离子阱和质量分析设备

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Ion trap mass spectrometer

Номер патента: US09768008B2. Автор: Anatoly N. Verenchikov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Method of decoding multiplet containing spectra in open isochronous ion traps

Номер патента: US09673036B2. Автор: Anatoly N. Verenchikov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Analytical instrument with ion trap coupled to mass analyser

Номер патента: US20240087876A1. Автор: HAMISH Stewart,Dmitry GRINFELD. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-03-14.

Instrument, including an electrostatic linear ion trap, for analyzing ions

Номер патента: US20230245879A1. Автор: Martin F. JARROLD,Joanna A. HOGAN. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2023-08-03.

Instrument, including an electrostatic linear ion trap, for separating ions

Номер патента: US20210407787A1. Автор: Martin F. JARROLD,Joanna A. HOGAN. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2021-12-30.

Mass analyser and method of mass analysis

Номер патента: US09997343B2. Автор: Li Ding,Sumio Kumashiro,Mikhail Sudakov. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Mass analyser and method of mass analysis

Номер патента: US09691596B2. Автор: Li Ding,Sumio Kumashiro,Mikhail Sudakov. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Ion trap with spatially extended ion trapping region

Номер патента: US09425035B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Kevin Giles,Martin Raymond Green,Daniel James Kenny,David J. Langridge. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-08-23.

Electro Static Linear Ion Trap Mass Spectrometer

Номер патента: US20200411299A1. Автор: Takashi Baba,Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2020-12-31.

Electro static linear ion trap mass spectrometer

Номер патента: EP3688790A1. Автор: Takashi Baba,Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2020-08-05.

Ion trap

Номер патента: CA2673790C. Автор: Alexander Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2013-08-27.

Analytical instrument with ion trap coupled to mass analyser

Номер патента: GB2622393A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-03-20.

Systems and methods for multistage mass spectrometry utilizing an electrostatic ion trap

Номер патента: EP4229671A1. Автор: Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2023-08-23.

Systems and methods for multistage mass spectrometry utilizing an electrostatic ion trap

Номер патента: US20230402272A1. Автор: Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2023-12-14.

An ion mirror, an ion mirror assembly and an ion trap

Номер патента: GB2534892A. Автор: Derrick Peter. Владелец: Auckland Uniservices Ltd. Дата публикации: 2016-08-10.

Ion extraction method for ion trap mass spectrometry

Номер патента: US20140374592A1. Автор: Takashi Baba. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2014-12-25.

Ion extraction method for ion trap mass spectrometry

Номер патента: EP2798666A1. Автор: Takashi Baba. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2014-11-05.

Ion trap quadrupole mass filter

Номер патента: US20140158880A1. Автор: Mo Yang,Hyun Sik Kim,Seung Yong KIM. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2014-06-12.

Ion trap quadrupole mass filter

Номер патента: US9058965B2. Автор: Mo Yang,Hyun Sik Kim,Seung Yong KIM. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2015-06-16.

Ion ejection from a quadrupole ion trap

Номер патента: US09548195B2. Автор: Richard Heming,Christian Albrecht HOCK,Dmitry GRINFELD. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-01-17.

Ion excitation method in linear ion trap

Номер патента: US20190013194A1. Автор: Xiaodong Xie,Chuanfan Ding,Fuxing XU,Qiankun DANG,Yinjuan CHEN. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-01-10.

Ion trap with parallel bar-electrode arrays

Номер патента: US09735001B2. Автор: Li Ding,Chuanfan Ding. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-08-15.

Multi-pole ion trap for mass spectrometry

Номер патента: US09299550B2. Автор: Herbert Cohen,Vadim Sherman,Brian T. Chait,Andrew N. Krutchinsky. Владелец: ROCKEFELLER UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-03-29.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US20240038524A1. Автор: Masuyuki Sugiyama,Shun KUMANO,Akihiro Nojima. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-02-01.

Ion transfer from multipole ion guides into multipole ion guides and ion traps

Номер патента: CA2253370C. Автор: Craig M. Whitehouse,Erol Gulcicek. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2006-11-07.

Differentially pumped dual linear quadrupole ion trap mass spectrometer

Номер патента: US20160005586A1. Автор: Hilkka I. KENTTAMAA,Benjamin C. Owen. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2016-01-07.

Methods for fragmenting ions in a linear ion trap

Номер патента: CA2711707A1. Автор: Mircea Guna,Bruce Collings. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-08-06.

Methods for fragmenting ions in a linear ion trap

Номер патента: CA2711707C. Автор: Mircea Guna,Bruce Collings. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Mass-selective axial ejection linear ion trap

Номер патента: US10381213B2. Автор: Mircea Guna. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2019-08-13.

Differentially pumped dual linear quadrupole ion trap mass spectrometer

Номер патента: US9496127B2. Автор: Hilkka I. KENTTAMAA,Benjamin C. Owen. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2016-11-15.

Quadrupole mass filters and mass analysers

Номер патента: WO2024126994A1. Автор: David Gordon,David J. Langridge. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2024-06-20.

Mass analysis device and mass analysis method

Номер патента: US9171706B1. Автор: Shinji Funatsu,Noriyuki Ojima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-10-27.

Method and apparatus for injection of ions into an electrostatic ion trap

Номер патента: US09831079B2. Автор: Alexander A. Makarov. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-11-28.

Ion trap time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US8368014B2. Автор: Junichi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2013-02-05.

Method and Apparatus for Injection of Ions into an Electrostatic Ion Trap

Номер патента: US20180033604A1. Автор: Alexander A. Makarov. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2018-02-01.

Method and Apparatus for Injection of Ions into an Electrostatic Ion Trap

Номер патента: US20160329204A1. Автор: Alexander A. Makarov. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2016-11-10.

Systems and methods for reducing the kinetic energy spread of ions radially ejected from a linear ion trap

Номер патента: US09865446B2. Автор: Viatcheslav V. Kovtoun. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2018-01-09.

Apparatus and method for capturing ions in an electrostatic linear ion trap

Номер патента: AU2019281715B2. Автор: Martin F. JARROLD. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2024-06-13.

Multipole ion guide ion trap mass spectrometry

Номер патента: CA2262627C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Bruce A. Andrien. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2007-07-10.

Multipole ion guide ion trap mass spectrometry

Номер патента: CA2566919C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Bruce A. Andrien. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2011-05-03.

Enclosure for ion trapping device

Номер патента: US20210082681A1. Автор: Zachary Price,Matthew SWALLOWS,Benjamin Spaun. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-03-18.

Electrostatic ion trap

Номер патента: US20240347334A1. Автор: Li Ding,Fu-Xing Xu. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2024-10-17.

Electrostatic ion trap

Номер патента: US12119215B1. Автор: Li Ding,Fu-Xing Xu. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2024-10-15.

Selectively releasing ions from an ion trap into a TOF mass spectrometer

Номер патента: GB2388248A. Автор: Jeff Brown,Robert Harold Bateman,Anthony James Gilbert. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2003-11-05.

Method of avoiding space charge saturation effects in an ion trap

Номер патента: CA2724238C. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Ion trap mass spectrometer

Номер патента: GB2302984A. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1997-02-05.

Ion trap

Номер патента: US11990329B2. Автор: HAMISH Stewart,Alexander Wagner,Dmitry GRINFELD. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-05-21.

Method for fabrication a quadruple mass filter or quadrupole ion trap

Номер патента: WO2010026424A1. Автор: Stephen Taylor,Jason Duffln. Владелец: Ulive Enterprises Limited. Дата публикации: 2010-03-11.

Ion trap apparatus and method for manufacturing same

Номер патента: US09548179B2. Автор: Minjae Lee,Taehyun Kim,Dongil Cho,Seokjun HONG,Byoungdoo CHOI,Jongkeon YOON. Владелец: SK TELECOM CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Method for fabrication a quadruple mass filter or quadrupole ion trap

Номер патента: EP2332165A1. Автор: Stephen Taylor,Jason Duffln. Владелец: Advanced Sensors Ltd. Дата публикации: 2011-06-15.

Time of flight mass analysis system

Номер патента: US20240331994A1. Автор: HAMISH Stewart,Christian Hock,Bernd Hagedorn. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-03.

Time Of Flight mass analysis system

Номер патента: GB2628558A. Автор: Hock Christian,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-02.

Targeted mass analysis

Номер патента: US09812307B2. Автор: Alexander Alekseevich Makarov. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-11-07.

Multi-electrode ion trap

Номер патента: US09437412B2. Автор: Alexander Alekseevich Makarov. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2016-09-06.

Multi-electrode ion trap

Номер патента: CA2752628C. Автор: Alexander Alekseevich Makarov. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2015-02-17.

Method for driving linear ion trap and mass spectrometer

Номер патента: US20240087874A1. Автор: Masaru Nishiguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Systems and methods for ejection of ions from an ion trap

Номер патента: US20180204714A1. Автор: Robert Graham Cooks,Dalton Snyder. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2018-07-19.

Systems and methods for ejection of ions from an ion trap

Номер патента: US09922813B2. Автор: Robert Graham Cooks,Dalton Snyder. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2018-03-20.

Two frequency ion trap agc scanning for improved high mass range performance

Номер патента: EP4328954A1. Автор: Christopher Mullen,John Syka. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2024-02-28.

Two frequency ion trap performance

Номер патента: US20240071742A1. Автор: Christopher Mullen,John Syka. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2024-02-29.

Auto gain control for optimum ion trap filling

Номер патента: US12033844B2. Автор: James W Hager. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-07-09.

Methods for cooling ions in a linear ion trap

Номер патента: EP2240953A1. Автор: Bruce Collings. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2010-10-20.

Active stabilization of ion trap radiofrequency potentials

Номер патента: US09991105B2. Автор: Christopher Monroe,Kale JOHNSON,Jaime David WONG-CAMPOS. Владелец: UNIVERSITY OF MARYLAND AT COLLEGE PARK. Дата публикации: 2018-06-05.

A linear ion trap for radial amplitude assisted transfer

Номер патента: CA2807246C. Автор: Alexandre V. Loboda. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2018-07-03.

Systems and methods for conducting neutral loss scans in a single ion trap

Номер патента: US20180342382A1. Автор: Robert Graham Cooks,Dalton Snyder. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2018-11-29.

Method for operating an ion trap mass spectrometer system

Номер патента: EP2140477A1. Автор: James W. Hager. Владелец: MDS Analytical Technologies Canada. Дата публикации: 2010-01-06.

Electrode networks for parallel ion traps

Номер патента: WO2007130303A1. Автор: Michael W. Senko. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2007-11-15.

A linear quadrupole ion trap mass analyzer

Номер патента: US20220199393A1. Автор: Robert Clark,Wade Rellergert,Harley Hayden,Brian Sawyer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-23.

Linear quadrupole ion trap mass analyzer

Номер патента: US11764051B2. Автор: Robert Clark,Wade Rellergert,Harley Hayden,Brian Sawyer. Владелец: Georgia Tech Research Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Ion trap

Номер патента: US8975581B2. Автор: Jose Luis Verdu Galiana. Владелец: University of Sussex. Дата публикации: 2015-03-10.

Methods and systems for quantitative mass analysis

Номер патента: US09911587B1. Автор: Derek J. BAILEY,Linfan Li. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2018-03-06.

Method for tandem mass spectrometry analysis in ion trap mass analyzer

Номер патента: US20160365231A1. Автор: Liang Wang,Chuanfan Ding,Fuxing XU. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-12-15.

Method for tandem mass spectrometry analysis in ion trap mass analyzer

Номер патента: US09640377B2. Автор: Liang Wang,Chuanfan Ding,Fuxing XU. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-05-02.

Portable quadrupole ion trap mass spectrometer

Номер патента: US20120056087A1. Автор: Ho-Young Ahn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-03-08.

Ion trap and method for detecting ions in an ion trap

Номер патента: WO2023105360A1. Автор: Nicholai William SALOVICH. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2023-06-15.

Ion trap device and its tuning method

Номер патента: EP1416515A3. Автор: Eizo Kawato. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-06-15.

Precursor and neutral loss scan in an ion trap

Номер патента: US11764046B2. Автор: Robert Graham Cooks,Christopher Pulliam,Dalton Snyder. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2023-09-19.

Improvements relating to ion trapping

Номер патента: CA2602129A1. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Eduard V. Denisov,Gerhard Jung,Oliver Lange,Robert Malek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-05.

Methods and systems for quantitative mass analysis

Номер патента: US20180277345A1. Автор: Jae C. Schwartz,Linfan Li. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Improvements relating to ion trapping

Номер патента: CA2602129C. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Eduard V. Denisov,Gerhard Jung,Oliver Lange,Robert Malek. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2012-08-07.

Ion trap mass spectrometry device and mass spectrometry method using said device

Номер патента: US20190108993A1. Автор: Hidenori Takahashi,Sadanori Sekiya. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Ion trap mass spectrometer and ion trap mass spectrometry method

Номер патента: EP3664123A1. Автор: Hideharu SHICHI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-10.

Correcting phases for ion polarity in ion trap mass spectrometry

Номер патента: WO2006081075A3. Автор: Edward G Marquette. Владелец: Edward G Marquette. Дата публикации: 2007-07-12.

Correcting phases for ion polarity in ion trap mass spectrometry

Номер патента: WO2006081075A8. Автор: Edward G Marquette. Владелец: Edward G Marquette. Дата публикации: 2006-10-19.

Correcting phases for ion polarity in ion trap mass spectrometry

Номер патента: WO2006081075A2. Автор: Edward G. Marquette. Владелец: Varian Inc.. Дата публикации: 2006-08-03.

Method and ion trap for detecting ions

Номер патента: WO2022254266A1. Автор: Nicholai SALOVICH. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2022-12-08.

A method for dissociating ions using a quadrupole ion trap device

Номер патента: WO2003021631A3. Автор: Li Ding,Michael Sudakov. Владелец: Shimadzu Res Lab Europe Ltd. Дата публикации: 2003-12-11.

Separating ions in an ion trap

Номер патента: US12080534B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green,David J. Langridge,Keith Richardson,Steven Derek Pringle. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

A method for dissociating ions using a quadrupole ion trap device

Номер патента: WO2003021631A2. Автор: Li Ding,Michael Sudakov. Владелец: Shimadzu Research Laboratory (Europe) Ltd. Дата публикации: 2003-03-13.

A method for dissociating ions using a quadrupole ion trap device

Номер патента: EP1421601A2. Автор: Li Ding,Michael Sudakov. Владелец: Shimadzu Research Laboratory Europe Ltd. Дата публикации: 2004-05-26.

Ion trap device

Номер патента: EP1306882A3. Автор: Eizo Kawato. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-03-23.

Ion trap device

Номер патента: US20030071210A1. Автор: Eizo Kawato. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2003-04-17.

Improved methods of using ion trap mass spectrometers

Номер патента: WO1994022565A1. Автор: Gregory J. Wells,Mingda Wang. Владелец: Varian Associates, Inc.. Дата публикации: 1994-10-13.

High resolution excitation/isolation of ions in a low pressure linear ion trap

Номер патента: US20090121126A1. Автор: Bruce A. Collings,Yves J.C. Leblanc. Владелец: MDS Analytical Technologies Canada. Дата публикации: 2009-05-14.

Ion trap time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US7755035B2. Автор: Hiroshi Nakamura,Yasushi Terui,Takuya Saeki,Tsukasa Shishika. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-13.

Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter

Номер патента: WO2009154979A3. Автор: David Rafferty. Владелец: Spacehab, Inc.. Дата публикации: 2010-02-25.

High-resolution ion trap mass spectrometer

Номер патента: US09847218B2. Автор: Jae C. Schwartz,Philip M. Remes. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2017-12-19.

Ion trap mass spectrometer and ion trap mass spectrometry method

Номер патента: US20200185208A1. Автор: Hideharu SHICHI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Ion trap array for high throughput charge detection mass spectrometry

Номер патента: EP4391015A3. Автор: Martin F. JARROLD,Daniel BOTAMANENKO. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2024-10-09.

Ion trap mass spectroscopy

Номер патента: US20020027195A1. Автор: Yoshiaki Kato. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-03-07.

Separating ions in an ion trap

Номер патента: US20220367162A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green,David J. Langridge,Keith Richardson,Steven Derek Pringle. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Precursor and neutral loss scan in an ion trap

Номер патента: US20190066989A1. Автор: Robert Graham Cooks,Christopher Pulliam,Dalton Snyder. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2019-02-28.

Separating ions in an ion trap

Номер патента: EP3286557A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green,David J. Langridge,Keith Richardson,Steven Derek Pringle. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-02-28.

Separating ions in an ion trap

Номер патента: US20210057197A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green,David J. Langridge,Keith Richardson,Steven Derek Pringle. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Package Comprising an Ion-Trap and Method of Fabrication

Номер патента: US20240162028A1. Автор: Jungsang Kim,Geert VRIJSEN,Kai HUDEK,Robert SPIVEY,Peter MAUNZ. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2024-05-16.

Package comprising an ion-trap and method of fabrication

Номер патента: EP3655361A1. Автор: Jungsang Kim,Geert VRIJSEN,Kai HUDEK,Robert SPIVEY,Peter MAUNZ. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2020-05-27.

Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap

Номер патента: EP1040507A4. Автор: Jae C Schwartz,Dennis M Taylor. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2006-08-30.

Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap

Номер патента: EP1040507A1. Автор: Jae C. Schwartz,Dennis M. Taylor. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 2000-10-04.

Collisionally induced decomposition of ions in nonlinear ion traps

Номер патента: GB2291534A. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1996-01-24.

Ion trap with reduced radio frequency (rf) currents using multiple feed ports

Номер патента: US20240014023A1. Автор: Christopher Eugene LANGER,Matthew D. Swallows,Adam Reed. Владелец: Quantinuum Llc. Дата публикации: 2024-01-11.

Method and ion trap for detecting ions

Номер патента: GB2607590A. Автор: Salovich Nicholai. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2022-12-14.

Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter

Номер патента: EP2301061A2. Автор: David Rafferty. Владелец: Astrotech Corp. Дата публикации: 2011-03-30.

Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter

Номер патента: AU2009260573A1. Автор: David Rafferty. Владелец: Astrotech Corp. Дата публикации: 2009-12-23.

Segmented ion trap mass spectrometry

Номер патента: CA2679113A1. Автор: Viatcheslav V. Kovtoun. Владелец: Viatcheslav V. Kovtoun. Дата публикации: 2008-09-12.

Miniature toroidal radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: WO2007089339A3. Автор: Samuel E Tolley,Milton Lee,Edgar D Lee,Stephen A Lammert,Jeffrey L Jones,Randall W Waite. Владелец: Randall W Waite. Дата публикации: 2008-04-03.

High resolution excitation/isolation of ions in a low pressure linear ion trap

Номер патента: EP2217917A1. Автор: Bruce A. Collings,Yves J.C. Leblanc. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2010-08-18.

Optimization of excitation voltage amplitude for collision induced dissociation of ions in an ion trap

Номер патента: CA2716645C. Автор: Scott T. Quarmby. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2014-04-22.

Collision-induced decomposition of ions in rf ion traps

Номер патента: US20080135747A1. Автор: Andreas Brekenfeld. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2008-06-12.

Electron capture dissociation in a high frequency quadrupole ion trap

Номер патента: GB2403590A. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2005-01-05.

Ion trap array for high throughput charge detection mass spectrometry

Номер патента: CA3102587A1. Автор: Martin F. JARROLD,Daniel BOTAMANENKO. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2019-12-12.

Microscale ion trap mass spectrometer

Номер патента: EP1218921A2. Автор: William B. Whitten,John M. Ramsey. Владелец: UT Battelle LLC. Дата публикации: 2002-07-03.

Microscale ion trap mass spectrometer

Номер патента: WO2001022079A2. Автор: William B. Whitten,John M. Ramsey. Владелец: UT-BATTELLE, LLC. Дата публикации: 2001-03-29.

Ion trap array for high throughput charge detection mass spectrometry

Номер патента: EP4391015A2. Автор: Martin F. JARROLD,Daniel BOTAMANENKO. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2024-06-26.

Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap

Номер патента: WO2000024037A1. Автор: Jae C. Schwartz,Dennis M. Taylor. Владелец: Finnigan Corporation. Дата публикации: 2000-04-27.

Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap

Номер патента: WO2000024037A9. Автор: Jae C Schwartz,Dennis M Taylor. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 2000-11-23.

A mass spectrometer ion trap having asymmetric end cap apertures

Номер патента: WO2014163939A2. Автор: Michael Spencer,David Rafferty. Владелец: 1st Detect Corporation. Дата публикации: 2014-10-09.

Method and apparatus for mass analysis by multi-pole mass filters

Номер патента: GB1350980A. Автор: . Владелец: Varian Mat GmbH. Дата публикации: 1974-04-24.

Time-of-flight mass spectrometer for conducting high resolution mass analysis

Номер патента: US09613787B2. Автор: Shinichi Yamaguchi,Hideaki Izumi,Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Method of bioanalytical analysis utilizing ion spectrometry, including mass analysis

Номер патента: US20240369516A1. Автор: Matthew Lewis,Nikolas Kessler. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-11-07.

Dynamic multipole Kingdon ion trap

Номер патента: US09653278B2. Автор: Mircea Guna. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

End cap voltage control of ion traps

Номер патента: US8334506B2. Автор: David Rafferty. Владелец: 1st Detect Corp. Дата публикации: 2012-12-18.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: WO2004063702A2. Автор: Zheng Ouyang,Robert G. Cooks. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2004-07-29.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: WO2004063702A3. Автор: Zheng Ouyang,Robert G Cooks. Владелец: Robert G Cooks. Дата публикации: 2004-11-25.

Electrode system of linear ion trap

Номер патента: RU2466475C2. Автор: Михаил Юрьевич Судаков. Владелец: Симадзу Корпорейшн. Дата публикации: 2012-11-10.

Ion trap analyzer and ion trap mass spectrometry analysis method

Номер патента: US09502228B2. Автор: Wenjian Sun,Gongyu Jiang. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

3d ion traps with connection through substrate

Номер патента: EP4383277A1. Автор: Georg Jacob,Philip HOLZ. Владелец: Alpine Quantum Technologies GmbH. Дата публикации: 2024-06-12.

Type rectangular ion trap device and method for ion storage and separation

Номер патента: US09679759B2. Автор: You Jiang,Xiang Fang,Zejian Huang,Xingchuang Xiong. Владелец: National Institute of Metrology. Дата публикации: 2017-06-13.

Linear ion trap

Номер патента: CA2711898C. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green,Daniel James Kenny,David Langridge. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Octapole ion trap mass spectrometers and related methods

Номер патента: WO2006083264A3. Автор: Desmond Kaplan,Gary L Glish. Владелец: Gary L Glish. Дата публикации: 2007-03-01.

Method and apparatus for reducing space charge in an ion trap

Номер патента: US7847248B2. Автор: Bruce A. Collings. Владелец: MDS Analytical Technologies Canada. Дата публикации: 2010-12-07.

Linear ion trap and method for operating the same

Номер патента: US20230335388A1. Автор: Kei Kodera. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Ion trap design method and ion trap mass spectrometer

Номер патента: US10037879B2. Автор: Junichi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-07-31.

Ion trap design method and ion trap mass spectrometer

Номер патента: US20170301532A1. Автор: Junichi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US20090294661A1. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Masayuki Sugiyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-12-03.

Spherical ion trap and trapping ions

Номер патента: US20220246419A1. Автор: Roger Charles Brown,David Ray Leibrandt,David Brian Hume,Jeffrey Aaron Sherman. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2022-08-04.

Linear ion trap and method of controlling movement of ions using asymmetrical confinement field

Номер патента: RU2372686C2. Автор: Грегори Дж. УЭЛЛС. Владелец: Вэриэн, Инк.. Дата публикации: 2009-11-10.

Ionization within ion trap using photoionization and electron ionization

Номер патента: US20140264010A1. Автор: James Wylde,David Rafferty,Abrar Riaz. Владелец: 1st Detect Corp. Дата публикации: 2014-09-18.

Ionization within ion trap using photoionization and electron ionization

Номер патента: US09570282B2. Автор: James Wylde,David Rafferty,Abrar Riaz. Владелец: 1st Detect Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Toroidal ion trap

Номер патента: WO2023150680A1. Автор: Robert Jackson,Stephen Lammert,Shawn Johnson,Atanu K. Mohanty. Владелец: PerkinElmer Health Sciences, Inc.. Дата публикации: 2023-08-10.

Ion trap with variable pitch electrodes

Номер патента: US09837258B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Ion trap with ring-shaped ion storage cell and mass spectrometer

Номер патента: US20220367168A1. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman,Yessica Brachthäuser,Anthony Hin Yiu CHUNG. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2022-11-17.

Ion trap with ring-shaped ion storage cell and mass spectrometer

Номер патента: US11935734B2. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman,Yessica Brachthäuser,Anthony Hin Yiu CHUNG. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2024-03-19.

Ion trap with ring-shaped ion storage cell and mass spectrometer

Номер патента: EP4042469A1. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman,Yessica Brachthäuser,Anthony Hin Yiu CHUNG. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2022-08-17.

Two-dimensional quadrupole ion trap operated as a mass spectrometer

Номер патента: CA2474857C. Автор: Michael W. Senko,Jae C. Schwartz. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2011-04-05.

Ion trap device

Номер патента: US20050133711A1. Автор: Eizo Kawato. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-06-23.

Ion trap mass spectrometer using pre-calculated waveforms for ion isolation and collision induced dissociation

Номер патента: EP1470568A1. Автор: Gregory Wells. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2004-10-27.

A method for injection of externally produced ions into a quadrupole ion trap

Номер патента: CA2231177C. Автор: Alex Mordehai,Sidney E. Buttrill, Jr.. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2001-12-25.

Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer

Номер патента: US5714755A. Автор: Gregory J. Wells,Mingda Wang,Edward G. Marquette. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1998-02-03.

Ion trap mass spectrometer

Номер патента: US6121610A. Автор: Yoshiaki Kato,Yoichi Ose,Kiyomi Yoshinari. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2000-09-19.

Method of detecting selected ion species in a quadrupole ion trap

Номер патента: CA2178244C. Автор: Gregory J. Wells. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2005-08-16.

Segmented ion trap mass spectrometer

Номер патента: US8847153B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Kevin Giles,Martin Green. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2014-09-30.

Ion trap mass spectrometer system and method

Номер патента: CA2148331C. Автор: Mark Eric Bier,John E. P. Syka. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1999-10-26.

Toroidal ion trap

Номер патента: US20230253199A1. Автор: Robert Jackson,Shawn Johnson,Stephen D. Lammert,Atanu K. Mohanty. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2023-08-10.

Multi-layer ion trap on shaped glass or dielectric substrate

Номер патента: US20230343577A1. Автор: James Walker STEERE,Jonathan Albert MIZRAHI,Jeremy Matthew Sage,Jason Madjdi AMINI. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2023-10-26.

Mass analyzing method using an ion trap type mass spectrometer

Номер патента: US20040159785A1. Автор: Yoshiaki Kato. Владелец: Yoshiaki Kato. Дата публикации: 2004-08-19.

Novel linear ion trap for mass spectrometry

Номер патента: CA2620608C. Автор: Herbert Cohen,Brian T. Chait,Andrew N. Krutchinsky. Владелец: ROCKEFELLER UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-08-12.

Novel linear ion trap for mass spectrometry

Номер патента: CA2620608A1. Автор: Herbert Cohen,Brian T. Chait,Andrew N. Krutchinsky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-08.

Linear ion trap apparatus and method utilizing an asymmetrical trapping field

Номер патента: CA2567759C. Автор: Gregory J. Wells. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2010-09-28.

Ion trapping mass spectrometry method and apparatus therefor

Номер патента: US5679950A. Автор: Takashi Baba,Izumi Waki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1997-10-21.

Frequency modulated selected ion species isolation in a quadrupole ion trap

Номер патента: US5608216A. Автор: Gregory J. Wells,Charles K. Huston. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1997-03-04.

Method of detecting the ions in an ion trap mass spectrometer

Номер патента: CA2094869C. Автор: Jae Curtis Schwartz,John Nathan Louris. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1998-12-29.

Ion trap mass spectrometer using pre-calculated waveforms for ion isolation and collision induced dissociation

Номер патента: US20030150988A1. Автор: Gregory Wells. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2003-08-14.

Mass spectrometer with an electrostatic ion trap

Номер патента: US7994473B2. Автор: Claus KÖSTER. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2011-08-09.

Quadrupole ion traps

Номер патента: GB2280305A. Автор: Yang Wang,Jochen Franzen. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1995-01-25.

Method of operating an ion trap mass spectrometer

Номер патента: CA2245826C. Автор: Sydney E. Buttrill. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2002-08-06.

Isolating ions in quadrupole ion traps for mass spectrometry

Номер патента: WO2006023252A2. Автор: Scott T. Quarmby,Jae C. Schwartz,John E. P. Syka. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2006-03-02.

Method of producing a broad-band signal for an ion trap mass spectrometer

Номер патента: US20010010355A1. Автор: Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-08-02.

Method of producing a broad-band signal for an ion trap mass spectrometer

Номер патента: EP1137045A3. Автор: Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-06-29.

Reflector TOF With High Resolution and Mass Accuracy for Peptides and Small Molecules

Номер патента: US20080272290A1. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-11-06.

Multiplexed electrostatic linear ion trap

Номер патента: US09779930B2. Автор: Mircea Guna. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Space charge control in a tandem ion trapping arrangement

Номер патента: GB2455386A. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Green. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2009-06-10.

Integrated ion focusing and gating optics for ion trap mass spectrometer

Номер патента: WO2003065404A1. Автор: Gregory J. Wells,Steven D. Schachterle. Владелец: Varian, Inc.. Дата публикации: 2003-08-07.

Integrated ion focusing and gating optics for ion trap mass spectrometer

Номер патента: EP1470567A1. Автор: Gregory J. Wells,Steven D. Schachterle. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2004-10-27.

Devices and methods for performing mass analysis

Номер патента: US09905409B2. Автор: Joseph A. Jarrell,Michael Tomany. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Devices and methods for performing mass analysis

Номер патента: EP2218093A1. Автор: Joseph A. Jarrell,Michael J. Tomany. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2010-08-18.

Segmented linear ion trap for enhanced ion activation and storage

Номер патента: US09978578B2. Автор: Emmanuel Raptakis,Dimitris Papanastasiou. Владелец: Fasmatech Science & Technology Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Ion trap mass pectrometer with electrospray ionization

Номер патента: US6069355A. Автор: Alexander Mordehai. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2000-05-30.

Segmented linear ion trap for enhanced ion activation and storage

Номер патента: CA3013117C. Автор: Emmanuel Raptakis,Dimitris Papanastasiou. Владелец: Fasmatech Science And Technology Ltd. Дата публикации: 2023-06-13.

Mass analysis variable exit aperture

Номер патента: WO2012161745A2. Автор: Joseph Valinski,William HAMBY. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2012-11-29.

Electrodynamic mass analysis with rf biased ion source

Номер патента: US20220139691A1. Автор: Frank Sinclair,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-05-05.

Mass analysis device

Номер патента: US20160111268A1. Автор: Yutaro YAMAMURA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-04-21.

Lipid-analyzing method using mass spectrometry and mass spectrometer

Номер патента: US20190004071A1. Автор: Hidenori Takahashi,Sadanori Sekiya. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Universal collisional activation ion trap mass spectrometry

Номер патента: AU661542B2. Автор: Gary L Glish,Douglas E Goeringer,Scott A McCluckey. Владелец: Martin Marietta Energy Systems Inc. Дата публикации: 1995-07-27.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US09558908B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Universal collisional activation ion trap mass spectrometry

Номер патента: AU3239293A. Автор: Gary L Glish,Douglas E Goeringer,Scott A McCluckey. Владелец: Martin Marietta Energy Systems Inc. Дата публикации: 1993-07-19.

Universal collisional activation ion trap mass spectrometry

Номер патента: WO1993011858A1. Автор: Scott A. Mccluckey,Douglas E. Goeringer,Gary L. Glish. Владелец: Martin Marietta Energy Systems, Inc.. Дата публикации: 1993-06-24.

System and method for loading an ion trap

Номер патента: US11538674B2. Автор: Jungsang Kim,Geert VRIJSEN,Ismail INLEK,Robert SPIVEY,Yuhi AIKYO. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2022-12-27.

Lipid-analyzing method using mass spectrometry and mass spectrometer

Номер патента: EP3422388A3. Автор: Hidenori Takahashi,Sadanori Sekiya. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-03.

Apparatus for simultaneously analyzing multiple ions with an electrostatic linear ion trap

Номер патента: EP4443473A2. Автор: Martin F. JARROLD,Daniel BOTAMANENKO. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2024-10-09.

Ion trap with reduced radio frequency (rf) currents using multiple feed ports

Номер патента: WO2024177647A2. Автор: Christopher Eugene LANGER,Matthew D. Swallows,Adam Reed. Владелец: Quantinuum Llc. Дата публикации: 2024-08-29.

Ion trap for cooling ions

Номер патента: CA2737089C. Автор: Alexander Makarov,Eduard Denisov. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2014-05-06.

Ion trap for cooling ions

Номер патента: WO2010034630A3. Автор: Alexander Makarov,Eduard Denisov. Владелец: Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH. Дата публикации: 2010-05-27.

Mass analyser with ion trap

Номер патента: RU2372687C2. Автор: Чуань-Фань ДИН. Владелец: Фудан Юниверсити. Дата публикации: 2009-11-10.

Package Comprising an Ion-Trap and Method of Fabrication

Номер патента: US20190027355A1. Автор: Jungsang Kim,Geert VRIJSEN,Kai HUDEK,Robert SPIVEY,Peter MAUNZ. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2019-01-24.

System and Method for Loading an Ion Trap

Номер патента: US20210217598A1. Автор: Jungsang Kim,Geert VRIJSEN,Ismail INLEK,Robert SPIVEY,Yuhi AIKYO. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2021-07-15.

System and method for loading an ion trap

Номер патента: US10923335B2. Автор: Jungsang Kim,Geert VRIJSEN,Ismail INLEK,Robert SPIVEY,Yuhi AIKYO. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2021-02-16.

Methods of comparative analysis using ion trap mass spectrometers

Номер патента: US5903003A. Автор: Jochen Franzen,Michael Schubert,John Fjeldsted. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 1999-05-11.

Mass analysis method and inductively coupled plasma mass spectrometer

Номер патента: US09865443B2. Автор: Tadashi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Enclosure for ion trapping device

Номер патента: EP3792956A1. Автор: Jason Simmons,Thomas Ohnstein,Daniel Youngner,Jay Gordon Schwichtenberg. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-03-17.

Mass analysis method and inductively coupled plasma mass spectrometer

Номер патента: US20170256388A1. Автор: Tadashi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-09-07.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US20190341242A1. Автор: Tetsuo Sakamoto,Reiko Saito,Akio Takano,Haruko Akutsu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-11-07.

Methods and mass spectrometry systems for acquiring mass spectral data

Номер патента: GB2621393A. Автор: Makarov Alexander,Chernyshev Denis,Thoing Christian. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-14.

Methods and mass spectrometry systems for acquiring mass spectral data

Номер патента: GB2621394A. Автор: Makarov Alexander,Chernyshev Denis,Thoing Christian. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-14.

High-throughput analysis using ion mobility and mass spectroscopy

Номер патента: WO2023199273A1. Автор: Chang Liu,Bradley B. Schneider,Stephen Tate. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-10-19.

Mass spectrometry method and mass spectrometer

Номер патента: US12051580B2. Автор: Hidenori Takahashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Mass analysis

Номер патента: WO2021240238A3. Автор: Thomas R. Covey,Chang Liu. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2022-02-24.

Mass spectrometry method and mass spectrometer

Номер патента: US20220230861A1. Автор: Hidenori Takahashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Mass analysis data analyzing apparatus and program thereof

Номер патента: US20090026360A1. Автор: Kazuo Yamauchi,Yoshitake Yamamoto,Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Automated in-process isotope and mass spectrometry

Номер патента: WO2002060565A1. Автор: Howard M. Kingston. Владелец: Metara, Inc.. Дата публикации: 2002-08-08.

Mass analysis system

Номер патента: US20070221836A1. Автор: Kinya Kobayashi,Kiyomi Yoshinari,Atsumu Hirabayashi,Toshiyuki Yokosuka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-09-27.

Mass analysis

Номер патента: WO2021240238A2. Автор: Thomas R. Covey,Chang Liu. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2021-12-02.

Systems and methods for improved intensit y determinations in mass analysis instruments

Номер патента: US20240258090A1. Автор: Yves Le Blanc,Stephen Tate. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Methods for Broad-Stability Mass Analysis Using a Quadrupole Mass Filter

Номер патента: US20160314950A1. Автор: Alan E. Schoen,Johnathan Wayne Smith. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2016-10-27.

Methods and systems for quantitative mass analysis

Номер патента: US09911588B1. Автор: Linfan Li. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2018-03-06.

Methods for broad-stability mass analysis using a quadrupole mass filter

Номер патента: US09536719B2. Автор: Alan E. Schoen,Johnathan Wayne Smith. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2017-01-03.

Rapid authentication using surface desorption ionization and mass spectrometry

Номер патента: EP3443581A1. Автор: Gareth E. CLELAND,Kari L. ORGANTINI. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2019-02-20.

Apparatus for and method of mass analysis

Номер патента: US20190025174A1. Автор: masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-01-24.

Mass analysis data analyzing apparatus and program thereof

Номер патента: US20100228498A1. Автор: Kazuo Yamauchi,Yoshitake Yamamoto,Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Analysis system, auxiliary analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230326730A1. Автор: Hung-Jen Chen,Yu-Teh Chung,Yen-An Tsai. Владелец: MATERIALS ANALYSIS Tech Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US12111286B2. Автор: Keke WANG,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US20230417704A1. Автор: Keke WANG,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: AU2020277183A1. Автор: David Hayes,Christopher Langer,Patricia Lee,John Gaebler,Philip Makotyn,Russell Stutz. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: CA3101927A1. Автор: David Hayes,Christopher Langer,Patricia Lee,John Gaebler,Philip Makotyn,Russell Stutz. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-06-17.

Ion trap

Номер патента: EP3839980A2. Автор: David Hayes,Christopher Langer,Patricia Lee,John Gaebler,Philip Makotyn,Russell Stutz. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-06-23.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US20210319999A1. Автор: David Hayes,Christopher Langer,Patricia Lee,John Gaebler,Philip Makotyn,Russell Stutz. Владелец: Honeywell Helios LLC. Дата публикации: 2021-10-14.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: AU2020277183B2. Автор: David Hayes,Christopher Langer,Patricia Lee,John Gaebler,Philip Makotyn,Russell Stutz. Владелец: Quantinuum Llc. Дата публикации: 2022-06-23.

Icr ion trap

Номер патента: US5089702A. Автор: Martin Allemann,Pablo Caravatti. Владелец: Spectrospin AG. Дата публикации: 1992-02-18.

Mass spectrometer and mass spectrometric analysis method

Номер патента: RU2531369C2. Автор: Димитриос СИДЕРИС. Владелец: Димитриос СИДЕРИС. Дата публикации: 2014-10-20.

Ionizing analysis apparatus

Номер патента: US5945678A. Автор: Yutaro Yanagisawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1999-08-31.

Cryogenic radio-frequency resonator for surface ion traps

Номер патента: CA3080777C. Автор: Zachary Price,Adam Reed,Benjamin Spaun. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US10950408B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-03-16.

Apparatuses, systems and methods for ion traps

Номер патента: US10304650B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2019-05-28.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US20200227226A1. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2020-07-16.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US20200027684A1. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2020-01-23.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US20170301501A1. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-10-19.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US20180204701A1. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-07-19.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US9916957B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Apparatuses, systems, and methods for ion traps

Номер патента: US09916957B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Ion trapping with integrated electromagnets

Номер патента: US20160372314A1. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-12-22.

Ion trapping with integrated electromagnets

Номер патента: US20180114683A1. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-04-26.

Interposer with load hole for ion trap

Номер патента: US20230035661A1. Автор: James Walker STEERE. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

Ionic vacuum pump incorporating an ion trap

Номер патента: US3631280A. Автор: Nathan D Levin,Andreas Niewold,Stephen D Sparks. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1971-12-28.

Improvements in cathode ray tubes with ion traps

Номер патента: GB747380A. Автор: . Владелец: Loewe Opta GmbH. Дата публикации: 1956-04-04.

Ion trapping with integrated electromagnets

Номер патента: US9548191B2. Автор: Daniel Youngner. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Travelling-wave tube with integrated ion trap power supply

Номер патента: GB2440036A. Автор: John P Vaszari,Ronald G Brownell. Владелец: L3 Communications Electron Technologies Inc. Дата публикации: 2008-01-16.

Use of liquid chromatography and mass spectrometry to characterize oligonucleotides

Номер патента: US12099042B2. Автор: Ming Huang,Ning Li,Haibo Qiu,Xiaobin Xu. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: US20240298400A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-05.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: EP4425158A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray analysis apparatus and x-ray generation unit

Номер патента: US20210389262A1. Автор: Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Radiation Analysis Apparatus

Номер патента: US20190033237A1. Автор: Keiichi Tanaka,Atsushi Nagata,Satoshi Nakayama,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230369086A1. Автор: Ryo Saito,Masahiro Yoshidome,Akihiko Ohtsu,Yukihisa KAWADA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Sample analysis apparatus using electron beam irradiation

Номер патента: US4020353A. Автор: Syobu Saito,Yoshio Sakitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-04-26.

Ion trap apparatus with integrated switching apparatus

Номер патента: US11876092B2. Автор: Grahame Vittorini,David Deen,Nathaniel Burdick. Владелец: Quantinuum Llc. Дата публикации: 2024-01-16.

Ion trap apparatus with integrated switching apparatus

Номер патента: EP4033528A1. Автор: Grahame Vittorini,David Deen,Nathaniel Burdick. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2022-07-27.

Mass transfer method and mass transfer device thereof for micro led device

Номер патента: US12033876B2. Автор: Bo Zhou,Yanming Liu,Bohua Chu. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Object distribution analysis apparatus and object distribution analysis method

Номер патента: US20150354952A1. Автор: Takahiro Ikeda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09638729B2. Автор: Makoto Yonezawa,Yoshihiro Nishimura,Takumi Hirakawa,Seiji Morishita,Hiroyuki Maekawa,Hisahiro YAMAOKA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Crystal analysis apparatus and crystal analysis method

Номер патента: US20190005635A1. Автор: Masako Kodera. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US20010039137A1. Автор: Koichi Tamura,Mitsuo Naito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Analysis apparatus, bonding system, and analysis method

Номер патента: US20240241061A1. Автор: Yuji MIMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Active material analysis apparatus

Номер патента: EP3706234A1. Автор: Sung Joon Oh,Yeon Wook Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-09-09.

Active material analysis apparatus

Номер патента: US11817564B2. Автор: Sung Joon Oh,Yeon Wook Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Active Material Analysis Apparatus

Номер патента: US20210328273A1. Автор: Sung Joon Oh,Yeon Wook Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Analysis apparatus for semiconductor LSI circuit electrostatic discharge by calculating inter-pad voltage between pads

Номер патента: US7340699B2. Автор: Sachio Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-03-04.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US20190257749A1. Автор: Yuya Sugiyama,Junichi Matsuo,Kentaro Hazama,Nobuko Takekawa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Electrochemical analysis apparatus and electrochemical system

Номер патента: US9977059B2. Автор: Tetsuya Osaka,Tokihiko Yokoshima,Daikichi Mukoyama,Toshiyuki Momma,Hiroki Nara. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-05-22.

Methods and apparatuses for making x-rays using electron-beam ion trap (EBIT) technology

Номер патента: US20070009089A1. Автор: Marcus Mendenhall. Владелец: VANDERBILT UNIVERSITY. Дата публикации: 2007-01-11.

Portable data transfer and mass storage device for removable memory modules

Номер патента: CA2278069C. Автор: Michael S. Battaglia,Offie Lee Drennan. Владелец: SMDK Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

A security system for mass transit and mass transportation

Номер патента: EP1932338A2. Автор: Andrew Chinigo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-18.

Imaging system, control method of imaging system, analysis apparatus and program

Номер патента: WO2024190009A1. Автор: Osamu Kojima,Atsushi Wada. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2024-09-19.

Packet analysis apparatus, method, and non-transitory computer readable medium thereof

Номер патента: US20180191874A1. Автор: Chao Yeh Lai,Chien Tsung Liu,Yu Chieh LI. Владелец: Onward Security Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Adaptable X-ray analysis apparatus

Номер патента: US12031925B2. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-07-09.

Adaptable x-ray analysis apparatus

Номер патента: CA3172362A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-03-01.

Optical communication system, failure analysis apparatus, and failure analysis methodof optical communication system

Номер патента: US20230101899A1. Автор: Shingo KUBOKI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-30.

Video analysis apparatus, person retrieval system, and person retrieval method

Номер патента: US20210264636A1. Автор: Naoto Akira,Atsushi Hiroike,Tsutomu Imada,Hiromu NAKAMAE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-08-26.

3d data analysis apparatus and 3d data analysis method

Номер патента: US20130251242A1. Автор: Shunsuke Suzuki,Atsuo Fujimaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2013-09-26.

Communication analysis apparatus and communication analysis method

Номер патента: US20130329568A1. Автор: Takeru Kuroiwa,Masanori Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-12.

Communication analysis apparatus, communication analysis method, and program

Номер патента: US20210273864A1. Автор: Yuki Ashino,Ayaka SAMEJIMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Vehicle security analysis apparatus, and method and program storage medium

Номер патента: US20240236131A1. Автор: Satoshi Ueno,Yasunobu Chiba,Kensuke Nakata,Atsushi Wakasugi. Владелец: NTT Security Japan KK. Дата публикации: 2024-07-11.

Analysis apparatus, analysis method, and program

Номер патента: US12034614B2. Автор: Itaru Ueda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US20150117242A1. Автор: Yuji Nomura,Fumiyuki Iizuka,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Information analysis apparatus and computer readable medium

Номер патента: US7792060B2. Автор: Hiroshi Okamoto,Xiaojun Ma,Yukihiro Tsuboshita. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

Analysis apparatus, analysis method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20240283792A1. Автор: Hirofumi Ueda,Shohei MITANI,Nakul GHATE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Traffic analysis apparatus, system, method, and program

Номер патента: US11509539B2. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-11-22.

Traffic analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20210014144A1. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE,Sweety SUMAN. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

Attack path analysis apparatus for vehicle cyber security and attack path analysis method thereof

Номер патента: US20240070291A1. Автор: Kwon Hyeong Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US12120142B2. Автор: Masaki INOKUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US09954748B2. Автор: Yuji Nomura,Fumiyuki Iizuka,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Noise analysis apparatus, electronic device, and noise-source identification system

Номер патента: US09673794B2. Автор: Satoru Sonoda,Kengo Kato. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Data analysis apparatus management and control method and communication apparatus

Номер патента: US20230403223A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Management and control method for data analysis apparatus, and communication apparatus

Номер патента: EP4266191A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Management and control method for data analysis apparatus, and communication apparatus

Номер патента: AU2022208075A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Data analysis apparatus management and control method and communication apparatus

Номер патента: CA3205337A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Adaptable X-Ray Analysis Apparatus

Номер патента: US20230270394A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-08-31.

Intelligent trap and consumables

Номер патента: US20240251775A1. Автор: Mark Jacques,Mathew V. Kaye. Владелец: Caucus Connect Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Data analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20230412777A1. Автор: Tetsu Ogawa,Itaru Shimizu,Naomi Kurahara. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Data analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20230412772A1. Автор: Tetsu Ogawa,Itaru Shimizu,Naomi Kurahara. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method and analysis program

Номер патента: US20240146757A1. Автор: Junpei Kamimura,Yoshiaki SAKAE,Kazuhiko lSOYAMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Communication analysis apparatus and communication analysis method

Номер патента: EP2264944A3. Автор: Takeru Kuroiwa,Masanori Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2011-01-19.

Image analysis apparatus, image analysis system, image analysis method, program, and recording medium

Номер патента: EP4346197A1. Автор: Kei Yamaji. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-04-03.

Image analysis apparatus, image analysis system, image analysis method, program, and recording medium

Номер патента: US20240106936A1. Автор: Kei Yamaji. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Image analysis apparatus and monitoring system

Номер патента: US20220398765A1. Автор: Yoshiaki Tomatsu,Takayuki Nakagome. Владелец: Aisin Corp. Дата публикации: 2022-12-15.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20170308688A1. Автор: Yang Zhong,Hiroshi Asakura,Shingo Orihara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Traffic analysis apparatus, system, method, and program

Номер патента: US20200328947A1. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-10-15.

Digital watermark analysis apparatus and digital watermark analysis method

Номер патента: US11790477B2. Автор: Yuki Omagari. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Quantum illumination using an ion trap

Номер патента: US20240249857A1. Автор: Jose Luis Verdu Galiana,Frances CRIMIN,Irene MARZOLI. Владелец: University of Sussex. Дата публикации: 2024-07-25.

Amplitude, frequency, and phase modulated entangling gates for ion trap quantum computers

Номер патента: WO2022047142A1. Автор: Yunseong NAM,Reinhold BLUMEL,Nikodem GRZESIAK. Владелец: IonQ, Inc.. Дата публикации: 2022-03-03.

Amplitude, frequency, and phase modulated entangling gates for ion trap quantum computers

Номер патента: US12056573B2. Автор: Yunseong NAM,Reinhold BLUMEL,Nikodem GRZESIAK. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Three-dimensional ion trap

Номер патента: EP4303888A1. Автор: Clemens Roessler,Silke Auchter,Alexander Zesar,Klemens Karl Heinrich SCHUEPPERT. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2024-01-10.

Three-dimensional ion trap

Номер патента: US20240312664A1. Автор: Clemens Rössler,Silke Katharina Auchter,Alexander Zesar,Klemens Karl Heinrich Schüppert. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2024-09-19.

Quantum illumination using an ion trap

Номер патента: WO2022234274A1. Автор: Jose Luis Verdu Galiana,Frances CRIMIN,Irene MARZOLI. Владелец: The University of Sussex. Дата публикации: 2022-11-10.

Quantum illumination using an ion trap

Номер патента: EP4334745A1. Автор: Jose Luis Verdu Galiana,Frances CRIMIN,Irene MARZOLI. Владелец: University of Sussex. Дата публикации: 2024-03-13.

Electrode fabrication and die shaping for metal-on-glass ion traps

Номер патента: WO2023081543A2. Автор: Jason Madjdi AMINI. Владелец: IonQ, Inc.. Дата публикации: 2023-05-11.

Electrode fabrication and die shaping for metal-on-glass ion traps

Номер патента: US20230034306A1. Автор: Jason Madjdi AMINI. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

Electrode fabrication and die shaping for metal-on-glass ion traps

Номер патента: WO2023081543A3. Автор: Jason Madjdi AMINI. Владелец: IonQ, Inc.. Дата публикации: 2023-06-29.

Multi-layer ion trap on shaped glass or dielectric substrate

Номер патента: WO2023205218A1. Автор: James Walker STEERE,Jonathan Albert MIZRAHI,Jeremy Matthew Sage,Jason Madjdi AMINI. Владелец: IonQ, Inc.. Дата публикации: 2023-10-26.

Electrode fabrication and die shaping for metal-on-glass ion traps

Номер патента: EP4377975A2. Автор: Jason Madjdi AMINI. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

Timing system for an ion trap quantum computer

Номер патента: EP4399654A1. Автор: Richard North. Владелец: Universal Quantum Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Active piezo stabilization of an ion trap

Номер патента: US20240159524A1. Автор: Jason Madjdi AMINI,Kai Makoto Hudek. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Timing system for an ion trap quantum computer

Номер патента: WO2023037126A1. Автор: Richard North. Владелец: Universal Quantum Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Cooling high motional states in ion trap quantum computers

Номер патента: US20210406756A1. Автор: Kenneth Wright,Jason Madjdi AMINI,Kristin Marie BECK. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

Thermal mass-flow meter and mass-flow control device using same

Номер патента: US09970801B2. Автор: Mamoru Ishii. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

High-speed density metre and mass flowmetre

Номер патента: RU2393433C2. Автор: Стенли В. СТЕФЕНСОН. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2010-06-27.

Passive heat and mass transfer system

Номер патента: US20240003631A1. Автор: Roshan Jachuck. Владелец: Advanced Technology Management Group LLC. Дата публикации: 2024-01-04.

Three-dimensional flow velocity vector, energy and mass gauge

Номер патента: US09568489B2. Автор: Xiaofeng Song,Guanglin Du,Guoping DU,Jiajia DU. Владелец: Nanjing Emperodam Co ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Heat and mass exchanger fin inserts

Номер патента: US12018898B2. Автор: Matthew Graham,Daniel A. BETTS,Matthew Tilghman. Владелец: Blue Frontier Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Heat and mass exchanger fin inserts

Номер патента: US20220390189A1. Автор: Matthew Graham,Daniel A. BETTS,Matthew Tilghman. Владелец: Blue Frontier Inc. Дата публикации: 2022-12-08.

Mass velocity and area weighted averaging fluid composition sampler and mass flow meter

Номер патента: CA2610250C. Автор: Jerome L. Kurz. Владелец: LOS ROBLES ADVERTISING Inc. Дата публикации: 2012-11-20.

Apparatus for and method of mass analysis

Номер патента: US10969319B2. Автор: Noriaki Sakai,Hideyuki Akiyama,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-04-06.

High-speed tunnel for the reading and mass encoding of rfid labels contained in a package

Номер патента: EP4089571A1. Автор: Luis Rius Pascual. Владелец: Rielec Automatizacion Industrial SL. Дата публикации: 2022-11-16.

Heat and mass transfer device

Номер патента: US4742869A. Автор: Tsuneo Yumikura,Masaki Ikeuchi,Eiichi Ozaki,Kazushige Nakao. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-05-10.

Methods for controlled adduct formation in mass analysis

Номер патента: WO2023233333A1. Автор: Yves Le Blanc,Gérard Hopfgartner,David RUSKIC. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-12-07.

Aggregate drying system with improved aggregate dryer and mass flow apparatus

Номер патента: CA1307521C. Автор: Paul E. Bracegirdle. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-09-15.

Method for improving heat and mass transfers toward and/or through a wall

Номер патента: US5540277A. Автор: Jean-Paul Gourlia,Isidore Jacubowiez. Владелец: Societe National Elf Aquitaine. Дата публикации: 1996-07-30.

Method and apparatus for continuous, gravimetric metering and mass flow determination of flowable materials

Номер патента: CA2206666A1. Автор: Hans Wilhelm HÄFNER. Владелец: Pfister GmbH. Дата публикации: 1996-06-13.

Method and apparatus for simultaneous heat and mass transfer utilizing a plurality of gas streams

Номер патента: US5020588A. Автор: James R. Beckman,Walter F. Albers. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-06-04.

Method and apparatus for monochannel simultaneous heat and mass transfer

Номер патента: CA2095027A1. Автор: James R. Beckman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-05-01.

Sample analysis apparatus

Номер патента: US20130033708A1. Автор: Tae Soo Kim,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yong Koo Lee,Seock Woo JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-02-07.

Analysis of antibody drug conjugates by bead-based affinity capture and mass spectrometry

Номер патента: CA2720124C. Автор: Surinder Kaur,Ola Saad,Keyang Xu. Владелец: Genentech Inc. Дата публикации: 2015-07-21.

Flexible liquid desiccant heat and mass transfer panels

Номер патента: WO2014210157A1. Автор: Laurence W. Bassett,Scott A. Baum,Thomas J. Hamlin,Rajeev Dhiman. Владелец: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY. Дата публикации: 2014-12-31.

Apparatus for continuously processing viscous liquids and masses

Номер патента: US5393140A. Автор: Josef A. Blach. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-02-28.

Method and apparatus for simultaneous heat and mass transfer utilizing a carrier-gas at various absolute pressures

Номер патента: WO2005056150A3. Автор: James R Beckman. Владелец: James R Beckman. Дата публикации: 2007-03-22.

Cryogenic density and mass-flow measurement system

Номер патента: US4835456A. Автор: Frederick F. Liu,Steven W. H. Chow. Владелец: QUANTUM DYNAMICS CO Inc. Дата публикации: 1989-05-30.

High-Speed Tunnel for the Reading and Mass Encoding of RFID Labels Contained in a Package

Номер патента: US20230186041A1. Автор: Luis Rius Pascual. Владелец: Rielec Automatizacion Industrial SL. Дата публикации: 2023-06-15.

Slicing machine with product parameter analysis apparatus

Номер патента: US20240149481A1. Автор: Dominik Marx. Владелец: Multivac Sepp Haggenmueller GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-09.

Blood analysis apparatus

Номер патента: US09429579B2. Автор: Takeshi Takagi,Koji Sugiyama,Tatsuo Kamata. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Syringe block for liquid analysis apparatus particularly blood analysis

Номер патента: RU2372030C2. Автор: Серж ШАМСЭКС,Энри ШАМСЭКС. Владелец: С2 Диагностик. Дата публикации: 2009-11-10.

Body information analysis apparatus and lip-makeup analysis method thereof

Номер патента: US20190065831A1. Автор: Shyh-Yong Shen,Min-Chang Chi,Eric Budiman GOSNO. Владелец: Cal Comp Big Data Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

A gas analysis apparatus and method for testing gas emissions from a manufactured product

Номер патента: WO2014171841A1. Автор: Stephen Young. Владелец: Stephen Young Ip Limited. Дата публикации: 2014-10-23.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US20210199713A1. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Fluid analysis apparatus, method for operating fluid analysis apparatus, and fluid analysis program

Номер патента: US11730384B2. Автор: Hirotaka Ito. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

A gas analysis apparatus and method for testing gas emissions from a manufactured product

Номер патента: EP2986977A1. Автор: Stephen Young. Владелец: STEPHEN YOUNG IP Ltd. Дата публикации: 2016-02-24.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20070240022A1. Автор: Makoto Shinohara,Katsuhito Nagano. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-10-11.

Reagent container and automatic analysis apparatus

Номер патента: US09776185B2. Автор: Hiroyuki Mishima,Hiroshi Ohga,Hidenori Hisano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US09618461B2. Автор: Kunio Nishi,Takao Ohara,Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Fault analysis apparatus and fault analysis method

Номер патента: US09557377B2. Автор: Takayoshi KANEOKA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-01-31.

Analysis apparatus, analysis method, and storage medium

Номер патента: US9087243B2. Автор: Yoichi Kamei. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-07-21.

Automated breath analysis apparatus and method

Номер патента: WO2024072326A1. Автор: Fang Du,Zhunan JIA. Владелец: Breathonix Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-04-04.

Distribution analysis apparatus, distribution hub setting-up support apparatus, and method

Номер патента: US20230351314A1. Автор: Michihiko YUSA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Object sampling method and image analysis apparatus

Номер патента: US20240193951A1. Автор: Cheng-Chieh Liu. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Analysis apparatus, analysis method, and storage medium

Номер патента: US20130188829A1. Автор: Yoichi Kamei. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-07-25.

Device and Method for Washing Samples in an Analysis Apparatus

Номер патента: US20080250880A1. Автор: Giacinto Zilioli,Luigi Ragaglia. Владелец: Thermo Electron SpA. Дата публикации: 2008-10-16.

Blood flow dynamic analysis apparatus and method, and magnetic resonance imaging system

Номер патента: US20100113914A1. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-06.

Queue analysis apparatus using a video analysis

Номер патента: US20220165137A1. Автор: Takashi Oya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Gas analysis apparatus

Номер патента: US20180188172A1. Автор: Alfons Dehe,Christoph Glacer,David Tumpold. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-07-05.

Monitoring device for adjusting light irradiation in particle analysis apparatus

Номер патента: US10684210B2. Автор: Masashi Nishimori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2020-06-16.

Monitoring device for adjusting light irradiation in particle analysis apparatus

Номер патента: US20190017920A1. Автор: Masashi Nishimori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Vibration analysis apparatus and vibration analysis system

Номер патента: US20240118169A1. Автор: So Yamaguchi. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Analysis apparatus, diagnostic system and analysis method for ADHD

Номер патента: US20240225504A1. Автор: Shih-Ching Yeh,Hsiao-Kuang WU. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2024-07-11.

Analysis apparatus using learned model and method therefor

Номер патента: US20200065441A1. Автор: Sangjin Lee,Jaehyeon Park,Hyunsik Kim,Jeehun Park. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Process analysis apparatus, process analysis method, and process analysis

Номер патента: US20170337378A1. Автор: Shoji Sakurai,Takumi Yamamoto,Kiyoto Kawauchi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Analysis apparatus

Номер патента: EP4234677A1. Автор: Kenichi Kitamura,Nobuhiro Hanafusa,Tomoki Sasayama,Ryuta SHIBUTANI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-30.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20190101491A1. Автор: Katsumi Nishimura,Toshio Ohta,Kyoji Shibuya,Kensuke FUKUSHIRO. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: US20060241871A1. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: ID Business Solutions Ltd. Дата публикации: 2006-10-26.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20070211852A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-09-13.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20240175070A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Keigo Mizusawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Analysis apparatus

Номер патента: US12078620B2. Автор: Shinya Matsuoka,Makoto Nogami,Shinya Ito,Daisuke Akieda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: WO2004070348A3. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: Evgueni Kolossov. Дата публикации: 2005-03-17.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: EP1590761A2. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: ID Business Solutions Ltd. Дата публикации: 2005-11-02.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: WO2004070348A2. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: ID Business Solutions Ltd. Дата публикации: 2004-08-19.

Thin film analysis apparatus and method for a curved surface

Номер патента: US20190183332A1. Автор: Aizhong Zhang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-20.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder unit therefor

Номер патента: US12092593B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Noise inflow analysis apparatus and method

Номер патента: US20240353461A1. Автор: Seongjin MUN,Mooil Chung. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Noise inflow analysis apparatus and method

Номер патента: EP4455694A1. Автор: Seongjin MUN,Mooil Chung. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Spectroscopic analysis apparatus and method of calibrating spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US09970817B2. Автор: Hirokazu Kasahara,Kazunori Sakurai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09870279B2. Автор: Takao Sakurai,Katsuro Kikuchi,Masashi Egi,Masayoshi Mase,Daisuke Tashiro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-01-16.

Golf swing analysis apparatus

Номер патента: US09821209B2. Автор: Masahiko Ueda,Kousuke Okazaki,Yuto Nakamura. Владелец: Dunlop Sports Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Boiler load analysis apparatus

Номер патента: US09816845B2. Автор: Hideo Furukawa,Osamu Higuchi,Yoshinori KINZUKA. Владелец: Miura Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Liquid delivery device and chemical analysis apparatus using liquid delivery device

Номер патента: US09797870B2. Автор: Yoshihiro Nagaoka,Nobuhiro Tsukada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-10-24.

Data communication system, data analysis apparatus, data communication method, and program product

Номер патента: US09684764B2. Автор: Hiroaki Kitano,Samik Ghosh,Yukiko Matsuoka. Владелец: SBX Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Cell analysis apparatus and cell analysis method

Номер патента: US09625388B2. Автор: Masakazu Fukuda,Masaki Ishisaka,Kazuki Kishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Blood analysis apparatus

Номер патента: US09581583B2. Автор: Yuki Ishii. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Polarization analysis apparatus

Номер патента: US09488568B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Kazuhiro Sugita,Haruka OTSUKA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Method for replacing cesium trap and cesium trap node

Номер патента: RU2763773C2. Автор: Роберт А. КОРБИН,Джон Э. ТРУА. Владелец: ТерраПауэр, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2022-01-11.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20130208274A1. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2013-08-15.

Sample analysis apparatus and sample analysis method using the same

Номер патента: US20240077507A1. Автор: Jiyun Lim,Sangyoon Shin,Seonhwa Go,Younghye Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Data analysis apparatus, data analysis method, and data analysis program

Номер патента: US20200380392A1. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-12-03.

Analysis apparatus

Номер патента: US20240175808A1. Автор: Hiroto Tanaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Program analysis apparatus, program analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20240037010A1. Автор: Norio Yamagaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US12013410B2. Автор: Akiko Tanaka,Takehiko Oonuma,Isamu Matsuda. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Data analysis apparatus, data analysis computer-readable medium, and data analysis method

Номер патента: US20240095557A1. Автор: Yuki Fujii,Masashi TATEDOKO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Sample ingredient analysis apparatus and sample ingredient analysis method using the same

Номер патента: US20240219306A1. Автор: Seong Ho Cho. Владелец: Answeray Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20230376607A1. Автор: Junpei Kamimura,Kazuhiko Isoyama,Yoshiakai SHKAE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230386616A1. Автор: Yoshio Kondo,Kazunari Yamada. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Disease analysis apparatus, disease analysis method, and computer readable medium

Номер патента: US20150332014A1. Автор: Norihito Konno,Makoto Hajiri. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2015-11-19.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US20210181224A1. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US20240118302A1. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Analysis apparatus column oven

Номер патента: US12050210B2. Автор: Makoto Nogami,Yusuke Shimizu,Daisuke Akieda,Kenichiro NISHIKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Data analysis apparatus and data analysis method

Номер патента: US20240248595A1. Автор: Shuhei Yamamoto,Takeshi Ono,Hiroaki Tsushima,Ryuji Sawada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Source code analysis apparatus

Номер патента: US11907710B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Masaki Fujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: US20220167902A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Performance analysis apparatus and performance analysis method

Номер патента: US11762562B2. Автор: Mineyoshi Masuda,Kouichi Murayama,Yosuke Himura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-09-19.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US20210190686A1. Автор: Akira Sato,Shoichi Kaneko,Chikashi Ota. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Trouble analysis apparatus

Номер патента: US8635496B2. Автор: Takashi Yoshikawa,Junichi Higuchi,Youichi Hidaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-21.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: WO1997047975A1. Автор: Hans Svankjaer Jacobsen. Владелец: Danfoss A/S. Дата публикации: 1997-12-18.

LSI analysis method, LSI analysis apparatus, and computer product

Номер патента: US20070283302A1. Автор: Hiroyuki Higuchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-12-06.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20230143409A1. Автор: Xinjun Zhang,Weiwei Yan,Fangang KONG,Shaojian LIU. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Electromagnetic signal analysis apparatus and electromagnetic signal analysis program

Номер патента: US11680896B2. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2023-06-20.

Electromagnetic signal analysis apparatus and electromagnetic signal analysis program

Номер патента: US20220128463A1. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2022-04-28.

Analysis apparatus

Номер патента: US20190101742A1. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-04-04.

Bacteria analysis apparatus, bacteria analysis method and computer program product

Номер патента: US20110076716A1. Автор: Atsushi Wada. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Particle analysis apparatus

Номер патента: US20160018314A1. Автор: Tatsuo Igushi,Motoaki Hamada. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2016-01-21.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US20200309803A1. Автор: Akiko Tanaka,Takehiko Oonuma,Isamu Matsuda. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Radionuclide analysis apparatus, radionuclide analysis method, and radionuclide analysis program

Номер патента: US20230288585A1. Автор: Takahisa Hanada. Владелец: Nihon Medi Physics Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Image analysis apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US12080057B2. Автор: Satoshi Yoshida,Shoji Nishimura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Analysis apparatus, analysis method, and non transitory storage medium

Номер патента: US20200184674A1. Автор: Haruyuki Hayashi,Yusuke Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Analysis apparatus, analysis method, and computer-readable medium

Номер патента: US20220309431A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: EP3923791A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2021-12-22.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: WO2020166413A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2020-08-20.

Analysis apparatus

Номер патента: US20050078870A1. Автор: Hisanaga Iwase. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Automatic analysis apparatus, automatic analysis method, and storage medium

Номер патента: US10859483B2. Автор: Hirotoshi Tahara,Satoru Sugita,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US12078631B2. Автор: Xinjun Zhang,Weiwei Yan,Fangang KONG,Shaojian LIU. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Biochemical analysis apparatus

Номер патента: US20020044892A1. Автор: Yoshihiro Seto,Toshimi Furuya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Subtitle information analysis apparatus and subtitle information analysis method

Номер патента: US20100310235A1. Автор: Akihito Masumura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-12-09.

Analysis apparatus, analysis method, and computer program product

Номер патента: US20210293638A1. Автор: Akira Kano,Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Image analysis apparatus and method

Номер патента: US20240273711A1. Автор: Kenji Ogawa,Eriko Takeda,Junichi Shibuya,Yoshishige OKUNO,Yuki NAKAO. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Food analysis apparatus

Номер патента: US20240102920A1. Автор: Hyun Ki Jung. Владелец: Beyond Honeycomb Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20040059507A1. Автор: Jun Nagasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20240319121A1. Автор: Yoshiyasu Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Purchase data analysis apparatus, method and storage medium

Номер патента: US20240296467A1. Автор: Yoshiaki Mizuoka,Kouta Nakata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Source code analysis apparatus and source code analysis method

Номер патента: US12099836B2. Автор: Masumi Kawakami,Makoto Ichii. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-09-24.

Information analysis apparatus, information analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240311401A1. Автор: Masaru Kawakita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20240344961A1. Автор: Xinjun Zhang,Fangang KONG,Shengxi Wang,Zhuxiang YANG. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Dynamic image analysis apparatus, recording medium, and dynamic image analysis method

Номер патента: US20240331153A1. Автор: Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-03.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20240352504A1. Автор: Xinjun Zhang,Fangang KONG,Shengxi Wang,Zhuxiang YANG. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Image analysis apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US20240362908A1. Автор: Satoshi Yoshida,Shoji Nishimura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Radiographic image analysis apparatus and recording medium

Номер патента: US20240362776A1. Автор: Satoshi Noma,Akinori Tsunomori,Masakuni UEYAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-31.

Analysis apparatus, communication system, non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12131423B2. Автор: Masaya Fujiwaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus, and method therefor

Номер патента: US12105034B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Gait analysis apparatus, gait analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US12133725B2. Автор: Katsuyuki Nagai,Hiroki TERASHIMA. Владелец: NEC Solution Innovators Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Analysis Apparatus Column Oven

Номер патента: US20240337629A1. Автор: Makoto Nogami,Yusuke Shimizu,Daisuke Akieda,Kenichiro NISHIKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Dynamic analysis apparatus and dynamic analysis system

Номер патента: US09947093B2. Автор: Koichi Fujiwara,Hitoshi Futamura,Satoshi Kasai,Sho Noji,Akinori Tsunomori. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-04-17.

Microparticle analysis apparatus to improve analytical precision based on detection of forward-scattered light

Номер патента: US09891159B2. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Magnetization analysis apparatus, magnetization analysis method, and recording medium

Номер патента: US09824168B2. Автор: Koichi Shimizu,Atsushi Furuya,Tadashi Ataka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Analysis apparatus

Номер патента: US09778148B2. Автор: Takahiro Yamada,Yasushi Hirata,Takuji Kurozumi,Heihachiro TANIGUCHI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US12146896B2. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Cell analysis apparatus and cell analysis method

Номер патента: US09733186B2. Автор: Masakazu Fukuda,Masaki Ishisaka,Kazuki Kishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Analysis apparatus

Номер патента: US09726614B2. Автор: Tatsuya Takahashi,Tomoya Kusakabe. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Analysis apparatus, analysis program, and analysis system

Номер патента: US09678325B2. Автор: Eriko Matsui,Shiori OSHIMA,Suguru Dowaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US09645100B2. Автор: Keiichi Tanaka,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09638709B2. Автор: Takaaki Nagai,Yuichi Hamada,Masaharu Shibata. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Method and analysis apparatus for measuring a cornea

Номер патента: US09615738B2. Автор: Andreas Steinmueller. Владелец: OCULUS OPTIKGERAETE GMBH. Дата публикации: 2017-04-11.

Motion analysis apparatus and motion analysis method

Номер патента: US09599635B2. Автор: Kazuo Nomura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Analysis apparatus, analysis method and analysis system

Номер патента: US09588210B2. Автор: Yasuhide Kusaka,Masashi Tsukada. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US09575083B2. Автор: Kenichi Nishigaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Cell analysis apparatus and method

Номер патента: US09530043B2. Автор: Do Hyun Nam,Dong Woo Lee,Bo Sung Ku,Yeon Sook Choi. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Gas analysis apparatus

Номер патента: US09518969B2. Автор: Shigeru Nakatani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Crystal analysis apparatus, composite charged particle beam device, and crystal analysis method

Номер патента: US09470642B2. Автор: Toshiaki Fujii,Xin Man. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Analysis apparatus, analysis system, method for managing analysis apparatus, and program

Номер патента: US20190346467A1. Автор: Yoshinari Oda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Use of il-6 antibodies and vegf traps, and fusion constructs and conjugates thereof

Номер патента: US20240209076A1. Автор: Hong Liang,Daniel Victor Perlroth,Jason Ehrlich. Владелец: Kodiak Sciences Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Trapping and manipulation of nanoparticles with light and electric field

Номер патента: US20240029912A1. Автор: Justus C. Ndukaife. Владелец: VANDERBILT UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-25.

Treatment Apparatus of Waste Water Containing Oil and Fat for Grease Trap and Grease Trap

Номер патента: US20070272603A1. Автор: Takaichi Oya. Владелец: Amano Enzyme Inc. Дата публикации: 2007-11-29.

Digital chemical analysis apparatus

Номер патента: US3748044A. Автор: M Liston. Владелец: ABBOTT LABORATORIES. Дата публикации: 1973-07-24.

Analysis system, analysis apparatus, and analysis program

Номер патента: US20240037776A1. Автор: Noriyasu Yamada,Yasuhiro MISU,Shogo Hara. Владелец: Sato Holdings Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Vegf traps and mini-traps and methods for treating ocular disorders and cancer

Номер патента: US20240124554A1. Автор: Joel Martin,Neil Stahl,William Olson,Jee Kim. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

VEGF traps and mini-traps and methods for treating ocular disorders and cancer

Номер патента: US12103960B2. Автор: Joel Martin,Neil Stahl,William Olson,Jee Kim. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Rotationally actuated magnetic bead trap and mixer

Номер патента: US09527050B2. Автор: Richard Eitel,Frances S Ligler,Peter B Howell, Jr.,Joel P Golden. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2016-12-27.

Chemical analysis apparatus

Номер патента: EP2420846A3. Автор: Charles Greensted,Eric D' Costa,Katherine Dr. Williams,Sunny Bhachoo. Владелец: ABB TECHNOLOGY AG. Дата публикации: 2015-11-11.

Analysis apparatus

Номер патента: US4055395A. Автор: Mikio Shimizu,Kenji Fukuda,Tadashi Honkawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-10-25.

Recording medium storing system analysis program, system analysis apparatus and system analysis method

Номер патента: US8156087B2. Автор: Toshihiro Shimizu,Hirokazu Iwakura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-04-10.

A control unit and a liquid container insertable in a milk analysis apparatus

Номер патента: EP3983796A1. Автор: Claus Dallerup Rasmussen,John SLAABY. Владелец: DELAVAL HOLDING AB. Дата публикации: 2022-04-20.

Controller for thermal analysis apparatus, and thermal analysis apparatus

Номер патента: US11680917B2. Автор: Susumu Ito,Ryokuhei Yamazaki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-06-20.

Controller for thermal analysis apparatus, and thermal analysis apparatus

Номер патента: US20210278353A1. Автор: Susumu Ito,Ryokuhei Yamazaki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Chemical analysis apparatus, pretreatment apparatus, and chemical analysis method

Номер патента: US10408826B2. Автор: Shinichi Taniguchi,Takahiro Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-10.

Analysis System, Analysis Apparatus, Server, and Information Processing Method

Номер патента: US20200174983A1. Автор: Keijiro Suzuki,Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Analysis system, analysis apparatus, server, and information processing method

Номер патента: EP3663765A1. Автор: Keijiro Suzuki,Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-10.

Chemical analysis apparatus, pretreatment apparatus, and chemical analysis method

Номер патента: US20180080930A1. Автор: Shinichi Taniguchi,Takahiro Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-03-22.

Method for creating, trapping and manipulating a gas bubble in liquid

Номер патента: EP2265927A2. Автор: Vladimir Dmitriev,Sergey Oshemkov,Lev Dvorkin. Владелец: Pixer Technology Ltd. Дата публикации: 2010-12-29.

Sediment traps and sky moisture accumulating and dissipating inducing technology

Номер патента: US20240060261A1. Автор: Just-Jeff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-22.

Arthropod trap and extermination method

Номер патента: AU2021297079A1. Автор: Frank Luttels. Владелец: Ctb Inc. Дата публикации: 2023-02-16.

Arthropod trap and extermination method

Номер патента: EP4171217A1. Автор: Frank Luttels. Владелец: Ctb Inc. Дата публикации: 2023-05-03.

Radial byproduct trap and filter assembly for a cooking appliance

Номер патента: US20020162833A1. Автор: John Brown,Michael Bales,Robert Whipple,Timothy Arntz. Владелец: Maytag Corp. Дата публикации: 2002-11-07.

Apparatus, systems, and methods for trapping and destroying pathogens

Номер патента: WO2024145509A1. Автор: Monzer Hourani. Владелец: Hourani Ip, Llc. Дата публикации: 2024-07-04.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US4731225A. Автор: Koichi Wakatake. Владелец: Nittec KK. Дата публикации: 1988-03-15.

Sorption analysis apparatus and method

Номер патента: US3850040A. Автор: R Camp,P Coulter,C Orr,W Hendrix. Владелец: Micromeritics Instrument Corp. Дата публикации: 1974-11-26.

Automatic chemical analysis apparatus and method

Номер патента: CA1128338A. Автор: Thomas L. Kraft,Miles G. Hossom,Howard A. Vick. Владелец: American Home Products Corp. Дата публикации: 1982-07-27.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and sample holder attaching device

Номер патента: US11835476B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Personalized content providing method based on personal multiple feature information and analysis apparatus

Номер патента: EP4006913A1. Автор: Sung Woo YANG. Владелец: Ngenebio Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder and applicator therefor

Номер патента: US11874238B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: EP4067897A1. Автор: Hideyuki Mochizuki,Kazuki Masuo,Ryota Ichimura. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Analysis apparatus, analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220308023A1. Автор: Hideyuki Mochizuki,Kazuki Masuo,Ryota Ichimura. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Analysis apparatus

Номер патента: US20210382062A1. Автор: Takayuki Kei,Lucas Pelkmans,Gabriele GUT,Yohei Tsubouchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Analysys system, analysis apparatus, electronic device, analysis method, and program

Номер патента: US20140062681A1. Автор: Akira Takakura,Keisuke Tsubata,Yuji OHGI. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

Component Analysis Apparatus and Component Analysis Method

Номер патента: US20230400424A1. Автор: Yoshiki Yonamoto. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20120046888A1. Автор: Koichi Shimizu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Personalized content providing method based on personal multiple feature information and analysis apparatus

Номер патента: US20220165392A1. Автор: Sung Woo YANG. Владелец: Ngenebio Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Machine learning model-based essential gene identification method and analysis apparatus

Номер патента: US20220367008A1. Автор: Kiwon Jang,Dae Yeon Cho,Jung Kyoon Choi. Владелец: Pentamedix Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Personalized content providing method based on personal multiple feature information and analysis apparatus

Номер патента: AU2021269412A1. Автор: Sung Woo YANG. Владелец: Ngenebio Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-09.

Analysis apparatus

Номер патента: US11971416B2. Автор: Takayuki Kei,Lucas Pelkmans,Gabriele GUT,Yohei Tsubouchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Problem information analysis program, problem information analysis apparatus and problem information analysis method

Номер патента: US7546279B2. Автор: Takahiro Saito. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-06-09.

Injection valve for an analysis apparatus

Номер патента: US12007034B2. Автор: Gilles COUCHOU-MEILLOT. Владелец: TotalEnergies Onetech SAS. Дата публикации: 2024-06-11.

Blood analysis apparatus and setting method of measurement position in blood analysis apparatus

Номер патента: US8248586B2. Автор: Mamoru Tomita. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2012-08-21.

Machine learning model-based essential gene identification method and analysis apparatus

Номер патента: EP3998611A1. Автор: Kiwon Jang,Dae Yeon Cho,Jung Kyoon Choi. Владелец: Pentamedix Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-18.

Methods for treating anemia using an actriib ligand trap and fedratinib

Номер патента: WO2021211418A1. Автор: Steve Ritland,Abderrahmane LAADEM,Jay T. BACKSTROM. Владелец: Celgene Corporation. Дата публикации: 2021-10-21.

Elimination of traps and atomicity in thread synchronization

Номер патента: WO2000033195A9. Автор: William N Joy,Marc Tremblay,James M O'connor. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2002-08-29.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US5132995A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1992-07-21.

End-tidal gas analysis apparatus for respirators

Номер патента: US3910261A. Автор: Charles W Ragsdale,James Weigl. Владелец: Bourns Inc. Дата публикации: 1975-10-07.

Foam analysis apparatus

Номер патента: EP2950081A1. Автор: Florian WESER. Владелец: Kruess GmbH. Дата публикации: 2015-12-02.

Crystal for an X-ray analysis apparatus

Номер патента: US4780899A. Автор: Cornelis L. Adema,Cornelis L. Alting,Albert Huizing,Wilhelmus H. J. M. Gevers. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

Boiler load analysis apparatus

Номер патента: CA2901936C. Автор: Hideo Furukawa,Osamu Higuchi,Yoshinori KINZUKA. Владелец: Miura Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: US20230342907A1. Автор: Kimito Katsuyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Multiple regression analysis apparatus and multiple regression analysis method

Номер патента: US11790277B2. Автор: Takahiro Tsubouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US11860179B2. Автор: Ayaka Hashimoto,Takenori Okusa,Kazunori Yamazawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Analysis apparatus

Номер патента: EP3922973A1. Автор: Takayuki Kei,Lucas Pelkmans,Gabriele GUT,Yohei Tsubouchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-12-15.

Pipe network analysis apparatus, pipe network analysis method, and storage medium

Номер патента: US20170308635A1. Автор: Yuichi Nakamura,Takahiro Kumura,Manabu Kusumoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Analysis apparatus, analysis system, analysis program, and analysis method

Номер патента: US20240046443A1. Автор: Tomoya Okazaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-02-08.

Gas analysis apparatus, program for gas analysis apparatus, and gas analysis method

Номер патента: US20190017927A1. Автор: Motonobu Takahashi. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and sample holder

Номер патента: US11846594B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Automatic Analysis Apparatus

Номер патента: US20190145997A1. Автор: Taku Sakazume,Tatsuya Fukugaki,Katsuhiro Kambara,Yukinori Sakashita,Yoshihiro KABE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Sample holder for single-crystal X-ray structure analysis apparatus, sample holder unit, and soaking method therefor

Номер патента: US11821855B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Flow analysis apparatus and method therefor

Номер патента: US20200065448A1. Автор: Sangjin Lee,Jaehyeon Park,Hyunsik Kim,Jeehun Park. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Automation cost analysis apparatus, automation cost analysis method and program

Номер патента: EP4064157A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-28.

Spectroscopic analysis apparatus, spectroscopic analysis method, and computer readable medium

Номер патента: US20150226608A1. Автор: Minoru Asogawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Sample acquiring device holder for a housing of an analysis apparatus

Номер патента: ZA202002317B. Автор: Jönsson Patrik,WAHLQVIST Caroline,WERNERSSON Ola. Владелец: HemoCue AB. Дата публикации: 2023-10-25.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20080013681A1. Автор: Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-01-17.

Automatic analysis apparatus and method of controlling automatic analysis apparatus

Номер патента: US11828765B2. Автор: Makoto Asakura,Tamami Kaneda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Single-crystal x-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder unit therefor

Номер патента: US20240027373A1. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Factor analysis apparatus, factor analysis method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20190050460A1. Автор: Kohei Maruchi,Masatake Sakuma,Sayaka AKIYAMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US7428293B2. Автор: Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-09-23.

Blood flow dynamic analysis apparatus, method of blood flow dynamic analysis, and magnetic resonance imaging system

Номер патента: US20100274119A1. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-10-28.

Data analysis apparatus, method, and computer readable method

Номер патента: US20220043888A1. Автор: Florian BEYE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Vehicle anomaly analysis apparatus

Номер патента: US11725726B2. Автор: Atsushi Tabata,Koichi Okuda,Kota Fujii,Tooru Matsubara,Hiromasa TATSUSHIRO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Operation analysis apparatus, operation analysis method, and computer program product

Номер патента: US20130246677A1. Автор: Kenichi Ozawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-19.

Analysis apparatus, analysis method, and interference measurement system

Номер патента: US20210102802A1. Автор: Shimpei Matsuura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: US20240127570A1. Автор: Akimichi ICHINOSE,Taro HATSUTANI. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Electrolyte analysis apparatus

Номер патента: US20230032886A1. Автор: Haruyoshi Yamamoto,Yuichi Iwase,Takushi Miyakawa,Takahiro Kumagai,Tetsuji Kawahara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Electrolyte analysis apparatus

Номер патента: EP4099006A1. Автор: Haruyoshi Yamamoto,Yuichi Iwase,Takushi Miyakawa,Takahiro Kumagai,Tetsuji Kawahara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Analysis apparatus provided with a plurality of chromatographic apparatuses

Номер патента: US11959895B2. Автор: Makoto Nogami,Takayuki SUGIME,Daisuke Akieda,Izumi Ogata. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: US20220309815A1. Автор: Yuya Hamaguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Defect Analysis Apparatus, Program, and Defect Analysis Method

Номер патента: US20230259447A1. Автор: Yasufumi Suzuki,Masumi Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-08-17.

Thermal analysis apparatus and control software for thermal analysis apparatus

Номер патента: US20240068876A1. Автор: Yoshinobu Hosoi,Koichiro Noritake. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Data analysis apparatus, data analysis method, method of generating trained model, system, and program

Номер патента: US20230351161A1. Автор: Shiori NAGAI,Haodong QIU. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Analysis apparatus, inspection system, and learning apparatus

Номер патента: US20240005473A1. Автор: Takehiko Sashida. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-04.

Non-contact topographical analysis apparatus and method thereof

Номер патента: EP1137929A1. Автор: Zsolt John Laczik. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2001-10-04.

Ball behavior analysis apparatus

Номер патента: US20210325426A1. Автор: Masanobu Yoshida,Tsuyoshi Ito,Jiro Mori,Kuniyasu Horiuchi,Masahide Onuki,Junya Tsutsumi. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Bio-signal analysis apparatus using machine learning and method therefor

Номер патента: EP3689228A1. Автор: Chang Ki JEONG,Sung Ho Han,Hee Sun HONG. Владелец: Olive Healthcare Inc. Дата публикации: 2020-08-05.

Analysis apparatus, analysis method and computer readable medium

Номер патента: US20220308561A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Automatic Analysis Apparatus

Номер патента: US20200378994A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Takeshi Ishida,Koshin Hamasaki,Hisashi YABUTANI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Image analysis model adjustment method and image analysis apparatus

Номер патента: US20240144636A1. Автор: Shu-Shu Chiu. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Sample acquiring device holder for a housing of an analysis apparatus

Номер патента: US12007404B2. Автор: Patrik Jönsson,Caroline Wahlqvist,Ola WERNERSSON. Владелец: HemoCue AB. Дата публикации: 2024-06-11.

Image analysis apparatus and image analysis method

Номер патента: US20190162666A1. Автор: Yuki AKASAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Diabetic foot analysis apparatus, and diabetic foot management system

Номер патента: US20240115191A1. Автор: Ji Ung Park,Chan Yeong Heo,Tai Myoung CHUNG,Min Ha CHOI. Владелец: Hippo T&c Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Analysis apparatus, analysis method, and interference measurement system

Номер патента: US20210102800A1. Автор: Shimpei Matsuura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: EP3719503A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Takeshi Ishida,Koshin Hamasaki,Hisashi YABUTANI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-10-07.

Automatic immunity analysis apparatus with magnetic particle separation

Номер патента: US5183638A. Автор: Koichi Wakatake. Владелец: Mitsui Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 1993-02-02.

Automated multiple-purpose chemical-analysis apparatus

Номер патента: US4325910A. Автор: Michael Jordan. Владелец: Technicraft Inc. Дата публикации: 1982-04-20.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US4647432A. Автор: Koichi Wakatake. Владелец: Japan Tectron Instruments Corp. Дата публикации: 1987-03-03.

X-Ray analysis apparatus having an adjustable stray radiation slit

Номер патента: US4535469A. Автор: Cornelis G. Brandt. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1985-08-13.

Speech analysis apparatus, speech analysis method and computer program

Номер патента: US20090030690A1. Автор: Keiichi Yamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Syntactic analysis apparatus

Номер патента: US5487000A. Автор: Masanori Takahashi,Tadashi Nagano,Hideko Mori,Masaki Kiyono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 1996-01-23.

Nozzle-type analysis apparatus

Номер патента: US5478526A. Автор: Tadashi Sakai,Hitoshi Yagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1995-12-26.

Audio analysis apparatus

Номер патента: US8853516B2. Автор: Sebastian Streich,Keita Arimoto,Bee Suan Ong. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2014-10-07.

Fluorescent spectral analysis apparatus

Номер патента: US4675529A. Автор: Takashi Kushida. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-23.

Method for detecting defects in measurement means of biochemical analysis apparatuses

Номер патента: US5151755A. Автор: Shunichi Seto. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1992-09-29.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: GB1464035A. Автор: . Владелец: Forces Armees Francaises. Дата публикации: 1977-02-09.

X-ray analysis apparatus comprising an adjustable slit diaphragm

Номер патента: US5115460A. Автор: Roelof De Lange. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1992-05-19.

Constant-temperature air type automatic analysis apparatus

Номер патента: US5133936A. Автор: Hiroshi Hashimoto,Hajime Betsui,Hiroshi Umetsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1992-07-28.

Fluid analysis apparatus

Номер патента: GB1339080A. Автор: . Владелец: Instrumentation Laboratory Co. Дата публикации: 1973-11-28.

Blood flow dynamic analysis apparatus, magnetic resonance imaging system and program

Номер патента: US8285360B2. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: GE Medical Systems Global Technology Co LLC. Дата публикации: 2012-10-09.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP1895292A2. Автор: Toshiyuki Kato,Akito Sasaki,Kunio Nishi,Keiichi Morikawa,Takao Ohara,Yuji Tsuji,Aya Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-05.

Specimen analysis apparatus

Номер патента: EP3428652A3. Автор: Yutaka Dejima. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-23.

Data analysis apparatus, method and system

Номер патента: US20220188307A1. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-06-16.

Automatic analysis apparatus used for timing blood coagulation

Номер патента: CA2334759A1. Автор: Alain Rousseau. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-12-16.

Structural load analysis apparatus

Номер патента: US5044206A. Автор: Graham R. Williams. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-09-03.

Flow-through analysis apparatus

Номер патента: GB2064779A. Автор: . Владелец: Dr Eduard Fresenius Chemisch Pharmazeutische Industrie KG. Дата публикации: 1981-06-17.

Golf swing analysis apparatus and method

Номер патента: US5823878A. Автор: Christian M. Welch. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-10-20.

Sponge irrigation system for automatic analysis apparatus

Номер патента: US3981041A. Автор: John G. Atwood,Lucian C. Ducret. Владелец: Perkin Elmer Corp. Дата публикации: 1976-09-21.

Sample holder unit for single-crystal X-ray structure analysis apparatus

Номер патента: US11921060B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Analysis apparatus

Номер патента: EP4220125A2. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2023-08-02.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US11808721B2. Автор: Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Blood state analysis apparatus, blood state analysis system, blood state analysis method, and program

Номер патента: US11899008B2. Автор: MarcAurele Brun,Yoshihito Hayashi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Analysis apparatus for analyzing a gas sample

Номер патента: US20170115264A1. Автор: Christian Kuhn,Rolf SCHIFFLER,Daniel SCHIMANEK. Владелец: SICK AG. Дата публикации: 2017-04-27.

Analysis apparatus

Номер патента: EP4220125A3. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Colony analysis apparatus for determining contamination level of food subject to microbial collection

Номер патента: US20230235258A1. Автор: Sung Yong Kang. Владелец: Tritonnet Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Specimen analysis apparatus, specimen analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11835509B2. Автор: Ken Ioka. Владелец: Evident Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

State of consciousness analysis apparatus, state of consciousness analysis program, and observation system

Номер патента: EP4311479A1. Автор: Atsushi Tabata,Yuma Nambu. Владелец: Cross Sync Inc. Дата публикации: 2024-01-31.

Document analysis apparatus, document analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220164522A1. Автор: Ayako HOSHINO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-05-26.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus, and method therefor

Номер патента: US11874204B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Behavior analysis apparatus and behavior analysis method

Номер патента: US20180144482A1. Автор: Toshio Kamimura,Yasuyuki Mimatsu,Akinobu Watanabe,Yuuichi NONAKA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-24.

Data analysis apparatus, data analysis method, and storage medium

Номер патента: US20240085899A1. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Sound analysis apparatus, sound analysis method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: EP3627357A1. Автор: Yuko Ito,Hiroki Yoshino. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-25.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US11885826B2. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Medical image analysis apparatus, medical image analysis method, and medical image analysis program

Номер патента: US20240029251A1. Автор: Akimichi ICHINOSE. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Analysis apparatus, analysis method, and computer program product

Номер патента: US20220083713A1. Автор: Hideaki Uehara,Akira Kano,Kenji Hirohata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Electrocardiogram analysis apparatus and electrocardiogram system

Номер патента: US11576602B2. Автор: Akira Mizuta,Tsuneo TAKAYANAGI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2023-02-14.

Data analysis apparatus, data analysis method, and recording medium

Номер патента: US20180307969A1. Автор: Takuma Shibahara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-25.

Crystal analysis apparatus, composite charged particle beam device, and crystal analysis method

Номер патента: US20150226684A1. Автор: Toshiaki Fujii,Xin Man. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Ophthalmologic information analysis apparatus and ophthalmologic information analysis program

Номер патента: US20220000361A1. Автор: Tetsuya Kano,Yukihiro Higuchi,Ryosuke Shiba. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Analysis apparatus and analysis method using particle method

Номер патента: US20170241883A1. Автор: Ryosuke Takahashi. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-24.

Importance analysis apparatus, method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20220076049A1. Автор: Kentaro Takagi,Kouta Nakata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Event analysis apparatus, event analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20140012803A1. Автор: Takao Kawai,Satoshi Nakazawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-09.

Dynamic image analysis apparatus and recording medium

Номер патента: US20230394657A1. Автор: Sho Noji. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-12-07.

Image analysis apparatus, image analysis system, and storage medium

Номер патента: US11730907B2. Автор: Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-08-22.

Analysis Method, Analysis Apparatus, and Computer Readable Medium

Номер патента: US20210125115A1. Автор: Tetsuya Eda,Takehiro Kusumi,Takeru Nitta,Eri Mashiko. Владелец: JSOL Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

People stream analysis method, people stream analysis apparatus, and people stream analysis system

Номер патента: US20190019019A1. Автор: Jun Ozawa,Yuri NISHIKAWA. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Magnetization analysis apparatus, magnetization analysis method, and recording medium

Номер патента: US20160048617A1. Автор: Koichi Shimizu,Atsushi Furuya,Tadashi Ataka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-02-18.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20130208275A1. Автор: Yuji Ikeda,Ryoji Turuoka. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2013-08-15.

Single-crystal x-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder unit therefor

Номер патента: US11802844B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Document image analysis apparatus, document image analysis method and program thereof

Номер патента: US11900644B2. Автор: Simona Maggio,Alois DE LA COMBLE,Ken PREPIN. Владелец: Rakuten Group Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Dynamic image analysis apparatus, dynamic image analysis method, and storage medium

Номер патента: US11810295B2. Автор: Kenichi Yanagisawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-11-07.

Trouble analysis apparatus

Номер патента: US20110145647A1. Автор: Takashi Yoshikawa,Junichi Higuchi,Youichi Hidaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium

Номер патента: US20200016464A1. Автор: Kosei Yamashita,Hideyuki Matsunaga. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-01-16.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US6496565B2. Автор: Mitsuo Naito,Yoshiki Matoba. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-17.

Device analysis apparatus, device analysis method, and storage medium

Номер патента: US20230297644A1. Автор: Takeshi Takeuchi,Tomoharu Takeuchi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Data analysis apparatus, method and system

Номер патента: US11775512B2. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20200302593A1. Автор: Nobuaki Takahashi,Yasuo Namioka,Hideki Yasui,Masaya MOTOKUBOTA,Yuki YATSUSHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Image analysis apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US20230267727A1. Автор: Satoshi Yoshida,Shoji NISHIIMURA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: EP4239342A3. Автор: Ayaka Hashimoto,Takenori Okusa,Kazunori Yamazawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Analysis apparatus, analysis method and program

Номер патента: US20230154628A1. Автор: Hiroyuki Toda,Takeshi Kurashima,Tomu TOMINAGA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-05-18.

Single-crystal x-ray structure analysis apparatus, and method therefor

Номер патента: US20240019385A1. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Object motion analysis apparatus, object motion analysis method, and storage medium

Номер патента: US20140200833A1. Автор: Masaki Kazama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-07-17.

Sound analysis apparatus, sound analysis method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: US20200075037A1. Автор: Yuko Ito,Hiroki Yoshino. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Heat-and-mass exchanger

Номер патента: RU2495699C1. Автор: Геннадий Владимирович Сироткин. Владелец: Геннадий Владимирович Сироткин. Дата публикации: 2013-10-20.

Heat-and-mass exchanger

Номер патента: RU2095125C1. Автор: Борис Алексеевич Зимин. Владелец: Борис Алексеевич Зимин. Дата публикации: 1997-11-10.

Heat and mass exchange apparatus

Номер патента: RU2275224C2. Автор: Владимир Иванович Бердников. Владелец: Владимир Иванович Бердников. Дата публикации: 2006-04-27.

Method for monitoring dryness, enthalpy, thermal and mass flux of wet steam

Номер патента: RU2459198C1. Автор: . Владелец: Коваленко Александр Васильевич. Дата публикации: 2012-08-20.

Heat- and mass-transfer apparatus

Номер патента: RU2081659C1. Автор: Борис Евсеевич Сельский. Владелец: Борис Евсеевич Сельский. Дата публикации: 1997-06-20.

STROBO THIN FILM CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS AND ASSAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003659A1. Автор: Yoo Jae Chern. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Heat and mass exchanger

Номер патента: RU2146227C1. Автор: Б.А. Зимин,О.М. Кувшинов. Владелец: Кувшинов Олег Михайлович. Дата публикации: 2000-03-10.

Heat-and-mass transfer apparatus

Номер патента: RU2046627C1. Автор: Борис Евсеевич Сельский. Владелец: Борис Евсеевич Сельский. Дата публикации: 1995-10-27.

Heat-and-mass transfer apparatus

Номер патента: RU2046626C1. Автор: Борис Евсеевич Сельский. Владелец: Борис Евсеевич Сельский. Дата публикации: 1995-10-27.

Procedure measuring level and mass of liquid media in tanks

Номер патента: RU2194953C2. Автор: Э.А. Артемьев,В.И. Камнев. Владелец: Камнев Василий Иванович. Дата публикации: 2002-12-20.

MOLE TRAP AND METHOD OF OPERATION THEREFOR

Номер патента: US20120000114A1. Автор: Clark Stewart,Ficken Leonard. Владелец: SENORET CHEMICAL COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

An Attachment for Safes and Similar Receptacles to Trap and Secure Burglars

Номер патента: GB190205161A. Автор: Martin Elmer. Владелец: Individual. Дата публикации: 1902-06-12.

An Improved Combined Steam Trap and Relief Valve.

Номер патента: GB190607835A. Автор: Walter Jeffery. Владелец: Individual. Дата публикации: 1907-02-21.