장치, 송신 기능, 수신 기능, 또는 통신 기능을 구비하는 전자 기기, 또는, 이들을 제어하는 컴퓨터 등에 적용할 수 있다.

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Номер записи: 11
09-03-2016 дата публикации

AUTOMATIC SAMPLE PIECE MANUFACTURING APPARATUS

Номер: KR1020160026752A
Автор: TOMIMATSU SATOSHI, SATO MAKOTO, YAMAMOTO YO
Принадлежит:

An automatic sample piece manufacturing apparatus automating an operation of extracting a sample piece formed by processing a sample by an ion beam, and moving the same to a sample piece holder comprising: a computer controlling a charged particle beam radiating an optical system; a sample piece moving means; and a gas supply part to form a deposition film between the sample piece, and a column-shaped part until the electric properties between the sample piece moving means and a sample piece holder reaches a certain state. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 12
02-10-2015 дата публикации

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер: KR1020150110391A
Автор: SATO MAKOTO, ASAHATA TATSUYA, KIYOHARA MASAHIRO, NAKATANI IKUKO
Принадлежит:

The present invention provides a charged particle beam apparatus capable of providing an excellent observation precision. It is possible to acquire an image of a surface by moving a scanning range of an electron beam (EB) on the surface of a sample, and therefore, it is unnecessary to move a stage (SG) when acquiring an image. Accordingly, it is possible to avoid the detection of any defect attributable to vibration of a stage (SG) or drift. Accordingly, the charged particle beam apparatus capable of showing an excellent observation precision can be provided. When the scanning range of the electron beam (EB) has reached a second position, which is an upper limit of a variable range, an index is formed in the second position. After that, the scanning range of the electron beam (EB) is returned and the stage (SG) is moved as much as the movement amount of the scanning range of the electron beam (EB). Then, the scanning range of the electron beam (EB) is adjusted by using the index. COPYRIGHT ...

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Номер записи: 13
30-03-2016 дата публикации

화상처리장치 및 화상처리방법

Номер: KR1020160035036A
Автор: 후쿠하라 마코토, 사토 마코토, 이와세 요시히코, 토마츠 노부히로, 마키히라 토모유키, 미야타 카즈히데, 신바타 히로유키, 토미타 리츠야, 키베 다이스케
Принадлежит:

... 편광 민감 단층화상으로부터 얻어진 편광정보를 사용하여, 유저가 질병의 경과 관찰을 효과적으로 행하기 위해서 병리적 지원을 제공하는 것. 화상처리장치는, 다른 시간에 피검체를 촬영해서 얻어진 복수의 단층 휘도화상에 근거하여, 복수의 단층 휘도화상에 대응하는 복수의 편광 민감 단층화상의 위치 결정을 행하는 위치 결정부(195); 및 상기 위치 결정이 행해진 복수의 편광 민감 단층화상을 비교하는 비교부(196)를 구비한다.

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Номер записи: 14
31-07-2017 дата публикации

추잉껌

Номер: KR0101763430B1
Автор: 다케야마 아야, 사토 마코토, 다니 마사히로
Принадлежит: 가부시키가이샤 롯데, 롯데제과주식회사

... 강한 냉량감을 가지며 식감이 좋은 추잉껌을 제공한다. 추잉껌 중에 에리트리톨, 자일리톨 또는 소르비톨로 이루어진 군에서 선택되는 1 종 또는 2 종 이상의 결정을 그 전체 중량에 대해 5 ∼ 70 중량％ 배합하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 추잉껌.

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Номер записи: 15
11-07-2017 дата публикации

반도체용 접착제, 및, 반도체 장치 및 그 제조 방법

Номер: KR1020170081208A
Автор: 혼다 카즈타카, 나가이 아키라, 사토 마코토, 차바나 코이치, 오노 케이시
Принадлежит:

... 반도체 칩 및 배선 회로 기판의 각각의 접속부가 서로 전기적으로 접속된 반도체 장치, 또는, 복수의 반도체 칩의 각각의 접속부가 서로 전기적으로 접속된 반도체 장치에 있어서 상기 접속부의 봉지(封止)에 사용되는 반도체용 접착제로서, (메타)아크릴 화합물 및 경화제를 함유하고, 200℃에서 5초 유지했을 때의 경화 반응률이 80% 이상인, 반도체용 접착제.

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Номер записи: 16
28-02-2017 дата публикации

자동 시료 제작 장치

Номер: KR1020170021786A
Автор: 우에모토 아츠시, 아사하타 다츠야, 사토 마코토, 야마모토 요
Принадлежит:

... 하전 입자 빔 장치(10a)는, 적어도 시료편 홀더(P), 니들(18), 및 시료편(Q)의 미리 취득한 복수의 하전 입자 빔에 의한 화상을 기초로 하여, 시료편(Q)을 미리 정한 시료편 홀더(P)의 위치에 이설하도록 복수의 하전 입자 빔 조사 광학계와 니들(18)과 가스 공급부(17)를 제어하는 컴퓨터(21)를 구비한다.

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Номер записи: 17
08-10-2015 дата публикации

OPTICAL DEVICE, ORIGINAL PLATE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND IMAGING APPARATUS

Номер: KR1020150113850A
Автор: SATO MAKOTO, TAKEUCHI TAICHI, TEJIMA ASUKA
Принадлежит:

Disclosed is an optical device including a curved surface and a plurality of structures spirally provided on the curved surface at an interval which is smaller than or equal to a wavelength of light for reducing reflection. Each structure includes either a convex portion protruding in an optical axis direction or a concave portion recessed in the optical axis direction. The curved surface has a region in which the structures are not provided, in a center thereof. COPYRIGHT KIPO 2016 ...

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Номер записи: 18
01-02-2017 дата публикации

미세 기포 발생장치를 가지는 왕복동 교반장치

Номер: KR1020170010858A
Автор: 카토 요시카즈, 카나모리 히사유키, 사토 마코토, 타하라 나오키, 토가시 히데아키
Принадлежит:

... 피교반물에, 양호한 기체 흡착작용이 수득되는 왕복동 교반장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 피교반물(3)이 삽입되는 교반용기(2)와, 해당 교반용기(2) 내에 설치된, 왕복동하는 구동축(4)과, 해당 구동축(4)에 교차하도록 연결 고정된 교반 날개(8)와, 미세 기포 발생장치(9)로 이루어지고, 해당 미세 기포 발생장치(9)는 다공질체(19)로 이루어지는 스파저(10)와, 해당 스파저(10)에 기체를 공급하는 기체 공급수단으로 이루어지고, 해당 기체 공급수단에 의해 상기 스파저(10)에 공급된 기체가 상기 다공질체(19)의 작은 구멍(21)을 통해서 상기 피교반물(3) 내에 기포가 발생된다.

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Номер записи: 19
02-12-2016 дата публикации

GaN 단결정 재료의 연마 가공 방법

Номер: KR1020160138099A
Автор: 사토 마코토, 오모리 와타루, 다카하시 마이코
Принадлежит:

... 난가공 재료인 질화갈륨 GaN 의 단결정 기판을, CMP 법에 의해 충분한 연마 효율이나 연마 성능이 얻어지는 연마 가공 방법을 제공한다. CMP 법에 의한 연마 가공에 있어서, 질화갈륨 GaN 으로 이루어지는 단결정 기판의 표면이 산화성 연마액의 존재하에 있어서 지립 내포 연마 패드를 사용하여 연마되므로, 낮은 표면 조도를 얻으면서, 높은 연마 능률이 바람직하게 얻어진다. 이 연마액은, 산화 환원 전위가 Ehmin (식 (1) 에 의해 정해지는 값) mV ∼ Ehmax (식 (2) 에 의해 정해지는 값) mV 이며, 또한 pH 가 0.1 ∼ 6.5 인 산화성의 연마액이다. Ehmin (mV) = -33.9pH ＋ 750 ··· (1) Ehmax (mV) = -82.1pH ＋ 1491 ··· (2) ...

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Номер записи: 20
07-02-2017 дата публикации

편광 감응식 광 간섭 단층 촬영의 편광 데이터를 처리하기 위한 방법 및 장치

Номер: KR0101704113B1
Автор: 사토 마코토, 스기타 미츠로, 조터 스페판, 피르케르 미카엘, 힛첸베르거 크리스토프
Принадлежит: 캐논 가부시끼가이샤

... 편광 데이터 처리 방법은 복수의 편광 데이터 항목 세트를 수집하는 수집 단계, 편광 데이터 항목 세트를 진폭 및 위상 파라미터를 포함하는 표시로 변환하는 변환 단계 및 변환된 편광 데이터 항목 세트를 평균화하는 평균화 단계를 포함한다.

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Номер записи: 21
19-10-2017 дата публикации

화상처리장치 및 화상처리방법

Номер: KR0101787973B1
Автор: 후쿠하라 마코토, 사토 마코토, 이와세 요시히코, 토마츠 노부히로, 마키히라 토모유키, 미야타 카즈히데, 신바타 히로유키, 토미타 리츠야, 키베 다이스케
Принадлежит: 캐논 가부시끼가이샤

... 편광 민감 단층화상으로부터 얻어진 편광정보를 사용하여, 유저가 질병의 경과 관찰을 효과적으로 행하기 위해서 병리적 지원을 제공하는 것. 화상처리장치는, 다른 시간에 피검체를 촬영해서 얻어진 복수의 단층 휘도화상에 근거하여, 복수의 단층 휘도화상에 대응하는 복수의 편광 민감 단층화상의 위치 결정을 행하는 위치 결정부(195); 및 상기 위치 결정이 행해진 복수의 편광 민감 단층화상을 비교하는 비교부(196)를 구비한다.

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Номер записи: 22