SYSTEM FOR ANALYSIS OF A MICROWAVE FREQUENCY SIGNAL BY IMAGING
Номер патента: US20170322244A1
Опубликовано: 09-11-2017
Автор(ы): CHIPAUX Mayeul, DEBUISSCHERT Thierry, LARAT Christian, MEIJER Jan, MORVAN Loic, PEZZAGNA Sébastien, TORAILLE Loïc
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 09-11-2017
Автор(ы): CHIPAUX Mayeul, DEBUISSCHERT Thierry, LARAT Christian, MEIJER Jan, MORVAN Loic, PEZZAGNA Sébastien, TORAILLE Loïc
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and system for performing vector spectral measurements of a radio frequency (RF) signal having a repetitive waveform
Номер патента: US09851383B1. Автор: Edward M. Barich. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2017-12-26.