Method for quantifying skin changes caused by six external evils and method for screening skin condition-improving materials using the same
Номер патента: US20140377756A1
Опубликовано: 25-12-2014
Автор(ы): Duck Hee Kim, Han Kon Kim, Jin Young Lee, Myeong Hoon Yeom, Sun Sang Kwon
Принадлежит: Amorepacific Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 25-12-2014
Автор(ы): Duck Hee Kim, Han Kon Kim, Jin Young Lee, Myeong Hoon Yeom, Sun Sang Kwon
Принадлежит: Amorepacific Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for quantifying skin changes caused by six external evils and method for screening skin condition-improving materials using the same
Номер патента: US20140377756A1. Автор: Jin Young Lee,Duck Hee Kim,Han Kon Kim,Sun Sang Kwon,Myeong Hoon Yeom. Владелец: Amorepacific Corp. Дата публикации: 2014-12-25.