LOW COST INBUILT DETERMINISTIC TESTER FOR SOC TESTING
Номер патента: US20170256325A1
Опубликовано: 07-09-2017
Автор(ы): CALLAHAN TIMOTHY J., LEVY Tomer, PAPPU LAKSHMINARAYANA
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-09-2017
Автор(ы): CALLAHAN TIMOTHY J., LEVY Tomer, PAPPU LAKSHMINARAYANA
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Low cost inbuilt deterministic tester for soc testing
Номер патента: US20170256325A1. Автор: Lakshminarayana Pappu,Tomer Levy,Timothy J. CALLAHAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-09-07.