Quality inspection and data classification
Номер патента: WO2019171125A1
Опубликовано: 12-09-2019
Автор(ы): Yukiko Yanagawa
Принадлежит: Omron Corporation
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 12-09-2019
Автор(ы): Yukiko Yanagawa
Принадлежит: Omron Corporation
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Data classification system, data classification method, and recording medium
Номер патента: US12072957B2. Автор: Tomoya Sakai,Genki KUSANO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.