Substrate test probing equipments having forcing part in test head and force-receiving pattern in probe card and methods of using the same
Номер патента: KR100835281B1
Опубликовано: 05-06-2008
Автор(ы): 강상구, 강성모, 김준연, 유상규, 조창현
Принадлежит: 삼성전자주식회사
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 05-06-2008
Автор(ы): 강상구, 강성모, 김준연, 유상규, 조창현
Принадлежит: 삼성전자주식회사
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of ensuring electrical contact between test probes and chip pads through the use of vibration and nondestructive deformation
Номер патента: US5369358A. Автор: Manfred Schmidt,Dieter Wendel,Roland Metzger,Otto Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1994-11-29.