Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Analysis apparatus

Номер патента: EP4234677A1
Опубликовано: 30-08-2023
Автор(ы): Kenichi Kitamura, Nobuhiro Hanafusa, Ryuta SHIBUTANI, Tomoki Sasayama
Принадлежит: Shimadzu Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Incubation device and methods for automatic movement of a reaction vessel therein for an automatic analysis apparatus

Номер патента: US09804180B2. Автор: Thorsten Michels,Holger Pufahl. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS PRODUCTS GMBH. Дата публикации: 2017-10-31.

Fluid connection device for biological analysis apparatuses, suitable fluidic component and biological analysis device equipped with same

Номер патента: US09731295B2. Автор: Henri Champseix. Владелец: BIT Group France. Дата публикации: 2017-08-15.

Automatic Chemical Analysis Apparatus and Electrical Impedance Spectrometry Device

Номер патента: US20230228783A1. Автор: Hajime Kato,Yoichiro Suzuki,Tetsuji Kawahara,Syotaro SAGAWA,Gorou YOSHIDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Constant-temperature air type automatic analysis apparatus

Номер патента: US5133936A. Автор: Hiroshi Hashimoto,Hajime Betsui,Hiroshi Umetsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1992-07-28.

FLUIDIC CONNECTION DEVICE FOR BIOLOGICAL ANALYSIS APPARATUS, FLUIDIC COMPONENT ADAPTED AND BIOLOGICAL ANALYSIS APPARATUS THUS EQUIPPED THEREFOR;

Номер патента: FR2991055A1. Автор: Henri Champseix. Владелец: C2 Diagnostics SA. Дата публикации: 2013-11-29.

Cartridge for gene analysis apparatus and gene analysis apparatus comprising same

Номер патента: WO2019035547A1. Автор: 김근영. Владелец: (주)오상헬스케어. Дата публикации: 2019-02-21.

Reagent container and automatic analysis apparatus

Номер патента: US09776185B2. Автор: Hiroyuki Mishima,Hiroshi Ohga,Hidenori Hisano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Sample acquiring device holder for a housing of an analysis apparatus

Номер патента: ZA202002317B. Автор: Jönsson Patrik,WAHLQVIST Caroline,WERNERSSON Ola. Владелец: HemoCue AB. Дата публикации: 2023-10-25.

Sample acquiring device holder for a housing of an analysis apparatus

Номер патента: US12007404B2. Автор: Patrik Jönsson,Caroline Wahlqvist,Ola WERNERSSON. Владелец: HemoCue AB. Дата публикации: 2024-06-11.

Case for specimen analyzing kit, kit for specimen analyzing, specimen analysis apparatus and control method of specimen analysis apparatus

Номер патента: US09714903B2. Автор: Sung Dong Lee,Ju Pyo Hong,Ji Hun Shin,Byeong Woo Bae,Rae Ho KANG. Владелец: Osang Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Chemical analysis apparatus and analysis device

Номер патента: EP1684078A3. Автор: Hideo c/o Hitachi Ltd. Int. Prop. Grou Enoki,Hironobu c/o Hitachi Ltd. Int. Prop. Yamakawa,Kunio c/o Hitachi Ltd. Int. Prop. Group Harada,Sakuichiro c/o Hitachi Ltd. Int. Prop. Adachi,Tomonori c/o Hitachi Ltd. Int. Prop. Gr Mimura. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2011-06-15.

Method and Apparatus for Measuring a Temperature of a Fluid for Use with a Microfluidic Analysis Apparatus, and Microfluidic Analysis Apparatus Comprising an Apparatus

Номер патента: US20210060554A1. Автор: Tino Frank. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2021-03-04.

Analysis device and analysis apparatus and analysis method using the same

Номер патента: EP2214025A1. Автор: Kenji Okada,Hiroshi Saiki,Yoshiyuki Fujii,Hirofumi Sugimoto,Masaaki Kitoh,Nobuyasu Higashi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-08-04.

Sample holder unit for single-crystal X-ray structure analysis apparatus

Номер патента: US11921060B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Electronic driving circuit for driving electrodes of a microfluidic device for manipulation of particles, and corresponding analysis apparatus

Номер патента: SG11201903212YA. Автор: Gianni Medoro,Andrea Tommasi,Mauro UCELLI. Владелец: Menarini Silicon Biosystems SpA. Дата публикации: 2019-05-30.

Chemical analysis apparatus and chemical analysis method

Номер патента: EP1340535A1. Автор: Hajime Hitachi Ltd. Int. Prop. Gp. Katou,Ryo Hitachi Ltd. Int. Prop. Gp. Miyake,Hiroyasu Hitachi High-Tech. Corp. Uchida,Katsuhiro Hitachi High-Tech. Corp. Kambara,Takenori Hitachi High-Tech. Corp. Okusa,Shigenori Hitachi High-Tech. Corp. Watari,Yoichiro Hitachi High-Tech. Corp. Suzuki,Tomonori Hitachi High-Tech. Corp. Mimura,Miki Hitachi High-Tech. Corp. Taki,Akira Hitachi High-Tech. Corp. Inagaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2003-09-03.

Chemical analysis apparatus and chemical analysis method

Номер патента: US8658102B2. Автор: Akira Inagaki,Hiroyasu Uchida,Ryo Miyake,Yoichiro Suzuki,Tomonori Mimura,Miki Taki,Shigenori Watari,Hajime Katou,Takenori Okusa,Katsuhiro Kambara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-02-25.

Nucleic acid analysis apparatus, microchip for nucleic acid analysis, and method for mounting microchip in nucleic acid analysis apparatus

Номер патента: US09925540B2. Автор: Toshio Watanabe,Masayoshi Akita,Takanori Anaguchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Analysis apparatus column oven

Номер патента: US12050210B2. Автор: Makoto Nogami,Yusuke Shimizu,Daisuke Akieda,Kenichiro NISHIKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Analysis Apparatus Column Oven

Номер патента: US20240337629A1. Автор: Makoto Nogami,Yusuke Shimizu,Daisuke Akieda,Kenichiro NISHIKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Chemical analysis apparatus, pretreatment apparatus, and chemical analysis method

Номер патента: US10408826B2. Автор: Shinichi Taniguchi,Takahiro Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-10.

Chemical analysis apparatus, pretreatment apparatus, and chemical analysis method

Номер патента: US20180080930A1. Автор: Shinichi Taniguchi,Takahiro Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-03-22.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US20210181224A1. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US20240118302A1. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Sample analysis apparatus and sample analysis method using the same

Номер патента: US20240077507A1. Автор: Jiyun Lim,Sangyoon Shin,Seonhwa Go,Younghye Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Analysis apparatus for test chip and operation method for analysis apparatus, and analysis system

Номер патента: EP4144827A4. Автор: JING Yu,Qiong Wu,Mengjun Hou,Zhukai LIU,Youxue WANG,Kai GENG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-11.

Analysis method, analysis substrate, analysis kit, and analysis apparatus

Номер патента: WO2021048636A1. Автор: Mitsuko Ishihara,Nao Kobayashi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2021-03-18.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US11885826B2. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: EP2423679B1. Автор: Koji Sugiyama,Yasunori Shiraki,Daisuke Matsumoto,Satoshi Yonehara. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2021-07-14.

Method for formation of reagent layer in analysis apparatus, method for manufacture of analysis apparatus, and analysis apparatus

Номер патента: WO2008050566A1. Автор: Kotaro Shinozaki. Владелец: ARKRAY, INC.. Дата публикации: 2008-05-02.

Optical analysis method and optical analysis apparatus using microchip, and processing apparatus for optical analysis

Номер патента: JP6086755B2. Автор: 雄司 興,金市 森田. Владелец: Kyushu University NUC. Дата публикации: 2017-03-01.

Method and Apparatus for Measuring a Temperature of a Fluid for Use with a Microfluidic Analysis Apparatus, and Microfluidic Analysis Apparatus Comprising an Apparatus

Номер патента: US20210060554A1. Автор: Frank Tino. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

ANALYSIS METHOD, ANALYSIS SUBSTRATE, ANALYSIS KIT, AND ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20210181216A1. Автор: Ishihara Mitsuko,KOBAYASHI Nao. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2021-06-17.

ANALYSIS CELL, ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS APPARATUS, AND ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20190160466A1. Автор: Yamagata Yutaka,Tanaka Yuki,Usui Kengo,Aoki Hiroyoshi,MATSUYAMA Norihiro,MITA Kanji. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-30.

ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS APPARATUS FOR IDENTIFICATION OF ANALYTES IN FLUIDS AND USE OF THE ANALYSIS DEVICE

Номер патента: US20180001319A1. Автор: Sagalés Mañas Juan,GUERRERO GONZALEZ Edgar. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-04.

Analysis device, analysis apparatus for identification of analytes in fluids and use of the analysis device

Номер патента: EP3234557A1. Автор: Juan Sagales Manas,Edgar GUERRERO GONZALEZ. Владелец: Medcom Advance SA. Дата публикации: 2017-10-25.

Sample analysis apparatus

Номер патента: US20130033708A1. Автор: Tae Soo Kim,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yong Koo Lee,Seock Woo JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-02-07.

Analysis apparatus for high energy particle and analysis method using the same

Номер патента: US9182502B2. Автор: Moon Youn Jung,Dong-Ho Shin,Seunghwan Kim,Dong Hoon SONG,Nam Soo Myung,Hwang Woon LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2015-11-10.

Data analysis apparatus and data analysis method

Номер патента: US20240248595A1. Автор: Shuhei Yamamoto,Takeshi Ono,Hiroaki Tsushima,Ryuji Sawada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20230143409A1. Автор: Xinjun Zhang,Weiwei Yan,Fangang KONG,Shaojian LIU. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US12078631B2. Автор: Xinjun Zhang,Weiwei Yan,Fangang KONG,Shaojian LIU. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Biochemical analysis apparatus

Номер патента: US20020044892A1. Автор: Yoshihiro Seto,Toshimi Furuya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Analysis apparatus, analysis system, method for managing analysis apparatus, and program

Номер патента: US20190346467A1. Автор: Yoshinari Oda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09638709B2. Автор: Takaaki Nagai,Yuichi Hamada,Masaharu Shibata. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Analysis System, Analysis Apparatus, Server, and Information Processing Method

Номер патента: US20200174983A1. Автор: Keijiro Suzuki,Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Analysis system, analysis apparatus, server, and information processing method

Номер патента: EP3663765A1. Автор: Keijiro Suzuki,Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-10.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US20200309803A1. Автор: Akiko Tanaka,Takehiko Oonuma,Isamu Matsuda. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Analysis apparatus

Номер патента: US20240175808A1. Автор: Hiroto Tanaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US12013410B2. Автор: Akiko Tanaka,Takehiko Oonuma,Isamu Matsuda. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US09575083B2. Автор: Kenichi Nishigaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

A control unit and a liquid container insertable in a milk analysis apparatus

Номер патента: EP3983796A1. Автор: Claus Dallerup Rasmussen,John SLAABY. Владелец: DELAVAL HOLDING AB. Дата публикации: 2022-04-20.

Biochemical analysis apparatus, method for correcting the results of biochemical analyses, and correction value recording medium for the same

Номер патента: US5122969A. Автор: Osamu Seshimoto,Masao Kitajima. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1992-06-16.

Automatic Analysis Apparatus

Номер патента: US20200378994A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Takeshi Ishida,Koshin Hamasaki,Hisashi YABUTANI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Analysis apparatus for high energy particle and analysis method using the same

Номер патента: US20130299706A1. Автор: Moon Youn Jung,Dong-Ho Shin,Seunghwan Kim,Dong Hoon SONG,Nam Soo Myung,Hwang Woon LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2013-11-14.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: EP3719503A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Takeshi Ishida,Koshin Hamasaki,Hisashi YABUTANI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-10-07.

Blood analysis apparatus and setting method of measurement position in blood analysis apparatus

Номер патента: US8248586B2. Автор: Mamoru Tomita. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2012-08-21.

Automatic Analysis Apparatus

Номер патента: US20190145997A1. Автор: Taku Sakazume,Tatsuya Fukugaki,Katsuhiro Kambara,Yukinori Sakashita,Yoshihiro KABE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US11860179B2. Автор: Ayaka Hashimoto,Takenori Okusa,Kazunori Yamazawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Automatic analysis apparatus and method of controlling automatic analysis apparatus

Номер патента: US11828765B2. Автор: Makoto Asakura,Tamami Kaneda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US4647432A. Автор: Koichi Wakatake. Владелец: Japan Tectron Instruments Corp. Дата публикации: 1987-03-03.

Automatic chemical analysis apparatus and method

Номер патента: CA1128338A. Автор: Thomas L. Kraft,Miles G. Hossom,Howard A. Vick. Владелец: American Home Products Corp. Дата публикации: 1982-07-27.

Automatic immunity analysis apparatus with magnetic particle separation

Номер патента: US5183638A. Автор: Koichi Wakatake. Владелец: Mitsui Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 1993-02-02.

Specimen analysis apparatus

Номер патента: EP3428652A3. Автор: Yutaka Dejima. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-23.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: EP4239342A3. Автор: Ayaka Hashimoto,Takenori Okusa,Kazunori Yamazawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: EP4239342A2. Автор: Ayaka Hashimoto,Takenori Okusa,Kazunori Yamazawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-06.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: EP3686605A1. Автор: Makoto Asakura,Mine Yamashita,Chikashi Nakai,Kazuhiro NUNOKAWA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-07-29.

Analysis apparatus

Номер патента: EP4379391A1. Автор: Hiroto Tanaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Quantitative analysis method and quantitative analysis apparatus

Номер патента: US20230146444A1. Автор: Yuki Sakamoto. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-05-11.

Base sequence analysis method, base sequence analysis apparatus, and base sequence analysis program

Номер патента: US9102978B2. Автор: Tomohiko Nakamura,Junji Kajihara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-08-11.

Base sequence analysis apparatus

Номер патента: US09976960B2. Автор: Tomohiko Nakamura,Junji Kajihara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Hydrocarbon separation and analysis apparatus and methods

Номер патента: US09353317B2. Автор: John F. Schabron,Joseph F. Rovani, Jr.,Ryan B. Boysen,Eric W. Kalberer. Владелец: University of Wyoming Research Corp (dba Western Research Institute). Дата публикации: 2016-05-31.

Nucleic acid analysis apparatus, microchip for nucleic acid analysis, and method for mounting microchip in nucleic acid analysis apparatus

Номер патента: US20150251184A1. Автор: Toshio Watanabe,Masayoshi Akita,Takanori Anaguchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Base sequence analysis apparatus

Номер патента: US20150308959A1. Автор: Tomohiko Nakamura,Junji Kajihara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-10-29.

Noise inflow analysis apparatus and method

Номер патента: EP4455694A1. Автор: Seongjin MUN,Mooil Chung. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: WO1997047975A1. Автор: Hans Svankjaer Jacobsen. Владелец: Danfoss A/S. Дата публикации: 1997-12-18.

Digital chemical analysis apparatus

Номер патента: US3748044A. Автор: M Liston. Владелец: ABBOTT LABORATORIES. Дата публикации: 1973-07-24.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US4731225A. Автор: Koichi Wakatake. Владелец: Nittec KK. Дата публикации: 1988-03-15.

Automatic analysis apparatus used for timing blood coagulation

Номер патента: CA2334759A1. Автор: Alain Rousseau. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-12-16.

Flow-through analysis apparatus

Номер патента: GB2064779A. Автор: . Владелец: Dr Eduard Fresenius Chemisch Pharmazeutische Industrie KG. Дата публикации: 1981-06-17.

Syringe block for liquid analysis apparatus particularly blood analysis

Номер патента: RU2372030C2. Автор: Серж ШАМСЭКС,Энри ШАМСЭКС. Владелец: С2 Диагностик. Дата публикации: 2009-11-10.

Contaminant analysis apparatus and water quality monitoring system

Номер патента: US20240264194A1. Автор: Jinhee Park,Eunju Park,Yeontae Kim,Joengseok Kim,Jinseop Lee,Bongkyun Jin,Eungsun Lee,Hyekyoung Moon,Hyangbong Lee,Hyunyul Park,Seoungkyo Yoo. Владелец: Withtech Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Blood analysis apparatus

Номер патента: US09581583B2. Автор: Yuki Ishii. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Automatic analysis apparatus

Номер патента: US11740254B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Koshin Hamasaki,Takaaki Hagiwara,Johannes Stoeckel,Guenter Ziegler,Michael Kuehnl,Michaela Windfuhr,Yuichiro Ota,Heike GUGGEMOS. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-29.

Method for pipetting liquids in an automated analysis apparatus

Номер патента: US09945882B2. Автор: Holger Pufahl,Matthias Korn,David Solbach,Christian Verhalen,Kristin Moser. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS PRODUCTS GMBH. Дата публикации: 2018-04-17.

Analysis apparatus

Номер патента: US09778148B2. Автор: Takahiro Yamada,Yasushi Hirata,Takuji Kurozumi,Heihachiro TANIGUCHI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Chemical analysis apparatus

Номер патента: EP2420846A3. Автор: Charles Greensted,Eric D' Costa,Katherine Dr. Williams,Sunny Bhachoo. Владелец: ABB TECHNOLOGY AG. Дата публикации: 2015-11-11.

Nozzle-type analysis apparatus

Номер патента: US5478526A. Автор: Tadashi Sakai,Hitoshi Yagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1995-12-26.

Sponge irrigation system for automatic analysis apparatus

Номер патента: US3981041A. Автор: John G. Atwood,Lucian C. Ducret. Владелец: Perkin Elmer Corp. Дата публикации: 1976-09-21.

Adaptable X-ray analysis apparatus

Номер патента: US12031925B2. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-07-09.

Adaptable x-ray analysis apparatus

Номер патента: CA3172362A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-03-01.

Analysis system, auxiliary analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230326730A1. Автор: Hung-Jen Chen,Yu-Teh Chung,Yen-An Tsai. Владелец: MATERIALS ANALYSIS Tech Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: US20240298400A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-05.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: EP4425158A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-04.

Blood analysis apparatus

Номер патента: US09429579B2. Автор: Takeshi Takagi,Koji Sugiyama,Tatsuo Kamata. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

3d data analysis apparatus and 3d data analysis method

Номер патента: US20130251242A1. Автор: Shunsuke Suzuki,Atsuo Fujimaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2013-09-26.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09638729B2. Автор: Makoto Yonezawa,Yoshihiro Nishimura,Takumi Hirakawa,Seiji Morishita,Hiroyuki Maekawa,Hisahiro YAMAOKA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Analysis apparatus having a plurality of liquid chromatographs and its analysis method

Номер патента: US11982655B2. Автор: Makoto Nogami,Shinya Ito,Iwao Suzuki,Daisuke Akieda,Izumi Ogata,Masako Kawarai. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US09618461B2. Автор: Kunio Nishi,Takao Ohara,Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Particle image analysis apparatus, particle image analysis system, particle image analysis method, and program for particle image analysis apparatus

Номер патента: US20240290116A1. Автор: Yasuhiro Tatewaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Fault analysis apparatus and fault analysis method

Номер патента: US09557377B2. Автор: Takayoshi KANEOKA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-01-31.

Device and Method for Washing Samples in an Analysis Apparatus

Номер патента: US20080250880A1. Автор: Giacinto Zilioli,Luigi Ragaglia. Владелец: Thermo Electron SpA. Дата публикации: 2008-10-16.

A device and method for washing samples in an analysis apparatus

Номер патента: EP1749195A1. Автор: Giacinto Thermo Electron S.p.A. ZILIOLI,Luigi Thermo Electron S.p.A. RAGAGLIA. Владелец: Thermo Electron SpA. Дата публикации: 2007-02-07.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20190101491A1. Автор: Katsumi Nishimura,Toshio Ohta,Kyoji Shibuya,Kensuke FUKUSHIRO. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20240175070A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Keigo Mizusawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Liquid delivery device and chemical analysis apparatus using liquid delivery device

Номер патента: US09797870B2. Автор: Yoshihiro Nagaoka,Nobuhiro Tsukada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-10-24.

Cell analysis apparatus and cell analysis method

Номер патента: US09625388B2. Автор: Masakazu Fukuda,Masaki Ishisaka,Kazuki Kishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Live cell analysis apparatus, method for analyzing live cells, system for analyzing live cells and non-transitory data storage medium

Номер патента: WO2015133069A1. Автор: Kazuya Takahashi,Eriko Matsui,Tomohiro Hayakawa,Hirokazu Tatsuta. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-11.

Live cell analysis apparatus, method for analyzing live cells, system for analyzing live cells and non-transitory data storage medium

Номер патента: EP3114478A1. Автор: Kazuya Takahashi,Eriko Matsui,Tomohiro Hayakawa,Hirokazu Tatsuta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-11.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20130208274A1. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2013-08-15.

Raman analysis apparatus capable of real-time analysis under elevated temperature and pressure conditions

Номер патента: US11921047B2. Автор: Jong Hwan Oh,Seungwoo Lee,Gwang Mok KIM. Владелец: Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources KIGAM. Дата публикации: 2024-03-05.

Medical image analysis apparatus, medical image analysis method, and medical image analysis system

Номер патента: US20240153088A1. Автор: Kenji Yamane,Kazuki Aisaka,Toya Teramoto,Hiroki Danjo. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Analysis apparatus, bonding system, and analysis method

Номер патента: US20240241061A1. Автор: Yuji MIMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Spectroscopic analysis apparatus comprising a multi-chamber cuvette for fluid or gas analysis and corresponding method

Номер патента: US20240310275A1. Автор: Benjamin Hagemann,Ralf Warratz. Владелец: SICK AG. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US09645100B2. Автор: Keiichi Tanaka,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Monitoring device for adjusting light irradiation in particle analysis apparatus

Номер патента: US10684210B2. Автор: Masashi Nishimori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2020-06-16.

Monitoring device for adjusting light irradiation in particle analysis apparatus

Номер патента: US20190017920A1. Автор: Masashi Nishimori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20070211852A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-09-13.

Thin film analysis apparatus and method for a curved surface

Номер патента: US20190183332A1. Автор: Aizhong Zhang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-20.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder unit therefor

Номер патента: US12092593B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Polarization analysis apparatus

Номер патента: US09488568B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Kazuhiro Sugita,Haruka OTSUKA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US20210190686A1. Автор: Akira Sato,Shoichi Kaneko,Chikashi Ota. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20240319121A1. Автор: Yoshiyasu Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20240352504A1. Автор: Xinjun Zhang,Fangang KONG,Shengxi Wang,Zhuxiang YANG. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

A gas analysis apparatus and method for testing gas emissions from a manufactured product

Номер патента: WO2014171841A1. Автор: Stephen Young. Владелец: Stephen Young Ip Limited. Дата публикации: 2014-10-23.

A gas analysis apparatus and method for testing gas emissions from a manufactured product

Номер патента: EP2986977A1. Автор: Stephen Young. Владелец: STEPHEN YOUNG IP Ltd. Дата публикации: 2016-02-24.

Radiation detector, and X-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same

Номер патента: US09945961B2. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Sample ingredient analysis apparatus and sample ingredient analysis method using the same

Номер патента: US20240219306A1. Автор: Seong Ho Cho. Владелец: Answeray Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230386616A1. Автор: Yoshio Kondo,Kazunari Yamada. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Electromagnetic signal analysis apparatus and electromagnetic signal analysis program

Номер патента: US11680896B2. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2023-06-20.

Electromagnetic signal analysis apparatus and electromagnetic signal analysis program

Номер патента: US20220128463A1. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2022-04-28.

Bacteria analysis apparatus, bacteria analysis method and computer program product

Номер патента: US20110076716A1. Автор: Atsushi Wada. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Automatic analysis apparatus, automatic analysis method, and storage medium

Номер патента: US10859483B2. Автор: Hirotoshi Tahara,Satoru Sugita,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20240344961A1. Автор: Xinjun Zhang,Fangang KONG,Shengxi Wang,Zhuxiang YANG. Владелец: Shenzhen Mindray Animal Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus, and method therefor

Номер патента: US12105034B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Microparticle analysis apparatus to improve analytical precision based on detection of forward-scattered light

Номер патента: US09891159B2. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Cell analysis apparatus and cell analysis method

Номер патента: US09733186B2. Автор: Masakazu Fukuda,Masaki Ishisaka,Kazuki Kishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Crystal analysis apparatus, composite charged particle beam device, and crystal analysis method

Номер патента: US09470642B2. Автор: Toshiaki Fujii,Xin Man. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Gas analysis apparatus

Номер патента: US20180188172A1. Автор: Alfons Dehe,Christoph Glacer,David Tumpold. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-07-05.

Analysis apparatus

Номер патента: US12078620B2. Автор: Shinya Matsuoka,Makoto Nogami,Shinya Ito,Daisuke Akieda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Polarization analysis apparatus and method for adjusting angle of incidence or numerical aperture using aperture

Номер патента: US12066331B2. Автор: Jae Jun Lee,Mi Ta PARK. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Adaptable X-Ray Analysis Apparatus

Номер патента: US20230270394A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-08-31.

Analysis apparatus provided with a plurality of chromatographic apparatuses

Номер патента: US11959895B2. Автор: Makoto Nogami,Takayuki SUGIME,Daisuke Akieda,Izumi Ogata. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Quantitative analysis apparatus, method and program and manufacturing control system

Номер патента: US20220390394A1. Автор: Atsushi Ohbuchi,Takayuki Konya,Akihiro Himeda,Tetsuya Ozawa,Takahiro Kuzumaki,Miki Kasari. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Method of manufacturing the multi-tip probe, a multi-tip probe, and surface characteristic analysis apparatus

Номер патента: US20040074288A1. Автор: Tadashi Arai,Yoshiharu Shirakawabe,Hiroshi Takasashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-22.

Analysis apparatus

Номер патента: US20190101742A1. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-04-04.

Particle analysis apparatus

Номер патента: US20160018314A1. Автор: Tatsuo Igushi,Motoaki Hamada. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2016-01-21.

Method of manufacturing the multi-tip probe, a multi-tip probe, and surface characteristic analysis apparatus

Номер патента: US20060011830A1. Автор: Hiroshi Takahashi,Tadashi Arai,Yoshiharu Shirakawabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-19.

X-ray analysis apparatus and x-ray generation unit

Номер патента: US20210389262A1. Автор: Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Image analysis apparatus and method

Номер патента: US20240273711A1. Автор: Kenji Ogawa,Eriko Takeda,Junichi Shibuya,Yoshishige OKUNO,Yuki NAKAO. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Food analysis apparatus

Номер патента: US20240102920A1. Автор: Hyun Ki Jung. Владелец: Beyond Honeycomb Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US12111286B2. Автор: Keke WANG,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Analysis apparatus

Номер патента: US09726614B2. Автор: Tatsuya Takahashi,Tomoya Kusakabe. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Attenuated total reflection spectroscopic analysis apparatus having device for measuring specimen contact area and method of operating the same

Номер патента: US09636054B2. Автор: Sangkyu Kim,Sangyun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-02.

Gas analysis apparatus

Номер патента: US09518969B2. Автор: Shigeru Nakatani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Particle image analysis apparatus, particle image analysis system, particle image analysis method, and program for particle image analysis apparatus

Номер патента: EP4361596A1. Автор: Yasuhiro Tatewaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Injection valve for an analysis apparatus

Номер патента: US12007034B2. Автор: Gilles COUCHOU-MEILLOT. Владелец: TotalEnergies Onetech SAS. Дата публикации: 2024-06-11.

Fluorescent X-ray analysis apparatus for specimen analysis, consists of sub-computers connected to main computer through network, by which offline specimen analysis operation is performed

Номер патента: DE10051878A1. Автор: Hiroaki Kita. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2002-05-08.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder and applicator therefor

Номер патента: US11874238B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Excrement analysis apparatus, analysis system, server apparatus, analysis method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230225714A1. Автор: Tomoyuki Sato,Masahiro Wakabayashi,Tsutomu Mieno,Haruhiko YAMABUCHI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Data analysis apparatus, data analysis method, method of generating trained model, system, and program

Номер патента: US20230351161A1. Автор: Shiori NAGAI,Haodong QIU. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Controller for thermal analysis apparatus, and thermal analysis apparatus

Номер патента: US11680917B2. Автор: Susumu Ito,Ryokuhei Yamazaki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-06-20.

Controller for thermal analysis apparatus, and thermal analysis apparatus

Номер патента: US20210278353A1. Автор: Susumu Ito,Ryokuhei Yamazaki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230369086A1. Автор: Ryo Saito,Masahiro Yoshidome,Akihiko Ohtsu,Yukihisa KAWADA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Analysis apparatus

Номер патента: US20210382062A1. Автор: Takayuki Kei,Lucas Pelkmans,Gabriele GUT,Yohei Tsubouchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Spectroscopic analysis apparatus, spectroscopic analysis method, and computer readable medium

Номер патента: US20150226608A1. Автор: Minoru Asogawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, control program, and recording medium

Номер патента: US20240068915A1. Автор: Shinichi Abe,Etsuro Shimizu,Daisuke Ueyama,Hanako ISHIDA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Exhaust gas analysis apparatus, exhaust gas analysis method, and correction expression creation method

Номер патента: US20200191080A1. Автор: Masahiro Nishikawa,Yosuke Kondo,Shun FUKAMI,Haruhisa MOHARA,Naoto MIZUTANO. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Analysis apparatus

Номер патента: US11971416B2. Автор: Takayuki Kei,Lucas Pelkmans,Gabriele GUT,Yohei Tsubouchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Image analysis apparatus and image analysis method

Номер патента: US20190162666A1. Автор: Yuki AKASAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Analysis apparatus having plurality of liquid chromatographs, and analysis method for same

Номер патента: EP3885763A1. Автор: Makoto Nogami,Shinya Ito,Iwao Suzuki,Daisuke Akieda,Izumi Ogata,Masako Kawarai. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-29.

Analysis apparatus

Номер патента: US4055395A. Автор: Mikio Shimizu,Kenji Fukuda,Tadashi Honkawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-10-25.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: CA2961455A1. Автор: Takeshi Nakamura,Hiromasa Suzuki,Koichi Inagaki,Hiroyuki Hishida,Suguru Kondo,Yu Hasegawa,Takashi MICHIKAWA,Yutaka OHTAKE. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2016-04-07.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: US20230342907A1. Автор: Kimito Katsuyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Absorbance analysis apparatus for DCR gas, absorbance analysis method for DCR gas, and absorbance analysis program recording medium on which program for DCR gas is recorded

Номер патента: US11796460B2. Автор: Masayuki Tanaka,Toru Shimizu,Masakazu Minami,Yuhei Sakaguchi,Yuichi Furuya. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Absorbance analysis apparatus for DCR gas, absorbance analysis method for DCR gas, and absorbance analysis program recording medium on which program for DCR gas is recorded

Номер патента: US20220307977A1. Автор: Masayuki Tanaka,Toru Shimizu,Masakazu Minami,Yuhei Sakaguchi,Yuichi Furuya. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Hydraulic device for blood analysis apparatus, method associated with said device, and analyser fitted with said device

Номер патента: RU2408004C2. Автор: Анри ШАМСЭКС. Владелец: С2 Диагностик. Дата публикации: 2010-12-27.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: EP4067897A1. Автор: Hideyuki Mochizuki,Kazuki Masuo,Ryota Ichimura. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Parallel plate x-ray collimator having a variable acceptance angle and an x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230296536A1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers,Alexander Kharchenko. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

A parallel plate x-ray collimator having a variable acceptance angle and an x-ray analysis apparatus

Номер патента: EP4246536A1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers,Alexander Kharchenko. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-20.

Active material analysis apparatus

Номер патента: EP3706234A1. Автор: Sung Joon Oh,Yeon Wook Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-09-09.

Method for detecting defects in measurement means of biochemical analysis apparatuses

Номер патента: US5151755A. Автор: Shunichi Seto. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1992-09-29.

Blood state analysis apparatus, blood state analysis system, blood state analysis method, and program

Номер патента: US11899008B2. Автор: MarcAurele Brun,Yoshihito Hayashi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Substrate analysis apparatus and substrate analysis method

Номер патента: US11982705B2. Автор: Seong Pyo Hong,Ji Hun Kim,Eun Hee Lee,Dong Su Kim,Youn Gon Oh,Ho Chan Lee,Sae Yun KO,Gil Ho GU,Seong Sil JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-14.

Cell for x-ray analysis and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20190145915A1. Автор: Masao Kimura,Yasuhiro Onishi,Ken'ichi Kimijima,Daiji Asahara. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-05-16.

Gas analysis apparatus, program for gas analysis apparatus, and gas analysis method

Номер патента: US20190017927A1. Автор: Motonobu Takahashi. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Sample holder for single-crystal X-ray structure analysis apparatus, sample holder unit, and soaking method therefor

Номер патента: US11821855B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20130208275A1. Автор: Yuji Ikeda,Ryoji Turuoka. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2013-08-15.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and sample holder attaching device

Номер патента: US11835476B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Component Analysis Apparatus and Component Analysis Method

Номер патента: US20230400424A1. Автор: Yoshiki Yonamoto. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Analysis apparatus, analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220308023A1. Автор: Hideyuki Mochizuki,Kazuki Masuo,Ryota Ichimura. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Automated multiple-purpose chemical-analysis apparatus

Номер патента: US4325910A. Автор: Michael Jordan. Владелец: Technicraft Inc. Дата публикации: 1982-04-20.

Multipoint analysis apparatus

Номер патента: RU2414695C2. Автор: Райнхольд ВИМБЕРГЕР-ФРИДЛЬ,Ральф КУРТ,Дерк Ян Вилфред КЛУНДЕР,ХЕРПЕН Мартен ВАН,Марчелло БАЛИСТРЕРИ,Кун ЛИДЕНБАУМ,Менно ПРИНС. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2011-03-20.

Analysis apparatus

Номер патента: EP3922973A1. Автор: Takayuki Kei,Lucas Pelkmans,Gabriele GUT,Yohei Tsubouchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-12-15.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus and sample holder

Номер патента: US11846594B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Radiation Analysis Apparatus

Номер патента: US20190033237A1. Автор: Keiichi Tanaka,Atsushi Nagata,Satoshi Nakayama,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Single-crystal x-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder unit therefor

Номер патента: US11802844B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20080013681A1. Автор: Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-01-17.

Single-crystal x-ray structure analysis apparatus and method, and sample holder unit therefor

Номер патента: US20240027373A1. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20190051011A1. Автор: Yukio Watanabe,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-14.

Active material analysis apparatus

Номер патента: US11817564B2. Автор: Sung Joon Oh,Yeon Wook Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Active Material Analysis Apparatus

Номер патента: US20210328273A1. Автор: Sung Joon Oh,Yeon Wook Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Electrolyte analysis apparatus

Номер патента: US20230032886A1. Автор: Haruyoshi Yamamoto,Yuichi Iwase,Takushi Miyakawa,Takahiro Kumagai,Tetsuji Kawahara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Electrolyte analysis apparatus

Номер патента: EP4099006A1. Автор: Haruyoshi Yamamoto,Yuichi Iwase,Takushi Miyakawa,Takahiro Kumagai,Tetsuji Kawahara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Non-contact topographical analysis apparatus and method thereof

Номер патента: EP1137929A1. Автор: Zsolt John Laczik. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2001-10-04.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US7428293B2. Автор: Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-09-23.

X-Ray analysis apparatus having an adjustable stray radiation slit

Номер патента: US4535469A. Автор: Cornelis G. Brandt. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1985-08-13.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: GB1464035A. Автор: . Владелец: Forces Armees Francaises. Дата публикации: 1977-02-09.

Fluid analysis apparatus

Номер патента: GB1339080A. Автор: . Владелец: Instrumentation Laboratory Co. Дата публикации: 1973-11-28.

Specimen analysis apparatus, specimen analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11835509B2. Автор: Ken Ioka. Владелец: Evident Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Single-crystal X-ray structure analysis apparatus, and method therefor

Номер патента: US11874204B2. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Crystal analysis apparatus, composite charged particle beam device, and crystal analysis method

Номер патента: US20150226684A1. Автор: Toshiaki Fujii,Xin Man. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Analysis apparatus and analysis method using particle method

Номер патента: US20170241883A1. Автор: Ryosuke Takahashi. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-24.

Sample analysis apparatus and sample analysis method

Номер патента: US20230066692A1. Автор: Masaru Takahashi,Masaru Chiyomaru,Hiroaki MIKAWA,Kohei KAWASAKI,Yuuichi OKUZAKI,Ayumi HAYASHI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Single-crystal x-ray structure analysis apparatus, and method therefor

Номер патента: US20240019385A1. Автор: Takashi Sato. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Composition analysis apparatus and composition analysis method

Номер патента: US20210262996A1. Автор: Kenichi Kojima,Tomoo Ishiguro. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2021-08-26.

Specimen analysis apparatus, specimen analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210027464A1. Автор: Ken Ioka. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Crystal analysis apparatus, composite charged particle beam device, and crystal analysis method

Номер патента: US20140077097A1. Автор: Toshiaki Fujii,Xin Man. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-03-20.

Analysis apparatus, analysis method, and storage medium

Номер патента: US20230384287A1. Автор: Shozo Hashimoto. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Sorption analysis apparatus and method

Номер патента: US3850040A. Автор: R Camp,P Coulter,C Orr,W Hendrix. Владелец: Micromeritics Instrument Corp. Дата публикации: 1974-11-26.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US5132995A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1992-07-21.

Foam analysis apparatus

Номер патента: EP2950081A1. Автор: Florian WESER. Владелец: Kruess GmbH. Дата публикации: 2015-12-02.

Analysis apparatus, inspection system, and learning apparatus

Номер патента: US20240005473A1. Автор: Takehiko Sashida. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-04.

Polarization analysis apparatus and method for adjusting angle of incidence or numerical aperture using aperture

Номер патента: US20230375411A1. Автор: Jae Jun Lee,Mi Ta PARK. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Spectroscopic analysis apparatus utilizing a tubular heating element and a passive sample holder

Номер патента: US3895873A. Автор: Marc Joshua Tolkoff,Allan G Dennison,Martha F Bancroft,Jr Stanley B Smith. Владелец: Instrumentation Laboratory Co. Дата публикации: 1975-07-22.

Fluorescent spectral analysis apparatus

Номер патента: US4675529A. Автор: Takashi Kushida. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-23.

X-ray analysis apparatus comprising an adjustable slit diaphragm

Номер патента: US5115460A. Автор: Roelof De Lange. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1992-05-19.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP1895292A2. Автор: Toshiyuki Kato,Akito Sasaki,Kunio Nishi,Keiichi Morikawa,Takao Ohara,Yuji Tsuji,Aya Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-05.

Analysis apparatus

Номер патента: EP4220125A2. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2023-08-02.

Method of manufacturing the multi-tip probe, a multi-tip probe, and surface characteristic analysis apparatus

Номер патента: US20060011467A1. Автор: Hiroshi Takahashi,Tadashi Arai,Yoshiharu Shirakawabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-19.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US11808721B2. Автор: Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Analysis apparatus for analyzing a gas sample

Номер патента: US20170115264A1. Автор: Christian Kuhn,Rolf SCHIFFLER,Daniel SCHIMANEK. Владелец: SICK AG. Дата публикации: 2017-04-27.

Analysis apparatus

Номер патента: EP4220125A3. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US20190257749A1. Автор: Yuya Sugiyama,Junichi Matsuo,Kentaro Hazama,Nobuko Takekawa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US20230417704A1. Автор: Keke WANG,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Electrochemical analysis apparatus and electrochemical system

Номер патента: US9977059B2. Автор: Tetsuya Osaka,Tokihiko Yokoshima,Daikichi Mukoyama,Toshiyuki Momma,Hiroki Nara. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-05-22.

Attenuated total reflection spectroscopic analysis apparatus having device for measuring specimen contact area and method of operating the same

Номер патента: US20160198985A1. Автор: Sangkyu Kim,Sangyun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-07-14.

Analysis apparatus, imaging system, and storage medium

Номер патента: US20190323889A1. Автор: Daisuke Sano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-10-24.

Analysis apparatus and method of analyzing content of material using the same

Номер патента: US20230280276A1. Автор: Tae Hyun Kim,Hyo-Jin Kim,Yong Woon Lim,Hye Kyung SHIN,Kyonghun LEE. Владелец: Nanophoton Korea. Дата публикации: 2023-09-07.

Image analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US11995816B2. Автор: Kenji Ogawa,Eriko Takeda,Junichi Shibuya,Yoshishige OKUNO,Yuki NAKAO. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Image analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20220327675A1. Автор: Kenji Ogawa,Eriko Takeda,Junichi Shibuya,Yoshishige OKUNO,Yuki NAKAO. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-10-13.

Analysis apparatus

Номер патента: US20190285610A1. Автор: Long Vinh PHAN. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: WO2022043340A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP3961199A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-03-02.

Analysis apparatus

Номер патента: WO2010074280A1. Автор: Toshihiko Ouchi,Toshihiko Takeda. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-07-01.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP4111184A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-01-04.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US20230296538A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Gas analysis apparatus

Номер патента: US20140301899A1. Автор: Shigeru Nakatani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2014-10-09.

Thermal analysis apparatus

Номер патента: US20080279249A1. Автор: Kanji Nagasawa,Rintaro Nakatani. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-11-13.

Vehicle security analysis apparatus, and method and program storage medium

Номер патента: US20240236131A1. Автор: Satoshi Ueno,Yasunobu Chiba,Kensuke Nakata,Atsushi Wakasugi. Владелец: NTT Security Japan KK. Дата публикации: 2024-07-11.

Medical robot system, data analysis apparatus, and medical-robot monitoring method

Номер патента: US20240025047A1. Автор: Tetsuya Nakanishi,Kaoru Asano,Yasuhiro Kouchi,Mitsuichi Hiratsuka. Владелец: Medicaroid Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Medical robot system, data analysis apparatus, and medical-robot monitoring method

Номер патента: US11813733B2. Автор: Tetsuya Nakanishi,Kaoru Asano,Yasuhiro Kouchi,Mitsuichi Hiratsuka. Владелец: Medicaroid Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Shape analysis apparatus, shape analysis method, and non-transitory computer-readable recording medium for shape analysis

Номер патента: US20230281928A1. Автор: Takayuki Hirayama. Владелец: Arum Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Shape analysis apparatus, shape analysis method, and non-transitory computer-readable recording medium for shape analysis

Номер патента: EP4239584A1. Автор: HIRAYAMA Takayuki. Владелец: Arum Inc. Дата публикации: 2023-09-06.

Image analysis apparatus, image analysis method, and computer readable medium storing program

Номер патента: US20240161260A1. Автор: Konomi SASAYAMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US09547094B2. Автор: Mark Alexander Pals,Jeroen RINSEMA. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-01-17.

Specimen analysis apparatus and specimen analysis method

Номер патента: US20070231208A1. Автор: Masayuki Ikeda,Yousuke Tanaka,Takamichi Naito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

Blood analysis apparatus and method of setting a measurement position in a blood analysis apparatus

Номер патента: TW200944796A. Автор: Mamoru Tomita. Владелец: Ushio Electric Inc. Дата публикации: 2009-11-01.

Automatic analysis apparatus and method of controlling automatic analysis apparatus

Номер патента: EP3896456B1. Автор: Makoto Asakura,Tamami Kaneda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

An analysis apparatus and method

Номер патента: WO2023203316A1. Автор: Pegram LIAM GRAHAM,Truong THUY-VI AURÉLIE. Владелец: Entia Limited. Дата публикации: 2023-10-26.

An analysis apparatus and method

Номер патента: GB2617833A. Автор: Aurelie Truong Thuy-Vi,Graham Pegram Liam. Владелец: Entia Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Liquid analysis apparatus

Номер патента: US3787291A. Автор: R Deuringer,R Ray,J Sternberg. Владелец: Beckman Instruments Inc. Дата публикации: 1974-01-22.

Method and apparatus forthe peak monitoring the results of analysis apparatus

Номер патента: AU6945674A. Автор: J. Grady And Henry E. Amar John. Владелец: Technicon Instruments Corp. Дата публикации: 1975-12-04.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS SYSTEM, METHOD FOR MANAGING ANALYSIS APPARATUS, AND PROGRAM

Номер патента: US20190346467A1. Автор: ODA Yoshinari. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2019-11-14.

Laser ablation device and analysis apparatus

Номер патента: EP3779399A1. Автор: Takao Nakagawa,Norio Yasuda. Владелец: S T Japan Inc. Дата публикации: 2021-02-17.

Sample analysis substrate, sample analysis apparatus, sample analysis system, and program for sample analysis system

Номер патента: JP6588908B2. Автор: 政博 城野,房俊 岡本,城野　政博. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2019-10-09.

METHOD OF OPERATING AN AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS AND AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20210003601A1. Автор: Kathe Ulrich,Schweitzer Daniel,Rottensteiner Ulrich. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

Automatic Analysis Apparatus and Method for Controlling Automatic Analysis Apparatus

Номер патента: US20200319218A1. Автор: Yamashita Yoshihiro,Sakazume Taku,Tanoue Hidetsugu,Hamasaki Koshin,NOBUKI Shunichirou,TAKAKURA Tatsuki. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

Analysis apparatus, analysis system, and analysis method

Номер патента: JPWO2011152376A1. Автор: 浩司 藤本,古里　紀明,紀明 古里. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2013-08-01.

Analysis apparatus and analysis apparatus support system using same

Номер патента: WO2022181589A1. Автор: 秀典 松岡,信明 渡部,崇 松木,いくみ 黒瀬. Владелец: 京都電子工業株式会社. Дата публикации: 2022-09-01.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US20210199713A1. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Fluid analysis apparatus, method for operating fluid analysis apparatus, and fluid analysis program

Номер патента: US11730384B2. Автор: Hirotaka Ito. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Vibration analysis apparatus and vibration analysis system

Номер патента: US20240118169A1. Автор: So Yamaguchi. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

X-ray analysis apparatus, X-ray analysis system, X-ray analysis method, and X-ray analysis program

Номер патента: US9006673B2. Автор: Kazuki Ito,Kunio Nishi,Yoshinori Ueji,Koichi Kajiyoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-04-14.

Side-channel analysis apparatus and method based on profile

Номер патента: US20130325382A1. Автор: Doo Ho Choi,Ju Han Kim,Yong-Je Choi,Taesung Kim,Kyunghee Oh,Seung Kwang LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2013-12-05.

Side-channel analysis apparatus and method based on profile

Номер патента: US9423425B2. Автор: Doo Ho Choi,Ju Han Kim,Yong-Je Choi,Taesung Kim,Kyunghee Oh,Seung Kwang LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2016-08-23.

Side-channel analysis apparatus and method based on profile

Номер патента: US09423425B2. Автор: Doo Ho Choi,Ju Han Kim,Yong-Je Choi,Taesung Kim,Kyunghee Oh,Seung Kwang LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2016-08-23.

Communication analysis apparatus and communication analysis method

Номер патента: US20130329568A1. Автор: Takeru Kuroiwa,Masanori Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-12.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20070240022A1. Автор: Makoto Shinohara,Katsuhito Nagano. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-10-11.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US12146896B2. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Boiler load analysis apparatus

Номер патента: US09816845B2. Автор: Hideo Furukawa,Osamu Higuchi,Yoshinori KINZUKA. Владелец: Miura Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US09583299B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Object distribution analysis apparatus and object distribution analysis method

Номер патента: US20150354952A1. Автор: Takahiro Ikeda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Radionuclide analysis apparatus, radionuclide analysis method, and radionuclide analysis program

Номер патента: US20230288585A1. Автор: Takahisa Hanada. Владелец: Nihon Medi Physics Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Noise inflow analysis apparatus and method

Номер патента: US20240353461A1. Автор: Seongjin MUN,Mooil Chung. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Spectroscopic analysis apparatus and method of calibrating spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US09970817B2. Автор: Hirokazu Kasahara,Kazunori Sakurai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Analysis apparatus, analysis method and analysis system

Номер патента: US09588210B2. Автор: Yasuhide Kusaka,Masashi Tsukada. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Motion analysis apparatus and motion analysis method

Номер патента: US09599635B2. Автор: Kazuo Nomura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20040059507A1. Автор: Jun Nagasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Analysis apparatus, analysis method, and computer program product

Номер патента: US20210293638A1. Автор: Akira Kano,Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Magnetization analysis apparatus, magnetization analysis method, and recording medium

Номер патента: US09824168B2. Автор: Koichi Shimizu,Atsushi Furuya,Tadashi Ataka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Blood flow dynamic analysis apparatus and method, and magnetic resonance imaging system

Номер патента: US20100113914A1. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-06.

Analysis apparatus management system, management method, management program, and management apparatus

Номер патента: US20230024155A1. Автор: Atsushi Bando,Yuri Yamazaki,Kayo MORINAGA,Yuri OKURA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Spatial analysis apparatus and method for three-dimensional geographic information model

Номер патента: LU505874B1. Автор: LE YIN,Baolei Zhang,Run Wang,Chunqiang Liu. Владелец: Shandong Provincial Territorial Spatial Ecological Restoration Center. Дата публикации: 2024-06-20.

Analysis system, analysis apparatus, and analysis program

Номер патента: US20240037776A1. Автор: Noriyasu Yamada,Yasuhiro MISU,Shogo Hara. Владелец: Sato Holdings Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Battery characteristic analysis apparatus, battery characteristic measurement apparatus, and battery analysis system

Номер патента: WO2023145322A1. Автор: Keisuke Ishikawa,Masanori Ishigaki,Hirofumi Hazama. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOYOTA CHUO KENKYUSHO. Дата публикации: 2023-08-03.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20120046888A1. Автор: Koichi Shimizu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Communication analysis apparatus and communication analysis method

Номер патента: EP2264944A3. Автор: Takeru Kuroiwa,Masanori Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2011-01-19.

Analysis apparatus, analysis method and program

Номер патента: EP4064145A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-28.

Thermal analysis apparatus and control software for thermal analysis apparatus

Номер патента: US20240068876A1. Автор: Yoshinobu Hosoi,Koichiro Noritake. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Analysis apparatus, analysis method and computer readable medium

Номер патента: US20220307945A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Analysis apparatus, analysis method, and interference measurement system

Номер патента: US20210102800A1. Автор: Shimpei Matsuura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Boiler load analysis apparatus

Номер патента: CA2901936C. Автор: Hideo Furukawa,Osamu Higuchi,Yoshinori KINZUKA. Владелец: Miura Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium

Номер патента: US20200016464A1. Автор: Kosei Yamashita,Hideyuki Matsunaga. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-01-16.

Digital cumulative spectrum analysis apparatus and method for direction finding and location

Номер патента: US20110103452A1. Автор: Sang-Tae Kim,Yong-Seok Choi,Haeng-Sook Ro,Gwangmoon PARK,Seong-Yun Lee,Mi-Kyung SUK,Heung-Yong Kang. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2011-05-05.

Blood flow dynamic analysis apparatus, method of blood flow dynamic analysis, and magnetic resonance imaging system

Номер патента: US20100274119A1. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-10-28.

Blood flow dynamic analysis apparatus, method of blood flow dynamic analysis, and magnetic resonance imaging system

Номер патента: US8498690B2. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: GE Medical Systems Global Technology Co LLC. Дата публикации: 2013-07-30.

Analysis apparatus, analysis method, and interference measurement system

Номер патента: US20210102802A1. Автор: Shimpei Matsuura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Ball behavior analysis apparatus

Номер патента: US20210325426A1. Автор: Masanobu Yoshida,Tsuyoshi Ito,Jiro Mori,Kuniyasu Horiuchi,Masahide Onuki,Junya Tsutsumi. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Digital cumulative spectrum analysis apparatus and method for direction finding and location

Номер патента: US20140064349A1. Автор: Sang-Tae Kim,Yong-Seok Choi,Haeng-Sook Ro,Gwangmoon PARK,Seong-Yun Lee,Mi-Kyung SUK,Heung-Yong Kang. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-03-06.

X-ray analysis apparatus and detector reading circuit means suitable for application in such an X-ray analysis apparatus

Номер патента: US5345491A. Автор: Hendrick J. J. Bolk,Georges C. P. Zieltjens. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1994-09-06.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US9773634B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Magnetization analysis apparatus, magnetization analysis method, and recording medium

Номер патента: US20160048617A1. Автор: Koichi Shimizu,Atsushi Furuya,Tadashi Ataka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-02-18.

Device analysis apparatus, device analysis method, and storage medium

Номер патента: US20230297644A1. Автор: Takeshi Takeuchi,Tomoharu Takeuchi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Object motion analysis apparatus, object motion analysis method, and storage medium

Номер патента: US20140200833A1. Автор: Masaki Kazama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-07-17.

Data analysis apparatus, data analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220308260A1. Автор: Chenhui HUANG. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Blood flow dynamic analysis apparatus, magnetic resonance imaging system and program

Номер патента: US8285360B2. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: GE Medical Systems Global Technology Co LLC. Дата публикации: 2012-10-09.

Analysis apparatus

Номер патента: US20240057975A1. Автор: Masaki Watanabe,Yu Igarashi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Space traffic management system, space traffic management apparatus, satellite business apparatus, satellite constellation business apparatus, mega-constellation business apparatus, rocket launch business apparatus, debris removal business apparatus, space condition monitoring business apparatus, hazard avoidance assist business apparatus, space insurance business apparatus, satellite business apparatus, space information recorder, hazard warning apparatus, hazard analysis apparatus, hazard avoidance action assist apparatus, security apparatus, space information recorder, terminal, mobile terminal, space traffic management portal, and hazard warning tool

Номер патента: EP4067240A1. Автор: Hisayuki Mukae. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Tightening operation analysis apparatus, tightening operation analysis system, tightening operation analysis program, tightening operation analysis method, and tightening tool

Номер патента: US20190061122A1. Автор: Yoshiharu Matsumoto,Yoshiyuki Yamaguchi,Yuki Okawa. Владелец: Kyoto Tool Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Concavity and convexity analysis program, concavity and convexity analysis method, and concavity and convexity analysis apparatus

Номер патента: JP6299167B2. Автор: 弘幸 谷,伸 十時,谷　弘幸. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-03-28.

Automatic chemical analysis apparatus

Номер патента: US4039286A. Автор: Dieter Wendt,Walter Keller,Werner Ptaschek,Hubert Koukol. Владелец: WC Heraus GmbH and Co KG. Дата публикации: 1977-08-02.

Analysis Apparatus and Method.

Номер патента: GB1183631A. Автор: . Владелец: Technicon Corp. Дата публикации: 1970-03-11.

Imaging system, control method of imaging system, analysis apparatus and program

Номер патента: WO2024190009A1. Автор: Osamu Kojima,Atsushi Wada. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2024-09-19.

Art psychological analysis apparatus using voice, text, and picture data and art psychological analysis method using the same

Номер патента: US20230346280A1. Автор: Ji-Hoon Kim. Владелец: I Scream Arts Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Support apparatus, generation apparatus, analysis apparatus, support method, generation method, analysis method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20220043847A1. Автор: Jun Ozawa,Fusataka Kuniyoshi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Body information analysis apparatus and lip-makeup analysis method thereof

Номер патента: US20190065831A1. Автор: Shyh-Yong Shen,Min-Chang Chi,Eric Budiman GOSNO. Владелец: Cal Comp Big Data Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Method of generating excision tool information using cervicography image and analysis apparatus

Номер патента: US20230289966A1. Автор: Youn Jin Choi,Soo-Young HUR,Heekyoung SONG,Jaeyoung MIN. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Catholic University of Korea. Дата публикации: 2023-09-14.

Method of extracting drug information based on bioactivity data, method of constructing drug screening library, and analysis apparatus

Номер патента: US20220238189A1. Автор: Wan Kyu Kim,Yea Jee Kwon,Se Ra Park. Владелец: Kaipharm Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Source code analysis apparatus

Номер патента: US11907710B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Masaki Fujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Control apparatus, analysis apparatus, communication system, data processing method, data transmission method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11568313B2. Автор: Tadashi Ishikawa,Daisuke Yokoi,Takuya Itou,Ichirou Akimoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Analysis apparatus using learned model and method therefor

Номер патента: US20200065441A1. Автор: Sangjin Lee,Jaehyeon Park,Hyunsik Kim,Jeehun Park. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Process analysis apparatus, process analysis method, and process analysis

Номер патента: US20170337378A1. Автор: Shoji Sakurai,Takumi Yamamoto,Kiyoto Kawauchi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: EP4336464A1. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-13.

Analysis apparatus and analysis apparatus support system using same

Номер патента: US20240127017A1. Автор: Nobuaki Watanabe,Takashi Matsuki,Hidenori Matsuoka,Ikumi Kurose. Владелец: Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Analysis apparatus, diagnostic system and analysis method for ADHD

Номер патента: US20240225504A1. Автор: Shih-Ching Yeh,Hsiao-Kuang WU. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2024-07-11.

Travel environment analysis apparatus, travel environment analysis system, and travel environment analysis method

Номер патента: US12100228B2. Автор: Yoshinori Ueno,Mitsuo Shimotani,Kuniyo Ieda,Tadashi Miyahara,Tomohiro Shiino. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09870279B2. Автор: Takao Sakurai,Katsuro Kikuchi,Masashi Egi,Masayoshi Mase,Daisuke Tashiro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-01-16.

Data communication system, data analysis apparatus, data communication method, and program product

Номер патента: US09684764B2. Автор: Hiroaki Kitano,Samik Ghosh,Yukiko Matsuoka. Владелец: SBX Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Analysis apparatus, analysis program, and analysis system

Номер патента: US09678325B2. Автор: Eriko Matsui,Shiori OSHIMA,Suguru Dowaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Analysis apparatus, analysis method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20240312359A1. Автор: Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Hiroo Harada,Hirotaka MAESHIMA,Hanuki MIZUTANI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Dynamic image analysis apparatus, recording medium, and dynamic image analysis method

Номер патента: US20240331153A1. Автор: Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-03.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US12120142B2. Автор: Masaki INOKUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Music data analysis apparatus and method using topological data analysis, and music data generation apparatus using the same

Номер патента: US20240013758A1. Автор: Dong Jin Lee,Jae Hun Jung,Chang Bom PARK,Mai Lan TRAN. Владелец: POSTECH Research and Business Development Foundation. Дата публикации: 2024-01-11.

Analysis apparatus, analysis method, and storage medium

Номер патента: US9087243B2. Автор: Yoichi Kamei. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-07-21.

Data analysis apparatus, data analysis computer-readable medium, and data analysis method

Номер патента: US20240095557A1. Автор: Yuki Fujii,Masashi TATEDOKO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Analysis apparatus, analysis method, and storage medium

Номер патента: US20130188829A1. Автор: Yoichi Kamei. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-07-25.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: US20060241871A1. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: ID Business Solutions Ltd. Дата публикации: 2006-10-26.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: WO2004070348A3. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: Evgueni Kolossov. Дата публикации: 2005-03-17.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: WO2004070348A2. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: ID Business Solutions Ltd. Дата публикации: 2004-08-19.

Chemical analysis apparatus and method

Номер патента: EP1590761A2. Автор: Evgueni Kolossov. Владелец: ID Business Solutions Ltd. Дата публикации: 2005-11-02.

Analysis apparatus, analysis method, and program

Номер патента: US12034614B2. Автор: Itaru Ueda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20230376607A1. Автор: Junpei Kamimura,Kazuhiko Isoyama,Yoshiakai SHKAE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Video analysis apparatus, person retrieval system, and person retrieval method

Номер патента: US20210264636A1. Автор: Naoto Akira,Atsushi Hiroike,Tsutomu Imada,Hiromu NAKAMAE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-08-26.

Attack path analysis apparatus for vehicle cyber security and attack path analysis method thereof

Номер патента: US20240070291A1. Автор: Kwon Hyeong Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Analysis apparatus, analysis method, and computer-readable medium

Номер патента: US20220309431A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Analysis apparatus

Номер патента: US20050078870A1. Автор: Hisanaga Iwase. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Object sampling method and image analysis apparatus

Номер патента: US20240193951A1. Автор: Cheng-Chieh Liu. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Queue analysis apparatus using a video analysis

Номер патента: US20220165137A1. Автор: Takashi Oya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Log analysis apparatus, log analysis system, log analysis method and computer program

Номер патента: US20170228265A1. Автор: Akio Watanabe,Ken NISHIMATSU,Tatsuaki KIMURA,Tsuyoshi TOYONO. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2017-08-10.

Body information analysis apparatus and method of detecting face shape by using same

Номер патента: US20190087642A1. Автор: Shyh-Yong Shen,Min-Chang Chi,Hui-teng LIN,Ching-Wei Wang. Владелец: Cal Comp Big Data Inc. Дата публикации: 2019-03-21.

Image analysis apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US20240362908A1. Автор: Satoshi Yoshida,Shoji Nishimura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

User intention analysis apparatus and method based on image information of three-dimensional space

Номер патента: US09886623B2. Автор: Jin Woo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2018-02-06.

Golf swing analysis apparatus

Номер патента: US09821209B2. Автор: Masahiko Ueda,Kousuke Okazaki,Yuto Nakamura. Владелец: Dunlop Sports Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Data analysis apparatus, data analysis method, and data analysis program

Номер патента: US20200380392A1. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-12-03.

Crystal analysis apparatus and crystal analysis method

Номер патента: US20190005635A1. Автор: Masako Kodera. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Image analysis apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US12080057B2. Автор: Satoshi Yoshida,Shoji Nishimura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Analysis apparatus, analysis method, and non transitory storage medium

Номер патента: US20200184674A1. Автор: Haruyuki Hayashi,Yusuke Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Slicing machine with product parameter analysis apparatus

Номер патента: US20240149481A1. Автор: Dominik Marx. Владелец: Multivac Sepp Haggenmueller GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-09.

Event process data integration and analysis apparatus, and event process data integration and analysis method

Номер патента: US11308666B2. Автор: Yuichi Sakuraba,Ayako Akimoto. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-04-19.

Walking vibration analysis apparatus, walking vibration analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20200289029A1. Автор: Hideyuki Shimizu. Владелец: NEC Solution Innovators Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Event process data integration and analysis apparatus, and event process data integration and analysis method

Номер патента: US20200402276A1. Автор: Yuichi Sakuraba,Ayako Akimoto. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Program analysis apparatus, program analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20240037010A1. Автор: Norio Yamagaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Customer analysis apparatus, customer analysis method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20240087359A1. Автор: Hiroshi Hashimoto,Ken Hanazawa,Kan Arai,Kei Shibuya,Makiko Akiguchi,Azusa Furukawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Disease analysis apparatus, disease analysis method, and computer readable medium

Номер патента: US20150332014A1. Автор: Norihito Konno,Makoto Hajiri. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2015-11-19.

Video analysis apparatus, video analysis method, and program

Номер патента: EP4303828A2. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-10.

Video analysis apparatus, video analysis method, and program

Номер патента: EP4303828A3. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Performance analysis apparatus and performance analysis method

Номер патента: US11762562B2. Автор: Mineyoshi Masuda,Kouichi Murayama,Yosuke Himura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-09-19.

LSI analysis method, LSI analysis apparatus, and computer product

Номер патента: US20070283302A1. Автор: Hiroyuki Higuchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-12-06.

Analysis apparatus, analysis method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20240283792A1. Автор: Hirofumi Ueda,Shohei MITANI,Nakul GHATE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Subtitle information analysis apparatus and subtitle information analysis method

Номер патента: US20100310235A1. Автор: Akihito Masumura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-12-09.

Source code analysis apparatus and source code analysis method

Номер патента: US12099836B2. Автор: Masumi Kawakami,Makoto Ichii. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-09-24.

Information analysis apparatus, information analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240311401A1. Автор: Masaru Kawakita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Gait analysis apparatus, gait analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US12133725B2. Автор: Katsuyuki Nagai,Hiroki TERASHIMA. Владелец: NEC Solution Innovators Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Dynamic analysis apparatus and dynamic analysis system

Номер патента: US09947093B2. Автор: Koichi Fujiwara,Hitoshi Futamura,Satoshi Kasai,Sho Noji,Akinori Tsunomori. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-04-17.

Data analysis apparatus management and control method and communication apparatus

Номер патента: CA3205337A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Distribution analysis apparatus, distribution hub setting-up support apparatus, and method

Номер патента: US20230351314A1. Автор: Michihiko YUSA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Management and control method for data analysis apparatus, and communication apparatus

Номер патента: EP4266191A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Management and control method for data analysis apparatus, and communication apparatus

Номер патента: AU2022208075A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20230367535A1. Автор: Yoshiyuki Tanaka,Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Shogo AKASAKI,Haruki Yokota. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Data analysis apparatus management and control method and communication apparatus

Номер патента: US20230403223A1. Автор: Kai Zhang,Lan Zou,Ruiyue XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Thermal-analysis-model generating apparatus, thermal-analysis-model generating program, thermal-analysis-model generating method, and thermal analysis apparatus

Номер патента: US20120072161A1. Автор: Hideharu Matsushita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-03-22.

Thermal-analysis-model generating apparatus, non-transitory computer-readable storage medium, thermal-analysis-model generating method, and thermal analysis apparatus

Номер патента: US8863070B2. Автор: Hideharu Matsushita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Trouble analysis apparatus

Номер патента: US8635496B2. Автор: Takashi Yoshikawa,Junichi Higuchi,Youichi Hidaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-21.

Traffic analysis apparatus, system, method, and program

Номер патента: US11509539B2. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-11-22.

Traffic analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20210014144A1. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE,Sweety SUMAN. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

Purchase data analysis apparatus, method and storage medium

Номер патента: US20240296467A1. Автор: Yoshiaki Mizuoka,Kouta Nakata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Radiographic image analysis apparatus and recording medium

Номер патента: US20240362776A1. Автор: Satoshi Noma,Akinori Tsunomori,Masakuni UEYAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-31.

Analysis apparatus, communication system, non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12131423B2. Автор: Masaya Fujiwaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Cell analysis apparatus and method

Номер патента: US09530043B2. Автор: Do Hyun Nam,Dong Woo Lee,Bo Sung Ku,Yeon Sook Choi. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20230351806A1. Автор: Yoshiyuki Tanaka,Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Shogo AKASAKI,Haruki Yokota. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Problem information analysis program, problem information analysis apparatus and problem information analysis method

Номер патента: US7546279B2. Автор: Takahiro Saito. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-06-09.

Defect Analysis Apparatus, Program, and Defect Analysis Method

Номер патента: US20230259447A1. Автор: Yasufumi Suzuki,Masumi Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-08-17.

A method of identifying a plurality of transponders, analysis apparatus and a transponder for implementing such a method

Номер патента: MY129534A. Автор: Dertadian Saak,Pagnol Frederic. Владелец: Pagnol Frederic. Дата публикации: 2007-04-30.

Multiple regression analysis apparatus and multiple regression analysis method

Номер патента: US11790277B2. Автор: Takahiro Tsubouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Semantic analysis apparatus, method, and non-transitory computer readable storage medium thereof

Номер патента: US20180365223A1. Автор: Tsung-Chieh Chen,Yun-Kai Hsu,Chih-Li HUO,Keng-Wei HSU. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2018-12-20.

Analysis apparatus, analysis system, analysis program, and analysis method

Номер патента: US20240046443A1. Автор: Tomoya Okazaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-02-08.

Ophthalmologic information analysis apparatus and ophthalmologic information analysis program

Номер патента: US20220000361A1. Автор: Tetsuya Kano,Yukihiro Higuchi,Ryosuke Shiba. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Medical use artificial neural network-based medical image analysis apparatus and method for evaluating analysis results of medical use artificial neural network

Номер патента: US11715198B2. Автор: Jin Kook Kim,Donghoon Yu,Jaeyoun Yi,Hyun Gi Seo. Владелец: Coreline Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-01.

Ophthalmologic information analysis apparatus and ophthalmologic information analysis program

Номер патента: US11992265B2. Автор: Tetsuya Kano,Yukihiro Higuchi,Ryosuke Shiba. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Source code analysis apparatus

Номер патента: US20220342664A1. Автор: Toshihiro Kobayashi,Masaki Fujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Residue analysis apparatus and method for detecting system errors in aircraft system behaviour

Номер патента: RU2501063C2. Автор: Маркус ГОЙНИ,Удо Б. КАРЛ,Хельге ЗАКС. Владелец: Эйрбас Оперэйшнз Гмбх. Дата публикации: 2013-12-10.

Artificial neural network-based image analysis apparatus and method for evaluating analysis results of artificial neural network

Номер патента: US20230342929A1. Автор: Jin Kook Kim,Donghoon Yu,Jaeyoun Yi,Hyun Gi Seo. Владелец: Coreline Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Image analysis apparatus, image analysis system, and method for operating image analysis apparatus

Номер патента: US20180218233A1. Автор: Toshio Nakamura,Tetsuhiro Yamada,Ryuichi Toyama,Momoko YAMANASHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: US20220309815A1. Автор: Yuya Hamaguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Image analysis apparatus, image analysis system, image analysis method, program, and recording medium

Номер патента: EP4346197A1. Автор: Kei Yamaji. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-04-03.

Image analysis apparatus, image analysis system, image analysis method, program, and recording medium

Номер патента: US20240106936A1. Автор: Kei Yamaji. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Body information analysis apparatus and method of analyzing hand skin using same

Номер патента: US20190080162A1. Автор: Shyh-Yong Shen,Min-Chang Chi,Hui-teng LIN,Ching-Wei Wang. Владелец: Cal Comp Big Data Inc. Дата публикации: 2019-03-14.

Voice analysis apparatus, voice synthesis apparatus, voice analysis synthesis system

Номер патента: US20130262098A1. Автор: Hong-kook Kim,Kwang-myung Jeon. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2013-10-03.

Data analysis apparatus, method, and computer readable method

Номер патента: US20220043888A1. Автор: Florian BEYE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Work content analysis apparatus, work content analysis method, and program

Номер патента: US20230186211A1. Автор: Jun Takahashi,Hitoshi Kobayashi,Kazuki Yamamoto,Ken Ishii,Toshiyuki Morishita,Takashi Kusakabe,Hiroki Takenouchi,Yuto AKIMOTO. Владелец: Toshiba Digital Solutions Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Analysis apparatus, analysis method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20240105072A1. Автор: Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Hiroo Harada,Haruki Mizutani,Hirotaka MAESHIMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Target antigen discovery method and analysis apparatus for chimeric antigen receptor

Номер патента: EP4246521A1. Автор: Jung Kyoon Choi,Joon Ha KWON. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2023-09-20.

Flow analysis apparatus and method therefor

Номер патента: US20200065448A1. Автор: Sangjin Lee,Jaehyeon Park,Hyunsik Kim,Jeehun Park. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Analysis apparatus, analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20230377369A1. Автор: Yoshiyuki Tanaka,Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Shogo AKASAKI,Haruki Yokota. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Image analysis model adjustment method and image analysis apparatus

Номер патента: US20240144636A1. Автор: Shu-Shu Chiu. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Image analysis apparatus, image analysis method, and a non-transitory storage medium

Номер патента: US20240013428A1. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Recording medium storing system analysis program, system analysis apparatus and system analysis method

Номер патента: US8156087B2. Автор: Toshihiro Shimizu,Hirokazu Iwakura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-04-10.

Data analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20230412777A1. Автор: Tetsu Ogawa,Itaru Shimizu,Naomi Kurahara. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Data analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20230412772A1. Автор: Tetsu Ogawa,Itaru Shimizu,Naomi Kurahara. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Personalized content providing method based on personal multiple feature information and analysis apparatus

Номер патента: EP4006913A1. Автор: Sung Woo YANG. Владелец: Ngenebio Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Endoscopic examination information analysis apparatus, endoscopic examination information input support system, and endoscopic examination information analysis method

Номер патента: US20210035695A1. Автор: Yosuke Ohashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-02-04.

Operation analysis system, operation analysis apparatus, operation analysis method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240036780A1. Автор: Hiroki Yamamura,Ryonosuke Miyazaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-01.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method and analysis program

Номер патента: US20240146757A1. Автор: Junpei Kamimura,Yoshiaki SAKAE,Kazuhiko lSOYAMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Image analysis apparatus, image analysis method, and program

Номер патента: US20240127570A1. Автор: Akimichi ICHINOSE,Taro HATSUTANI. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Operation analysis system, operation analysis apparatus, operation analysis method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US12001732B2. Автор: Hiroki Yamamura,Ryonosuke Miyazaki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Image analysis model establishment method and image analysis apparatus

Номер патента: US20230186441A1. Автор: Shu-Shu Chiu. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2023-06-15.

Personalized content providing method based on personal multiple feature information and analysis apparatus

Номер патента: US20220165392A1. Автор: Sung Woo YANG. Владелец: Ngenebio Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Machine learning model-based essential gene identification method and analysis apparatus

Номер патента: US20220367008A1. Автор: Kiwon Jang,Dae Yeon Cho,Jung Kyoon Choi. Владелец: Pentamedix Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Personalized content providing method based on personal multiple feature information and analysis apparatus

Номер патента: AU2021269412A1. Автор: Sung Woo YANG. Владелец: Ngenebio Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-09.

Machine learning model-based essential gene identification method and analysis apparatus

Номер патента: EP3998611A1. Автор: Kiwon Jang,Dae Yeon Cho,Jung Kyoon Choi. Владелец: Pentamedix Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-18.

Speech analysis apparatus, speech analysis method and computer program

Номер патента: US20090030690A1. Автор: Keiichi Yamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Text analysis methods, text analysis apparatuses, and articles of manufacture

Номер патента: US8874571B2. Автор: Paul D. Whitney,Alan R. Willse,Charles A. Lopresti,Amanda M. White. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2014-10-28.

Operation analysis apparatus, operation analysis method, operation analysis program, and operation analysis system

Номер патента: US20190347779A1. Автор: Jun Sasaki,Shuichi Goto,Naohiro Kawai,Hiroomi Onda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Sound analysis apparatus, sound analysis method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: EP3627357A1. Автор: Yuko Ito,Hiroki Yoshino. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-25.

Event analysis apparatus, event analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20140012803A1. Автор: Takao Kawai,Satoshi Nakazawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-09.

Analysis Method, Analysis Apparatus, and Computer Readable Medium

Номер патента: US20210125115A1. Автор: Tetsuya Eda,Takehiro Kusumi,Takeru Nitta,Eri Mashiko. Владелец: JSOL Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Sound analysis apparatus, sound analysis method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: US20200075037A1. Автор: Yuko Ito,Hiroki Yoshino. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Automation cost analysis apparatus, automation cost analysis method and program

Номер патента: EP4064157A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-28.

Analysis apparatus, system, method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20230412764A1. Автор: Yoshiyuki Tanaka,Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Shogo AKASAKI,Haruki Yokota. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Dynamic analysis apparatus, dynamic analysis system, expected rate calculation method, and recording medium

Номер патента: US11484221B2. Автор: Jun Hanaoka,Kenta Shimamura,Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-01.

Image analysis apparatus using machine learning-based artificial intelligence including preprocessing modules

Номер патента: US11928589B2. Автор: Kihwan Choi,Laehyun Kim,Jangho KWON. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2024-03-12.

Factor analysis apparatus, factor analysis method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20190050460A1. Автор: Kohei Maruchi,Masatake Sakuma,Sayaka AKIYAMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Image analysis apparatus, image analysis system, and operation method of image analysis apparatus

Номер патента: US20170358084A1. Автор: Toshio Nakamura,Tetsuhiro Yamada,Ryuichi Toyama,Momoko YAMANASHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Analysis apparatus, analysis method and computer readable medium

Номер патента: US20220308561A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Behavior analysis apparatus and behavior analysis method

Номер патента: US20180144482A1. Автор: Toshio Kamimura,Yasuyuki Mimatsu,Akinobu Watanabe,Yuuichi NONAKA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-24.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20170308688A1. Автор: Yang Zhong,Hiroshi Asakura,Shingo Orihara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Message analysis apparatus, message analysis method, and storage medium

Номер патента: US20180165174A1. Автор: Yasuhiro Ajiro,Kazuya Fujita,Shinichi Toriyama. Владелец: NEC Solution Innovators Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Analysis apparatus, system, method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20230410506A1. Автор: Yoshiyuki Tanaka,Masami Sakaguchi,Shin Norieda,Shogo AKASAKI,Haruki Yokota. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Syntactic analysis apparatus

Номер патента: US5487000A. Автор: Masanori Takahashi,Tadashi Nagano,Hideko Mori,Masaki Kiyono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 1996-01-23.

Document analysis apparatus, document analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220164522A1. Автор: Ayako HOSHINO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-05-26.

Medical image analysis apparatus, medical image analysis method, and medical image analysis program

Номер патента: US20240029251A1. Автор: Akimichi ICHINOSE. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Analysis apparatus, analysis method, and computer program product

Номер патента: US20220083713A1. Автор: Hideaki Uehara,Akira Kano,Kenji Hirohata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

People stream analysis method, people stream analysis apparatus, and people stream analysis system

Номер патента: US20190019019A1. Автор: Jun Ozawa,Yuri NISHIKAWA. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Image analysis apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US20230267727A1. Автор: Satoshi Yoshida,Shoji NISHIIMURA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Time series data analysis apparatus, time series data analysis method and time series data analysis program

Номер патента: US20200082286A1. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-03-12.

Analysis apparatus, analysis method, and non-transitory computer readable mediumstoring analysis program

Номер патента: US20230024824A1. Автор: Hirofumi Ueda,Tomohiko Yagyu,Ryo Mizushima. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-01-26.

Data analysis apparatus, data analysis method, and data analysis program

Номер патента: EP3745325A1. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-12-02.

Data analysis apparatus, data analysis method, and data analysis program

Номер патента: US11636358B2. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-04-25.

Intradialytic analysis method and analysis apparatus for dialysis

Номер патента: EP4174870A1. Автор: Chih-Hsin Yeh,Ting-Hui Lee,Chih-Feng Kuo,Chih-Yi Chien. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2023-05-03.

Data analysis apparatus, data analysys method, and program

Номер патента: US20220058175A1. Автор: Ryohto SAWADA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Timing analysis apparatus, timing analysis method, and timing analysis program

Номер патента: US20110107285A1. Автор: Yoshitaka Horikoshi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-05-05.

Crystal analysis apparatus and crystal analysis method

Номер патента: US10692206B2. Автор: Masako Kodera. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-06-23.

Dynamic image analysis apparatus, dynamic image analysis method, and recording medium

Номер патента: US20200034964A1. Автор: Kenta Shimamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-01-30.

Analysis apparatus, analysis method and program

Номер патента: US20230237124A1. Автор: Masahiro Ikeda,Isao Ishikawa,Yuka Hashimoto,Yoshinobu Kawahara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Crystal for an X-ray analysis apparatus

Номер патента: US4780899A. Автор: Cornelis L. Adema,Cornelis L. Alting,Albert Huizing,Wilhelmus H. J. M. Gevers. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

Pipe network analysis apparatus, pipe network analysis method, and storage medium

Номер патента: US20170308635A1. Автор: Yuichi Nakamura,Takahiro Kumura,Manabu Kusumoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

User intention analysis apparatus and method based on image information of three-dimensional space

Номер патента: US20160335485A1. Автор: Jin Woo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2016-11-17.

Hybrid walking analysis apparatus for fall prevention and fall prevention management system comprising same

Номер патента: US20230404436A1. Автор: Youngwoo Lee,Yookang JI,Jaehong JOO. Владелец: Optonics Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Vehicle anomaly analysis apparatus

Номер патента: US11725726B2. Автор: Atsushi Tabata,Koichi Okuda,Kota Fujii,Tooru Matsubara,Hiromasa TATSUSHIRO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Operation analysis apparatus, operation analysis method, and computer program product

Номер патента: US20130246677A1. Автор: Kenichi Ozawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-19.

Inference analysis apparatus, inference apparatus, inference analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240144053A1. Автор: Itaru Hosomi,Daichi Kimura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Data analysis apparatus, method and system

Номер патента: US20220188307A1. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-06-16.

Structural load analysis apparatus

Номер патента: US5044206A. Автор: Graham R. Williams. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-09-03.

Golf swing analysis apparatus and method

Номер патента: US5823878A. Автор: Christian M. Welch. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-10-20.

Colony analysis apparatus for determining contamination level of food subject to microbial collection

Номер патента: US20230235258A1. Автор: Sung Yong Kang. Владелец: Tritonnet Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Video analysis apparatus, video analysis method, and a non-transitory storage medium

Номер патента: US20240013427A1. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

State of consciousness analysis apparatus, state of consciousness analysis program, and observation system

Номер патента: EP4311479A1. Автор: Atsushi Tabata,Yuma Nambu. Владелец: Cross Sync Inc. Дата публикации: 2024-01-31.

Dynamic image analysis apparatus, recording medium, and dynamic image analysis method

Номер патента: US20240023822A1. Автор: RYOICHI Watanabe,Tomoyuki Hida,Takenori Fukumoto,Yuzo Yamasaki,Kousei Ishigami,Takeshi Kamitani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-25.

Data analysis apparatus, data analysis method, and storage medium

Номер патента: US20240085899A1. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Video analysis apparatus, video analysis method, and program

Номер патента: EP4303829A1. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-10.

Syntactic analysis apparatus and method for the same

Номер патента: US11714960B2. Автор: Su Hyun Park,Ji Hun Choi,Sung Soo Park,Hyun Tae Kim,Chang Woo Chun,Sang Goo Lee,Jung Kuk Lee,Kang Min Yoo,Chan Ill Park,You Hyun Shin,Sang Hwan Bae. Владелец: Hyundai AutoEver Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Data analysis apparatus, data analysis system, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230342402A1. Автор: Yoshikuni Miyata,Ryosuke Sakai,Yoshihiro MITSUKA,Motofumi AWA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Data analysis apparatus, data analysis method, and recording medium

Номер патента: US20180307969A1. Автор: Takuma Shibahara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-25.

Image analysis apparatus, image analysis system, and storage medium

Номер патента: US11730907B2. Автор: Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-08-22.

Radiographic image analysis apparatus and radiographic image analysis system

Номер патента: US20190328346A1. Автор: Isao Matsumoto,Rie Tanaka,Kazuo Kasahara,Masaya Tamura,Shintaro Muraoka,Noriyuki OHKURA,Junsei HORII. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-10-31.

Document image analysis apparatus, document image analysis method and program thereof

Номер патента: US11900644B2. Автор: Simona Maggio,Alois DE LA COMBLE,Ken PREPIN. Владелец: Rakuten Group Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Dynamic image analysis apparatus, dynamic image analysis method, and storage medium

Номер патента: US11810295B2. Автор: Kenichi Yanagisawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-11-07.

Digital watermark analysis apparatus and digital watermark analysis method

Номер патента: US11790477B2. Автор: Yuki Omagari. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Data analysis apparatus, method and system

Номер патента: US11775512B2. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20200302593A1. Автор: Nobuaki Takahashi,Yasuo Namioka,Hideki Yasui,Masaya MOTOKUBOTA,Yuki YATSUSHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Video analysis apparatus, video analysis method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20240013534A1. Автор: Noboru Yoshida,Jianquan Liu,Satoshi Yamazaki,Ryo Kawai,Yuta Namiki,karen Stephen,Tingting Dong,Youhei SASAKI,Naoki Shindou. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Analysis apparatus, analysis method and program

Номер патента: US20230154628A1. Автор: Hiroyuki Toda,Takeshi Kurashima,Tomu TOMINAGA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-05-18.

Data analysis apparatus and method

Номер патента: US20230081798A1. Автор: Wataru Watanabe,Toshiyuki Ono,Takayuki Itoh,Jumpei ANDO,Keisuke Kawauchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Data analysis apparatus and data analysis method

Номер патента: US20230306489A1. Автор: Tomoaki Yoshinaga,Quan Kong. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-09-28.

Information analysis apparatus, information analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240169070A1. Автор: Shunichi Kinoshita,Masaru Kawakita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Anterior segment analysis apparatus, anterior segment analysis method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20240169547A1. Автор: Shigeru Honda,Kazunori Asanuma. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Customer analysis apparatus, customer analysis method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20230080815A1. Автор: Hiroshi Hashimoto,Ken Hanazawa,Kan Arai,Kei Shibuya,Makiko Akiguchi,Azusa Furukawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Audio analysis apparatus

Номер патента: US8853516B2. Автор: Sebastian Streich,Keita Arimoto,Bee Suan Ong. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2014-10-07.

Image analysis apparatus and monitoring system

Номер патента: US20220398765A1. Автор: Yoshiaki Tomatsu,Takayuki Nakagome. Владелец: Aisin Corp. Дата публикации: 2022-12-15.

Importance analysis apparatus, method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20220076049A1. Автор: Kentaro Takagi,Kouta Nakata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Dynamic image analysis apparatus and recording medium

Номер патента: US20230394657A1. Автор: Sho Noji. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-12-07.

Trouble analysis apparatus

Номер патента: US20110145647A1. Автор: Takashi Yoshikawa,Junichi Higuchi,Youichi Hidaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Traffic analysis apparatus, system, method, and program

Номер патента: US20200328947A1. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-10-15.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US6496565B2. Автор: Mitsuo Naito,Yoshiki Matoba. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-17.

Operation data analysis apparatus, method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20140344624A1. Автор: Yoshihiro Kaneko,Takeichiro Nishikawa,Tooru MAMATA,Minoru Nakatsugawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-11-20.

Body information analysis apparatus and method of auxiliary comparison of eyebrow shapes thereof

Номер патента: US20190095696A1. Автор: Shyh-Yong Shen,Min-Chang Chi,Eric Budiman GOSNO. Владелец: Cal Comp Big Data Inc. Дата публикации: 2019-03-28.

Skin analysis apparatus

Номер патента: EP3657384A1. Автор: Ichiro Takei,Hiroshi Matsumoto,Hiroki Taoka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-27.

State of consciousness analysis apparatus, storage medium, and observation system

Номер патента: US20240023856A1. Автор: Atsushi Tabata,Yuma Nambu. Владелец: Cross Sync Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Analysis apparatus

Номер патента: US20240028018A1. Автор: Yutaka Takahashi,Ryosuke Togawa,Shigemasa Yokota. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Analysis apparatus, method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230298313A1. Автор: Ryusuke Hirai,Yasunobu Yamauchi,Tsukasa Ike,Izumi Fukunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Analysis apparatus and method for incoherent material

Номер патента: EP4385700A1. Автор: Enrico Bellio,Davide Cappellini. Владелец: Piovan Spa. Дата публикации: 2024-06-19.

New and improved, ultra low carryover sample liquid analysis apparatus and method

Номер патента: CA2019519C. Автор: Kenneth F. Uffenheimer,Nicholas F. Di Domenico,Stephen L. Weitz. Владелец: Bayer Corp. Дата публикации: 1999-07-06.

Information processing apparatus, information processing method, non-transitory computer readable media storing program, and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230184699A1. Автор: Akihiro Himeda,Takumi Ohta. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Spectral analysis method, analysis apparatus and analysis program

Номер патента: US20240295491A1. Автор: Satoko Suzuki,Hisashi Masago,Taiji Oyama. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Break analysis apparatus and method

Номер патента: NZ747280A. Автор: Mark Hansen,Melvyn Smith,Abdul Farooq,Ian Hales,Gwen Daniel. Владелец: Belron Int Ltd. Дата публикации: 2024-05-31.

Break analysis apparatus and method

Номер патента: NZ787611B2. Автор: Mark Hansen,Melvyn Smith,Abdul Farooq,Ian Hales,Gwen Daniel. Владелец: Belron International Limited. Дата публикации: 2024-07-30.

Monitoring of the functionality of a converter of a breath analysis apparatus

Номер патента: US09329161B2. Автор: Maximilian Fleischer,Erhard Magori,Roland Pohle,Florian Reuter. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-05-03.

Electrolyte analysis apparatus and analysis method

Номер патента: EP4382901A1. Автор: Haruyoshi Yamamoto,Masafumi Miyake,Hutami Rahayu RAHMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-12.

Polymer Analysis Apparatus and Method

Номер патента: US20240110897A1. Автор: Masahiro Hashimoto,Haruo Iwabuchi,Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

X-ray analysis apparatus with an X-ray generator

Номер патента: EP1273906A3. Автор: Seiichi Hayashi,Sadayuki Takahashi,Masaru Kuribayashi,Jimpei Harada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-02-11.

Analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US20170138850A1. Автор: Mitsuo Ozaki,Michiko Noguchi,Yasuhiro Usui. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US10712294B2. Автор: Shuuichi DOI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-07-14.

3D data analysis apparatus, 3D data analysis method and 3D data analysis program

Номер патента: EP2461151B1. Автор: Shunsuke Suzuki,Yoshitsugu Sakai,Atsuo Fujimaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Gas Analysis Apparatus

Номер патента: GB1186325A. Автор: . Владелец: Lorraine de Laminage Continu SA SOLLAC. Дата публикации: 1970-04-02.

Electrochemical metal analysis apparatus having a laminated electrode comprising a mercury-containing layer

Номер патента: NZ266828A. Автор: John Bolbot,Costa Eric D,Stephen Birch,John Irving Higgins. Владелец: Cranfield Biotech Ltd. Дата публикации: 1996-05-28.

Ion generation apparatus and ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US11988634B2. Автор: Tadashi Iwamatsu,Katsuhiko KYUHKEN,Shohei Komaru,Kohji Shinkawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Blood analysis apparatus and method

Номер патента: EP3265145A1. Автор: Stephen Turner. Владелец: Spectrum Medical Ltd. Дата публикации: 2018-01-10.

Blood Analysis Apparatus & Method

Номер патента: US20180050146A1. Автор: Stephen Turner. Владелец: Spectrum Medical Ltd. Дата публикации: 2018-02-22.

Exosome analysis method, exosome analysis apparatus, antibody-exosome complex, and exosome electrophoresis chip

Номер патента: US09952215B2. Автор: Takanori Ichiki,Hirofumi Shiono,Takanori Akagi. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2018-04-24.

Image analysis method and image analysis apparatus

Номер патента: US8705865B2. Автор: Akemi Suzuki. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2014-04-22.

Components analysis apparatus and components analysis method

Номер патента: US20240257919A1. Автор: Satoshi Wada,Takayo Ogawa,Akinori TAKETANI. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-08-01.

Blood analysis apparatus and method

Номер патента: WO2016142657A1. Автор: Stephen Turner. Владелец: Spectrum Medical Ltd.. Дата публикации: 2016-09-15.

EXHAUST GAS ANALYSIS APPARATUS, EXHAUST GAS ANALYSIS SYSTEM, EXHAUST GAS MEASUREMENT METHOD, PROGRAM RECORDING MEDIUM RECORDED WITH PROGRAM FOR EXHAUST GAS ANALYSIS APPARATUS, AND CALIBRATION METHOD FOR EXHAUST GAS ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20190113422A1. Автор: Otsuki Yoshinori. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

BLOOD COAGULATION SYSTEM ANALYSIS APPARATUS, BLOOD COAGULATION SYSTEM ANALYSIS SYSTEM, BLOOD COAGULATION SYSTEM ANALYSIS METHOD, BLOOD COAGULATION SYSTEM ANALYSIS PROGRAM, BLOOD LOSS PREDICTION APPARATUS, BLOOD LOSS PREDICTION SYSTEM, BLOOD LOSS PREDICTION METHOD, AND BLOOD LOSS PREDICTION PROGRAM

Номер патента: US20190346425A1. Автор: Hayashi Yoshihito,YAMAMOTO Yudai,Uchida Tokujiro. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-14.

Spectroscopic tissue analysis apparatus and methods

Номер патента: US20180252695A1. Автор: Zhiwei Huang. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2018-09-06.

Sample analysis apparatus

Номер патента: US11841351B2. Автор: Yukihiko KUDO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

Ionization device, ion detection apparatus, and gas analysis apparatus

Номер патента: WO2024134567A1. Автор: Katsuya Ujimoto,Kunihiro Tan. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2024-06-27.

Image analysis apparatus, image analysis method, image analysis program, cell manufacturing method, cell manufacturing apparatus, cell culture method, and cell culture apparatus

Номер патента: JP6402717B2. Автор: 敬 中川,正文 三村,孝之 魚住,魚住　孝之,三村　正文. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-10-10.

GAS ANALYSIS APPARATUS, PROGRAM FOR GAS ANALYSIS APPARATUS, AND GAS ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20190017927A1. Автор: TAKAHASHI Motonobu. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2019-01-17.

ANALYSIS APPARATUS, PROGRAM FOR ANALYSIS APPARATUS, AND ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20180172581A1. Автор: Nishimura Katsumi,Ohta Toshio,SHIBUYA Kyoji,FUKUSHIRO Kensuke. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2018-06-21.

PARTICLE ANALYSIS APPARATUS, OBSERVATION APPARATUS, PARTICLE ANALYSIS PROGRAM AND PARTICLE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20160320289A1. Автор: TANAKA Daishi,Suzuki Kuno,OSAWA Hisao. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

Insulin secretion capacity analysis apparatus, insulin secretion capacity analysis system including the apparatus, and insulin secretion capacity analysis method

Номер патента: JP6401297B2. Автор: 伴　　秀行,泰隆 長谷川,伴　秀行,和田　高士,高士 和田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-10.

Image analysis method, image analysis apparatus, inspection apparatus, image analysis program, and computer-readable recording medium

Номер патента: JP4143660B2. Автор: 泰広 上田,博之 中井,実 安川,大乗 山高. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2008-09-03.

Real-time multiple-item heavy metal analysis apparatus, real-time multiple-item heavy metal analysis method, and method for producing sensor of heavy metal analysis apparatus

Номер патента: WO2017065395A1. Автор: 김유정,황경엽,손창식. Владелец: (주)썬텍엔지니어링. Дата публикации: 2017-04-20.

Solution quantitative analysis apparatus, quantitative analysis methods, and nuclear reactor water quality control system

Номер патента: US5186798A. Автор: Katsumi Mabuchi,Masanori Sakai,Eiji Kikuchi,Takuya Takahashi,Noriyuki Ohnaka,Katsumi Ohsumi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1993-02-16.

Biochemical analyzing method, biochemical analysis apparatus, biochemical analysis unit used therefor and target detecting apparatus for detecting target from biochemical analysis unit

Номер патента: US20020028521A1. Автор: Nobuhiko Ogura. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2002-03-07.

Improvements to gas analysis apparatus

Номер патента: GB998493A. Автор: Leslie Thomas Minchin. Владелец: COMB INSTR Ltd. Дата публикации: 1965-07-14.

Sample analysis apparatus, analysis apparatus for animals, and sample analysis method

Номер патента: WO2023010447A1. Автор: 王官振,孔繁钢. Владелец: 深圳迈瑞动物医疗科技股份有限公司. Дата публикации: 2023-02-09.

Semiconductor analysis apparatus, semiconductor analysis method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20030002035A1. Автор: Takafumi Noda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-02.

Material analysis method and material analysis apparatus

Номер патента: US12007405B2. Автор: Genki Yoshikawa,Gaku IMAMURA,Kosuke Minami,Kota SHIBA. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2024-06-11.

Information processing apparatus, particle analysis apparatus, particle fractionation apparatus, and information processing method

Номер патента: US20230366803A1. Автор: Yasuharu Yamauchi,Koji Futamura. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Image analysis apparatus, image analysis method, image analysis system, image analysis program, and recording medium

Номер патента: JPWO2017010397A1. Автор: 直正 河口,和昭 中根,晃弘 瀧山. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-04-19.

Analysis method and analysis apparatus each employing measurement based on polarization anisotropy

Номер патента: US20230366826A1. Автор: Fumio Yamauchi,Teigo Sakakibara,Kengo Kanazaki,Tomohiro Nakamura,Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura,Ikuo Nakajima. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Analysis apparatus

Номер патента: EP1963827A1. Автор: Makoto Ishibashi,Ryoichi Ootani. Владелец: Toshiba Electron Tubes and Devices Co Ltd. Дата публикации: 2008-09-03.

Polymer analysis apparatus and method

Номер патента: EP4345826A1. Автор: Masahiro Hashimoto,Haruo Iwabuchi,Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Analysis method and analysis apparatus each employing measurement based on polarization anisotropy

Номер патента: EP4276446A1. Автор: Fumio Yamauchi,Teigo Sakakibara,Kengo Kanazaki,Tomohiro Nakamura,Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura,Ikuo Nakajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Break analysis apparatus and method

Номер патента: ZA201806995B. Автор: Mark Hansen,Melvyn Smith,Abdul Farooq,Ian Hales,Gwen Daniel. Владелец: Belron Int Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Break analysis apparatus and method

Номер патента: CA3021030C. Автор: Mark Hansen,Melvyn Smith,Abdul Farooq,Ian Hales,Gwen Daniel. Владелец: Belron International Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Wave shape chemical analysis apparatus and method

Номер патента: AU6336486A. Автор: Gary S. Fletcher Jr.,Milton Earl Fuller. Владелец: Solid State Farms Inc. Дата публикации: 1987-03-24.

Fast steady state field analysis method, fast steady state field analysis apparatus, fast steady state field analysis program, and computer-readable recording medium of storing its program

Номер патента: US20120078559A1. Автор: Kenji Miyata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-03-29.

NUCLEIC ACID ANALYSIS DEVICE, NUCLEIC ACID ANALYSIS APPARATUS, AND NUCLEIC ACID ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130157264A1. Автор: TAKAHASHI Satoshi,Imai Kazumichi,Saito Toshiro,Obara Takayuki. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-20.

NUCLEIC ACID ANALYSIS DEVICE, NUCLEIC ACID ANALYSIS APPARATUS, AND NUCLEIC ACID ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20140038274A1. Автор: TAKAHASHI Satoshi,Maekawa Akira,Sakai Tomoyuki,Sonehara Tsuyoshi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

Analysis apparatus for contactless analysis of the shape of a transparent body, and method for carrying out the contactless analysis

Номер патента: US20140055568A1. Автор: Carsten ETZOLD,Friedrich Neuhaeuser-Wespy. Владелец: HAMILTON BONADUZ AG. Дата публикации: 2014-02-27.

CASE FOR SPECIMEN ANALYZING KIT, KIT FOR SPECIMEN ANALYZING, SPECIMEN ANALYSIS APPARATUS AND CONTROL METHOD OF SPECIMEN ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20140065032A1. Автор: SHIN Ji Hun,HONG Ju Pyo,BAE Byeong Woo,LEE Sung Dong,KANG Rae Ho. Владелец: INFOPIA CO., LTD.. Дата публикации: 2014-03-06.

CASE FOR SPECIMEN ANALYZING KIT, KIT FOR SPECIMEN ANALYZING, SPECIMEN ANALYSIS APPARATUS AND CONTROL METHOD OF SPECIMEN ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20140065033A1. Автор: SHIN Ji Hun,HONG Ju Pyo,BAE Byeong Woo,LEE Sung Dong,KANG Rae Ho. Владелец: INFOPIA CO., LTD.. Дата публикации: 2014-03-06.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190041342A1. Автор: HIMEDA Akihiro,Ohbuchi Atsushi,Konya Takayuki,Fujinawa Go. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-07.

BLOOD STATE ANALYSIS APPARATUS, BLOOD STATE ANALYSIS SYSTEM, BLOOD STATE ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20220074921A1. Автор: Hayashi Yoshihito,BRUN MARCAURELE. Владелец: Sony Group Corporation. Дата публикации: 2022-03-10.

SPECTRUM ANALYSIS APPARATUS, FINE PARTICLE MEASUREMENT APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR SPECTRUM ANALYSIS OR SPECTRUM CHART DISPLAY

Номер патента: US20210080375A1. Автор: Nitta Nao. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS, PRETREATMENT APPARATUS, AND CHEMICAL ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20180080930A1. Автор: Taniguchi Shinichi,Ando Takahiro. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2018-03-22.

BLOOD STATE ANALYSIS APPARATUS, BLOOD STATE ANALYSIS SYSTEM, BLOOD STATE ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20190101526A1. Автор: Hayashi Yoshihito,BRUN MARCAURELE. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-04-04.

SPECTRUM ANALYSIS APPARATUS, FINE PARTICLE MEASUREMENT APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR SPECTRUM ANALYSIS OR SPECTRUM CHART DISPLAY

Номер патента: US20140222381A1. Автор: Nitta Nao. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-08-07.

Absorbance analysis apparatus for DCR gas, absorbance analysis method for DCR gas, and absorbance analysis program recording medium on which program for DCR gas is recorded

Номер патента: US20220307977A1. Автор: TANAKA Masayuki,Shimizu Toru,MINAMI Masakazu,Sakaguchi Yuhei,FURUYA Yuichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

Analysis apparatus, stratum age estimation apparatus, analysis method, stratum age estimation method, and program

Номер патента: US20200166497A1. Автор: Tatsuhiko Yamaguchi,Naoki Kuwamori,Yousuke TAIRA,Tatsuhiko HOSHINO,Jonaotaro ONODERA,Kyoko TOMIOKO,Takuya ITAKI. Владелец: Kochi University NUC. Дата публикации: 2020-05-28.

IMAGE ANALYSIS APPARATUS, IMAGE ANALYSIS METHOD, AND IMAGE ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20200184192A1. Автор: TOMINAGA Shunsuke. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2020-06-11.

FOREIGN MATTER ANALYSIS METHOD, STORAGE MEDIUM STORING FOREIGN MATTER ANALYSIS PROGRAM, AND FOREIGN MATTER ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20210247233A1. Автор: Kubo Yoshiko,AIZAWA Kento,HIGUCHI Yuji,TAIRA Erika. Владелец: JASCO CORPORATION. Дата публикации: 2021-08-12.

OPTICAL ANALYSIS APPARATUS, OPTICAL ANALYSIS SYSTEM, AND OPTICAL ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20180224374A1. Автор: Nojima Akihiro,Taniguchi Shinichi,KANBAYASHI Takuya. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-09.

CONTROLLER FOR THERMAL ANALYSIS APPARATUS, AND THERMAL ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20210278353A1. Автор: YAMAZAKI Ryokuhei,ITO Susumu. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

BLOOD-CLOTTING-SYSTEM ANALYSIS APPARATUS, BLOOD-CLOTTING-SYSTEM ANALYSIS METHOD, AND BLOOD-CLOTTING-SYSTEM ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210341498A1. Автор: Hayashi Yoshihito,MACHIDA KENZO,Lee Seunmin,Fuchigami Aya. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2021-11-04.

POLARIZATION ANALYSIS APPARATUS AND CONTROL METHOD OF POLARIZATION ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20190302023A1. Автор: MIZOKUCHI Chikaaki. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

LIGHT ABSORBANCE ANALYSIS APPARATUS AND PROGRAM RECORD MEDIUM FOR RECORDING PROGRAMS OF LIGHT ABSORBANCE ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20200340918A1. Автор: Shimizu Toru,MINAMI Masakazu,Sakaguchi Yuhei. Владелец: HORIBA STEC, CO., LTD.. Дата публикации: 2020-10-29.

PIPING DEVICE FOR ANALYSIS APPARATUS AND ANALYSIS APPARATUS USING THE PIPING DEVICE

Номер патента: US20190369060A1. Автор: Aoki Kengo,GUNJI Masahide. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-05.

FLUID ANALYSIS APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING FLUID ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20200400582A1. Автор: LEE Jong Gun,HAN Seung Woo,KIM Jong Cheol,KANG HYUN-SUK,KIM Hong-Geun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2020-12-24.

Analysis kit, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: JPWO2008041773A1. Автор: 賢信 小原,小原　賢信,矢澤　義昭,義昭 矢澤,千文 合田. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-02-04.

Optical analysis apparatus, optical analysis method, and computer program for optical analysis

Номер патента: JP5781118B2. Автор: 山口　光城,光城 山口,聖二 近藤,田邊　哲也,哲也 田邊,邦夫 堀. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-09-16.

Spectrum analysis apparatus, fine particle measurement apparatus, and method and program for spectrum analysis or spectrum chart display

Номер патента: CN103797356A. Автор: 新田尚. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

Analysis apparatus, analysis method and analysis program

Номер патента: US11300529B2. Автор: Atsushi Ohbuchi,Takayuki Konya,Go Fujinawa,Akihiro Himeda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-04-12.

Chemical analysis apparatus

Номер патента: GB1393849A. Автор: . Владелец: GOW MAC INSTRUMENT Co. Дата публикации: 1975-05-14.

Piece analysis method, piece analysis apparatus, and storage medium for piece analysis

Номер патента: JPWO2017110753A1. Автор: 川合　知二,剛 吉田,知二 川合,正輝 谷口,鷲尾　隆,隆 鷲尾,真楠 筒井,一道 横田,陽 石井,吉田　剛. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-10-25.

the metabolomics portable analysis apparatus and the metabolomics analysis system using the same, the metabolomics analysis method using the same

Номер патента: KR101560721B1. Автор: 권혁남,박성혁,박주은. Владелец: 서울대학교산학협력단. Дата публикации: 2015-10-29.

METHOD OF ANALYSIS OF A BIOLOGICAL SAMPLE CONTAINING BIOLOGICAL CELLS, AND ANALYSIS APPARATUS FOR IMPLEMENTING THE PROCESS OF ANALYSIS

Номер патента: FR3078777B1. Автор: Alain Rousseau. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-13.

HYDRAULIC DEVICE FOR BLOOD ANALYSIS APPARATUS, ASSOCIATED METHOD, AND ANALYSIS APPARATUS EQUIPPED WITH SUCH A DEVICE

Номер патента: FR2883970B1. Автор: Henri Champseix. Владелец: C2 Diagnostics SA. Дата публикации: 2007-11-16.

HYDRAULIC DEVICE FOR BLOOD ANALYSIS APPARATUS, ASSOCIATED METHOD, AND ANALYSIS APPARATUS EQUIPPED WITH SUCH A DEVICE

Номер патента: FR2883970A1. Автор: Henri Champseix. Владелец: C2 Diagnostics SA. Дата публикации: 2006-10-06.

Analysis apparatus and method of checking cartridge installation of the analysis apparatus

Номер патента: KR20150090747A. Автор: 김태수,이성화,장현수,조정민. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2015-08-06.

Optical analysis apparatus using single luminescent particle detection, optical analysis method, and computer program for optical analysis

Номер патента: JP5885738B2. Автор: 田邊　哲也,哲也 田邊. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-03-15.

Surface analysis apparatus of thermal annealed sample and surface analysis method of thermal annealed sample using the apparatus

Номер патента: KR101142609B1. Автор: 김지영,문만빈,오종수,복현호,오현운. Владелец: 현대하이스코 주식회사. Дата публикации: 2012-05-15.

Temperature correction method for thermal analysis apparatus and thermal analysis apparatus

Номер патента: EP1429129A1. Автор: Shuichi Matsuo. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-06-16.

Semiconductor failure analysis apparatus, failure analysis method, and failure analysis program

Номер патента: US20070294053A1. Автор: Akira Shimase,Hirotoshi Terada,Kazuhiro Hotta,Toshiyuki Majima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2007-12-20.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: EP3418727B1. Автор: Atsushi Ohbuchi,Takayuki Konya,Go Fujinawa,Akihiro Himeda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-05-11.

Analysis kit, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: JP5004961B2. Автор: 賢信 小原,義昭 矢澤,千文 合田. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-22.

Specimen analysis apparatus, method and system for managing boi sensor used in specimen analysis apparatus

Номер патента: KR101540962B1. Автор: 최재규. Владелец: (주) 비비비. Дата публикации: 2015-07-31.

HYDRAULIC DEVICE FOR BLOOD ANALYSIS APPARATUS, ASSOCIATED METHOD, AND ANALYSIS APPARATUS EQUIPPED WITH SUCH A DEVICE

Номер патента: MA29583B1. Автор: Henri Champseix. Владелец: C2 Diagnostics. Дата публикации: 2008-07-01.

Semiconductor failure analysis apparatus, failure analysis method, and failure analysis program

Номер патента: TWI462572B. Автор: Masahiro Takeda,Akira Shimase,Hirotoshi Terada,Kazuhiro Hotta,Toshiyuki Majima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-21.

Analysis method, analysis system, and analysis apparatus

Номер патента: JP4080087B2. Автор: 和典 根本,尚史 岩田,眞 小野. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-04-23.

Continuum motion analysis program, continuum motion analysis method, and continuum motion analysis apparatus

Номер патента: JPWO2012025995A1. Автор: 多聞 諏訪. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-10-28.

Piping device for analysis apparatus and analysis apparatus using the piping device

Номер патента: US11506640B2. Автор: Masahide Gunji,Kengo AOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-11-22.

Heating/combustion tube for use in analysis of mercury, thermal decomposition apparatus, and mercury analysis apparatus

Номер патента: WO2012073617A1. Автор: 渡辺朋亮,黒川竜太,中谷正,谷田幸次,古武慎太郎. Владелец: 日本インスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2012-06-07.

Fast steady state field analysis method, fast steady state field analysis apparatus, fast steady state field analysis program, and computer-readable recording

Номер патента: GB201115169D0. Автор: . Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-10-19.

X-ray analysis system, X-ray analysis apparatus and vapor phase decomposition apparatus

Номер патента: JP6618059B1. Автор: 河野　　浩,智 村上,浩 河野. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-12-11.

Optical analysis apparatus using single luminescent particle detection, optical analysis method, and computer program for optical analysis

Номер патента: JPWO2013069504A1. Автор: 山口　光城,光城 山口,田邊　哲也,哲也 田邊. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Cell analysis device, cell analysis apparatus, and cell analysis method using the same

Номер патента: CN108291186B. Автор: 白井正敬,内田宪孝,坂井友幸. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2021-09-28.

Inspection method, analysis piece manufacturing method, analysis method, analysis apparatus, SOI wafer manufacturing method, and SOI wafer

Номер патента: JPWO2004070828A1. Автор: 英之 近藤,晶 大久保,近藤　英之. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2006-06-01.

Ionization method and ionization apparatus, and imaging analysis method and imaging analysis apparatus

Номер патента: CN109964121B. Автор: 谷口谦一,内田刚史,糸井弘人. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-04-26.

Assembly tolerance analysis apparatus, assembly tolerance analysis method and storage medium

Номер патента: US6665632B2. Автор: Yuichi Sato,Masayoshi Hashima. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-12-16.

Assembly tolerance analysis apparatus, assembly tolerance analysis method and storage medium

Номер патента: US20020198680A1. Автор: Yuichi Sato,Masayoshi Hashima. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-12-26.

Analysis apparatus

Номер патента: US20220156913A1. Автор: Hideta Nakazawa. Владелец: Synca Outfit Na Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Analysis apparatus

Номер патента: US12106463B2. Автор: Hideta Nakazawa. Владелец: Synca Outfit Na Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

RESIN BEHAVIOR ANALYSIS APPARATUS, RESIN BEHAVIOR ANALYSIS METHOD AND RESIN BEHAVIOR ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20220277117A1. Автор: Yamamoto Takuya,Kobayashi Masatoshi,Sakakibara Tatsuo,Urakami Daisuke,Hyakusai Akira. Владелец: HONDA MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2022-09-01.

People-flow analysis apparatus, people-flow analysis method, and people-flow analysis system

Номер патента: US20240183677A1. Автор: Nobuyuki Sugimoto,Atsushi Ueno,Daisuke KANEKI. Владелец: Pacific Consultants Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Spatial optical communication system, analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20240201419A1. Автор: Hiroshi Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Battery charge and discharge profile analysis method, and battery charge and discharge profile analysis apparatus

Номер патента: US20240288500A1. Автор: Do-Hyun Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Electromagnetic field analysis method, electromagnetic field analysis apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240118353A1. Автор: Takeshi Kawasaki. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: EP1167932A3. Автор: Takeshi Uemura. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2004-10-13.

Spectrum analysis method and spectrum analysis apparatus

Номер патента: US20210325247A1. Автор: Tetsuya Nakamura,Naoki Tsuboi. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

Motion analysis method and motion analysis apparatus

Номер патента: US09880187B2. Автор: Kazuo Nomura,Masafumi Sato,Kazuhiro Shibuya,Kenya Kodaira. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Radiation Detection Apparatus and Sample Analysis Apparatus

Номер патента: US20230112252A1. Автор: Ryuichi Isobe,Genki Kinugasa,Kouji Miyatake,Kota Yanagihara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Radiation detection apparatus and sample analysis apparatus

Номер патента: US12105229B2. Автор: Ryuichi Isobe,Genki Kinugasa,Kouji Miyatake,Kota Yanagihara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Photographing apparatus, photographing unit, image analysis apparatus, and three-dimensional shape measuring system

Номер патента: US20230298193A1. Автор: Shizuo Sakamoto,Takaaki Matsushima,Osami FUJIMORI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Photographing apparatus, photographing unit, image analysis apparatus, and three-dimensional shape measuring system

Номер патента: EP4198628A1. Автор: Shizuo Sakamoto,Takaaki Matsushima,Osami FUJIMORI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-06-21.

Communication analysis apparatus and communication analysis method

Номер патента: EP2264944B1. Автор: Takeru Kuroiwa,Masanori Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-08-12.

Valve stem nut wear analysis apparatus and method

Номер патента: US09752859B2. Автор: Chris A. Labat,Carter Reames, Jr.. Владелец: Loop LLC. Дата публикации: 2017-09-05.

Fluid analysis apparatus, method for operating fluid analysis apparatus, and fluid analysis program

Номер патента: US20200170519A1. Автор: Hirotaka Ito. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS, X-RAY ANALYSIS SYSTEM, X-RAY ANALYSIS METHOD, AND X-RAY ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140021364A1. Автор: Ueji Yoshinori,ITO Kazuki,NISHI Kunio,KAJIYOSHI Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

EXERCISE ANALYSIS APPARATUS, EXERCISE ANALYSIS SYSTEM, EXERCISE ANALYSIS METHOD, AND EXERCISE ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20160029954A1. Автор: Sato Akinobu,MIZUOCHI Shunichi,Uchida Shuji. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Sound vibration analysis apparatus, sound vibration analysis method, computer-readable recording medium recording sound vibration analysis program, and program for sound vibration analysis

Номер патента: JP3853807B2. Автор: 貴明 中村. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-06.

Microscopic image analysis apparatus management program and microscopic image analysis apparatus management apparatus

Номер патента: JPWO2017098569A1. Автор: 直也 藤原,美沙 山下,藤原　直也,朋洋 平間,愛子 岡田. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-08-30.

Analysis Apparatus, Analysis Method and Analysis System

Номер патента: US20130197847A1. Автор: Tsukada Masashi,Kusaka Yasuhide. Владелец: ARKRAY, INC.. Дата публикации: 2013-08-01.

SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS AND METHOD OF CALIBRATING SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20160091369A1. Автор: SAKURAI Kazunori,KASAHARA Hirokazu. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-31.

FLUID ANALYSIS APPARATUS, FLUID ANALYSIS METHOD, AND FLUID ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20220268612A1. Автор: Ito Hirotaka. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2022-08-25.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND RECORDING MEDIUM HAVING RECORDED THEREON ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210199693A1. Автор: SUGIMURA Hajime,SAKAI Yuji. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND RECORDING MEDIUM HAVING RECORDED THEREON ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210199694A1. Автор: SUGIMURA Hajime,SAKAI Yuji. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US20210199713A1. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Motion analysis method, motion analysis apparatus, motion analysis system, and program

Номер патента: US20170215771A1. Автор: Tsuyoshi Ito,Takefumi SAYO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Biological Information Analysis Apparatus, Biological Information Analysis Method, and Biological Information Analysis System

Номер патента: US20210350924A1. Автор: Ogasawara Takayuki,MATSUNAGA Kenichi,Sato Rieko. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-11.

Behavior Analysis Apparatus for Analysis of User's Behavior, Behavior Analysis Method, and Storage Medium

Номер патента: US20170279907A1. Автор: Kazunori Kita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-28.

Behavior analysis apparatus, behavior analysis method and behavior analysis program

Номер патента: JP6554157B2. Автор: 昭 宮田,恭裕 曽篠. Владелец: 恭裕 曽篠. Дата публикации: 2019-07-31.

Defect analysis apparatus, defect analysis method, and defect analysis program

Номер патента: JPWO2015146109A1. Автор: 裕文 井上,尚武 高橋,慎 冨永,純一郎 又賀. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-04-13.

Spectroscopic analysis apparatus and method of calibrating spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: CN105466560A. Автор: 樱井和徳,笠原広和. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-04-06.

Motion analysis method, motion analysis apparatus, and motion analysis program

Номер патента: JP6467766B2. Автор: 和宏 澁谷,雅文 佐藤,野村　和生,和生 野村,健也 小平. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-02-13.

Delay analysis apparatus, delay analysis method, delay analysis program, and recording medium

Номер патента: JP4636989B2. Автор: 光宏 平野. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2011-02-23.

Signal analysis apparatus, excitation force measurement system, signal analysis method, and signal analysis program

Номер патента: JP6465034B2. Автор: 茂 葛西,宗一朗 高田. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-02-06.

Brain function data analysis method, brain function analysis apparatus, and brain function analysis program

Номер патента: JP4308871B2. Автор: 洋 月本. Владелец: Tokyo Denki University. Дата публикации: 2009-08-05.

Analysis apparatus, analysis method, and radar apparatus

Номер патента: US20220163620A1. Автор: Tomoko Adachi,Satoshi Kida,Masakazu Wada. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-05-26.

Brain image analysis apparatus, brain image analysis method, and brain image analysis program

Номер патента: WO2019131225A1. Автор: 晃宏 垣本,伊藤　雅典,知生 犬伏,悦次 吉川. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2019-07-04.

Packet analysis apparatus, method, and non-transitory computer readable medium thereof

Номер патента: US20180191874A1. Автор: Chao Yeh Lai,Chien Tsung Liu,Yu Chieh LI. Владелец: Onward Security Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Positioning environment analysis apparatus, and method and system for predicting location determination performance of terminal using the same

Номер патента: US09699614B2. Автор: Sung-Woong SHIN,Seung-Yong Lee,Sang-Joon Park,Joo-Young Kim,Young-Su Cho,Myung-In Ji. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-07-04.

Automated breath analysis apparatus and method

Номер патента: WO2024072326A1. Автор: Fang Du,Zhunan JIA. Владелец: Breathonix Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-04-04.

Communication analysis apparatus, communication analysis method, and program

Номер патента: US20210273864A1. Автор: Yuki Ashino,Ayaka SAMEJIMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Optical communication system, failure analysis apparatus, and failure analysis methodof optical communication system

Номер патента: US20230101899A1. Автор: Shingo KUBOKI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-30.

Method for determining threshold value of radio wave intensity for distinguishing noise in radio waves, and related wireless communication apparatus, analysis apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09590672B2. Автор: Shinichirou KODAMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Noise analysis apparatus, electronic device, and noise-source identification system

Номер патента: US09673794B2. Автор: Satoru Sonoda,Kengo Kato. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Method and analysis apparatus for measuring a cornea

Номер патента: US09615738B2. Автор: Andreas Steinmueller. Владелец: OCULUS OPTIKGERAETE GMBH. Дата публикации: 2017-04-11.

Analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US20150117242A1. Автор: Yuji Nomura,Fumiyuki Iizuka,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US09954748B2. Автор: Yuji Nomura,Fumiyuki Iizuka,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: RU2523827C2. Автор: Гереон ФОГТМАЙЕР,Кристиан БОЙМЕР. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-07-27.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: US20220167902A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Information analysis apparatus and computer readable medium

Номер патента: US7792060B2. Автор: Hiroshi Okamoto,Xiaojun Ma,Yukihiro Tsuboshita. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US20010039137A1. Автор: Koichi Tamura,Mitsuo Naito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: EP3923791A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2021-12-22.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: WO2020166413A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2020-08-20.

Brain image analysis apparatus, control method, and computer readable medium

Номер патента: US20230210441A1. Автор: Masataka Kikuchi,Kenichi Kamijo,Kaori Kobayashi,Yasusi MATSUMURA,Yasuto FUSHIMI. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2023-07-06.

Abnormal traffic analysis apparatus, abnormal traffic analysis method, and abnormal traffic analysis program

Номер патента: US20210058794A1. Автор: Hiroki Ito,Takafumi Harada,Gembu MOROHASHI. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-02-25.

Abnormal traffic analysis apparatus, abnormal traffic analysis method, and abnormal traffic analysis program

Номер патента: US11553347B2. Автор: Hiroki Ito,Takafumi Harada,Gembu MOROHASHI. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-01-10.

Analysys system, analysis apparatus, electronic device, analysis method, and program

Номер патента: US20140062681A1. Автор: Akira Takakura,Keisuke Tsubata,Yuji OHGI. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

Abnormal traffic analysis apparatus, abnormal traffic analysis method, and abnormal traffic analysis program

Номер патента: US11870792B2. Автор: Hiroki Ito,Takafumi Harada,Gembu MOROHASHI. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Flow information analysis apparatus, flow information analysis method, and flow information analysis program

Номер патента: US20190230198A1. Автор: Kazunori Kamiya,Hiroshi Kurakami,Hiroyuki NOOKA,Daigo NATSUME. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Flow information analysis apparatus, flow information analysis method, and flow information analysis program

Номер патента: US10735564B2. Автор: Kazunori Kamiya,Hiroshi Kurakami,Hiroyuki NOOKA,Daigo NATSUME. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2020-08-04.

Plasma processing apparatus, data analysis apparatus, and semiconductor device manufacturing system

Номер патента: US20240203712A1. Автор: Akira Kagoshima,Daisuke Shiraishi,Shunta NOSAKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Formation fluid analysis apparatus and related methods

Номер патента: GB2590306A. Автор: Sarac Sukru,Vannuffelen Stephane,Arthur Longfield Colin,John Kuchuk Fikri,Claude Theuveny Bertrand. Владелец: Schlumberger Intellectual Property Department. Дата публикации: 2021-06-23.

Bio-signal analysis apparatus using machine learning and method therefor

Номер патента: EP3689228A1. Автор: Chang Ki JEONG,Sung Ho Han,Hee Sun HONG. Владелец: Olive Healthcare Inc. Дата публикации: 2020-08-05.

End-tidal gas analysis apparatus for respirators

Номер патента: US3910261A. Автор: Charles W Ragsdale,James Weigl. Владелец: Bourns Inc. Дата публикации: 1975-10-07.

Sample analysis apparatus using electron beam irradiation

Номер патента: US4020353A. Автор: Syobu Saito,Yoshio Sakitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-04-26.

Analysis apparatus for semiconductor LSI circuit electrostatic discharge by calculating inter-pad voltage between pads

Номер патента: US7340699B2. Автор: Sachio Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-03-04.

Spectrum analysis apparatus and spectrum analysis method

Номер патента: US20180234176A1. Автор: Tazuko Kitazawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-08-16.

Traffic analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US8345575B2. Автор: Kenichi Yoshida,Yoshinori Watanabe,Yusuke Shomura. Владелец: Alaxala Networks Corp. Дата публикации: 2013-01-01.

Diabetic foot analysis apparatus, and diabetic foot management system

Номер патента: US20240115191A1. Автор: Ji Ung Park,Chan Yeong Heo,Tai Myoung CHUNG,Min Ha CHOI. Владелец: Hippo T&c Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Ionizing analysis apparatus

Номер патента: US5945678A. Автор: Yutaro Yanagisawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1999-08-31.

Electrocardiogram analysis apparatus and electrocardiogram system

Номер патента: US11576602B2. Автор: Akira Mizuta,Tsuneo TAKAYANAGI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2023-02-14.

Information analysis apparatus and computer readable medium

Номер патента: US20090154376A1. Автор: Hiroshi Okamoto,Xiaojun Ma,Yukihiro Tsuboshita. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Electrocardiogram analysis apparatus and electrocardiogram system

Номер патента: US20200260982A1. Автор: Akira Mizuta,Tsuneo TAKAYANAGI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Packet collection system, packet integration analysis apparatus, packet collection method and program

Номер патента: US20230246929A1. Автор: Masahiro Shiraishi,Hiroki Nagayama,Keiichi Okabe,Tomoaki WASHIO,Asami Miyajima. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Attack scenario generation apparatus, risk analysis apparatus, method, and computer readable media

Номер патента: US20230379351A1. Автор: Hirofumi Ueda,Tomohiko Yagyu,Ryo Mizushima. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Risk analysis apparatus, virtual model generation apparatus, method, and computer readable medium

Номер патента: US20240282052A1. Автор: Tomohiko Yagyu,Ryo Mizushima. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Fault analysis apparatus, fault analysis method, and recording medium

Номер патента: US09612898B2. Автор: Ryosuke Togawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Vehicle security analysis apparatus, method, and program storage medium

Номер патента: US20240236139A1. Автор: Satoshi Ueno,Yasunobu Chiba,Kensuke Nakata,Atsushi Wakasugi. Владелец: NTT Security Japan KK. Дата публикации: 2024-07-11.

Image analysis method, image analysis apparatus, and image analysis program for analyzing cell with deep learning algorithm

Номер патента: US12056869B2. Автор: Yoshiaki Miyamoto,Yosuke Sekiguchi,Kengo GOTOH,Yoshinori SASAGAWA,Kazumi HAKAMADA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Work movement analysis method, work movement analysis apparatus, and work movement analysis program

Номер патента: US8059863B2. Автор: Mitsuhiro Ota,Toshiaki Seshimo,Shigeru Fujimori,Tsutomu Shibuya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-11-15.

Medical image processing apparatus, medical image analysis apparatus, and standard image generation program

Номер патента: US20210166388A1. Автор: Hisaaki Ochi,Yoshitaka Bito,Toru Shirai,Tomoki AMEMIYA,Ryota SATOH,Yasuo Kawata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Blood vessel analysis apparatus, medical image diagnosis apparatus, and blood vessel analysis method

Номер патента: US20180174297A1. Автор: SATOSHI Wakai,Takuma IGARASHI,Shigeo Kaminaga,Hideaki Ishii,Junichiro Ooga,Kazumasa Arakita,Yasuko Fujisawa,Kenji Hirohata. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-06-21.

Blood vessel analysis apparatus, medical image diagnosis apparatus, and blood vessel analysis method

Номер патента: US09928593B2. Автор: SATOSHI Wakai,Takuma IGARASHI,Shigeo Kaminaga,Hideaki Ishii,Junichiro Ooga,Kazumasa Arakita,Yasuko Fujisawa,Kenji Hirohata. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Risk analysis apparatus, method, and computer-readable medium

Номер патента: US20240281540A1. Автор: Tomohiko Yagyu,Ryo Mizushima. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Language analysis based on word-selection, and language analysis apparatus

Номер патента: US09805740B2. Автор: Christian Greb,Dirk C GRATZEL. Владелец: PSYWARE GmbH. Дата публикации: 2017-10-31.

Simulation method, simulation method by mbd program, numerical analysis apparatus, numerical analysis system for mbd, numerical analysis program, and mbd program

Номер патента: US20200082036A1. Автор: Tsunehiro Saito. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-12.

Storage medium, dynamic analysis apparatus, and dynamic analysis system

Номер патента: US20230121829A1. Автор: Sumiya Nagatsuka,Shikou Kaneko. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-04-20.

Storage medium, dynamic analysis apparatus, and dynamic analysis system

Номер патента: US20210100519A1. Автор: Sumiya Nagatsuka,Shikou Kaneko. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-04-08.

Storage medium, dynamic analysis apparatus, and dynamic analysis system

Номер патента: US20230346331A1. Автор: Sumiya Nagatsuka,Shikou Kaneko. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-11-02.

Analysis method that analyses chemical reactions from starting materials, analysis apparatus, analysis system, and analysis program

Номер патента: US20230027989A1. Автор: Hiroyuki Murata,Atsushi Noguchi,Tatsuya TAKAKUWA,Yuuta HASUMOTO,Satoru YOSHIZAKI,Tsuneyoshi IWASAKI. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Identification information embedding apparatus, analysis apparatus, embedding method, analysis method and program

Номер патента: US20050086484A1. Автор: Hirofumi Muratani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2005-04-21.

Learning apparatus, analysis apparatus, learning method, analysis method, and program

Номер патента: WO2023059331A1. Автор: Masahiro Nakano,Kunio Kashino,Ryohei Shibue,Hitonobu Tomoike. Владелец: Ntt Research Inc.. Дата публикации: 2023-04-13.

Disease analysis apparatus, control method, and program

Номер патента: US09916658B2. Автор: Akira Saito,Ken Yamazaki,Michiie Sakamoto,Akinori Hashiguchi,Tomoharu Kiyuna,Tokiya Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Plasma processing apparatus, analysis apparatus, plasma processing method, analysis method, and storage medium

Номер патента: US20240371603A1. Автор: Kazushi Kaneko. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Analysis apparatus, analysis method, and program

Номер патента: US20240086300A1. Автор: Masaru Sakai,Kensuke Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Non-transitory computer-readable storage medium for storing line-of-sight analysis program, line-of-sight analysis method, and line-of-sight analysis apparatus

Номер патента: US20180349696A1. Автор: Takeshi Otani,Takuya Kamimura,Yuta Masuda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Computer-readable recording medium having stored therein analysis program, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: US20160117224A1. Автор: Toshihiro Shimizu,Takeshi Yasuie,Atsuji Sekiguchi,Yuuji Hotta. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-04-28.

Sleeping Video Analysis Method And Sleeping Video Analysis Apparatus

Номер патента: US20240242500A1. Автор: Tomotaka Nagashima,Ayako Akazawa,Akie SOTOGUCHI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Data analysis system, data analysis apparatus and data analysis method

Номер патента: US20240362904A1. Автор: Takeshi Ono,Hiroaki Tsushima,Ryuji Sawada,Yuka Moritani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Storage medium, equivalent circuit analysis apparatus, and equivalent circuit analysis method

Номер патента: US20230205975A1. Автор: Hiroaki Yamada,Takashi Yamazaki,Shohei Yamane,Yoichi Kochibe,Toshiyasu OHARA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US20070033564A1. Автор: Hirobumi Inoue,Jun Sakai,Mitsuru Furuya,Daisuke Ohshima. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2007-02-08.

Inspection data analysis program, inspection tools, review apparatus and yield analysis apparatus

Номер патента: IL162935A. Автор: . Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2009-08-03.

Threat analysis apparatus, threat analysis method, and recording medium

Номер патента: US12028353B2. Автор: Hideki Matsushima,Tomoyuki Haga,Takamitsu Sasaki,Hajime TASAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2024-07-02.

Data analysis apparatus and data analysis program

Номер патента: US12026461B1. Автор: Hiroyoshi TOYOSHIBA. Владелец: Fronteo Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Threat analysis apparatus, threat analysis method, and recording medium

Номер патента: US20240314145A1. Автор: Hideki Matsushima,Tomoyuki Haga,Takamitsu Sasaki,Hajime TASAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2024-09-19.

Analysis method, analysis apparatus and computer-readable recording medium having stored therein analysis program

Номер патента: US09720751B2. Автор: Yuuji Hotta. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Integrated analysis method, integrated analysis apparatus, and computer-readable storage medium storing an integrated analysis program

Номер патента: US20220405604A1. Автор: Masaki Suwa,Ryo Yonetani. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Data analysis apparatus and data analysis program

Номер патента: US20240202438A1. Автор: Hiroyoshi TOYOSHIBA. Владелец: Fronteo Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Particle behavior analysis method, particle behavior analysis apparatus, and computer readable storage medium

Номер патента: US20070174029A1. Автор: Tomohiro Seko,Toshiroh Shimada. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-26.

Data analysis apparatus and method

Номер патента: US09842159B2. Автор: Hyung Chan Kim,Min Hwan Oh,Kyu Sam OH,Soon Hwan KWON,Bum Joon SEO. Владелец: Samsung SDS Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Data analysis apparatus and method

Номер патента: US09454595B2. Автор: Hyung Chan Kim,Min Hwan Oh,Kyu Sam OH,Soon Hwan KWON,Bum Joon SEO. Владелец: Samsung SDS Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Watermarked image generation apparatus, watermarked image analysis apparatus, watermarked image generation method, medium and computer readable medium

Номер патента: US20070172096A1. Автор: Katsuyuki Kouno,Hirofumi Komatsubara,Fujio Ihara,Kenji Ebitani. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-26.

Identification information embedding apparatus and identification information analysis apparatus

Номер патента: US20070266255A1. Автор: Hirofumi Muratani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-15.

State determination apparatus and image analysis apparatus

Номер патента: US12086210B2. Автор: Nao Mishima,Toshiaki Nakasu,Quoc Viet Pham,Shojun Nakayama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US8090546B2. Автор: Kenji Taki,Eiji Toyosawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-01-03.

Gait analysis apparatus and method

Номер патента: US20240221428A1. Автор: Je Hee Lee,Beom Seok Jeon,Jung Hwan Shin,Ri YU. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-07-04.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20100299082A1. Автор: Kenji Taki,Eiji Toyosawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-11-25.

Identification information embedding apparatus and identification information analysis apparatus

Номер патента: US20070255956A1. Автор: Hirofumi Muratani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-01.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20090252511A1. Автор: Kenji Taki,Tomohiro Watanabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-10-08.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US8185340B2. Автор: Kenji Taki,Tomohiro Watanabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Identification information embedding apparatus and identification information analysis apparatus

Номер патента: US20030188168A1. Автор: Hirofumi Muratani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-02.

Identification information embedding apparatus and identification information analysis apparatus

Номер патента: US7346777B2. Автор: Hirofumi Muratani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-03-18.

Failure analysis method, failure analysis apparatus, and computer program product

Номер патента: US8316264B2. Автор: Yoshikazu Iizuka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-11-20.

Surface analysis apparatus and method

Номер патента: EP2382585A1. Автор: Philip Harrison,Liam Blunt. Владелец: UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD. Дата публикации: 2011-11-02.

Surface analysis apparatus and method

Номер патента: WO2010001161A1. Автор: Philip Harrison,Liam Blunt. Владелец: UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD. Дата публикации: 2010-01-07.

Linear predictive analysis apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09966083B2. Автор: Noboru Harada,Takehiro Moriya,Yutaka Kamamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Linear predictive analysis apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09928850B2. Автор: Noboru Harada,Takehiro Moriya,Yutaka Kamamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Dynamic image analysis apparatus extracting specific frames including a detection target from a dynamic image, dynamic analysis system, and storage medium

Номер патента: US12131468B2. Автор: Sumiya Nagatsuka,Yuki Kawana,Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-29.

Neuromonitoring data analysis apparatuses and methods

Номер патента: US20240225519A9. Автор: Einat Kermany,Omer Zarchi,Nir ZARCHI. Владелец: Nervio Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Musical performance analysis method and musical performance analysis apparatus

Номер патента: US11869465B2. Автор: Akira MAEZAWA,Bochen Li. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Thermal analysis method, thermal analysis apparatus, and computer program

Номер патента: US20240126950A1. Автор: Teruhisa Shibahara,Yuu YAMAYOSE,Masataka FUKUNISHI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Image analysis method, image analysis apparatus, program, learned deep layer learning algorithm manufacturing method and learned deep layer learning algorithm

Номер патента: US20190156476A1. Автор: Hiroshi Yoshida,Kohei Yamada,Yuki AIHARA,Yosuke Sekiguchi,Kanako MASUMOTO,Kazumi HAKAMADA,Krupali Jain. Владелец: National Cancer Center Japan. Дата публикации: 2019-05-23.

Image analysis method, image analysis apparatus and learned deep layer learning algorithm manufacturing method

Номер патента: US20190266486A1. Автор: Kohei Yamada,Yuki AIHARA,Yosuke Sekiguchi,Kanako MASUMOTO,Kazumi HAKAMADA,Krupali Jain. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

EXERCISE ANALYSIS METHOD, EXERCISE ANALYSIS APPARATUS, EXERCISE ANALYSIS SYSTEM, EXERCISE ANALYSIS PROGRAM, PHYSICAL ACTIVITY ASSISTING METHOD, PHYSICAL ACTIVITY ASSISTING APPARATUS, AND PHYSICAL ACTIVITY ASSISTING PROGRAM

Номер патента: US20160035229A1. Автор: WATANABE Ken,Sato Akinobu,MATSUMOTO Kazumi,MIZUOCHI Shunichi,Uchida Shuji,Sugiya Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Sequence analysis method, sequence analysis apparatus, reference sequence generation method, reference sequence generation apparatus, program, and storage medium

Номер патента: US11901043B2. Автор: Fumio Inoue,Kenichiro Suzuki,Mamoru Kato,Tomohiro Sakuma,Hideya KUWABARA. Владелец: Mitsui Knowledge Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Work movement analysis method, work movement analysis apparatus, and work movement analysis program

Номер патента: US20070282479A1. Автор: Mitsuhiro Ota,Toshiaki Seshimo,Shigeru Fujimori,Tsutomu Shibuya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-12-06.

Swing analysis apparatus, swing analysis system, swing analysis method, swing analysis program, recording medium, and swing display apparatus

Номер патента: US20170120124A1. Автор: Norihisa Hagiwara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-05-04.

Data analysis apparatus, data analysis apparatus control method, and data analysis apparatus control program

Номер патента: JP6379199B2. Автор: 守本　正宏,正宏 守本,池上　成朝,成朝 池上,秀樹 武田. Владелец: Fronteo Inc. Дата публикации: 2018-08-22.

Image analysis method, image analysis apparatus, image analysis system, and image analysis portable apparatus

Номер патента: JPWO2015186518A1. Автор: 哲也 玉置,中田　智仁,智仁 中田,翼 友田. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

Data analysis apparatus, data analysis method, and data analysis program

Номер патента: US20220246302A1. Автор: Takeshi Tanaka,Masatoshi Miyake,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa,Yuko Sano,Nobuya HORIKOSHI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Medical image processing apparatus, medical image analysis apparatus, and standard image generation program

Номер патента: US11526989B2. Автор: Hisaaki Ochi,Yoshitaka Bito,Toru Shirai,Tomoki AMEMIYA,Ryota SATOH,Yasuo Kawata. Владелец: Fujifilm Healthcare Corp. Дата публикации: 2022-12-13.

Contour analysis apparatus, processing condition determination system, shape estimation system, semiconductor device manufacturing system, search apparatus, and data structure used in them

Номер патента: US12094146B2. Автор: Takeshi Ohmori,Naoto Takano,Hyakka NAKADA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Program execution apparatus and program analysis apparatus

Номер патента: US09507933B2. Автор: Takeshi Ueda,Shoji Sakurai. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Computer system vulnerability analysis apparatus and method

Номер патента: US09449176B1. Автор: Phillip M. Adams. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-20.

Data management apparatus, data analysis apparatus, data analysis system, and analysis method

Номер патента: US20170053212A1. Автор: Kazuyo Narita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-02-23.

DATA MANAGEMENT APPARATUS, DATA ANALYSIS APPARATUS, DATA ANALYSIS SYSTEM, AND ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20170053212A1. Автор: Narita Kazuyo. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2017-02-23.

DATA ANALYSIS APPARATUS, DATA ANALYSIS SYSTEM, COMMODITY EXCHANGE FORECASTING APPARATUS, COMMODITY EXCHANGE FORECASTING SYSTEM, DATA ANALYSIS METHOD, COMMODITY EXCHANGE FORECASTING METHOD, AND COMPUTER-READABLE MEDIUM

Номер патента: US20160063519A1. Автор: BAO Ruihan. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

AUTOMATIC ANALYSIS METHOD, AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS, AND PROGRAM FOR THE AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20150227491A1. Автор: MISHIMA Kenichi. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2015-08-13.

IMAGE ANALYSIS APPARATUS, IMAGE ANALYSIS SYSTEM, AND METHOD FOR OPERATING IMAGE ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180218233A1. Автор: Nakamura Toshio,YAMADA Tetsuhiro,Yamanashi Momoko,Toyama Ryuichi. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-08-02.

IMAGE ANALYSIS APPARATUS, IMAGE ANALYSIS SYSTEM, IMAGE ANALYSIS APPARATUS OPERATION METHOD

Номер патента: US20170337710A1. Автор: Nakamura Toshio,YAMADA Tetsuhiro,Yamanashi Momoko,Toyama Ryuichi. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-23.

Image analysis apparatus, image analysis system, and method for operating image analysis apparatus

Номер патента: US20180333045A1. Автор: Toshio Nakamura,Tetsuhiro Yamada,Ryuichi Toyama,Momoko YAMANASHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-11-22.

IMAGE ANALYSIS APPARATUS, IMAGE ANALYSIS SYSTEM, AND OPERATION METHOD OF IMAGE ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20170358084A1. Автор: Nakamura Toshio,YAMADA Tetsuhiro,Yamanashi Momoko,Toyama Ryuichi. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-14.

DATA COLLECTION AND ANALYSIS SYSTEM, DATA COLLECTION AND ANALYSIS APPARATUS, MACHINE LEARNING APPARATUS, AND DATA COLLECTION AND ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220365515A1. Автор: HASHISHITA Masataka,IIDA Kazumi,HAYASHI Hidematsu. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2022-11-17.

Image analysis apparatus, image processing apparatus, image analysis program storage medium, image processing program storage medium, image analysis method and image processing method

Номер патента: US20090087058A1. Автор: Satoshi Ihara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Image analysis apparatus, image analysis system, and method for operating image analysis apparatus

Номер патента: US20180333045A1. Автор: Toshio Nakamura,Tetsuhiro Yamada,Ryuichi Toyama,Momoko YAMANASHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-11-22.

Computer-implemented method for defect analysis, apparatus for defect analysis, computer-program product, and intelligent defect analysis system

Номер патента: US11972548B2. Автор: Jianfeng ZENG,Haijin WANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Structural analysis method and structural analysis apparatus

Номер патента: US20180239855A1. Автор: Yasuhiro Kawashima,Toshio Arai,Masao Fukushima,Tsuyoshi Tamaki,Toshiyasu OHARA,Takanori Negishi,Kazuya Yamaura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-08-23.

Image display system, analysis apparatus, image management apparatus, and recording medium

Номер патента: US20230402155A1. Автор: Hisashi Wada,Tomoaki Takemura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-12-14.

Storage medium, dynamic analysis apparatus, and dynamic analysis system

Номер патента: US11998380B2. Автор: Sumiya Nagatsuka,Shikou Kaneko. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-04.

Storage medium, dynamic analysis apparatus, and dynamic analysis system

Номер патента: US11963811B2. Автор: Sumiya Nagatsuka,Shikou Kaneko. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-04-23.

Recording medium failure analysis apparatus and method

Номер патента: US20020042900A1. Автор: Joseph M. Schachner,Lawrence S. Salant,John Bradick,David P. Max,Didier Jean-Daniel Lavanchy. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS SYSTEM, MOTION ANALYSIS METHOD, AND DISPLAY METHOD AND PROGRAM OF MOTION ANALYSIS INFORMATION

Номер патента: US20170024610A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,Ishikawa Yuya. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-26.

EVENT ANALYSIS APPARATUS, EVENT ANALYSIS SYSTEMS, EVENT ANALYSIS METHODS, AND EVENT ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20170132292A1. Автор: LIU Zhuo,SAKURABA Yuichi. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2017-05-11.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS SYSTEM, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20170308688A1. Автор: ZHONG YANG,ORIHARA Shingo,ASAKURA Hiroshi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2017-10-26.

OPERATION ANALYSIS APPARATUS, OPERATION ANALYSIS METHOD, OPERATION ANALYSIS PROGRAM, AND OPERATION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20190347779A1. Автор: Sasaki Jun,Goto Shuichi,KAWAI Naohiro,Onda Hiroomi. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-11-14.

Analysis program, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: EP3745306A1. Автор: Yasuyuki Murata,Tomonori Kubota,Yukihiko HIRAYANAGI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-12-02.

Non-transitory computer-readable storage medium for storing analysis program, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: US20200380318A1. Автор: Yasuyuki Murata,Tomonori Kubota,Yukihiko HIRAYANAGI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Cell image analysis method, cell image analysis apparatus, program, and cell image analysis system

Номер патента: US11354529B2. Автор: Hirokazu Kurata,Hajimu KAWAKAMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2022-06-07.

Finite element analysis method, finite element analysis apparatus, and computer program

Номер патента: US20100131244A1. Автор: Hidekazu Murakawa,Hisashi Serizawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2010-05-27.

Operation analysis apparatus, operation analysis method, operation analysis program, and operation analysis system

Номер патента: EP3570210B1. Автор: Jun Sasaki,Shuichi Goto,Naohiro Kawai,Hiroomi Onda. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2024-04-10.

Recording medium recording analysis program, analysis method, and analysis apparatus

Номер патента: US20180081779A1. Автор: Hideya Ikeda,Daisuke HIYAMA,Sayaka SHIMADA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-03-22.

Cell image analysis method, cell image analysis apparatus, program, and cell image analysis system

Номер патента: US20220207894A1. Автор: Hirokazu Kurata,Hajimu KAWAKAMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Cell image analysis method, cell image analysis apparatus, program, and cell image analysis system

Номер патента: EP3792823A1. Автор: Hirokazu Kurata,Hajimu KAWAKAMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2021-03-17.

Cell image analysis method, cell image analysis apparatus, program, and cell image analysis system

Номер патента: US11804030B2. Автор: Hirokazu Kurata,Hajimu KAWAKAMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Medical image analysis method, medical image analysis apparatus, and medical image analysis system for quantifying joint condition

Номер патента: US20230360198A1. Автор: Jae Joon Lee. Владелец: Crescom Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Information analysis apparatus, information analysis method, and information analysis program

Номер патента: US20230343417A1. Автор: Hiroyoshi TOYOSHIBA. Владелец: Fronteo Inc. Дата публикации: 2023-10-26.

SUPPORT APPARATUS, GENERATION APPARATUS, ANALYSIS APPARATUS, SUPPORT METHOD, GENERATION METHOD, ANALYSIS METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20220043847A1. Автор: OZAWA Jun,KUNIYOSHI FUSATAKA. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

EVENT ANALYSIS APPARATUS, AN EVENT ANALYSIS SYSTEM, AN EVENT ANALYSIS METHOD, AND AN EVENT ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20170132291A1. Автор: LIU Zhuo,SAKURABA Yuichi. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2017-05-11.

EXERCISE ANALYSIS APPARATUS, EXERCISE ANALYSIS METHOD, EXERCISE ANALYSIS PROGRAM, AND EXERCISE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20180373926A1. Автор: WATANABE Ken,Sato Akinobu,MATSUMOTO Kazumi,MIZUOCHI Shunichi,Uchida Shuji,Sugiya Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

Image analysis method, image analysis apparatus, image analysis system and graphical analysis mancarried device

Номер патента: CN106255993A. Автор: 中田智仁,玉置哲也,友田翼. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-12-21.

Visual Line Analysis Apparatus, Visual Line Analysis Method, and Visual Line Analysis System

Номер патента: US20220122290A1. Автор: Keiki Nakamura,Riu Hirai,Taku KUMON. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-04-21.

Symbol narrowing-down apparatus, program analysis apparatus, symbol extraction method, program analysis method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20240045973A1. Автор: Norio Yamagaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Analysis apparatus, analysis method, and program

Номер патента: US20230273773A1. Автор: Kensuke Takahashi,Sho KANEMARU,Tsuyoshi Toyoshima,Tomoki IKEGAYA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Event analysis apparatus, event analysis systems, event analysis methods, and event analysis program

Номер патента: US20170132292A1. Автор: Zhuo Liu,Yuichi Sakuraba. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-05-11.

Analysis apparatus, storage medium storing analysis program, and analysis method

Номер патента: US20210133485A1. Автор: Yasuyuki Murata,Tomonori Kubota,Takanori NAKAO. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-05-06.

Ultrasound image analysis apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, and control method for ultrasound image analysis apparatus

Номер патента: EP4186437B1. Автор: Riko Koshino. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-22.

Cell image analysis method, cell image analysis apparatus, program, and cell image analysis system

Номер патента: US20210081642A1. Автор: Hirokazu Kurata,Hajimu KAWAKAMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Analysis method, analysis apparatus and analysis program

Номер патента: US20120278694A1. Автор: Suguru Washio. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-11-01.

3D DATA ANALYSIS APPARATUS, 3D DATA ANALYSIS METHOD, AND 3D DATA ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20130229412A1. Автор: Suzuki Shunsuke,Fujimaki Atsuo,Shoda Kenji. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-05.

Voice analysis apparatus, voice synthesis apparatus, voice analysis synthesis system

Номер патента: US20130262098A1. Автор: Hong-kook Kim,Kwang-myung Jeon. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2013-10-03.

TIMING ANALYSIS PROGRAM, TIMING ANALYSIS APPARATUS, AND TIMING ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130275932A1. Автор: Oda Yasuhiro. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-17.

STORAGE MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM, ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20140067445A1. Автор: ISHIKAWA Hidenori. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2014-03-06.

VEHICLE DATA ANALYSIS APPARATUS, VEHICLE DATA ANALYSIS METHOD, AND DEFECT DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20140095016A1. Автор: MATSUMURA Takeshi,Hikita Toshiro,Suganuma Hideaki. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-04-03.

MOTION ANALYSIS METHOD, MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS SYSTEM, AND PROGRAM

Номер патента: US20170004729A1. Автор: KANO Toshihiko. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-05.

MOTION ANALYSIS METHOD, MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS SYSTEM, AND PROGRAM

Номер патента: US20170007880A1. Автор: KANO Toshihiko. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-12.

MOTION ANALYSIS METHOD, MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS SYSTEM, AND PROGRAM

Номер патента: US20170011652A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,KODAIRA Kenya. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-12.

PEOPLE STREAM ANALYSIS METHOD, PEOPLE STREAM ANALYSIS APPARATUS, AND PEOPLE STREAM ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20190019019A1. Автор: OZAWA Jun,Nishikawa Yuri. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-17.

HUMAN FLOW ANALYSIS METHOD, HUMAN FLOW ANALYSIS APPARATUS, AND HUMAN FLOW ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20190026560A1. Автор: OZAWA Jun,Nishikawa Yuri. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20190050747A1. Автор: Yoshitaka Nakamura,Shotaro TORA,Machiko TOYODA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

ANALYSIS METHOD, ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20180060156A1. Автор: Hotta Yuuji. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-03-01.

IMAGE ANALYSIS APPARATUS, IMAGE ANALYSIS METHOD, AND IMAGE ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20160063312A1. Автор: HARA Yusuke,Ohnishi Hiroyuki,IWAI Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210064746A1. Автор: KOIDE Takashi,CHIBA Daiki. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2021-03-04.

CELL IMAGE ANALYSIS METHOD, CELL IMAGE ANALYSIS APPARATUS, PROGRAM, AND CELL IMAGE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20210081642A1. Автор: Kurata Hirokazu,KAWAKAMI Hajimu. Владелец: SYSMEX CORPORATION. Дата публикации: 2021-03-18.

RECORDING MEDIUM RECORDING ANALYSIS PROGRAM, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180081779A1. Автор: SHIMADA Sayaka,HIYAMA Daisuke,IKEDA Hideya. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

Simulation method, simulation method by mbd program, numerical analysis apparatus, numerical analysis system for mbd, numerical analysis program, and mbd program

Номер патента: US20200082036A1. Автор: Tsunehiro Saito. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-12.

TIME SERIES DATA ANALYSIS APPARATUS, TIME SERIES DATA ANALYSIS METHOD AND TIME SERIES DATA ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20200082286A1. Автор: SUZUKI Mayumi,SHIBAHARA Takuma,YAMASHITA Yasuho. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2020-03-12.

TRAVEL ENVIRONMENT ANALYSIS APPARATUS, TRAVEL ENVIRONMENT ANALYSIS SYSTEM, AND TRAVEL ENVIRONMENT ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220139093A1. Автор: Shimotani Mitsuo,MIYAHARA Tadashi,UENO Yoshinori,IEDA Kuniyo,SHIINO Tomohiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2022-05-05.

ACTIVITY SITUATION ANALYSIS APPARATUS, ACTIVITY SITUATION ANALYSIS SYSTEM, AND ACTIVITY SITUATION ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20160104174A1. Автор: Matsumoto Yuichi,YOSHIDA Kazuma. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd.. Дата публикации: 2016-04-14.

ANALYSIS APPARATUS, ULTRASOUND DIAGNOSTIC APPARATUS, AND ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20200098120A1. Автор: Chen Yu,Chen Qi,Tang Zhe,Jian Weijian. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-03-26.

COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING STORED THEREIN ANALYSIS PROGRAM, ANALYSIS APPARATUS, AND ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20160117224A1. Автор: Hotta Yuuji,YASUIE Takeshi,SHIMIZU Toshihiro,SEKIGUCHI Atsuji. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

ANALYSIS METHOD, ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140195856A1. Автор: Hotta Yuuji. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2014-07-10.

FLUID ANALYSIS APPARATUS, FLUID ANALYSIS METHOD, AND FLUID ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20220265156A1. Автор: Ito Hirotaka. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2022-08-25.

DATA ANALYSIS APPARATUS, DATA ANALYSIS METHOD, AND DATA ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190122097A1. Автор: SUZUKI Mayumi,SHIBAHARA Takuma,Naono Ken. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2019-04-25.

Analysis method, analysis apparatus, computer-readable storage medium storing analysis program

Номер патента: US20150135018A1. Автор: Takeshi Yasuie,Atsuji Sekiguchi,Yuuji Hotta. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-05-14.

Image analysis apparatus, radiation imaging apparatus, image analysis method, and storage medium

Номер патента: US20140219536A1. Автор: Naoto Takahashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-08-07.

SEQUENCE ANALYSIS METHOD, SEQUENCE ANALYSIS APPARATUS, REFERENCE SEQUENCE GENERATION METHOD, REFERENCE SEQUENCE GENERATION APPARATUS, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20190156914A1. Автор: Kato Mamoru,INOUE Fumio,Suzuki Kenichiro,KUWABARA Hideya,SAKUMA Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-23.

SOUND SIGNAL ANALYSIS APPARATUS, SOUND SIGNAL ANALYSIS METHOD AND SOUND SIGNAL ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140260911A1. Автор: MAEZAWA Akira. Владелец: YAMAHA CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-18.

SOUND SIGNAL ANALYSIS APPARATUS, SOUND SIGNAL ANALYSIS METHOD AND SOUND SIGNAL ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140260912A1. Автор: MAEZAWA Akira. Владелец: YAMAHA CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-18.

Image analysis method, image analysis apparatus, and image analysis program for analyzing cell with deep learning algorithm

Номер патента: US20210201484A1. Автор: Yoshiaki Miyamoto,Yosuke Sekiguchi,Kengo GOTOH,Yoshinori SASAGAWA,Kazumi HAKAMADA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

BLOOD VESSEL ANALYSIS APPARATUS, MEDICAL IMAGE DIAGNOSIS APPARATUS, AND BLOOD VESSEL ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20180174297A1. Автор: HIROHATA Kenji,Ishii Hideaki,Arakita Kazumasa,Fujisawa Yasuko,Wakai Satoshi,Ooga Junichiro,IGARASHI Takuma,KAMINAGA Shigeo. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-06-21.

PRESENTATION METHOD, SWING ANALYSIS APPARATUS, SWING ANALYSIS SYSTEM, SWING ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20170203187A1. Автор: ITO Tsuyoshi,Sato Masafumi,HAYASHI Kenya. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-07-20.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS PROGRAM, AND ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20140300723A1. Автор: Matsui Eriko,Dowaki Suguru,OSHIMA SHIORI. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-09.

DOCUMENT ANALYSIS SYSTEM, DOCUMENT ANALYSIS APPARATUS, DOCUMENT ANALYSIS METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20160227069A1. Автор: Osawa Takaharu. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20200210894A1. Автор: Ikegami Kozo,TSUSHIMA Yuji,MIMURA Nodoka. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2020-07-02.

LOG ANALYSIS APPARATUS, LOG ANALYSIS SYSTEM, LOG ANALYSIS METHOD AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20170228265A1. Автор: WATANABE Akio,KIMURA Tatsuaki,Nishimatsu Ken,TOYONO Tsuyoshi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2017-08-10.

INFORMATION ANALYSIS APPARATUS, INFORMATION ANALYSIS METHOD, AND INFORMATION ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190220902A1. Автор: TATENO Kei,Yamamoto Noriyuki,Ueda Kentaro,SAKATA Hayato. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

CONTROL APPARATUS, ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND COMPUTER PRODUCT

Номер патента: US20140337584A1. Автор: TAKADA Shuji,FUKUDA Takatoshi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2014-11-13.

LOG ANALYSIS APPARATUS, LOG ANALYSIS METHOD, AND LOG ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20200242100A1. Автор: Himura Yosuke,MASUDA Mineyoshi,BACKHUS Jana. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

ANALYSIS METHOD, ANALYSIS APPARATUS AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING STORED THEREIN ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20150301866A1. Автор: Hotta Yuuji. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-22.

Display method, swing analysis apparatus, swing analysis system, swing analysis program, and recording medium

Номер патента: US20170296871A1. Автор: Kazuhiro Ito,Tsuyoshi Ito,Junko Hasegawa,Norihisa Hagiwara,Akira Kiryu,Kenya Kodaira. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

FACTOR ANALYSIS APPARATUS, FACTOR ANALYSIS METHOD AND RECORDING MEDIUM, AND FACTOR ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20170315960A1. Автор: Ochiai Katsuhiro. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2017-11-02.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20180316696A1. Автор: YAGI Takeshi,TAKATA Yuta,AKIYAMA Mitsuaki. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2018-11-01.

PROCESS ANALYSIS APPARATUS, PROCESS ANALYSIS METHOD, AND PROCESS ANALYSIS

Номер патента: US20170337378A1. Автор: YAMAMOTO Takumi,KAWAUCHI Kiyoto,SAKURAI Shoji. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2017-11-23.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190325136A1. Автор: YAGI Takeshi,TAKATA Yuta,AKIYAMA Mitsuaki. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2019-10-24.

BLOOD VESSEL ANALYSIS APPARATUS, MEDICAL IMAGE DIAGNOSIS APPARATUS, AND BLOOD VESSEL ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20150356734A1. Автор: HIROHATA Kenji,Ishii Hideaki,Arakita Kazumasa,Fujisawa Yasuko,Wakai Satoshi,Ooga Junichiro,IGARASHI Takuma,KAMINAGA Shigeo. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

PEOPLE FLOW ANALYSIS APPARATUS, PEOPLE FLOW ANALYSIS SYSTEM, PEOPLE FLOW ANALYSIS METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM

Номер патента: US20190333241A1. Автор: Uchiyama Hiroyuki,Bamba Yasuo,Yano Kotaro. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-31.

People stream analysis method, people stream analysis apparatus, and people stream analysis system

Номер патента: US20200334454A1. Автор: Jun Ozawa,Yuri NISHIKAWA. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

PROCESS ANALYSIS APPARATUS, PROCESS ANALYSIS METHOD, AND PROCESS ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20180348728A1. Автор: TSURUTA Kosuke,HATTORI Reiko,Nakajima Akira,KAWANOUE Shinsuke,ABE Yasuaki,Ota Yuya,SHIRAMIZU Gaku,HIROHASHI Yuki,MINEMOTO Toshifumi. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2018-12-06.

NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM FOR STORING LINE-OF-SIGHT ANALYSIS PROGRAM, LINE-OF-SIGHT ANALYSIS METHOD, AND LINE-OF-SIGHT ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180349696A1. Автор: Otani Takeshi,MASUDA Yuta,KAMIMURA Takuya. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-12-06.

GENE ANALYSIS METHOD, GENE ANALYSIS APPARATUS, MANAGEMENT SERVER, GENE ANALYSIS SYSTEM, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20200350035A1. Автор: INOUE Fumio,SUZUKI Seigo,Suzuki Kenichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD AND RECORDING MEDIUM ON WHICH ANALYSIS PROGRAM IS RECORDED

Номер патента: US20180364992A1. Автор: YAMAMOTO Koji. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-12-20.

ATTACK CONTENT ANALYSIS PROGRAM, ATTACK CONTENT ANALYSIS METHOD, AND ATTACK CONTENT ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20170374099A1. Автор: KOKUBU HIROYUKI. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-12-28.

BLOOD FLOW ANALYSIS APPARATUS, BLOOD FLOW ANALYSIS METHOD, AND BLOOD FLOW ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190374114A1. Автор: Ito Hirotaka. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2019-12-12.

Non-transitory computer-readable storage medium for storing analysis program, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: US20200380318A1. Автор: Yasuyuki Murata,Tomonori Kubota,Yukihiko HIRAYANAGI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

DATA ANALYSIS APPARATUS, DATA ANALYSIS METHOD, AND DATA ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20200380392A1. Автор: SUZUKI Mayumi,SHIBAHARA Takuma,YAMASHITA Yasuho. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

LOG ANALYSIS APPARATUS, LOG ANALYSIS METHOD, AND LOG ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190387012A1. Автор: ZHONG YANG,SATO Tohru,ORIHARA Shingo,SHIMADA Yohsuke,IWAKI Yuta. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2019-12-19.

Structure analysis program, structure analysis method, structure analysis apparatus, and semiconductor integrated circuit manufacturing method

Номер патента: JP3995926B2. Автор: 和之 今村,巌 杉浦,康弘 川島,真人 雨海,孝典 根岸,玄 上村井. Владелец: 株式会社富士通長野システムエンジニアリング. Дата публикации: 2007-10-24.

Analysis program, analysis method, and analysis apparatus

Номер патента: JP4610240B2. Автор: 健一 小林,和己 久保田,乾 横山,伸弘 湯上,理一郎 武,浩 大塚,リリアン 原田,勇次 堀田,直輝 赤星. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-01-12.

Sound signal analysis apparatus, sound signal analysis method and sound signal analysis program

Номер патента: US9171532B2. Автор: Akira MAEZAWA. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2015-10-27.

Sound signal analysis apparatus, sound signal analysis method and sound signal analysis program

Номер патента: US9087501B2. Автор: Akira MAEZAWA. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2015-07-21.

Data analysis program, data analysis method, and data analysis apparatus

Номер патента: JP5699713B2. Автор: 和宏 松本,松本　和宏. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-04-15.

Sequence data analysis apparatus, DNA analysis system, and sequence data analysis method

Номер патента: JP6198659B2. Автор: 宏一 木村,木村　宏一. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-20.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: JP5061999B2. Автор: 陽治 神田,理 渡辺,政志 宇山. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-10-31.

Relationship analysis method, relationship analysis program, and relationship analysis apparatus

Номер патента: US20100262281A1. Автор: Yasuhiro Suzuki,Hiroshi Watanabe,Hideyuki Maki,Shigeo Yuyama,Chiharu Sayama. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2010-10-14.

Lighting assembly for a luminescence analysis apparatus, in particular a fluorescence microscope, and luminescence analysis apparatus equipped with such a lighting assembly

Номер патента: CA2541828A1. Автор: Marco Angelini,Claudia Bigliati,Natale Baraldo,Luca Scodes. Владелец: Luca Scodes. Дата публикации: 2004-10-14.

Analysis apparatus, analysis program, and analysis system

Номер патента: CN104101294A. Автор: 堂胁优,松居惠理子,大岛志织. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-15.

Glasses-wearing image analysis apparatus, glasses-wearing image analysis method, and glasses-wearing image analysis program

Номер патента: JP6515542B2. Автор: 徹 有川,賀洋 尾崎. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-22.

Image analysis apparatus, image processing apparatus, and image analysis method

Номер патента: US20100254575A1. Автор: Yoshihito Machida. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-07.

Analysis method, analysis apparatus and analysis program

Номер патента: GB2509601B. Автор: Hotta Yuuji. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-01-08.

Thermal analysis method, thermal analysis apparatus, and program for executing the thermal analysis method

Номер патента: JP4226855B2. Автор: 浩昭 大西,昌弘 谷口,勝 野々村,美伯 礒端. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-02-18.

Information analysis program, information analysis method, and information analysis apparatus

Номер патента: JPWO2016147289A1. Автор: 江朗 勝田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-12-21.

System analysis program, system analysis method, and system analysis apparatus

Номер патента: US20050289231A1. Автор: Kenichi Kobayashi,Hiroshi Otsuka,Kazumi Kubota,Nobuhiro Yugami,Ken Yokoyama,Riichiro Take,Naoki Akaboshi,Yuuji Hotta,Lilian Harada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-12-29.

Timing analysis apparatus, timing analysis method, timing analysis program, and recording medium

Номер патента: JP4471794B2. Автор: 久芳 大庭,健一 牛山. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2010-06-02.

System analysis program, system analysis method, and system analysis apparatus

Номер патента: US20110087630A1. Автор: Kenichi Kobayashi,Hiroshi Otsuka,Kazumi Kubota,Nobuhiro Yugami,Ken Yokoyama,Riichiro Take,Naoki Akaboshi,Yuuji Hotta,Lilian Harada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-04-14.

Power consumption analysis program, power consumption analysis method, and power consumption analysis apparatus

Номер патента: JP4908281B2. Автор: 英司 古川. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-04-04.

Analysis program, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: JP2023018290A. Автор: Masahito Nakagawa,雅人 中川,宏樹 戸倉,Hiroki Tokura,朋健 中村,Tomotake Nakamura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Language analysis apparatus, language analysis method, and language analysis program

Номер патента: US8977539B2. Автор: Shinichi Ando,Kunihiko Sadamasa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-03-10.

Image analysis apparatus, image processing apparatus, and image analysis method

Номер патента: US8295553B2. Автор: Yoshihito Machida. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-10-23.

Process analysis apparatus, process analysis method and process analysis program

Номер патента: JP2022080630A. Автор: Yuya Ota,玲子 服部,Reiko Hattori,雄也 太田,Toshifumi MINEMOTO,早映子 柴垣,Saeko Shibagaki,俊文 峯本. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2022-05-30.

Personal connection network analysis apparatus and method, storage medium storing personal connection network analysis program organizational rigidity determination apparatus and method, and storage medium storing organizational rigidity determination program

Номер патента: US7685153B2. Автор: Atsushi Ito,Masamichi Takahashi,Yuichi Ueno,Masakazu Fujimoto,Keiichi Nemoto,Nobuhiro Yamasaki,Noriyuki Kurabayashi. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-23.

Database analysis program, database analysis apparatus, and database analysis method

Номер патента: EP1881427A1. Автор: Tsuyoshi Kanai,Yoshihide Nomura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-01-23.

Image analysis apparatus, image analysis method, and image analysis program

Номер патента: JP6558387B2. Автор: 相澤　知禎,知禎 相澤,智浩 籔内,初美 青位,匡史 日向,芽衣 上谷,航一 木下. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-08-14.

Relationship analysis method, relationship analysis program, and relationship analysis apparatus

Номер патента: EP2226758A1. Автор: Yasuhiro Suzuki,Hiroshi Watanabe,Hideyuki Maki,Shigeo Yuyama,Chiharu Sayama. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2010-09-08.

Image analysis apparatus, image analysis method, image analysis program and recording medium

Номер патента: WO2010087112A1. Автор: 中根和昭,鈴木貴,松浦成昭,フゼト ガメイロマルシオ. Владелец: 国立大学法人大阪大学. Дата публикации: 2010-08-05.

Behavior analysis apparatus, behavior analysis system, behavior analysis method, and program

Номер патента: JPWO2017163879A1. Автор: 志傑 斎藤,準 小林. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-12-20.

Activity situation analysis apparatus, activity situation analysis system, and activity situation analysis method

Номер патента: EP3009958A1. Автор: Yuichi Matsumoto,Kazuma Yoshida. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-20.

Space data analysis apparatus, space data analysis method, and space data analysis program

Номер патента: JP2006031442A. Автор: Akihiko Nakase,Toshiaki Hatano,寿 昭 波田野,瀬 明 彦 仲. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-02-02.

System analysis program, system analysis apparatus, and system analysis method

Номер патента: JP5169614B2. Автор: 智弘 清水,廣和 岩倉. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-03-27.

Log analysis apparatus, log analysis method, and log analysis program

Номер патента: JP6499380B2. Автор: 健介 中田. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2019-04-10.

Circuit analysis method, semiconductor integrated circuit manufacturing method, circuit analysis program, and circuit analysis apparatus

Номер патента: JP5011200B2. Автор: 孝一 永居. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-29.

Database analysis program, database analysis apparatus, and database analysis method

Номер патента: US20080021867A1. Автор: Tsuyoshi Kanai,Yoshihide Nomura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-01-24.

Pathological tissue image analysis apparatus, pathological tissue image analysis method, pathological tissue image analysis program

Номер патента: JP5387146B2. Автор: 健治 岡島,彰 齋藤,慶子 吉原. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-15.

Image analysis apparatus, image analysis method, image analysis program and recording medium

Номер патента: US8718377B2. Автор: Takashi Suzuki,Nariaki Matsuura,Kazuaki Nakane,Marcio Fuzeto Gameiro. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-05-06.

Mass spectrometry data analysis method, mass spectrometry data analysis apparatus, mass spectrometry data analysis program, and solution providing system

Номер патента: JP3743717B2. Автор: 金也 小林,燦 李,清美 吉成. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-02-08.

Timing analysis method, timing analysis program, and timing analysis apparatus

Номер патента: JP4619172B2. Автор: 敏克 細野. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2011-01-26.

Power supply network analysis method, computer program for executing power supply network analysis method, recording medium, and power supply network analysis apparatus

Номер патента: JP4582962B2. Автор: 栄司 藤根. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2010-11-17.

Electromagnetic wave analysis apparatus, electromagnetic wave analysis method, and electromagnetic wave analysis program

Номер патента: JP4520822B2. Автор: 尚志 山ヶ城,武文 並木,健二 長瀬,関司 西野,哲行 久保田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2010-08-11.

Residence status analysis apparatus, residence status analysis system, and residence status analysis method

Номер патента: JP5597781B1. Автор: 宏明 由雄,裕一 松本,陽一 合田. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-10-01.

Facility activity analysis apparatus, facility activity analysis system, and facility activity analysis method

Номер патента: JP6156665B1. Автор: 和彦 岩井,岩井　和彦. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-05.

Lighting assembly for a luminescence analysis apparatus, in particular a fluorescence mrcroscope, and luminescence analysis apparatus equipped with such a lighting assembly

Номер патента: US20070053058A1. Автор: Marco Angelini,Claudia Bigliati,Natale Baraldo,Luca Scodes. Владелец: Fraen Corp Srl. Дата публикации: 2007-03-08.

Network system, communication analysis method and analysis apparatus

Номер патента: US20170041242A1. Автор: Takashi Isobe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-02-09.

Packet analysis apparatus, packet analysis method, and computer readable storage medium

Номер патента: US20170257299A1. Автор: Fumiyuki Iizuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-07.

Corneal endothelial cell analysis method and corneal endothelial cell analysis apparatus

Номер патента: US09844316B2. Автор: Yusuke Sakashita. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Flow information analysis apparatus, flow information analysis method, and flow information analysis program

Номер патента: EP3506572B1. Автор: Kazunori Kamiya,Hiroshi Kurakami,Hiroyuki NOOKA,Daigo NATSUME. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-03-24.

Analysis method, computer readable recording medium, and analysis apparatus

Номер патента: US20160308731A1. Автор: Takahisa Suzuki,Koichiro Yamashita,Hiromasa Yamauchi,Toshiya OTOMO. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-10-20.

Mass analysis apparatus and mass analysis method

Номер патента: EP3540757B1. Автор: Junkei Kou. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

COMMUNICATION ANALYSIS APPARATUS, COMMUNICATION ANALYSIS METHOD, COMMUNICATION ENVIRONMENT ANALYSIS APPARATUS, COMMUNICATION ENVIRONMENT ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210126933A1. Автор: ASHINO Yuki,SAMEJIMA Ayaka. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2021-04-29.

Electroencephalogram analysis apparatus, electroencephalogram analysis system, and electroencephalogram analysis program

Номер патента: EP3868288A1. Автор: Hiroshi Sato,Makoto Tamura,Toshihiro Hosaka,Ryuta Saito. Владелец: Mitsubishi Tanabe Pharma Corp. Дата публикации: 2021-08-25.

FLUID ANALYSIS APPARATUS, METHOD FOR OPERATING FLUID ANALYSIS APPARATUS, AND FLUID ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20200170520A1. Автор: Ito Hirotaka. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2020-06-04.

EXERCISE ANALYSIS SYSTEM, EXERCISE ANALYSIS APPARATUS, EXERCISE ANALYSIS PROGRAM, AND EXERCISE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20160030807A1. Автор: MATSUMOTO Kazumi. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

MOTION ANALYSIS METHOD, MOTION ANALYSIS PROGRAM, STORAGE MEDIUM THEREOF, MOTION ANALYSIS APPARATUS, AND MOTION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20170203211A1. Автор: Ito Kazuhiro,ITO Tsuyoshi,KODAIRA Kenya,HAGIWARA Norihisa,KIRYU Akira,YOSHIKAZU Yamada. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-07-20.

MOTION ANALYSIS SYSTEM, MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS PROGRAM, AND MOTION ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20180220937A1. Автор: Sato Akinobu,MIZUOCHI Shunichi,Sugiya Daisuke,Sugita Masaaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2018-08-09.

Corneal endothelial cell analysis method and corneal endothelial cell analysis apparatus

Номер патента: US20150327758A1. Автор: Yusuke Sakashita. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-19.

EXERCISE ANALYSIS APPARATUS, EXERCISE ANALYSIS METHOD, EXERCISE ANALYSIS PROGRAM, AND EXERCISE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20160030804A1. Автор: WATANABE Ken,Sato Akinobu,MATSUMOTO Kazumi,MIZUOCHI Shunichi,Uchida Shuji,Sugiya Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Medical analysis apparatus and relative method

Номер патента: EP4226861A1. Автор: Paolo Vignoli,Massimo Morselli,Alessandro TURCO,Matteo BENASSI. Владелец: Ims Giotto SpA. Дата публикации: 2023-08-16.

Medical analysis apparatus

Номер патента: EP4272651A1. Автор: Paolo Vignoli,Massimo Morselli,Matteo BENASSI. Владелец: Ims Giotto SpA. Дата публикации: 2023-11-08.

Electrocardiogram analysis report, electrocardiogram analysis apparatus, and electrocardiogram analysis program

Номер патента: US20130231578A1. Автор: Teiji Ukawa,Hiroko Hagiwara,Tsuneo TAKAYANAGI,Jiro SUTO,Rie Muneshima,Ryoko Kamiya. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2013-09-05.

ELECTROENCEPHALOGRAM ANALYSIS APPARATUS, ELECTROENCEPHALOGRAM ANALYSIS PROGRAM, AND ELECTROENCEPHALOGRAM ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130267866A1. Автор: Nakashima Yusaku,Tomita Takashi,Nishida Masaki. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-10.

Analysys system, analysis apparatus, electronic device, analysis method, and program

Номер патента: US20140062681A1. Автор: Akira Takakura,Keisuke Tsubata,Yuji OHGI. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

WAVEFORM ANALYSIS METHOD, WAVEFORM ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM STORING WAVEFORM ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20170027452A1. Автор: Ono Yoshinobu,TAKAYANAGI Tsuneo,KAIAMI Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-02.

BASE SEQUENCE ANALYSIS METHOD, BASE SEQUENCE ANALYSIS APPARATUS, AND BASE SEQUENCE ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140113287A1. Автор: Kajihara Junji,Nakamura Tomohiko. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-24.

ABNORMAL TRAFFIC ANALYSIS APPARATUS, ABNORMAL TRAFFIC ANALYSIS METHOD, AND ABNORMAL TRAFFIC ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210029149A1. Автор: Ito Hiroki,HARADA Takafumi,MOROHASHI Gembu. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2021-01-28.

ABNORMAL TRAFFIC ANALYSIS APPARATUS, ABNORMAL TRAFFIC ANALYSIS METHOD, AND ABNORMAL TRAFFIC ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210058794A1. Автор: Ito Hiroki,HARADA Takafumi,MOROHASHI Gembu. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2021-02-25.

SWING GROUP ANALYSIS APPARATUS, SWING GROUP ANALYSIS METHOD, AND SWING GROUP ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20160101318A1. Автор: Nakayama Takuya,KITO Nobuyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-14.

MOVEMENT ANALYSIS METHOD, MOVEMENT ANALYSIS APPARATUS, AND MOVEMENT ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20150111657A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,Sato Masafumi,NOMURA Kazuo,KODAIRA Kenya. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS SYSTEM, ANALYSIS METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM STORING PROGRAM

Номер патента: US20220182406A1. Автор: INOKUCHI Masaki. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2022-06-09.

ULTRASONIC ANALYSIS APPARATUS, ULTRASONIC ANALYSIS METHOD, AND ULTRASONIC ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210169454A1. Автор: ARAI Tatsuo. Владелец: FURUNO ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2021-06-10.

EQUIPMENT DISPLAY METHOD, SWING ANALYSIS APPARATUS, SWING ANALYSIS SYSTEM, SWING ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20170203172A1. Автор: ITO Tsuyoshi,KODAIRA Kenya. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-07-20.

DISPLAY METHOD, MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS SYSTEM, MOTION ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20170203188A1. Автор: Sato Masafumi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-07-20.

Electroencephalogram analysis apparatus, electroencephalogram analysis program, and electroencephalogram analysis method

Номер патента: US20180214043A1. Автор: Takashi Tomita,Masaki Nishida,Yusaku Nakashima. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

BLOOD VESSEL ANALYSIS APPARATUS, MEDICAL IMAGE DIAGNOSIS APPARATUS, AND BLOOD VESSEL ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20150245776A1. Автор: HIROHATA Kenji,Ooga Junichiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2015-09-03.

MOTION ANALYSIS APPARATUS, MOTION ANALYSIS SYSTEM, MOTION ANALYSIS METHOD, RECORDING MEDIUM, AND DISPLAY METHOD

Номер патента: US20170239520A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,KODAIRA Kenya. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-24.

FLOW INFORMATION ANALYSIS APPARATUS, FLOW INFORMATION ANALYSIS METHOD, AND FLOW INFORMATION ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190230198A1. Автор: NOOKA Hiroyuki,KAMIYA Kazunori,KURAKAMI Hiroshi,NATSUME Daigo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2019-07-25.

Biological information analysis apparatus, biological information analysis system, beating information measurement system, and biological information analysis program

Номер патента: US20180249917A1. Автор: Hideo SASAHARA,Norio Teruuchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

DISPLAY METHOD, SWING ANALYSIS APPARATUS, SWING ANALYSIS SYSTEM, SWING ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20170296869A1. Автор: Ito Kazuhiro,ITO Tsuyoshi,KODAIRA Kenya,HAGIWARA Norihisa,KIRYU Akira,HASEGAWA Junko. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-10-19.

DISPLAY METHOD, SWING ANALYSIS APPARATUS, SWING ANALYSIS SYSTEM, SWING ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20170296870A1. Автор: ITO Tsuyoshi,KODAIRA Kenya,HAGIWARA Norihisa,KIRYU Akira,HASEGAWA Junko. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-10-19.

WIRELESS COMMUNICATION APPARATUS, ANALYSIS APPARATUS, ANALYSIS METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM ON WHICH PROGRAM HAS BEEN STORED

Номер патента: US20150372703A1. Автор: KODAMA Shinichirou. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2015-12-24.

Fluid analysis apparatus, fluid analysis method, program, and fluid analysis system

Номер патента: JP6394367B2. Автор: 田中　英一,英一 田中,勇 中尾,拓哉 岸本,中尾　勇. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-09-26.

STROBO THIN FILM CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS AND ASSAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003659A1. Автор: Yoo Jae Chern. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Improvements in Gas Analysis Apparatus.

Номер патента: GB190618680A. Автор: John Frederick Simmance,Jacques Abady. Владелец: Individual. Дата публикации: 1907-08-21.

Improvements relating to Portable Gas Analysis Apparatus

Номер патента: GB190624405A. Автор: . Владелец: SOUTH STAFFORDSHIRE MOND GAS P. Дата публикации: 1907-05-30.

THERMAL-ANALYSIS-MODEL GENERATING APPARATUS, THERMAL-ANALYSIS-MODEL GENERATING PROGRAM, THERMAL-ANALYSIS-MODEL GENERATING METHOD, AND THERMAL ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20120072161A1. Автор: Matsushita Hideharu. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-03-22.

Method and apparatus forthe peak monitoring the results of analysis apparatus

Номер патента: AU480957B2. Автор: J. Grady And Henry E. Amar John. Владелец: Technicon Instruments Corp. Дата публикации: 1975-12-04.

Protein sequence analysis apparatus, methods, computer-readable media, computer programs, signals and data structures

Номер патента: CA2465355C. Автор: Devki Nandan,Neil E. Reiner,Artem Tcherkassov. Владелец: University of British Columbia. Дата публикации: 2013-05-28.

Break analysis apparatus and method

Номер патента: NZ787611A. Автор: Mark Hansen,Melvyn Smith,Abdul Farooq,Ian Hales,Gwen Daniel. Владелец: Belron International Limited. Дата публикации: 2024-04-26.

LANGUAGE ANALYSIS APPARATUS, LANGUAGE ANALYSIS METHOD, AND LANGUAGE ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20120016664A1. Автор: Ando Shinichi,SADAMASA Kunihiko. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-19.

NUCLEIC ACID ANALYSIS DEVICE, NUCLEIC ACID ANALYSIS APPARATUS, AND NUCLEIC ACID ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20120064527A1. Автор: TAKAHASHI Satoshi,Maekawa Akira,Sakai Tomoyuki,Sonehara Tsuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-03-15.

DATA PROCESSING APPARATUS, PERFORMANCE EVALUATION/ANALYSIS APPARATUS, AND PERFORMANCE EVALUATION/ANALYSIS SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20120095728A1. Автор: UBUKATA Atsushi. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

3D DATA ANALYSIS APPARATUS, 3D DATA ANALYSIS METHOD AND 3D DATA ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20120139917A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-07.

TIMING ANALYSIS METHOD, TIMING ANALYSIS APPARATUS, AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM STORING TIMING ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20120216163A1. Автор: URA Takanobu,IRIE Kazuyuki. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-23.

MEMORY REPAIR ANALYSIS APPARATUS, MEMORY REPAIR ANALYSIS METHOD, AND TEST APPARATUS

Номер патента: US20120257467A1. Автор: KOSUGI Masaaki,KOIKE Seiji. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2012-10-11.

SYSTEM ANALYSIS PROGRAM, SYSTEM ANALYSIS METHOD, AND SYSTEM ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20120317072A1. Автор: Harada Lilian,Yugami Nobuhiro,Kobayashi Kenichi,Otsuka Hiroshi,Yokoyama Ken,Take Riichiro,Kubota Kazumi,Hotta Yuuji,Akaboshi Naoki. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-12-13.

IMAGE ANALYSIS APPARATUS, IMAGE PROCESSING APPARATUS, AND IMAGE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130011021A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-01-10.

AUDIO ANALYSIS SYSTEM, AUDIO ANALYSIS APPARATUS, AUDIO ANALYSIS TERMINAL

Номер патента: US20130080169A1. Автор: Iida Kiyoshi,Harada Haruo,Yoneyama Hirohito,Shimotani Kei,Nishino Yohei,Naito Takao. Владелец: FUJI XEROX CO., LTD.. Дата публикации: 2013-03-28.

Nucleic acid analysis device, nucleic acid analysis apparatus, and nucleic acid analysis method

Номер патента: JP5026359B2. Автор: 俊郎 斎藤,彰 浜田,正俊 奈良原. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-12.

Flow analysis apparatus, traffic analysis system, and flow analysis method

Номер патента: JP6581053B2. Автор: 裕一 中谷. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2019-09-25.

Vehicle traveling condition analysis system, analysis apparatus and analysis method

Номер патента: CN103426211A. Автор: 石仓理有,桥本明浩. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2013-12-04.

Stress light emission analysis apparatus, stress light emission analysis method, stress light emission analysis program, and recording medium

Номер патента: JP5234546B2. Автор: 超男 徐,祐介 今井,修 福田,直広 上野. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2013-07-10.

Noise analysis program, recording medium recording the program, noise analysis apparatus, and noise analysis method

Номер патента: JP4924136B2. Автор: 耕一 中山,研二 和田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-04-25.

Data analysis method, data analysis apparatus, and data analysis program

Номер патента: JP4595083B2. Автор: 寛治 榎田. Владелец: TAMA-TLO, LTD.. Дата публикации: 2010-12-08.

Photomask defect analysis apparatus, defect analysis method, and recording medium recording the defect analysis program

Номер патента: JP3750272B2. Автор: 祐一 福島. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2006-03-01.

Waveform analysis apparatus, waveform analysis method, and waveform analysis program

Номер патента: JP5189438B2. Автор: 睦雄 金子,貴文 後藤,美奈子 阿部. Владелец: Fukuda Denshi Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-24.

Motion analysis apparatus, motion analysis system, motion analysis program, and recording medium

Номер патента: JP5773144B2. Автор: 野村　和生,和生 野村. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-09-02.

Image analysis apparatus, image analysis method, and image analysis system

Номер патента: JP5563625B2. Автор: 洋一 西牧,良徳 大橋. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2014-07-30.

Financial analysis apparatus, financial analysis method, and financial analysis program

Номер патента: JP4722381B2. Автор: 矢八郎 宮田. Владелец: 株式会社Ｔｋｃ. Дата публикации: 2011-07-13.

Change management analysis method, change management analysis apparatus, and change management analysis program

Номер патента: SG175493A1. Автор: Kai Satoshi,AOKI Takeshi,Honda Yoshinori,Someya Satoshi,Ichi Sawamura Shin. Владелец: Hitachi Inf & Comm Eng Ltd. Дата публикации: 2011-11-28.

Analysis program, analysis method, and analysis apparatus

Номер патента: JP5903830B2. Автор: 克己 本間. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-04-13.

Image analysis apparatus, image analysis program, and image analysis method

Номер патента: JP4142966B2. Автор: 潮 井上,尚子 小阪,幸夫 小杉. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2008-09-03.

Electromagnetic field analysis apparatus, electromagnetic field analysis method, and electromagnetic field analysis program

Номер патента: JP4597559B2. Автор: 伊藤　　公一,正敏 春松. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-15.

Image analysis system, analysis apparatus, and analysis method

Номер патента: JP6280722B2. Автор: 昌彦 松宮. Владелец: Yazaki Energy System Corp. Дата публикации: 2018-02-14.

Thermal deformation analysis method, thermal deformation analysis program, and thermal deformation analysis apparatus

Номер патента: JP2015132564A. Автор: Takeshi Sato,Makoto Yoshida,吉田　　誠,武志 佐藤,吉田　誠,Yoji Kanbe,Hidetoshi Shiga,英俊 志賀,志賀　英俊,洋史 神戸,雄一 本山,Yuichi Motoyama. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Electromagnetic circuit cooperation analysis program, electromagnetic circuit cooperation analysis apparatus, and electromagnetic circuit cooperation analysis method

Номер патента: JP5974792B2. Автор: 裕 鎌田,鎌田　裕. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Analysis method, analysis apparatus, and analysis program

Номер патента: JP4732105B2. Автор: 豊成 佐々木. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-07-27.

Biological information analysis apparatus, biological information analysis method, and biological information analysis program

Номер патента: JP5688309B2. Автор: 剛 山内,史明 井芹,貴文 後藤. Владелец: Fukuda Denshi Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-25.

Image analysis method, evaluation method, image analysis apparatus, and image analysis program

Номер патента: JP4832590B2. Автор: 基裕 矢内,麻里子 大江,勇二 舛田. Владелец: Shiseido Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-07.

Risk analysis apparatus, risk analysis method, and risk analysis program

Номер патента: JP4821977B2. Автор: 啓 榊. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Time series analysis program, time series analysis system, and time series analysis apparatus used therefor

Номер патента: JP4922644B2. Автор: 大 手塚,邦夫 齋藤,美樹子 澤田. Владелец: 株式会社 日立東日本ソリューションズ. Дата публикации: 2012-04-25.

Stress analysis method, stress analysis apparatus, and stress analysis program

Номер патента: JP6447319B2. Автор: 武志 添田,添田　武志. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-01-09.

Service relationship analysis apparatus, service relationship analysis method, and service relationship analysis program

Номер патента: JP4498994B2. Автор: 崇 岡田,智美 石打,高志 末永. Владелец: NTT Data Corp. Дата публикации: 2010-07-07.

Information analysis apparatus, information analysis method, and information analysis program

Номер патента: JP6253744B1. Автор: 信一郎 瀬賀,勇紀 山中,知加 野村. Владелец: Yahoo Japan Corp. Дата публикации: 2017-12-27.

Asphalt analysis apparatus and use of the asphalt analysis apparatus in asphalt determination

Номер патента: CN102455346A. Автор: 赵丽,杨梅,朱玲,马丹,景东宇. Владелец: Sinopec Fushun Research Institute of Petroleum and Petrochemicals. Дата публикации: 2012-05-16.

Physical failure analysis program, physical failure analysis method, and physical failure analysis apparatus

Номер патента: JP6070337B2. Автор: 勉 石田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-02-01.

Genome analysis program, recording medium recording the program, genome analysis apparatus, and genome analysis method

Номер патента: JP4852313B2. Автор: 裕治 近藤. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-01-11.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.