Compact time-of-flight mass analyzer.

Compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: IL292393A
Опубликовано: 01-06-2022
Автор(ы): Hofer Lukas, JOST J?rg
Принадлежит: Hofer Lukas, JOST J?rg, Spacetek Tech Ag

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: WO2021079310A1. Автор: Jürg JOST,Lukas Hofer. Владелец: Spacetek Technology AG. Дата публикации: 2021-04-29.

Compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: CA3148673A1. Автор: Jürg JOST,Lukas Hofer. Владелец: Spacetek Technology AG. Дата публикации: 2021-04-29.

Compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: EP4049305A1. Автор: Jürg JOST,Lukas Hofer. Владелец: Spacetek Technology AG. Дата публикации: 2022-08-31.

Compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: GB201915528D0. Автор: . Владелец: Spacetek Techonology AG. Дата публикации: 2019-12-11.

Orthogonal acceleration system for time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09576782B2. Автор: David G. Welkie. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Orthogonal acceleration system for time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20140264011A1. Автор: David G. Welkie. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Time-Of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20090294659A1. Автор: Yasushi Terui,Tsukasa Shishika. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-12-03.

Time-of-flight mass spectrometer and time-of-flight mass spectrometry method

Номер патента: US20210287889A1. Автор: Jun Asakawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-16.

Energy resolved time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US09627190B2. Автор: Trygve Ristroph,Julia Zaks. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2017-04-18.

Miniature time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20170358439A1. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: C&E RESEARCH Inc. Дата публикации: 2017-12-14.

Miniature time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20150155154A1. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: C&E RESEARCH Inc. Дата публикации: 2015-06-04.

Miniature time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2859576A1. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: C & E Res Inc. Дата публикации: 2015-04-15.

Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition

Номер патента: US20040021067A1. Автор: Marc Gonin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Miniature time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09583327B2. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: C&E RESEARCH Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Time-of-flight mass spectrometer with position-sensitive detection

Номер патента: US6031227A. Автор: Uwe Becker,Franz Heiser. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2000-02-29.

A detector for a co-axial bipolar time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP1630851A3. Автор: Bruce Laprade. Владелец: Burle Technologies Inc. Дата публикации: 2009-03-11.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP1099237A1. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Stephen Charles Davis,Andrew David Hoffman. Владелец: Masslab Ltd. Дата публикации: 2001-05-16.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP1099237B1. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Stephen Charles Davis,Andrew David Hoffman. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2007-03-14.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB9815457D0. Автор: . Владелец: GENOMIC SOLUTIONS Ltd. Дата публикации: 1998-09-16.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP3799107A1. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Multiple channel detection for time of flight mass spectrometer

Номер патента: US09953816B2. Автор: Motohiro Suyama,Anthony James Gilbert,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Time of flight mass spectrometer and dual gain detector therefor

Номер патента: CA2284763C. Автор: Thomas Oliver Merren,Robert Harold Bateman,Anthony James Gilbert,John Brian Hoyes,Jonathan Charles Cottrell. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2003-01-07.

A time-of-flight mass spectrometer with improved data acquisition system

Номер патента: CA2507491C. Автор: Thomas Egan,Katrin Fuhrer,Marc Gonin,J. Albert Schultz,William Burton,Valerie Vaughn,Steven Ulrich. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2011-03-29.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US8759756B2. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-06-24.

Detection of very large molecular ions in a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US5463218A. Автор: Armin Holle. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1995-10-31.

Time-of-flight mass spectrometer multi-anode detector

Номер патента: WO2003054914A3. Автор: Katrin Fuhrer,Marc Gonin,Valeri Raznikov,Michael I Mccully,J Albert Shultz. Владелец: J Albert Shultz. Дата публикации: 2003-11-06.

Orthogonal acceleration system for time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20160071717A1. Автор: David G. Welkie. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2016-03-10.

Impedance-matched coaxial conductor, electrically conducting contacting element and compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: US20240304431A1. Автор: Jürg JOST,Lukas Hofer. Владелец: Spacetek Technology AG. Дата публикации: 2024-09-12.

Impedance-matched coaxial conductor, electrically conducting contacting element and compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: WO2022167871A1. Автор: Jürg JOST,Lukas Hofer. Владелец: Spacetek Technology AG. Дата публикации: 2022-08-11.

Impedance-matched coaxial conductor, electrically conducting contacting element and compact time-of-flight mass analyzer

Номер патента: EP4288994A1. Автор: Jürg JOST,Lukas Hofer. Владелец: Spacetek Technology AG. Дата публикации: 2023-12-13.

Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser

Номер патента: US09978577B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser

Номер патента: US09728391B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: US8803083B2. Автор: Noah Goldberg. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2014-08-12.

Two-channel time-of-flight mass-spectrometer with unidirectional channels

Номер патента: RU2646860C2. Автор: Женгбо ЯИН,Зичао ТАНГ,Шию ЖАНГ. Владелец: Далиан Институте Оф Чемицал Пхысицс Чинесе Ацадемы Оф Сциенцес. Дата публикации: 2018-03-12.

Tandem time-of-flight mass spectrometer for determining molecular structure

Номер патента: EP1523758A1. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2005-04-20.

Tandem time-of-flight mass spectrometer for determining molecular structure

Номер патента: WO2004010459A1. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: Perseptive Biosystems, Inc.. Дата публикации: 2004-01-29.

Time-of-flight mass spectrometer with spatial focusing of a broad mass range

Номер патента: US09773657B2. Автор: Sebastian Böhm. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2017-09-26.

Fragment ion mass spectra measured with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20160225592A1. Автор: Koster Claus. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2016-08-04.

Fragment ion mass spectra measured with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US09761430B2. Автор: Claus KÖSTER. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2017-09-12.

Ion trap time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US8368014B2. Автор: Junichi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2013-02-05.

Method and apparatus for tandem time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US8330100B2. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-12-11.

Method and Apparatus for Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20120068062A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-03-22.

Calibration function for time of flight mass spectrometers with extreme mass accuracy

Номер патента: GB2484179A. Автор: Oliver Räther. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-04-04.

Ion injection device for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09425033B2. Автор: Melvin Andrew Park. Владелец: Bruker Daltonics Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Time of flight mass analyser and method of time of flight mass spectrometry

Номер патента: GB2621375A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,COCHEMS Philipp. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-14.

Instrument and Method for Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20090026365A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-01-29.

Collision cross section measurement in Time-of-Flight mass analyser

Номер патента: GB2628116A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-09-18.

Multiplexed time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB2582450A8. Автор: Denny Richard,Brian Hoyes John,Lee Wildgoose Jason. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2020-12-02.

Multiplexed time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB2582450A. Автор: Denny Richard,Wildgoose Jason,Brian Hoyes John. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2020-09-23.

Time-of-flight mass spectrometric analysis of labelled analyte molecules

Номер патента: GB2619766A. Автор: STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-12-20.

Mass Error Correction Due to Thermal Drift in a Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20180350575A1. Автор: HAMISH Stewart,Christian Albrecht HOCK. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2018-12-06.

Method of operating a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB2490577A. Автор: Petra Decker,Oliver Raether. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-11-07.

Time-of-flight mass spectrometry using multi-channel detectors

Номер патента: US09905410B2. Автор: Trygve Ristroph,Julia Zaks. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and apparatus for generating ions from thermally unstable, non-volatile, large molecules, particularly for a mass spectrometer such as a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US5294797A. Автор: Armin Holle,Gerhard Weiss,Ruediger Frey. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1994-03-15.

A time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP3238227A1. Автор: John Allison,Caroline Breen,Diana KALININA. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2017-11-01.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: US20170352527A1. Автор: John Allison,Caroline Breen,Diana KALININA. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2017-12-07.

A time of flight mass spectrometer

Номер патента: WO2016102140A1. Автор: John Allison,Caroline Breen,Diana KALININA. Владелец: KRATOS ANALYTICAL LIMITED. Дата публикации: 2016-06-30.

Integrated disease diagnostic system using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20190139747A1. Автор: Eung Joon Jo. Владелец: Asta Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Multiturn time-of-flight mass spectrometer and method for producing the same

Номер патента: US20210111015A1. Автор: Hideaki Izumi,Hiroyuki Miura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-04-15.

Ion Mirror for Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20240274428A1. Автор: Robert HAUFLER,Aaron Timothy Booy. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and apparatus for correction of initial ion velocity in a reflectron time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO1999027560A3. Автор: Vladimir M Doroshenko,Robert J Cotter. Владелец: Univ Johns Hopkins. Дата публикации: 1999-07-29.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with axial pulsed converter

Номер патента: US09984863B2. Автор: Anatoly N. Verenchikov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09620350B2. Автор: Alexander A. Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-04-11.

Pulsers for time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection

Номер патента: US20030168590A1. Автор: Oliver Räther,Gerhard Weiss,Carsten Stoermer. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2003-09-11.

Pulsers for time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection

Номер патента: US6903332B2. Автор: Oliver Räther,Gerhard Weiss,Carsten Stoermer. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2005-06-07.

Time-of-flight mass-spectrometer with gasphase ion source, with high sensitivity and large dynamic range

Номер патента: AU6615394A. Автор: Thorald Dr. Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-01-12.

Time-of-flight mass spectrometer with multiple reflection

Номер патента: GB2612416A. Автор: Koster Claus. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-05-03.

Time-of-flight mass spectrometric analysis of labelled analyte ions

Номер патента: US20230411138A1. Автор: HAMISH Stewart. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-12-21.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB2625228A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd,Ostermann Robert. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-06-12.

Saturation correction for ion signals in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20130181123A1. Автор: Oliver Räther. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2013-07-18.

Multiturn time-of-flight mass spectrometer and method for producing the same

Номер патента: US11094522B2. Автор: Hideaki Izumi,Hiroyuki Miura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Time-of-flight mass spectrometry device and analysis method

Номер патента: US12087569B2. Автор: Yasushi Aoki,Takuro KISHIDA,Toshitaka KAWAI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Processing of ion current measurements in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US09543133B2. Автор: Jens Decker. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2710148C. Автор: Alexander Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-02-28.

Multiref lection time-of -flight mass spectrometer

Номер патента: WO2009081143A2. Автор: Alexander Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH. Дата публикации: 2009-07-02.

Signal processing method and system based on time-of-flight mass spectrometry and electronic apparatus

Номер патента: US20190172694A1. Автор: Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun,Jiaqi Shen. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Time-of-flight mass spectrometer assembly with a secondary flange

Номер патента: US11875984B2. Автор: Michael VOLLERO,Mario Weder,Nigel Sousou. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-01-16.

Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometer and lead-in electrode for the same

Номер патента: US20210142999A1. Автор: Tomoya Kudo,Yusuke Sakagoshi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20170294298A1. Автор: Mo Yang,Hyun Sik Kim,Seung Yong KIM,Wan Seop JEONG. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2017-10-12.

Time of flight mass analyser with spatial focussing

Номер патента: US20220238320A1. Автор: John Brian Hoyes,Boris Kozlov. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Time-of-flight mass spectrometer assembly with a secondary flange

Номер патента: EP4338195A1. Автор: Michael VOLLERO,Mario Weder,Nigel Sousou. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-03-20.

Time-of-flight mass spectrometry device and analysis method

Номер патента: US20240120190A1. Автор: Yasushi Aoki,Takuro KISHIDA,Toshitaka KAWAI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Signal processing method and system based on time-of-flight mass spectrometry and eletronic apparatus

Номер патента: EP3475968A1. Автор: Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun,Jiaqi Shen. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-05-01.

Time of flight mass analyser with spatial focussing

Номер патента: WO2018215737A1. Автор: John Brian Hoyes,Boris Kozlov. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2018-11-29.

Integrated disease diagnostic system using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210118658A1. Автор: Eung Joon Jo. Владелец: Asta Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Pulsed accelerator for time of flight mass spectrometers

Номер патента: EP3844795A1. Автор: John Hoyes. Владелец: HGSG Ltd. Дата публикации: 2021-07-07.

Pulsed accelerator for time of flight mass spectrometers

Номер патента: WO2020044003A1. Автор: John Hoyes. Владелец: HGSG Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Integrated disease diagnostic system using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US11348776B2. Автор: Eung Joon Jo. Владелец: Asta Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-31.

Saturation correction for ion signals in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20150371836A1. Автор: Oliver Räther. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2015-12-24.

ORTHOGONAL ACCELERATION SYSTEM FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140264011A1. Автор: Welkie David G.. Владелец: PerkinElmer Health Sciences, Inc.. Дата публикации: 2014-09-18.

Method of analysing ions from specific charge in quadrupole time-of-flight mass spectormetres (monopole, tripole and mass filter)

Номер патента: RU2399985C1. Автор: Владимир Васильевич Петров,Владимир Васильевич Иванов,Эрнст Пантелеймонович Шеретов,Татьяна Борисовна Карнав,Валерий Викторович Викулов,Андрей Эрнстович Шеретов. Владелец: Эрнст Пантелеймонович Шеретов. Дата публикации: 2010-09-20.

Method of controlling relation of resolution ability by weight and sensitivity in multi-reflective time-of-flight mass-spectrometers

Номер патента: RU2660655C2. Автор: Николай Васильевич Краснов,Тимофей Вячеславович Помозов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Биотехнологические аналитические приборы" (ООО "БиАП"). Дата публикации: 2018-07-09.

Method for forming mass line of ions in time-of-flight mass-spectrometer

Номер патента: RU2644578C1. Автор: Константин Евгеньевич Воронов,Игорь Владимирович Пияков,Дмитрий Владимирович Родин,Марина Александровна Родина. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2018-02-13.

Multi-reflecting time-of-flight mass-analyser and time-of-flight mass-spectrometer having said mass-analyser

Номер патента: RU2458427C2. Автор: Михаил СУДАКОВ. Владелец: Симадзу Корпорейшн. Дата публикации: 2012-08-10.

Gasphase ion source for time-of-flight mass-spectrometers with high mass resolution and large mass range

Номер патента: CA2127185A1. Автор: Thorald Bergmann,Eva Martina Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-01-03.

Ion trap time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US7755035B2. Автор: Hiroshi Nakamura,Yasushi Terui,Takuya Saeki,Tsukasa Shishika. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-13.

Time-of-flight mass spectrometer with constant flight path length

Номер патента: US6049077A. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2000-04-11.

Time-of-flight mass spectrometer with an ion source emitting continuously

Номер патента: WO2003096374A8. Автор: Gyoergy Hars. Владелец: Gyoergy Hars. Дата публикации: 2004-02-12.

Time-of-flight mass spectrometer with multiplex operation

Номер патента: US6734421B2. Автор: Jochen Franzen,Armin Holle. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2004-05-11.

Time-of-flight mass spectrometer with an ion source emitting continuously

Номер патента: WO2003096374A1. Автор: Gyorgy Hars. Владелец: Hars Gyoergy. Дата публикации: 2003-11-20.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP4012748A1. Автор: Seitkerim Bimurzaevich BIMURZAEV. Владелец: Non Profit Joint Stock Co Almaty Univ Of Power Engineering And Telecommunications Named After G. Дата публикации: 2022-06-15.

Particle selection method and a time-of flight mass spectrometer

Номер патента: US5962849A. Автор: Yasushi Iwata,Naoaki Saito,Mitsumori Tanimoto,Kazuyoshi Koyama. Владелец: Agency of Industrial Science and Technology. Дата публикации: 1999-10-05.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20200219714A1. Автор: Yusuke Sakagoshi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US8664592B2. Автор: Shinji Miyauchi,Yoshihiro Ueno,Masaru Nishiguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-03-04.

Electrostatic gimbal for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: EP2686870A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2014-01-22.

A co-axial time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2095396A2. Автор: Michael Sudakov,Roger Giles,Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-09-02.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB2628954A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd,Ostermann Robert. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-09.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration

Номер патента: CA2624926C. Автор: Anatoli N. Verentchikov,Mikhail I. Yavor,Yuri Khasin. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Reflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US5955730A. Автор: Robert E. HAUFLER,Eric L. Kerley. Владелец: Comstock Inc. Дата публикации: 1999-09-21.

Time of flight mass spectrometer with selectable drift length

Номер патента: CA2339314C. Автор: John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2004-12-28.

Quadruple focusing time of flight mass spectrometer

Номер патента: US4754135A. Автор: Thomas C. Jackson. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1988-06-28.

Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US11862451B2. Автор: Tomoya Kudo,Daisuke Okumura,Takuya SUZUMURA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB2617229A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd,Ostermann Robert. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-10-04.

Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20230377869A1. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Gridless, focusing ion extraction device for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20030038234A1. Автор: Timothy Cornish. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-02-27.

Gridless, focusing ion extraction device for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP1281192A2. Автор: Timothy J. Cornish. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-02-05.

Electrostatic gimbal for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: WO2012123733A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2012-09-20.

Membrane detector for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP2715777A1. Автор: Robert Blick,Jonghoo Park. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2014-04-09.

Apparatus and method for processing data of time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US10539569B2. Автор: Yangsun Kim. Владелец: Asta Corp. Дата публикации: 2020-01-21.

Apparatus and method for processing data of time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US20180203019A1. Автор: Yangsun Kim. Владелец: Asta Corp. Дата публикации: 2018-07-19.

Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20110220786A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2011-09-15.

Time-of-flight mass spectrometer and method of controlling same

Номер патента: US09536727B2. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Time-of-Flight Mass Spectrometer and Method of Controlling Same

Номер патента: US20140077076A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-03-20.

Multimode Ion Mirror Prism and Energy Filtering Apparatus and System for Time-Of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20180323053A1. Автор: Luke Hanley,Igor Vladimirovich Veryovkin. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2018-11-08.

Multimode ion mirror prism and energy filtering apparatus and system for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP3384520A1. Автор: Luke Hanley,Igor Vladimirovich Veryovkin. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2018-10-10.

Analysis of time-of-flight mass spectra

Номер патента: GB2617318A. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd,Dwivedi Ankit. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-10-11.

Method for time-of-flight mass-separating ions in linear radio-frequency electric field and device for its implementation

Номер патента: RU2618212C2. Автор: Евгений Васильевич Мамонтов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2017-05-03.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: US20240282559A1. Автор: Michael Wilson,William Johnson,Ruth WAMSLEY,Peter Spreadbury,Paul Doorbar. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: US09455129B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Improvements relating to Time-of-Flight mass analysers

Номер патента: GB2628048A. Автор: Makarov Alexander,Balschun Wilko,Hock Christian,Wagner Alexander,GRINFELD Dmitry,Giannakopulos Anastassios,STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-09-11.

Time-of-flight mass analyzer with multiple flight paths

Номер патента: WO2004059693A3. Автор: Marvin L Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2005-11-17.

Time-of-flight mass analyzer with multiple flight paths

Номер патента: US6933497B2. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: Per Septive Biosystems Inc. Дата публикации: 2005-08-23.

Bench-top Time of Flight mass spectrometer

Номер патента: US12009193B2. Автор: Michael Wilson,William Johnson,Ruth WAMSLEY,Peter Spreadbury,Paul Doorbar. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Method and apparatus for the correction of mass errors in time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CA2283139C. Автор: John Brian Hoyes,Jonathan Charles Cottrell. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2003-03-25.

Segmented Planar Calibration for Correction of Errors in Time of Flight Mass Spectrometers

Номер патента: US20150021467A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2015-01-22.

Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: EP2710622A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2014-03-26.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210242008A1. Автор: Yoshikatsu Umemura,Kazuma Maeda,Tomoyuki OSHIRO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometer and tuning method for the same

Номер патента: US20230352293A1. Автор: Kosuke Uchiyama,Tomoyuki OSHIRO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Multi-reflecting time of flight mass analyser

Номер патента: US20210193451A1. Автор: Jeffery Mark Brown,Boris Kozlov. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Multi-reflecting time of flight mass analyser

Номер патента: EP3791425A1. Автор: Jeffery Mark Brown,Boris Kozlov. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09640378B2. Автор: Masahiro Hayashi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-05-02.

Time-of-flight mass spectrometer and tuning method for the same

Номер патента: US20230386817A1. Автор: Kosuke Uchiyama,Tomoyuki OSHIRO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Time of Flight Mass Spectrometer and Method Of Mass Spectrometry

Номер патента: US20210272790A1. Автор: HAMISH Stewart,Alexander A. Makarov,Dmitry E. Grinfeld. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2021-09-02.

Time-of-flight mass spectrometer and time-of-flight mass spectrometry method

Номер патента: US20240242957A1. Автор: Tomoyuki OSHIRO,Yuta Miyazaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20190006168A1. Автор: Shiro Mizutani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Detector for a bipolar time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP1592041A3. Автор: Bruce Laprade,Ronald Starcher. Владелец: Burle Technologies Inc. Дата публикации: 2006-10-25.

Time-of-flight mass spectrometer and time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP4354487A4. Автор: Tomoyuki OSHIRO,Yuta Miyazaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Strategic dynamic range control for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CA2914099A1. Автор: Scott Tanner. Владелец: Fluidigm Canada Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Time of flight mass spectrometer and method of mass spectrometry

Номер патента: GB2592591B. Автор: Makarov Alexander,GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-07-24.

Microchannel plate detector assembly for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2409167C. Автор: Timothy J. Cornish,Scott A. Ecelberger. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-02-07.

A detection system for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB2486484A. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Alexander Kholomeev. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2012-06-20.

Method and apparatus for correcting mass error in a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3430250B2. Автор: ホイエス、ジョン・ブライアン,コトレル、ジョナサン・チャールズ. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2003-07-28.

Time-of-flight mass spectrometer and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3665823B2. Автор: 貫名義裕. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-06-29.

Time-of-flight mass spectrometer and time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP4354487A1. Автор: Tomoyuki OSHIRO,Yuta Miyazaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Time of flight mass spectrometer and method of mass spectrometry

Номер патента: GB202002968D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2020-04-15.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: WO2019229458A1. Автор: Michael Wilson,Peter Carney,Haydn Murray,Ruth WAMSLEY,Paul MCIVER,Ian Trivett. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2019-12-05.

Improvements relating to time-of-flight mass analysers

Номер патента: GB2622309A. Автор: Makarov Alexander,Balschun Wilko,Hock Christian,Wagner Alexander,GRINFELD Dmitry,Giannakopulos Anastassios,STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-03-13.

Improvements relating to time-of-flight mass analysers

Номер патента: GB2622309B. Автор: Makarov Alexander,Balschun Wilko,Hock Christian,Wagner Alexander,GRINFELD Dmitry,Giannakopulos Anastassios,STEWART Hamish. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-07-03.

Improvements relating to time-of-flight mass analysers

Номер патента: GB202406466D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-06-26.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210202229A1. Автор: Shiro Mizutani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201907734D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-07-17.

Improvements relating to time-of-flight mass analysers

Номер патента: GB202311066D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-08-30.

Secondary ion generator detector for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: AU9503898A. Автор: Scot R. Weinberger. Владелец: Ciphergen Biosystems Inc. Дата публикации: 1999-04-12.

Miniature time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2859576A4. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: C&e Res Inc. Дата публикации: 2016-07-20.

Method of calibrating a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB2454282B. Автор: Andreas Brekenfeld. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2011-09-28.

Multi-reflecting time of flight mass analyser

Номер патента: GB201906253D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-06-19.

Method and detector for detecting heavy molecule ions in a time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB9217584D0. Автор: . Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1992-09-30.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP3803937B1. Автор: Matthew Henderson,Michael Wilson,Peter Carney,Ruth WAMSLEY,Richard Threlfall,Paul MCIVER. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20130270432A1. Автор: Iwasaki Kota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-10-17.

Multiple Channel Detection for Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20150034819A1. Автор: SUYAMA Motohiro,Gilbert Anthony James,Hoyes John Brian. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-05.

TIME VERSUS INTENSITY DISTRIBUTION ANALYSIS USING A MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20180053645A1. Автор: Jo Yohahn,Jo Eung Joon. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

MINIATURE TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20150155154A1. Автор: Ecelberger Scott,Cornish Timothy. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

Segmented Planar Calibration for Correction of Errors in Time of Flight Mass Spectrometers

Номер патента: US20140246575A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2014-09-04.

Multiple Channel Detection for Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20140246579A1. Автор: SUYAMA Motohiro,Gilbert Anthony James,Hoyes John Brian. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-04.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190157058A1. Автор: Mizutani Shiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-23.

MULTI-REFLECTING TIME OF FLIGHT MASS ANALYSER

Номер патента: US20210193451A1. Автор: Brown Jeffery Mark,Kozlov Boris. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2021-06-24.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY DEVICE

Номер патента: US20210202224A1. Автор: OSA Haruki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-07-01.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210202229A1. Автор: Mizutani Shiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-07-01.

BENCH-TOP TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210233755A1. Автор: Wilson Michael,Henderson Matthew,McIver Paul,CARNEY Peter,Threlfall Richard,Wamsley Ruth. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2021-07-29.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20160217995A1. Автор: Hayashi Masahiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

Segmented Planar Calibration for Correction of Errors in Time of Flight Mass Spectrometers

Номер патента: US20150318162A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-05.

MINIATURE TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170358439A1. Автор: Ecelberger Scott,Cornish Timothy. Владелец: C&E RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2017-12-14.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201808936D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-07-18.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201808890D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-07-18.

Tandem and time of flight mass spectrometry method involves determining time of flight and position of arrival of fragments, and identifying fragment pairs in measured positions and times of flight to generate dissociation spectra

Номер патента: FR2895833A1. Автор: David Scigocki. Владелец: PHISIKRON SOC PAR ACTIONS SIMP. Дата публикации: 2007-07-06.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: WO2019229453A1. Автор: Matthew Henderson,Michael Wilson,Peter Carney,Ruth WAMSLEY,Richard Threlfall,Paul MCIVER. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2019-12-05.

Space time-of-flight mass spectrometer based on diamond detector

Номер патента: CN115332044A. Автор: 袁斌,张伟杰,孙莹,沈国红,张焕新,张珅毅,权子达. Владелец: National Space Science Center of CAS. Дата публикации: 2022-11-11.

Space-angle focusing reflector for time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2386750B. Автор: Armin Holle. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2005-11-16.

Voltage application method, voltage application device, and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP3432340A1. Автор: Tomoyuki OSHIRO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-23.

Multiple channel detection for time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP2761644B1. Автор: Motohiro Suyama,Anthony James Gilbert,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2015-12-09.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP6544490B2. Автор: 司朗水谷. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-07-17.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: WO2019207737A1. Автор: 朝是大城,大輔奥村,弘明小澤,雄太宮崎. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2019-10-31.

A multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisitions

Номер патента: CA2685178A1. Автор: Katrin Fuhrer,Marc Gonin,J. Albert Schultz,Valeri Raznikov,Michael I. Mccully. Владелец: Michael I. Mccully. Дата публикации: 2003-07-03.

E x b ion detector for high efficiency time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: EP1661156A2. Автор: Eli Cheifetz,Armin Schon. Владелец: El Mul Technologies Ltd. Дата публикации: 2006-05-31.

Time of flight mass spectrometer and multiple detector therefor

Номер патента: GB2381373B. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Stephen Charles Davis,Richard Whitney Stresau,Kevin Lionel Hunter,Wayne Leslie Sheils. Владелец: Thermo Masslab Ltd. Дата публикации: 2005-03-23.

Time of flight mass spectrometer and multiple detector therefor

Номер патента: CA2448308A1. Автор: Alexander Alekseevich Makarov,Stephen Charles Davis,Richard Whitney Stresau,Kevin Lionel Hunter,Wayne Leslie Sheils. Владелец: Wayne Leslie Sheils. Дата публикации: 2002-12-05.

Delayed ion extraction module applicable to time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN105789019A. Автор: 刘聪,王超,刘伟伟,李康康,吴学炜,王家杰,张瑞峰,郭光辉,刘晓莉,肖永东,易玲,蔡克亚,王晓锦. Владелец: Autobio Labtec Instruments Zhengzhou Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-20.

E x B ion detector for high efficiency time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20050056779A1. Автор: Armin Schon,Eli Chefetz. Владелец: El Mul Technologies Ltd. Дата публикации: 2005-03-17.

Time-of-flight mass spectrometer and dual gain detector for it

Номер патента: JP2001507513A. Автор: ホイエス、ジョン・ブライアン,コトレル、ジョナサン・チャールズ,ベイトマン、ロバート・ハロルド,ギルバート、アンソニー・ジェイムズ,マーレン、トーマス・オリバー. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2001-06-05.

Voltage application method, voltage application device, and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP6485590B2. Автор: 朝是大城. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-03-20.

A time-of-flight mass spectrometer with improved data acquisition system

Номер патента: WO2004051850A2. Автор: Thomas Egan,Katrin Fuhrer,Marc Gonin,J. Albert Schultz,William Burton,Steven Ulrich,Valentine Vaughn. Владелец: IONWERKS, INC.. Дата публикации: 2004-06-17.

Time-of-flight mass spectrometer for monitoring of fast processes

Номер патента: US7084395B2. Автор: Katrin Fuhrer,Marc Gonin,J. Albert Schultz,Thomas F. Egan,Michael I. Mccully,Kent J. Gillig. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2006-08-01.

Space-angle focusing reflector for time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US6740872B1. Автор: Armin Holle. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2004-05-25.

Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition

Номер патента: US6747271B2. Автор: Katrin Fuhrer,Marc Gonin,J. Albert Schultz,Valeri Raznikov,Michael I. Mccully. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2004-06-08.

High-voltage coupling pulse generator and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN107464738B. Автор: 乌月恒,张贤春. Владелец: ZHUHAI MEIHUA BIO-MEDICAL TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2023-07-07.

Time-of-flight mass spectrometer with position-sensitive detection

Номер патента: DE19541089A1. Автор: Uwe Becker,Franz Heiser. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 1997-05-07.

A time-of-flight mass spectrometer with improved data acquisition system

Номер патента: CA2507491A1. Автор: Thomas Egan,Katrin Fuhrer,Marc Gonin,J. Albert Schultz,William Burton,Valerie Vaughn,Steven Ulrich. Владелец: Steven Ulrich. Дата публикации: 2004-06-17.

Time of flight mass spectrometer having microchannel plate and modified dynode for improved sensitivity

Номер патента: US5770859A. Автор: Jacek Bielawski. Владелец: Perkin Elmer Corp. Дата публикации: 1998-06-23.

Strategic dynamic range control for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP3005404A1. Автор: Scott Tanner. Владелец: Fluidigm Canada Inc. Дата публикации: 2016-04-13.

Time of flight mass spectrometer and dual gain detector therefor

Номер патента: US6756587B1. Автор: Robert H. Bateman,Anthony J. Gilbert,Thomas O. Merren,John B. Hoyes,Jonathan C. Cottrell. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2004-06-29.

Membrane detector for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP2715777A4. Автор: Robert Blick,Jonghoo Park. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2015-03-04.

Microchannel plate detector assembly for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20030047679A1. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-03-13.

Time-of-flight mass spectrometer and multiple detector for this

Номер патента: DE10296885T5. Автор: Alexander Alekseevich Cheadle Hulme Makarov,Stephen Charles Macclesfield Davis,Richard Whitney Sydney Stresau,Kevin Lionel Glenhaven Hunter,Wayne Leslie Baulkham Hills Sheils. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2004-08-19.

Time-of-flight mass spectrometer multi-anode detector

Номер патента: WO2003054914A2. Автор: Katrin Fuhrer,Marc Gonin,Valeri Raznikov,Michael I. Mccully,J. Albert Shultz. Владелец: IONWERKS, INC.. Дата публикации: 2003-07-03.

Time-of-flight mass spectrometer and tuning method for the same

Номер патента: US20230386813A1. Автор: Kosuke Uchiyama,Tomoyuki OSHIRO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: GB201208635D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2012-06-27.

Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: GB2491029C. Автор: J Langridge David,Lee Wildgoose Jason. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Improvements relating to time-of-flight mass analysers

Номер патента: GB202109177D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2021-08-11.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201907722D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-07-17.

Fourier transform electrostatic linear ion trap and reflectron time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP3895203B1. Автор: Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-06-12.

Compact time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20050269505A1. Автор: David Ermer. Владелец: Mississippi State University. Дата публикации: 2005-12-08.

Compact time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2567467A1. Автор: David R. Ermer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-11-01.

Time Of Flight mass analysis system

Номер патента: GB2628558A. Автор: Hock Christian,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-02.

Time of flight mass analysis system

Номер патента: US20240331994A1. Автор: HAMISH Stewart,Christian Hock,Bernd Hagedorn. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-03.

Time-of-flight mass spectrometer for conducting high resolution mass analysis

Номер патента: US09613787B2. Автор: Shinichi Yamaguchi,Hideaki Izumi,Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Method for measurement of fragment ion mass spectra with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2591672A. Автор: Koster Claus. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2021-08-04.

High resolution time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09478404B2. Автор: Bruce Thomson,Robert E. HAUFLER. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20100176292A1. Автор: Takao OKADO,Kazuo Yamauchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-07-15.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09865444B2. Автор: Daisuke Okumura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Multiplexed time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP3942592A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,John Brian Hoyes,Richard Denny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-01-26.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: WO2022233714A9. Автор: Andrew BOWDLER. Владелец: KRATOS ANALYTICAL LIMITED. Дата публикации: 2023-09-07.

Tandem and time of flight mass spectrometry method involves determining time of flight and position of arrival of fragments, and identifying fragment pairs in measured positions and times of flight to generate dissociation spectra

Номер патента: FR2895832A1. Автор: David Scigocki. Владелец: PHISIKRON SOC PAR ACTIONS SIMP. Дата публикации: 2007-07-06.

Time of flight mass analyser and method of time of flight mass spectrometry

Номер патента: US20240055250A1. Автор: HAMISH Stewart,Dmitry GRINFELD,Philipp Cochems. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-15.

Electronic time-of-flight mass selector

Номер патента: WO2006016986A3. Автор: Andrei Burnin,Joseph J Belbruno. Владелец: Joseph J Belbruno. Дата публикации: 2006-11-23.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: US20240213013A1. Автор: Andrew BOWDLER. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Multi-mode signal offset in time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US20040144917A1. Автор: William Frazer,Charles William Russ. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-07-29.

Collision cross section measurement in time-of-flight mass analyser

Номер патента: US20240312775A1. Автор: HAMISH Stewart,Dmitry GRINFELD. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-09-19.

Tandem time-of-flight mass spectrometry with non-uniform sampling

Номер патента: US09472390B2. Автор: Anatoly N. Verenchikov,Vasily Makarov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Mass scale alignment method for generating comparability between two time-of-flight mass spectra, involves shifting or expanding either secondary mass spectrum or both mass spectra to match primary spectrum or form average mass spectrum

Номер патента: DE102004064195B4. Автор: Thomas Maier,Markus Kostrzewa,Stefan Klepel. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2013-10-10.

Electronic time-of-flight mass selector

Номер патента: WO2006016986A2. Автор: Joseph J. Belbruno,Andrei Burnin. Владелец: THE TRUSTEES OF DARTMOUTH COLLEGE. Дата публикации: 2006-02-16.

Electronic time-of-flight mass selector

Номер патента: US7829843B2. Автор: Joseph J. Belbruno,Andrei Burnin. Владелец: Dartmouth College. Дата публикации: 2010-11-09.

MS/MS time-of-flight mass-spectrometer with collision cell

Номер патента: US5854485A. Автор: Thorald Horst Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-12-29.

Correcting time-of-flight drifts in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20140014831A1. Автор: Peter Markel Willis,Jonathan JALOSZYNSKI. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2014-01-16.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP4334968A1. Автор: Andrew BOWDLER. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20170271140A1. Автор: Daisuke Okumura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-09-21.

Mass error correction due to thermal drift in a time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201808458D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2018-07-11.

Mass error correctiondue to thermal drift in a time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201708855D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-07-19.

Quantitative measurement of isotope ratios by time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO2010090911A3. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: VIRGIN INSTRUMENTS CORPORATION. Дата публикации: 2010-11-25.

Method for measurement of fragment ion mass spectra with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB202103969D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2021-05-05.

Method for measurement of fragment ion mass spectra with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB201601557D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2016-03-16.

Device and method for the improved mass resolution of a time-of-flight mass spectrometer with ion reflector

Номер патента: GB9524247D0. Автор: . Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1996-01-31.

Cylindrical multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09941107B2. Автор: Anatoly N. Verenchikov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Multiplexed orthogonal time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20040183007A1. Автор: Peter Foley,Mikhail Belov,Charles Fancher. Владелец: Predicant Biosciences Inc. Дата публикации: 2004-09-23.

Chip for mass spectrometry, and laser desorption ionization-time of flight mass spectrometer and mass spectrometry system using same

Номер патента: WO2004051253A1. Автор: Hisao Kawaura,Kazuhiro Iida,Minoru Asogawa,Toru Sano,Wataru Hattori,Noriyuki Iguchi,Masakazu Baba,Hiroko Someya. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2004-06-17.

Time-of-flight mass spectrometers for improving resolution and mass range employing an impulse extraction ion source

Номер патента: WO2004008470A3. Автор: Timothy J Cornish. Владелец: Timothy J Cornish. Дата публикации: 2004-07-01.

Analysis system using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20240087864A1. Автор: Eung Joon Jo. Владелец: Asta Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Method for measurement of fragment ion mass spectra with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2591672B. Автор: Koster Claus. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-11-03.

Time of flight mass analyser and method of time of flight mass spectrometry

Номер патента: GB2621375B. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,COCHEMS Philipp. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-02.

Calibration function for time-of-flight mass spectrometers with extreme mass accuracy

Номер патента: US20120074303A1. Автор: Oliver Räther. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-03-29.

Pulsed Mass Calibration in Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20130075598A1. Автор: LEDFORD,JR. Edward B.. Владелец: ZOEX CORPORATION. Дата публикации: 2013-03-28.

Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometer and Method of Mass Spectrometry Using the Same

Номер патента: US20130306859A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-11-21.

Pulsed Mass Calibration in Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20150008310A1. Автор: Marc Gonin,Martin Tanner,Christian Tanner,Edward B. Ledford, Jr.. Владелец: Zoex Corp. Дата публикации: 2015-01-08.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER AND METHOD FOR IMPROVING MASS AND SPATIAL RESOLUTION OF AN IMAGE

Номер патента: US20220051886A1. Автор: Lebedev Guennadi. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

WIDE-RANGE HIGH MASS RESOLUTION IN REFLECTOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20190096651A1. Автор: Bohm Sebastian,Haase Andreas. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

Wide-range high mass resolution in reflector time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20200152439A1. Автор: Andreas Haase,Sebastian Böhm. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2020-05-14.

Fragment ion mass spectra measured with tandem time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: US20160225592A1. Автор: Koster Claus. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2016-08-04.

Mass spectrum resolution device for measuring laser ablation ion species with improved time of flight mass spectrometry

Номер патента: US20210249244A1. Автор: DING Wu,Cong Li,Hongbin DING,Yuanjie HAO,Chunlei FENG,Ran HAI. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2021-08-12.

Fast Pushing Time of Flight Mass Spectrometer Combined With Restricted Mass to Charge Ratio Range Delivery

Номер патента: US20150287584A1. Автор: Kenny Daniel James,Green Martin Raymond,Wildgoose Jason Lee. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Mass Error Correction Due to Thermal Drift in a Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20180350575A1. Автор: STEWART Hamish,HOCK Christian Albrecht. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

Pulsed mass calibration in time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: JP2013521470A. Автор: エドワード・ビー・レッドフォード・ジュニア. Владелец: Zoex Corp. Дата публикации: 2013-06-10.

Multiple reflection time-of-flight mass spectrometer and mass spectroscopic analysis method

Номер патента: JP6859450B2. Автор: アルタエフ，ヴィアチェスラフ,エヌ．フェレンチコフ，アナトリー. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2021-04-14.

Mass spectrum resolving device for improving time-of-flight mass spectrometry measurement of laser ablation ion species

Номер патента: CN110176386B. Автор: 李聪,丁洪斌,海然,冯春雷,吴鼎,郝媛杰. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2020-05-19.

Mass scale alignment of time-of-flight mass spectra

Номер патента: US7391017B2. Автор: Thomas Maier,Markus Kostrzewa,Stefan Klepel. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2008-06-24.

Fast pushing time of flight mass spectrometer combined with restricted mass to charge ratio range delivery

Номер патента: US9824877B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green,Daniel James Kenny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Mass spectrometry i.e. matrix assisted laser desorption ionization-time of flight mass spectrometry, microscopy device for analyzing biological sample i.e. cell, has stack of piezoelectric units controlled for scanning sample

Номер патента: DE102006052037A1. Автор: Bengt Noelting. Владелец: Nolting Bengt Dr. Дата публикации: 2008-04-30.

Wide-range high mass resolution in reflector time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2568354B. Автор: Bohm Sebastian,Haase Andreas. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-08-10.

Calibration function for time-of-flight mass spectrometers of highest mass accuracy

Номер патента: DE102010046731A1. Автор: Oliver Räther. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-03-29.

Mass spectrometer and method for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: GB201709789D0. Автор: . Владелец: Parlett Peter. Дата публикации: 2017-08-02.

Mass spectrum resolution apparatus for improving measurement of laser ablation ion species based on time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP3780066A4. Автор: DING Wu,Cong Li,Hongbin DING,Yuanjie HAO,Chunlei FENG,Ran HAI. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2021-07-21.

Mass spectrum resolution device for measuring laser ablation ion species with improved time of flight mass spectrometry

Номер патента: US11087966B1. Автор: DING Wu,Cong Li,Hongbin DING,Yuanjie HAO,Chunlei FENG,Ran HAI. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2021-08-10.

Utilize the time of-flight mass spectrometer of wide mass range space-focusing

Номер патента: CN105529240B. Автор: 塞巴斯蒂安·博姆. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2017-10-27.

Micro-reflectron for time of flight mass spectrometer

Номер патента: CA2768066C. Автор: Jean-Sebastien Danel,Laurent Duraffourg,Frederic Progent,Charles-Marie Tassetti. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2019-03-12.

Tandem time-of-flight mass spectrometer and this mass spectrometry method using.

Номер патента: DE102013007288A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-01-16.

Fragment ion mass spectrum is measured using time-of-flight mass spectrometry instrument

Номер патента: CN105845539B. Автор: 克劳斯·克斯特. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2018-05-01.

Tandem time-of-flight mass spectrometer and method of mass spectrometry using the same

Номер патента: US8766175B2. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-07-01.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20170236701A1. Автор: Daisuke Okumura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Accurate mass determination with MALDI time-of-flight mass spectrometers using internal reference substances

Номер патента: GB9718623D0. Автор: . Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1997-11-05.

time of flight mass analyser and method of time of flight mass spectrometry

Номер патента: GB202211694D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-09-21.

Quantitative measurement of isotope ratios by time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO2010090911A2. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: VIRGIN INSTRUMENTS CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

Method of increasing the dynamic range of a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB201102917D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2011-04-06.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201907735D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-07-17.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB202211820D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-09-28.

Multi-reflecting time of flight mass analyser

Номер патента: GB201906258D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-06-19.

Time versus intensity distribution analysis using a matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2018039136A1. Автор: Eung Joon Jo,Yohahn Jo. Владелец: Yohahn Jo. Дата публикации: 2018-03-01.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201907724D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-07-17.

Time-of-flight mass spectrometer assembly with a secondary flange

Номер патента: EP4338195A4. Автор: Michael VOLLERO,Mario Weder,Nigel Sousou. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-08-21.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201514711D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2015-09-30.

Neutral/ion reactor in adiabatic supersonic gas flow for ion mobility time-of flight mass spectrometry

Номер патента: WO2008094288A3. Автор: Agnes Tempez,J Albert Schultz,Thomas F Egan,Valeriy V Raznikov,Michael V Ugarov,Marina O Raznikova,Vladislav V Zelenov,Alexander R Pikhtelev,Valerie E Vaughn. Владелец: Inst Of Energy Problems For Ch. Дата публикации: 2008-10-16.

Time-of-flight mass spectrometer with multiple reflection

Номер патента: GB2612416B. Автор: Koster Claus. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-10.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB202020743D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2021-02-10.

Novel electro ionization source for orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP1602119A2. Автор: Edgar D. Lee,Milton Lee,Alan L. Rockwood,Bingfang Yue. Владелец: BRIGHAM YOUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2005-12-07.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB202211823D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-09-28.

Acquisition technique for MALDI time-of-flight mass spectra

Номер патента: GB201107433D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2011-06-15.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB2625228B. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd,Ostermann Robert. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-23.

SATURATION CORRECTION FOR ION SIGNALS IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20130181123A1. Автор: Räther Oliver. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-18.

Multireflection Time-of-flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20130187043A1. Автор: MAKAROV Alexander A.,MONASTYRSKIY Mikhail A.,GRINFIELD Dmitry E.. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-25.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER WITH ACCUMULATING ELECTRON IMPACT ION SOURCE

Номер патента: US20130206978A1. Автор: Verenchikov Anatoly N.,Khasin Yuri. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2013-08-15.

Time-of-Flight Mass Spectrometer and Data Compression Method Therefor

Номер патента: US20130289892A1. Автор: Satoh Takaya. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2013-10-31.

METHOD AND DEVICE FOR INCREASING THE THROUGHPUT IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20130327935A1. Автор: Wiedenbeck Michael. Владелец: HELMHOLTZ-ZENTRUM POTSDAM DEUTSCHES GEOFORSCHUNGSZENTRUM - GFZ STIFTUN DES ÖFFENTLICHE. Дата публикации: 2013-12-12.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140008531A1. Автор: FURUHASHI Osamu,TANIGUCHI Junichi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

CORRECTING TIME-OF-FLIGHT DRIFTS IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20140014831A1. Автор: Jaloszynski Jonathan,Willis Peter Markel. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2014-01-16.

Time-of-Flight Mass Spectrometer and Method of Controlling Same

Номер патента: US20140077076A1. Автор: Satoh Takaya. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2014-03-20.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210013019A1. Автор: Okumura Daisuke,OSHIRO Tomoyuki,KOZAWA Hiroaki,MIYAZAKI Yuta. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-01-14.

Segmented Planar Calibration for Correction of Errors in Time of Flight Mass Spectrometers

Номер патента: US20150021467A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

ORTHOGONAL ACCELERATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20190019664A1. Автор: FURUHASHI Osamu,Okumura Daisuke,OSHIRO Tomoyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-17.

Multi-Reflecting Time-of-Flight Mass Spectrometer with Axial Pulsed Converter

Номер патента: US20170032952A1. Автор: Verenchikov Anatoly N.. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2017-02-02.

ABRIDGED ION TRAP - TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20160049286A1. Автор: Park Melvin Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-18.

Orthogonal Acceleration Coaxial Cylinder Time of Flight Mass Analyser

Номер патента: US20180047556A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee,Hoyes John Brian. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-15.

DATABASE MANAGEMENT USING A MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20180052893A1. Автор: Jo Yohahn,Jo Eung Joon. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

SHOT-TO-SHOT SAMPLING USING A MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20180053641A1. Автор: Jo Yohahn,Jo Eung Joon. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

CATEGORIZATION DATA MANIPULATION USING A MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20180053642A1. Автор: Jo Yohahn,Jo Eung Joon. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER AND PROGRAM

Номер патента: US20200051804A1. Автор: IZUMI Hideaki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2020-02-13.

ION DEFLECTION IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20150060656A1. Автор: UGAROV MICHAEL. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2015-03-05.

TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140138526A1. Автор: Goldberg Noah. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2014-05-22.

TWO-PHASE APPROACH TO FOURIER TRANSFORM ION MOBILITY TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20170074826A1. Автор: Clowers Brian H.,Siems William F.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

VOLTAGE APPLICATION METHOD, VOLTAGE APPLICATION DEVICE, AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190088460A1. Автор: OSHIRO Tomoyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-21.

Multi-Reflecting Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20200090919A1. Автор: Verenchikov Anatoly N.,Artaev Viatcheslav. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170098533A1. Автор: GILES Roger,GILL Matthew,STEWART Hamish Ian. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-04-06.

Space Focus Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20160104611A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee,Hoyes John Brian. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-14.

Orthogonal Acceleration Coaxial Cylinder Time of Flight Mass Analyser

Номер патента: US20150136970A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee,Hoyes John Brian. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-21.

ANALYSIS SYSTEM USING MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20220277945A1. Автор: Jo Eung Joon. Владелец: ASTA, CO. LTD.. Дата публикации: 2022-09-01.

MULTI-TURN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20220285143A1. Автор: Ueno Yoshihiro,Miura Hiroyuki,Tateishi Yusuke,MAEDA Ryugo. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-08.

INTEGRATED DISEASE DIAGNOSTIC SYSTEM USING MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190139747A1. Автор: Jo Eung Joon. Владелец: ASTA, CO. LTD.. Дата публикации: 2019-05-09.

OVERSAMPLED TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20180144920A1. Автор: Wildgoose Jason Lee,Denny Richard,Hoyes John Brian,NIXON Peter. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-24.

TIME OF FLIGHT MASS ANALYSER WITH SPATIAL FOCUSSING

Номер патента: US20200152440A1. Автор: Hoyes John Brian,Kozlov Boris. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

BENCH-TOP TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210202222A1. Автор: Wildgoose Jason Lee,CARNEY Peter,Wamsley Ruth,Chummar Soji. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2021-07-01.

SIGNAL PROCESSING METHOD AND SYSTEM BASED ON TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20190172694A1. Автор: SUN WENJIAN,ZHANG Xiaoqiang,SHEN Jiaqi. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

BENCH-TOP TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210210322A1. Автор: Wilson Michael,McIver Paul,Trivett Ian,CARNEY Peter,Wamsley Ruth,Murray Haydn. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2021-07-08.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY DEVICE

Номер патента: US20210210327A1. Автор: KUDO Tomoya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-07-08.

BENCH-TOP TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210210329A1. Автор: CARNEY Peter,Chummar Soji. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2021-07-08.

Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometry with Non-Uniform Sampling

Номер патента: US20150194296A1. Автор: Anatoly N. Verenchikov,Vasily Makarov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2015-07-09.

TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190180998A1. Автор: GILES Roger,GILL Matthew,STEWART Hamish Ian. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-06-13.

PARALLEL MULTI-BEAM TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210233753A1. Автор: Chait Brian,Krutchinsky Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210249248A1. Автор: KUDO Tomoya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-08-12.

Multireflection Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20160233076A1. Автор: Alexander A. Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2016-08-11.

Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20170236700A1. Автор: Kenny Daniel James,Wildgoose Jason Lee. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170236701A1. Автор: Okumura Daisuke. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

HIGH RESOLUTION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140339419A1. Автор: Haufler Robert E.,Thomson Bruce. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-20.

DRILLING FLUID ANALYSIS USING TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20150260035A1. Автор: Rowe Mathew D.,Muirhead David. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190244801A1. Автор: FUJITA Ryo. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-08.

Space Focus Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20200243321A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee,Hoyes John Brian. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

Cylindrical Multi-Reflecting Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20150279650A1. Автор: Verenchikov Anatoly N.. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2015-10-01.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170271140A1. Автор: Okumura Daisuke. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-09-21.

ENERGY RESOLVED TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20160284531A1. Автор: Ristroph Trygve,Zaks Julia. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-29.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170278691A1. Автор: Okumura Daisuke. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-09-28.

TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER COUPLED TO A CORE SAMPLE SOURCE

Номер патента: US20190272986A1. Автор: Ecelberger Scott,Cornish Timothy. Владелец: Zeteo Tech, Inc.. Дата публикации: 2019-09-05.

Multireflection Time-of-flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20150294849A1. Автор: MAKAROV Alexander A.,GRINFELD Dmitry E.,MONASTYRSKIY Mikhail A.. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-15.

Time-of-flight mass spectrometer

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20180315589A1. Автор: OSHIRO Tomoyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-11-01.

Multimode Ion Mirror Prism and Energy Filtering Apparatus and System for Time-Of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20180323053A1. Автор: Veryovkin Igor Vladimirovich,Hanley Luke. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-08.

Quasi-Planar Multi-Reflecting Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20160358764A1. Автор: Verentchikov Anatoli N.,Yavor Mikhail I.. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2016-12-08.

TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170352527A1. Автор: Allison John,Breen Caroline,KALININA Diana. Владелец: KRATOS ANALYTICAL LIMITED. Дата публикации: 2017-12-07.

SATURATION CORRECTION FOR ION SIGNALS IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20150371836A1. Автор: Räther Oliver. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

ION INJECTION DEVICE FOR A TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20150371840A1. Автор: Park Melvin Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

DESORPTION BEAM CONTROL WITH VIRTUAL AXIS TRACKING IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20190362958A1. Автор: Bohm Sebastian. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

BENCH-TOP TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190371584A1. Автор: CARNEY Peter,Murray Haydn,Wildgoose Jason L.. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-05.

Micro-reflectron for time of flight mass spectrometer

Номер патента: CA2768066A1. Автор: Jean-Sebastien Danel,Laurent Duraffourg,Frederic Progent,Charles-Marie Tassetti. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2012-08-07.

PARALLEL MULTI-BEAM TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20220367163A1. Автор: Chait Brian,Krutchinsky Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP6455605B2. Автор: 朝是大城. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-23.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface

Номер патента: CN101171660A. Автор: 阿纳托利·N·维雷恩特奇科夫,米克海尔·雅沃尔. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2008-04-30.

Orthogonal acceleration coaxial cylindrical time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP5900770B2. Автор: ジョンブライアンホイス，,ジョンブライアンホイス，,デイヴィッドジェイ．ラングリッジ，,デイヴィッドジェイ．ラングリッジ，,ジェイソンリー．ワイルドグース，,ジェイソンリー．ワイルドグース，. Владелец: マイクロマスユーケーリミテッド. Дата публикации: 2016-04-06.

Distance control in ion sources for time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: DE102007006933B4. Автор: Andreas Haase,Jens Höhndorf. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2011-02-24.

Data acquisition modes for ion mobility time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US8633436B2. Автор: Michael Ugarov. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2014-01-21.

MICRO-REFLECTRON FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: FR2971360B1. Автор: Jean-Sebastien Danel,Laurent Duraffourg,Frederic Progent,Charles-Marie Tassetti. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2014-05-16.

Tandem and time of flight mass spectrometry method involves determining time of flight and position of arrival of fragments, and identifying fragment pairs in measured positions and times of flight to generate dissociation spectra

Номер патента: FR2895834A1. Автор: David Scigocki. Владелец: PHYSIKRON SA. Дата публикации: 2007-07-06.

Improved space focus time of flight mass spectrometer

Номер патента: CA2822407A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2012-06-28.

ION SOURCE FOR TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER ANALYZING GASEOUS SAMPLES

Номер патента: FR2792773B1. Автор: Didier Pierrejean,Bruno Galland. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2001-07-27.

Shot-to-shot sampling using a matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP3497710A1. Автор: Eung Joon Jo,Yohahn Jo. Владелец: Yohahn Jo. Дата публикации: 2019-06-19.

Tandem time of flight mass spectrometer and method of use

Номер патента: CA2492808A1. Автор: Anatoli N. Verentchikov. Владелец: Anatoli N. Verentchikov. Дата публикации: 2004-01-22.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US9324553B2. Автор: Alexander A. Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2016-04-26.

Ion deflection in time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US9029763B2. Автор: Michael Ugarov. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2015-05-12.

Tandem time-of-flight mass spectrometer with delayed extraction and method for use

Номер патента: US6770870B2. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2004-08-03.

Multiplexed orthogonal time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US6900431B2. Автор: Peter Foley,Mikhail Belov,Charles A. Fancher. Владелец: Predicant Biosciences Inc. Дата публикации: 2005-05-31.

Shot-to-shot sampling using a matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2018039135A1. Автор: Eung Joon Jo,Yohahn Jo. Владелец: Yohahn Jo. Дата публикации: 2018-03-01.

Data acquisition modes for ion mobility time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: GB2500743B. Автор: UGAROV MICHAEL. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2018-05-09.

Multi-turn time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: JP4208674B2. Автор: 石原盛男. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-01-14.

Collision cell with integrated ion selector for ms/ms-time-of-flight mass-spectrometer

Номер патента: CA2209120A1. Автор: Thorald Bergmann,Eva Martina Bergmann. Владелец: Eva Martina Bergmann. Дата публикации: 1998-02-01.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US8395115B2. Автор: Alexander A. Makarov,Mikhail A. Monastyrskiy,Dmitry E. Grinfield. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2013-03-12.

Methods for evaluation of in vitro aminoacyl tRNA production using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US20050074759A1. Автор: Dennis DOUGHERTY,E. Petersson,Mona Shahgholi,Henry Lester. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2005-04-07.

Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometer with bipolar ion extraction and zwitterion detection

Номер патента: CA2609802A1. Автор: J. Albert Schultz,Agnes Tempez,Thomas F. Egan,Michael V. Ugarov,Valeriy V. Raznikov,Marina O. Raznikova,Valentin A. Tarasenko. Владелец: Valentin A. Tarasenko. Дата публикации: 2006-12-07.

Sample analyser using time-of-flight mass spectrometer - using pulsed laser beam to ionise sample adjacent to ion optics system

Номер патента: DE2734918A1. Автор: Rainer Dr Wechsung,Rainer Dr Nietsche,Eberhard Dr Unsoeld,Lothar Aberle,Walter Bank,Franz Prof Hillenkamp,Raimund Prof Kaufmann. Владелец: Leybold Heraeus GmbH. Дата публикации: 1979-06-21.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2232525B1. Автор: Alexander Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2014-04-16.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface

Номер патента: WO2006102430A2. Автор: Mikhail Yavor,Anatoli N. Verentchikov. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2006-09-28.

Method for calibration of time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: CA2420774A1. Автор: Fernando J Pineda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-04.

Multiple reflection time-of-flight mass spectrometer with axial pulse converter

Номер патента: JP6527170B2. Автор: フェレンチコフ，アナトリー・エヌ. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2019-06-05.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2690649B1. Автор: Junichi Taniguchi,Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-04-11.

Wide scope high-quality resolution rate in reflector time-of-flight mass spectrograph

Номер патента: CN109616398A. Автор: 塞巴斯蒂安·伯姆,安德烈亚斯·哈泽. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2019-04-12.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JPWO2015019460A1. Автор: 大輔奥村. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

High speed polarity switching time of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN105849515B. Автор: 马尔蒂安·丹尼尔·迪马,罗伯特·霍伊夫勒. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2019-04-23.

Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometer with bipolar ion extraction and zwitterion detection

Номер патента: US20090072133A1. Автор: J. Albert Schultz,Thomas F. Egan,Michael V. Ugarov,Valeriy V. Raznikov. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser

Номер патента: WO2013171501A2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2013-11-21.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US8674293B2. Автор: Alexander A. Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2014-03-18.

Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2010008386A1. Автор: Anatoli N. Verentchikov,Mikhail I. Yavor. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2010-01-21.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2017068729A1. Автор: 朝是大城. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2017-04-27.

Time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP0266039B1. Автор: Allen Robert Waugh. Владелец: Fisons Ltd. Дата публикации: 1994-12-28.

Tandem time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2000018496A1. Автор: Douglas E. Barofsky,Per Hakansson,Daniel L. Katz,C. K. Gamini Piyadasa. Владелец: The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University. Дата публикации: 2000-04-06.

Alignment of time-of-flight mass spectra

Номер патента: DE102004051043B4. Автор: Thomas Maier,Markus Kostrzewa,Stefan Klepel. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2011-06-01.

Daughter ion spectra with time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2344454B. Автор: Jochen Franzen,Armin Holle,Claus Koester. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2003-04-23.

Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser

Номер патента: US9721779B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Drilling fluid analysis using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CA2919946A1. Автор: Mathew D. Rowe,David MUIRHEAD. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2015-02-26.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP5972651B2. Автор: 佐藤貴弥. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-08-17.

Time-of-flight mass spectrometer assembly with a secondary flange

Номер патента: TW202247245A. Автор: 馬里奧韋德,麥可佛勒羅,尼杰爾蘇索. Владелец: 美商英福康公司. Дата публикации: 2022-12-01.

Orthogonal acceletation time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB0512675D0. Автор: . Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-07-27.

High-sensitivity proton transfer time-of-flight mass spectrometer and method for measuring ion time-of-flight by using same

Номер патента: CN111640646A. Автор: 段忆翔,杨燕婷,赵忠俊. Владелец: Chengdu Aliben Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP6927426B2. Автор: 朋也工藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-25.

Methods for evaluation of in vitro aminoacyl trna production using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO2003091692A3. Автор: Mona Shahgholi,James E Petersson,Henry A Lester,Dennis A Dougherty. Владелец: Dennis A Dougherty. Дата публикации: 2004-02-05.

Time-of-flight mass spectrometer array instrument

Номер патента: US6580070B2. Автор: Timothy J. Cornish,Scott A. Ecelberger. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-06-17.

For space micro-debris and the Time-of-flight mass spectrometer of micrometeroroid component detection

Номер патента: CN107808817A. Автор: 李涛,彭毓川,唐振宇,孙继鹏,窦仁超,姜利祥,焦子龙,郑慧奇. Владелец: Beijing Institute of Spacecraft Environment Engineering. Дата публикации: 2018-03-16.

Tandem time-of-flight mass spectrometer with attenuation in a collision cell and method for its use

Номер патента: JP2003525515A. Автор: アナトリエヌ．ベレンチコフ，,マービンエル．ベスタル，,ケビンエム．ヘイデン，. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2003-08-26.

Spatial-velocity correlation focusing in time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO1996013052A1. Автор: Steven M. Colby,James P. Reilly,Timothy B. King. Владелец: Indiana University Foundation. Дата публикации: 1996-05-02.

Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometry with multi-channel data recording

Номер патента: US20090140140A1. Автор: J. Albert Schultz,Agnes Tempez,Thomas F. Egan,Michael V. Ugarov,Valeri V. Raznikov,Gennadiy Savenkov,Vladislav Zelenov. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2009-06-04.

Data collection modes for ion mobility time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: DE102012220552A1. Автор: Michael Ugarov. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2013-06-27.

Time of flight mass spectrometer coupled to a core sample source

Номер патента: US11145500B2. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: Zeteo Tech Inc. Дата публикации: 2021-10-12.

Multireflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2232525A2. Автор: Alexander Makarov,Dmitry E. Grinfeld,Mikhail A. Monastyrskiy. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2010-09-29.

Time of flight mass spectrometry apparatus

Номер патента: WO2001069648A3. Автор: Anastassios Giannakopulos,Peter John Derrick,Alexander William Colburn. Владелец: Univ Warwick. Дата публикации: 2001-12-20.

Time-of-flight mass spectrometer with gas phase ion source with high sensitivity and large dynamic range

Номер патента: DE4322102A1. Автор: Thorald Dr Bergmann. Владелец: Bergmann Eva Martina. Дата публикации: 1995-01-19.

Method for calibration of time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: AU2001293082B2. Автор: Fernando J. Pineda. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2005-04-28.

Pulsers for time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection

Номер патента: GB2386751B. Автор: Oliver Räther,Carsten Stoermer,Gerhard Weis. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2005-03-23.

Ion optics system for a Time-of-Flight mass spectrometer

Номер патента: EP1220288A2. Автор: Emmanuel Raptakis,Andrew R. Bowdler. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2002-07-03.

Tandem time-of-flight mass spectrometry with simultaneous space and velocity focusing

Номер патента: US8847155B2. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: Virgin Instruments Corp. Дата публикации: 2014-09-30.

A kind of ion transmission method and time-of-flight mass spectrometer based on lock-out pulse

Номер патента: CN108648982A. Автор: 徐江,李志明,王文亮,邓虎,翟利华,袁祥龙,韦冠,韦冠一,沈小攀. Владелец: Northwest Institute of Nuclear Technology. Дата публикации: 2018-10-12.

Arrange ion packets for ion time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: DE4430240A1. Автор: Carl A Myerholtz,Richard L Baer,Cocq Christian A Le. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1995-06-22.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB201913770D0. Автор: . Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2019-11-06.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP0456517A2. Автор: Stephen Charles Davis,Sydney Evans. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 1991-11-13.

Tandem time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2103038A1. Автор: Robert J. Cotter,Timothy J. Cornish. Владелец: Johns-Hopkins University (The). Дата публикации: 1992-11-17.

Time-of-flight mass spectrometer system

Номер патента: US6870157B1. Автор: Richard N. Zare. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2005-03-22.

Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser

Номер патента: EP2850648A2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David J. Langridge,John Brian Hoyes. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2015-03-25.

Cylindrical multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2014074822A1. Автор: Anatoly N. Verenchikov. Владелец: LECO Corporation. Дата публикации: 2014-05-15.

Tandem ion-trap time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US7897916B2. Автор: Li Ding,Michael Sudakov. Владелец: Shimadzu Research Laboratory Europe Ltd. Дата публикации: 2011-03-01.

Tandem time of flight mass spectrometer and method of use

Номер патента: CN1689134B. Автор: 阿纳托利·N.·韦伦奇克沃. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2010-04-28.

Method for obtaining information of object using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CN101957380B. Автор: 藩和宏,今村刚士,小林辰,桥本浩行,小松学,久家克明,中村久美. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-23.

Ion injection device for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN105304454A. Автор: 梅尔文·安德鲁·帕克. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2016-02-03.

Drilling fluid analysis using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US9745848B2. Автор: Mathew D. Rowe,David MUIRHEAD. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometry with multi-channel data recording

Номер патента: US8115167B2. Автор: J. Albert Schultz,Agnes Tempez,Thomas F. Egan,Michael V. Ugarov,Valeri V. Raznikov,Gennadiy Savenkov,Vladislav Zelenov. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2012-02-14.

Time of flight mass spectrometry apparatus

Номер патента: EP1264331A2. Автор: Anastassios Giannakopulos,Peter John Derrick,Alexander William Colburn. Владелец: University of Warwick. Дата публикации: 2002-12-11.

Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use

Номер патента: EP1196940A2. Автор: Marvin L. Vestal,Anatoli N. Verentchikov,Kevin M. Hayden. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2002-04-17.

In-line reflecting time-of-flight mass spectrometer for molecular structural analysis using collision induced dissociation

Номер патента: WO2000036633A1. Автор: Jeffrey Finch,Gary L. Samuelson,Edward E. Owen,Charles D. Martin. Владелец: JEOL USA, INC.. Дата публикации: 2000-06-22.

High resolution method for using time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection

Номер патента: US20040164239A1. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2004-08-26.

Novel electro ionization source for orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO2004079765A3. Автор: Milton Lee,Edgar D Lee,Alan L Rockwood,Bingfang Yue. Владелец: Bingfang Yue. Дата публикации: 2005-06-09.

Method and device for increasing the throughput in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: WO2012113935A1. Автор: Michael Wiedenbeck. Владелец: Helmholtz-Zentrum Potsdam Deutsches Geoforschungszentrum - Gfz Stiftung Des Offentlichen Rechts Des Landes Brandenburg. Дата публикации: 2012-08-30.

Ion source for time-of-flight mass spectrometers for analyzing gas samples

Номер патента: US20030057378A1. Автор: Didier Pierrejean,Bruno Galland. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2003-03-27.

Time-of- flight mass spectrometer array instrument

Номер патента: US20030020010A1. Автор: Timothy Cornish,Scott Ecelberger. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-01-30.

Multiplexed time of flight mass spectrometer

Номер патента: US20220165560A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,John Brian Hoyes,Richard Denny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Ion optics system for a Time-of-Flight mass spectrometer

Номер патента: EP1220288B1. Автор: Emmanuel Raptakis,Andrew R. Bowdler. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2019-05-22.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: US20060219890A1. Автор: Shinichi Yamaguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2006-10-05.

Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometry with multi-channel data recording

Номер патента: WO2006130475A2. Автор: J. Albert Schultz,Agnes Tempez,Thomas F. Egan,Michael V. Ugarov,Valeriy V. Raznikov,Gennadiy Savenkov,Vladislav Zelenov. Владелец: Institute For Energy Problems Of Chemical Physics (Branch) Ras. Дата публикации: 2006-12-07.

Processing of the ion current measured values in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: DE102011013600A1. Автор: Jens Decker. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-09-13.

Space chirp time-delay cavity of time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN112017941A. Автор: 杜树新,楼洪海,许艺青,裘一. Владелец: Hangzhou Haizhihui Environmental Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-12-01.

A time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB2533608B. Автор: Allison John,Breen Caroline,KALININA Diana. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2019-08-28.

Methods for evaluation of in vitro aminoacyl trnaproduction using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: AU2003231743A8. Автор: Mona Shahgholi,James E Petersson,Henry A Lester,Dennis A Dougherty. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2003-11-10.

Time-of-flight mass spectrometer ion source for gas sample analysis

Номер патента: EP1052672B1. Автор: Didier Pierrejean,Bruno Galland. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2004-10-13.

Time versus intensity distribution analysis using a matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US10497553B2. Автор: Eung Joon Jo,Yohahn Jo. Владелец: Highland Innovations Inc. Дата публикации: 2019-12-03.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US10381212B1. Автор: Ryo Fujita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-08-13.

A method for structural analysis by time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: GB2307782B. Автор: Claus Koester. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 2000-08-02.

Method and apparatus for processing ion current measurements in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB201204181D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-04-25.

Method and apparatus for processing ion current measurements in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB201204174D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2012-04-25.

Time-of-flight mass spectrometer and analysis method

Номер патента: EP4056995A4. Автор: Yasushi Aoki,Takuro KISHIDA,Toshitaka KAWAI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Analysis of time-of-flight mass spectra

Номер патента: US20230317441A1. Автор: HAMISH Stewart,Dmitry GRINFELD,Bernd Hagedorn,Ankit Dwivedi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-10-05.

Multiplexed time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB2582450B. Автор: Denny Richard,Brian Hoyes John,Lee Wildgoose Jason. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2021-07-07.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: US20230290629A1. Автор: HAMISH Stewart,Dmitry GRINFELD,Robert Ostermann,Bernd Hagedorn. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Multi-turn time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20220285143A1. Автор: Yoshihiro Ueno,Hiroyuki Miura,Yusuke Tateishi,Ryugo Maeda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

Time-of-flight mass spectrometric analysis of labelled analyte molecules

Номер патента: GB202208939D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-08-10.

Time of flight mass analyser with spatial focussing

Номер патента: GB201708430D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-07-12.

Multimode ion mirror prism and energy filtering apparatus and system for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP3384520A4. Автор: Luke Hanley,Igor Vladimirovich Veryovkin. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2019-06-26.

Pulsed accelerator for time of flight mass spectrometers

Номер патента: GB201814091D0. Автор: . Владелец: HGSG Ltd. Дата публикации: 2018-10-17.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20190244801A1. Автор: Ryo Fujita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-08-08.

Analysis of time-of-flight mass spectra

Номер патента: GB202204525D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-05-11.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB202403610D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-04-24.

System and method for calibrating time-of-flight mass spectra

Номер патента: AU5136500A. Автор: James P. Reilly,Noah P. Christian. Владелец: Indiana University Research And Technology Corp. Дата публикации: 2000-12-05.

Bench-top Time of Flight mass spectrometer

Номер патента: US12027359B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Peter Carney,Ruth WAMSLEY,Soji Chummar. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Multiple reflection time-of-flight mass analyzer and time-of-flight mass spectrometer having a mass analyzer

Номер патента: JP4957798B2. Автор: スダコフミハイル. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2012-06-20.

Time of flight mass analyzer having improved mass resolution and method of operating same

Номер патента: WO2005040785A2. Автор: Vincent R. Farnsworth. Владелец: Beckman Coulter, Inc.. Дата публикации: 2005-05-06.

Time-of-flight mass spectrometers with cassini reflector

Номер патента: US09576783B2. Автор: Claus KÖSTER. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

High resolution time-of-flight mass spectrometer and methods of producing the same

Номер патента: EP4420150A1. Автор: Yi-Sheng Wang,Yi-Hong Cai. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2024-08-28.

Multiple reflection time-of-flight mass analyzer

Номер патента: WO2014073943A1. Автор: . Владелец: Некоммерческое Акционерное Общество "Алматинский Университет Энергетики И Связи". Дата публикации: 2014-05-15.

Apparatus and Method for Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20120298855A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-11-29.

System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09761431B2. Автор: Daniel Murphy. Владелец: NOAA Technology Partnerships Office. Дата публикации: 2017-09-12.

Apparatus and method for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US8653451B2. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-02-18.

Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements

Номер патента: WO2004030008A3. Автор: Sidney E Buttrill Jr. Владелец: Sidney E Buttrill Jr. Дата публикации: 2004-12-16.

Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements

Номер патента: EP1543538A2. Автор: Sidney E. Buttrill, Jr.. Владелец: Ciphergen Biosystems Inc. Дата публикации: 2005-06-22.

Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements

Номер патента: WO2004030008A2. Автор: Sidney E. Buttrill, Jr.. Владелец: Ciphergen Biosystems, Inc.. Дата публикации: 2004-04-08.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: US12123421B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David Wallis,Peter Carney,Paul MCIVER,Dipesh Mistry,Cedric Marsh,Soji Chummar,George Andreas Antoniades. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US09490114B2. Автор: Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the mass analyser

Номер патента: US20100044558A1. Автор: Michael Sudakov. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-02-25.

Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the mass analyser

Номер патента: CN101523548A. Автор: 迈克尔·苏达科夫. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-09-02.

Gas phase ion source for high mass resolution, wide mass range time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP0632482B1. Автор: Thorald Dr. Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-03-15.

Time-of-flight mass spectrometer having both linear and curved drift regions whose energy dispersions with time are mutually compensatory

Номер патента: US3576992A. Автор: Charles J Moorman,John Q Parmater. Владелец: Bendix Corp. Дата публикации: 1971-05-04.

Variable width digital filter for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO2000070648A9. Автор: Leonid Braginsky,Edward J Gavin. Владелец: Edward J Gavin. Дата публикации: 2002-06-27.

Variable width digital filter for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP1188174A2. Автор: Leonid Braginsky,Edward J. Gavin. Владелец: Ciphergen Biosystems Inc. Дата публикации: 2002-03-20.

Variable width digital filter for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO2000070648A2. Автор: Leonid Braginsky,Edward J. Gavin. Владелец: Ciphergen Biosystems, Inc.. Дата публикации: 2000-11-23.

System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20180061624A1. Автор: Daniel Murphy. Владелец: NOAA Technology Partnerships Office. Дата публикации: 2018-03-01.

Fast Pushing Time of Flight Mass Spectrometer Combined With Restricted Mass to Charge Ratio Range Delivery

Номер патента: US20130334413A1. Автор: Kenny Daniel James,Green Martin Raymond,Wildgoose Jason Lee. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2013-12-19.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER WITH SPATIAL FOCUSING OF A BROAD MASS RANGE

Номер патента: US20160111271A1. Автор: Bohm Sebastian. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-21.

MASS SPECTROMETER AND METHOD FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20200357625A1. Автор: Makarov Alexander,GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

MASS SPECTROMETER AND METHOD FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20180366312A1. Автор: Makarov Alexander,GRINFELD Dmitry,HAMISH Stewart. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-20.

Ion source and accelerator for improved dynamic range and mass selection in a time of flight mass spectrometer

Номер патента: EP0905743A1. Автор: Dar Bahatt,David G. Welkie. Владелец: Perkin Elmer Corp. Дата публикации: 1999-03-31.

Chemical ionization reaction or proton transfer reaction mass spectrometry with a quadrupole or time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: KR101260566B1. Автор: 싱 첸,티모시 로저 로빈슨,마크 애트우드,윌리암 엠. 홀버,마크 필립 롱슨,조나단 헨리 팔크,알리 사지이,존 에이. 스미스. Владелец: 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드. Дата публикации: 2013-05-06.

Time-of-flight mass spectrometer and a method of analysing ions in a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US9595432B2. Автор: Michael Sudakov,Roger Giles,Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Mass spectrometer and measurement system and method for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP1302973B1. Автор: Akihiko Okumura,Izumi Waki,Atsumu Hirabayashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2012-09-12.

Simultaneous focussing of all masses in time of flight mass spectrometer

Номер патента: DE19638577C1. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1998-01-15.

Time-of-flight mass spectrometer and in time-of-flight mass spectrometer, analyze the method for ion

Номер патента: CN101601119A. Автор: 迈克尔·苏达科夫,罗杰·贾尔斯,赫尔曼·沃尔尼克. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-12-09.

Method and apparatus of mass-correlated pulsed extraction for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2000076638A8. Автор: Robert J Cotter,Viatcheslav V Kovtoun. Владелец: Univ Johns Hopkins. Дата публикации: 2001-08-30.

A Time-Of-Flight Mass Spectrometer and a Method of Analysing Ions in a Time-Of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: EP2797106A3. Автор: Michael Sudakov,Roger Giles,Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-03-11.

Apparatus and method for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: DE102012010081A1. Автор: Takaya Satoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-11-29.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: US20240084805A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,David Wallis,Peter Carney,Paul MCIVER,Dipesh Mistry,Cedric Marsh,Soji Chummar,George Andreas Antoniades. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: US11879470B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,David Wallis,Peter Carney,Paul MCIVER,Dipesh Mistry,Cedric Marsh,Soji Chummar,George Andreas Antoniades. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

High throughput of laser desorption mass spectra in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2375654B. Автор: Armin Holle. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2005-02-16.

Method of time-of-flight mass separation of ions in a radio-frequency linear electric field and device for its implementation

Номер патента: RU2015130382A. Автор: Евгений Васильевич Мамонтов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2017-01-27.

Reflectors for time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB201511101D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2015-08-05.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB202410897D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-09-11.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210233761A1. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Electrostatic gimbal for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: GB201204399D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2012-04-25.

Ion source and accelerator assembly for a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US3390264A. Автор: Franklin J Karle,Roland S Gohlke. Владелец: Dow Chemical Co. Дата публикации: 1968-06-25.

Time-of-flight mass spectrometer with an ion source emitting continuously

Номер патента: AU2003230043A1. Автор: Gyorgy Hars. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-11-11.

Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements

Номер патента: AU2003268517A1. Автор: Sidney E. Buttrill Jr.. Владелец: Ciphergen Biosystems Inc. Дата публикации: 2004-04-19.

Mcp unit, mcp detector, and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20140097339A1. Автор: Akio Suzuki,Yuuya Washiyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-04-10.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US10991566B2. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-04-27.

A co-axial time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2095396B1. Автор: Michael Sudakov,Roger Giles,Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-09-14.

Electrostatic gimbal for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Номер патента: GB2489094B. Автор: Jason Lee Wildgoose,John Brian Hoyes,David J Langridge. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2015-12-23.

Reflector Time-of-Flight Mass Spectrometry with Simultaneous Space and Velocity Focusing

Номер патента: US20120145889A1. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: Virgin Instruments Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

COMBINED DISTANCE-OF-FLIGHT AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20130092832A1. Автор: Enke Christie G.,Ray Steven J.,Graham Alexander W.,Hieftje Gary M.,Barinaga Charles J.,Koppenaal David W.. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-18.

Time-Of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20130168547A1. Автор: Ueno Yoshihiro,Miyauchi Shinji,NISHIGUCHI Masaru. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-04.

Multireflection Time-of-flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20130313424A1. Автор: MAKAROV Alexander A.,GRINFELD Dmitry E.,MONASTYRSKIY Mikhail A.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-28.

MICRO-REFLECTRON FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140001353A1. Автор: DANEL Jean-Sebastien,DURAFFOURG Laurent,PROGENT Frederic,TASSETTI Charles-Marie. Владелец: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES (Former name: COMMISSARIAT A L'ENERGI. Дата публикации: 2014-01-02.

Space Focus Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20140014830A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee,Hoyes John Brian. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2014-01-16.

Electrostatic Gimbal for Correction of Errors in Time of Flight Mass Spectrometers

Номер патента: US20140054454A1. Автор: Langridge David J.,Hoyes John Brian,Wildgoose Jason. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2014-02-27.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140054456A1. Автор: KINUGAWA Tohru,FURUHASHI Osamu. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-27.

MCP UNIT, MCP DETECTOR, AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140097339A1. Автор: SUZUKI Akio,WASHIYAMA Yuuya. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2014-04-10.

MCP UNIT, MCP DETECTOR, AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140097340A1. Автор: SUZUKI Akio,WASHIYAMA Yuuya. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2014-04-10.

REFLECTORS FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20160005583A1. Автор: GOEDECKE Niels. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190006168A1. Автор: Mizutani Shiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-03.

SYSTEM AND METHODOLOGY FOR EXPRESSING ION PATH IN A TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20180061624A1. Автор: Murphy Daniel. Владелец: NOAA Technology Partnerships Office. Дата публикации: 2018-03-01.

SYSTEM AND METHODOLOGY FOR EXPRESSING ION PATH IN A TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20170084446A1. Автор: Murphy Daniel. Владелец: NOAA Technology Partnerships Office. Дата публикации: 2017-03-23.

MULTI-REFLECTING TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20200083034A1. Автор: Hoyes John Brian,Verenchikov Anatoly. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

SYSTEM AND METHODOLOGY FOR EXPRESSING ION PATH IN A TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190096653A1. Автор: Murphy Daniel. Владелец: NOAA Technology Partnerships Office. Дата публикации: 2019-03-28.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210125819A1. Автор: Okumura Daisuke,KUDO Tomoya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-04-29.

ORTHOGONAL ACCELERATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER AND LEAD-IN ELECTRODE FOR THE SAME

Номер патента: US20210142999A1. Автор: SAKAGOSHI Yusuke,KUDO Tomoya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-05-13.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20140224982A1. Автор: FURUHASHI Osamu. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2014-08-14.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS WITH CASSINI REFLECTOR

Номер патента: US20160148795A1. Автор: Koster Claus. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

ORTHOGONAL ACCELERATION SYSTEM FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20150155153A1. Автор: Welkie David G.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

ORTHOGONAL ACCELERATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20200152441A1. Автор: FURUHASHI Osamu,Okumura Daisuke,OSHIRO Tomoyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-14.

Orthogonal Acceleration Coaxial Cylinder Time of Flight Mass Analyser

Номер патента: US20150170897A1. Автор: Langridge David J.,Wildgoose Jason Lee,Hoyes John Brian. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2015-06-18.

BENCH-TOP TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210207608A1. Автор: McIver Paul,CARNEY Peter,Wallis David,Marsh Cedric,Woldgoose Jason Lee,Chummar Soji,Antoniades George Andreas,Mistry Dipesh. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2021-07-08.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210233761A1. Автор: KUDO Tomoya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-07-29.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20210233762A1. Автор: Mizutani Shiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2021-07-29.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY USING MULTI-CHANNEL DETECTORS

Номер патента: US20160225602A1. Автор: Ristroph Trygve,Zaks Julia. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210249249A1. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-12.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20200219714A1. Автор: Yusuke Sakagoshi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20200227246A1. Автор: Kodera Kei,FURUTA Masaji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2020-07-16.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20200243320A1. Автор: KUDO Tomoya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2020-07-30.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20150270115A1. Автор: FURUHASHI Osamu. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-24.

STRATEGIC DYNAMIC RANGE CONTROL FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20140353484A1. Автор: Tanner Scott D.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

INTEGRATED DISEASE DIAGNOSTIC SYSTEM USING MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20150346186A1. Автор: Jo Eung Joon. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-03.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20170358440A1. Автор: Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Multi-turn time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP5585394B2. Автор: 亨絹川,治古橋. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-09-10.

There is the multiple reflections time-of-flight mass spectrometer of orthogonal acceleration

Номер патента: CN101366097B. Автор: A·N·沃恩特奇科夫,M·I·雅格,Y·卡·辛. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2015-09-16.

How to operate a secondary ion time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3358065B2. Автор: ニーフイス，エーヴァルト. Владелец: イーオン‐トーフ・ゲー・エム・ベー・ハー. Дата публикации: 2002-12-16.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3967694B2. Автор: 小林達次,佐藤貴弥,貫名義裕,岩永光恭. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2007-08-29.

Desk type time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN112166255B. Автор: 塞德里克·马什,彼得·卡尼,杰森·李·怀尔德戈泽,大卫·沃利斯,保罗·麦基弗,苏吉·丘玛,乔治·安德烈亚斯·安东尼亚斯,迪皮·米斯特里. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-11-25.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP4576775B2. Автор: 靖文田中. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-11-10.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: SU516306A1. Автор: В.И. Каратаев,Б.А. Мамырин,Д.В. Шмикк. Владелец: Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им. А.Ф.Иоффе Ан Ссср. Дата публикации: 1979-03-05.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use

Номер патента: US7385187B2. Автор: Mikhail Yavor,Anatoli Verentchikov,Joel C. Mitchell,Viatcheslav Arteav. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2008-06-10.

Time-of-flight mass spectrometer with multiple reflection

Номер патента: SU1725289A1. Автор: Леонид Михайлович Назаренко,Евгений Михайлович Якушев,Любовь Михайловна Секунова. Владелец: Институт Ядерной Физики Ан Казсср. Дата публикации: 1992-04-07.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration

Номер патента: CA2624926A1. Автор: Anatoli N. Verentchikov,Mikhail I. Yavor,Yuri Khasin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-19.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: FR2486713B1. Автор: . Владелец: Wollnik Hermann. Дата публикации: 1985-07-05.

Time-of-flight mass spectrometer with thermo-compensated flight length

Номер патента: DE19738187C2. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2001-09-13.

TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: FR2560434B1. Автор: Serge Della Negra,Yvon Le Beyec. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1987-09-11.

Analysis of biomolecules using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO1996036987A1. Автор: Marvin L. Vestal,Peter Juhasz. Владелец: Perseptive Biosystems, Inc.. Дата публикации: 1996-11-21.

Time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection

Номер патента: US20030136903A1. Автор: Oliver Räther,Gerhard Weiss,Carsten Stoermer. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2003-07-24.

Biomolecule analysis using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: DE957508T1. Автор: Marvin L Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2000-04-06.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP5862791B2. Автор: 治古橋. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Time-of-flight mass spectrometry of surfaces

Номер патента: US20090189072A1. Автор: J. Albert Schultz,Thomas F. Egan,Steven R. Ulrich,Kelley L. Waters. Владелец: Ionwerks Inc. Дата публикации: 2009-07-30.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP4645424B2. Автор: 良弘上野. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-09.

Biomolecule analysis by time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: DE69631556T2. Автор: Marvin L. Houston Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2009-09-17.

Time of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN104704604B. Автор: 古桥治. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-12-28.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3797200B2. Автор: 栄三河藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2006-07-12.

Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: US10573504B2. Автор: Daisuke Okumura,Osamu Furuhashi,Tomoyuki OSHIRO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Bench-top time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201808912D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-07-18.

Method for the high-resolution spectral recording of analyte ions in a linear time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: DE19635645C2. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2000-12-28.

High resolution ion detection for linear time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB2317047B. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 2001-05-16.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB2153139B. Автор: Yoshikazu Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1987-11-25.

Non-linear time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2003107387A1. Автор: Benjamin D. Gardner. Владелец: Cotter, Robert, J.. Дата публикации: 2003-12-24.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration

Номер патента: US7772547B2. Автор: Anatoli N. Verentchikov. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2010-08-10.

Time of-flight mass spectrometer with Cassini reflectors

Номер патента: CN105378891B. Автор: 克劳斯·克斯特. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2017-07-25.

Method and device for orthogonal ion injection into a time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: GB2299446B. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruken Franzen Analytik GmbH. Дата публикации: 1998-11-25.

Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules

Номер патента: US20040079878A1. Автор: Peter Juhasz,Marvin Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 2004-04-29.

Multi reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use

Номер патента: EP1665326A2. Автор: Mikhail Yavor,Joel C. Mitchell,Anatoli N. Verentchikov,Viatcheslav Artaev. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2006-06-07.

Time of flight mass spectrometer with orthogonal ion infeed has reflector turned by defined angle about normal to x and y directions, detector turned through twice this angle, shifted into beam

Номер патента: DE10162267A1. Автор: Carsten Stoermer,Gerhard Weis,Oliver Raether. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2003-07-10.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2669930A1. Автор: Osamu Furuhashi,Tohru Kinugawa. Владелец: Kobe University NUC. Дата публикации: 2013-12-04.

Biomolecule analysis using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: JP3580553B2. Автор: ヴェスタル，マーヴィン，エル．,ユハス，ピーター. Владелец: パーセプティブバイオシステムズ，インコーポレーテッド. Дата публикации: 2004-10-27.

Desorption beam control with virtual axis tracking in time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB201905479D0. Автор: . Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2019-05-29.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3683761B2. Автор: 盛男石原. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-08-17.

Analysis of highly excited particles i.e. atoms or molecules in time of flight mass spectrometer

Номер патента: DE19610521A1. Автор: Thorald Dr Bergmann,Markus Dr Gerhards. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-10-10.

Temperature compensated time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP1784851A4. Автор: Gershon Perelman,Stephen C Davis,Mark Hardman,Adrian Land,Lee Earley. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2010-10-20.

Temperature compensated time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2577015A1. Автор: Stephen C. Davis,Gershon Perelman,Mark Hardman,Adrian Land,Lee Earley. Владелец: Lee Earley. Дата публикации: 2006-03-09.

Time-of-flight mass spectrometer with double-field acceleration region

Номер патента: CN107240543B. Автор: 江东,朱志祥,徐春风,胡修稳,戚丽. Владелец: Hefei Meyer Optoelectronic Technology Inc. Дата публикации: 2023-06-27.

Coaxial multiple reflection time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US6576895B1. Автор: Melvin Park. Владелец: Bruker Daltonics Inc. Дата публикации: 2003-06-10.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: FR2560434A1. Автор: Serge Della Negra,Yvon Le Beyec. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1985-08-30.

Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration

Номер патента: EP1949410A4. Автор: Yuri Khasin,Anatoli N Verentchikov,Mikhail I Yavor. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2011-08-24.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3727537B2. Автор: 栄三河藤. Владелец: シマヅリサーチラボラトリー（ヨーロッパ）リミティド. Дата публикации: 2005-12-14.

Time-of-flight mass spectrometers with cassini reflector

Номер патента: CN105378891A. Автор: 克劳斯·克斯特. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2016-03-02.

A co-axial time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN101584021B. Автор: 迈克尔·苏达科夫,赫尔曼·沃尔尼克,罗格·贾尔斯. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-30.

Mcp unit, mcp detector, and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN103730324A. Автор: 铃木章夫,鹫山雄哉. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-04-16.

Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements

Номер патента: CA2498842A1. Автор: Sidney E. Buttrill, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-08.

Orthogonal acceleration type time-of-flight mass spectrometry device

Номер патента: WO2022118462A1. Автор: 朋也工藤. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2022-06-09.

Analysis of biomolecules using time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: EP0957508A2. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: PerSeptive Biosystems Inc. Дата публикации: 1999-11-17.

A co-axial time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: WO2008071921A2. Автор: Michael Sudakov,Roger Giles,Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corpporation. Дата публикации: 2008-06-19.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP2669930A4. Автор: Osamu Furuhashi,Tohru Kinugawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-12-23.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JPWO2014057777A1. Автор: 治古橋. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-09-05.

Time of flight mass specrometer combining fields non-linear in time and space

Номер патента: WO2003103008A1. Автор: John F. Holland,Robert J. Cotter,Benjamin D. Gardner. Владелец: THE JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-12-11.

Non-linear time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: AU2003237266A1. Автор: Benjamin D. Gardner. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-12-31.

End cap reflectron for time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP0914194A1. Автор: Robert J. Cotter,Timothy J. Cornish. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 1999-05-12.

Momentum acceleration orthogonal time of flight mass spectrometer

Номер патента: AU1570501A. Автор: Norman William Parker,Edward M. Yin. Владелец: Ion Diagnostics Inc. Дата публикации: 2001-04-23.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20170358440A1. Автор: Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210249249A1. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-12.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20140224982A1. Автор: Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-08-14.

Input protection circuit for high-speed analogue signal and time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20100084551A1. Автор: Eizo Kawato. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-04-08.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: EP3306640B1. Автор: Osamu Furuhashi,Tohru Kinugawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20200243320A1. Автор: Tomoya Kudo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB202203183D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-04-20.

High resolution multi-reflection time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB2617229B. Автор: GRINFELD Dmitry,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd,Ostermann Robert. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-06-26.

Ion Trap Mass Analyzer

Номер патента: US20080067342A1. Автор: Chuan-Fan Ding. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-03-20.

Ion trap mass analyzer

Номер патента: EP1751787A4. Автор: Chuan-Fan Ding. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2010-06-23.

Ion trap mass analyzer

Номер патента: CA2568628A1. Автор: Chuan-Fan Ding. Владелец: Chuan-Fan Ding. Дата публикации: 2005-12-15.

Classification data manipulation is carried out using substance assistant laser desorpted/ionization time of flight mass mass spectrograph

Номер патента: CN110139702A. Автор: 赵英俊,赵邀韩. Владелец: Highland Innovation Co. Дата публикации: 2019-08-16.

APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING DATA OF TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20180203019A1. Автор: Kim Yangsun. Владелец: ASTA Corporation. Дата публикации: 2018-07-19.

CATEGORIZATION DATA MANIPULATION USING A MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20190252172A1. Автор: Jo Yohahn,Jo Eung Joon. Владелец: HIGHLAND INNOVATIONS INC.. Дата публикации: 2019-08-15.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: US20210233762A1. Автор: Shiro Mizutani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Method for analyzing impurities in liquids or gases during their microchannel outflow in vacuum under supersonic gas flow influence containing ions and metastable excited atoms with formation and transportation of analyzed ions in rf linear trap linked to mass analyzer

Номер патента: RU2640393C2. Автор: Валерий Владиславович Разников,Владислав Валерьевич Зеленов,Илья Вячеславович Сулименков,Александр Робертович Пихтелев,Марина Олеговна Разникова,Геннадий Николаевич Савенков,Елена Викторовна Апарина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л. Тальрозе Российской академии наук ИНЭПХФ РАН им. В.Л. Тальрозе. Дата публикации: 2018-01-09.

Method for identifying candida spp_ and other yeast-like fungi from positive blood culture by matrix laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry (maldi-tof ms) in patients with blood flow infection

Номер патента: RU2739758C1. Автор: Унан Левонович Джулакян,Галина Александровна Клясова,Анна Олеговна Мальчикова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский центр гематологии" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИЦ гематологии" Минздрава России). Дата публикации: 2020-12-28.

Method for identification of bacteria from positive hemocultures by matrix laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry (maldi-tof ms), in patients with bloodstream infection

Номер патента: RU2750611C1. Автор: Унан Левонович Джулакян,Галина Александровна Клясова,Анна Олеговна Мальчикова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский центр гематологии" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИЦ гематологии" Минздрава России). Дата публикации: 2021-06-29.

Quantitative analysis of protein isoforms using matrix-assisted laser desorption/ionization time of flight mass spectrometry

Номер патента: WO2004042072A9. Автор: Steve M Helmke,Mark W Duncan,Benjamin M Perryman. Владелец: Benjamin M Perryman. Дата публикации: 2004-08-26.

Quantitative analysis of protein isoforms using matrix-assisted laser desorption/ionization time of flight mass spectrometry

Номер патента: EP1556684A2. Автор: Mark W. Duncan,Steve M Helmke,Benjamin M Perryman. Владелец: University of Colorado. Дата публикации: 2005-07-27.

Method for Sequencing RNA by In-source Decay Using Matrix Assisted Laser Desorption Ionization Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20120080591A1. Автор: Masaki Yamada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2012-04-05.

Method for sequencing RNA by in-source decay using matrix assisted laser desorption ionization time of flight mass spectrometer

Номер патента: US9040235B2. Автор: Masaki Yamada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-05-26.

Quantitative analysis of protein isoforms using matrix-assisted laser desorption/ionization time of flight mass spectrometry

Номер патента: CA2502413A1. Автор: Mark W. Duncan,Benjamin M. Perryman,Steve M Helmke. Владелец: University of Colorado. Дата публикации: 2004-05-21.

Dynamically concentrating ion packets in the extraction region of a tof mass analyzer

Номер патента: EP3776626A1. Автор: Nic G. BLOOMFIELD,Igor Chernushevich,Robert HAUFLER. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2021-02-17.

Mass Analyzer Dynamic Tuning for Plural Optimization Criteria

Номер патента: US20190371588A1. Автор: Jesse D. Canterbury. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2019-12-05.

Methods for Operating Electrostatic Trap Mass Analyzers

Номер патента: US20190122879A1. Автор: Michael W. Senko,John E. P. Syka,Chad R. WEISBROD,Jesse D. Canterbury. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2019-04-25.

Analyzing chamber including a leakage ion beam detector and mass analyzer including the same

Номер патента: US20070018093A1. Автор: Young-dae Kim,Hyun-Sub Earm,Seung-Se Lee,Gon-Su Kang,Sung-Yeul An. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-01-25.

Ion trap mass analyzer apparatus, methods, and systems utilizing one or more multiple potential ion guide (MPIG) electrodes

Номер патента: US9564304B2. Автор: Curtiss Dwight Hanson. Владелец: University of Northern Iowa Foundation (UNI Foundation). Дата публикации: 2017-02-07.

Methods of operating a fourier transform mass analyzer

Номер патента: US09455128B2. Автор: Michael W. Senko,Philip M. Remes. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2016-09-27.

Mass analyzing apparatus, analyzing method and calibration sample

Номер патента: US20130277542A1. Автор: Terumi Tamura,Makoto Nogami,Shinya Ito,Midori Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-24.

Method for characterization of a mass spectrometry instrument comprising at least one mass analyzing cell

Номер патента: WO2023110809A1. Автор: Stefan Quint,Florian SCHWEINBERGER,Benjamin TIEMANN,Marius Wagner. Владелец: Roche Diagnostics GmbH. Дата публикации: 2023-06-22.

Sequential pass express charge detection mass analyzer

Номер патента: WO2024118604A1. Автор: Evan R. Williams,Conner C. Harper. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2024-06-06.

Method for characterization of a mass spectrometry instrument comprising at least one mass analyzing cell

Номер патента: EP4449471A1. Автор: Stefan Quint,Florian SCHWEINBERGER,Benjamin TIEMANN,Marius Wagner. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2024-10-23.

MS/MS type mass analyzer

Номер патента: US5521382A. Автор: Yasufumi Tanaka,Megumi Hirooka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-05-28.

Miniature toroidal radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: WO2007089339A3. Автор: Samuel E Tolley,Milton Lee,Edgar D Lee,Stephen A Lammert,Jeffrey L Jones,Randall W Waite. Владелец: Randall W Waite. Дата публикации: 2008-04-03.

Miniature toroidal radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: EP1960090A2. Автор: Edgar D. Lee,Milton Lee,Samuel E. Tolley,Jeffrey L. Jones,Stephen A. Lammert,Randall W. Waite. Владелец: BRIGHAM YOUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-08-27.

Mass analyzer

Номер патента: EP3607577A1. Автор: Dave Anderson,Säid Boumsellek,Prakash Sreedhar Murthy. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2020-02-12.

Mass analyzer including an ion source and a reaction cell and systems and methods using them

Номер патента: EP3782185A1. Автор: Lisa Cousins,Gholamreza Javahery,Charles Jolliffe,Miles Snow,Heather GAMBLE. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Canada Inc. Дата публикации: 2021-02-24.

Method for tandem mass spectrometry analysis in ion trap mass analyzer

Номер патента: US20160365231A1. Автор: Liang Wang,Chuanfan Ding,Fuxing XU. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-12-15.

Two rotating electric fields mass analyzer

Номер патента: EP2956955A1. Автор: Tatsuya Adachi,Masanao Hotta. Владелец: OFFICE TANDEM LLC. Дата публикации: 2015-12-23.

Inductively coupled plasma MS/MS mass analyzer

Номер патента: US8610053B2. Автор: Takeo Kuwabara,Noriyuki Yamada,Jun Kitamoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2013-12-17.

Method for tandem mass spectrometry analysis in ion trap mass analyzer

Номер патента: US09640377B2. Автор: Liang Wang,Chuanfan Ding,Fuxing XU. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-05-02.

Specimen transfer container for ion microprobe mass analyzer

Номер патента: US3886358A. Автор: John F Mclaughlin,Stephen S Cristy. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1975-05-27.

Quadrupole mass analyzer and method of mass analysis

Номер патента: US20200027714A1. Автор: Wenjian Sun,Gongyu Jiang. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Inductively coupled plasma ms/ms mass analyzer

Номер патента: US20130175442A1. Автор: Takeo Kuwabara,Noriyuki Yamada,Jun Kitamoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2013-07-11.

Mass analyzer including an ion source and a reaction cell and systems and methods using them

Номер патента: CA3097763A1. Автор: Lisa Cousins,Gholamreza Javahery,Charles Jolliffe,Miles Snow,Heather GAMBLE. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Canada Inc. Дата публикации: 2019-10-24.

Mass analyzing method using an ion trap type mass spectrometer

Номер патента: US20040159785A1. Автор: Yoshiaki Kato. Владелец: Yoshiaki Kato. Дата публикации: 2004-08-19.

Time-of-flight SIMS/MSRI reflectron mass analyzer and method

Номер патента: US6008491A. Автор: Dieter M. Gruen,J. Albert Schultz,Vincent S. Smentkowski,Alan R. Krauss,John C. Holecek. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1999-12-28.

Controlling ion populations in a mass analyzer

Номер патента: CA2514343C. Автор: Robert Malek,John E. P. Syka,Andreas Wieghaus,Stevan Horning. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2010-04-06.

High-throughput screening of metabolic disorders using a laser desorption ion source coupled to a mass analyzer

Номер патента: WO2009094784A8. Автор: John J. Corr,Bori Shushan,Zoe A. Quinn. Владелец: Mds Analytical Technologies, A Business Unit Of Mds Inc., Doing Business Through Its Sciex Division. Дата публикации: 2009-10-01.

Method of mass analyzing a sample over a wide mass range by use of a quadrupole ion trap

Номер патента: CA1249078A. Автор: Paul E. Kelley,John E.P. Syka,William J. Fies, Jr.,Walter E. Reynolds,George C. Stafford, Jr.. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1989-01-17.

Mass analyzing electromagnet and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US9728390B2. Автор: Junichi Tatemichi,Ippei Nishimura,Shojiro Dohi. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Mass analyzing electromagnet and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US20160126082A1. Автор: Junichi Tatemichi,Ippei Nishimura,Shojiro Dohi. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Method of improving ion beam quality in a non-mass-analyzed ion implantation system

Номер патента: US09840772B2. Автор: Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov,Christopher J. Leavitt,John A. Frontiero. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Method of improving ion beam quality in a non-mass-analyzed ion implantation system

Номер патента: US09677171B2. Автор: Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov,Christopher J. Leavitt,John A. Frontiero. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Tandem mass spectrometry data analysis method based on time-of-flight mass analyzer

Номер патента: CN110455907B. Автор: 刘毅,张伟,朱辉,黄晓,范荣荣. Владелец: Guangzhou Hexin Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-19.

Tandem mass spectrum data analysis method based on time-of-flight mass analyzer

Номер патента: CN110455907A. Автор: 刘毅,张伟,朱辉,黄晓,范荣荣. Владелец: Guangzhou Hexin Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-15.

Fractional Abundance Estimation from Electrospray Ionization Time-of-Flight Mass Spectrum

Номер патента: US20140358451A1. Автор: Thomas Taylor,Randy Nelson,Chad Borges,Sai Buddi,Douglas Cochran. Владелец: Arizona Board of Regents of ASU. Дата публикации: 2014-12-04.

Preparation method of time-of-flight mass spectrum ready-to-use type salmonella stanliensis qualitative standard sample

Номер патента: CN110596227A. Автор: 张涛,张岩,周巍,史国华,张翠侠,张雅伦,崔生辉. Владелец: Hebei Food Inspection Research Institute (national Center For Quality Supervision And Inspection Of Fruit And Agricultural And Side-Processing Products Hebei Food Safety Laboratory). Дата публикации: 2019-12-20.

High-precision time delay controller of time-of-flight mass spectrometer and control method thereof

Номер патента: CN113075892A. Автор: 汪松炯. Владелец: Zhejiang Dipu Diagnosis Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Method for identifying authenticity of Wuchang rice based on ultra-high performance liquid chromatography-quadrupole time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CN108362782B. Автор: 罗娜,王卉,韩平,王纪华. Владелец: Beijing Research Center For Agricultural Standards and Testing. Дата публикации: 2021-05-25.

Quantitative MALDI-time of flight mass spectrometry of peptides and proteins

Номер патента: US6864098B2. Автор: Daniel M. Ammon, Jr.. Владелец: Bausch and Lomb Inc. Дата публикации: 2005-03-08.

Gas chromatography-quadrupole time-of-flight mass spectrometry/flame ionization detection method for tobacco essence perfume

Номер патента: CN105891367A. Автор: 赵晓东,王冰,彭斌,崔华鹏,潘立宁,张晓兵,王晓瑜,丁丽,蔡君兰,秦亚琼,余晶晶,刘绍锋. Владелец: Zhengzhou Tobacco Research Institute of CNTC. Дата публикации: 2016-08-24.

Method and system for separating overlapped peaks of time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN109522801B. Автор: 李良,邹海,万华庆,胡琮亮,罗南杭,郑瀛,武永明. Владелец: 719th Research Institute of CSIC. Дата публикации: 2021-05-04.

Polyploid detection method and system based on time-of-flight mass spectrum

Номер патента: CN112458155B. Автор: 蒋馥蔓. Владелец: Shenzhen Jingke Gene Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-09-23.

Bacteria drug sensitivity detection kit based on matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry and application thereof

Номер патента: CN112986375A. Автор: 朱杰,陈旭,孙龙,李萌,董世雷,张亚培,王选,周青雪,范芳华. Владелец: Zhejiang Hospital. Дата публикации: 2021-06-18.

Listeria typing method based on time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CN113504290B. Автор: 张瑞,周巍,张捷,李永波,李献,张雅伦,刘雨蒙,张子仑,明若阳. Владелец: Hebei food inspection research institute. Дата публикации: 2022-10-14.

Application of molybdenum disulfide/graphite phase nitrogen carbide composite material in matrix-assisted laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry detection

Номер патента: CN110940724B. Автор: 胡坤,赵书林,吕远霞. Владелец: Guangxi Normal University. Дата публикации: 2021-08-24.

TOROIDAL ION TRAP MASS ANALYZER WITH CYLINDRICAL ELECTRODES

Номер патента: US20130214152A1. Автор: Austin Daniel E.,Taylor Nicholas R.. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-22.

Low Power Mass Analyzer and System Integrating Same For Chemical Analysis

Номер патента: US20170271138A1. Автор: Christian Noah. Владелец: Leidos, Inc.. Дата публикации: 2017-09-21.

Mass Analyzer Dynamic Tuning for Plural Optimization Criteria

Номер патента: US20190371588A1. Автор: CANTERBURY Jesse D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-05.

MASS ANALYZER FOR IONS BY MEASURING THEIR FLIGHT TIME

Номер патента: FR2550884A1. Автор: Georgy Georgievich Managadze. Владелец: INST KOSM I. Дата публикации: 1985-02-22.

Data processing device for mass analyzer

Номер патента: JPS5713348A. Автор: Yoshiaki Kato,Noriko Nihei. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-01-23.

Quadrupole rod mass analyzer based on single-path radio frequency drive

Номер патента: CN113628952B. Автор: 徐丽,程平,贾滨,谢春光,刘吉星. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-10-28.

Mass analyzer and mass analysis method

Номер патента: CN103493173B. Автор: L.丁,M.苏达科夫,S.库马希罗. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-06-08.

Stepped electrode ion trap mass analyzer

Номер патента: CN105428201A. Автор: 杨海洋,丁传凡,谢小东,徐福兴. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-03-23.

Mass analyzer system and mass spectrometer

Номер патента: CN114709129A. Автор: 王志强,马敬,杨菡,张兆清,刘权卫,陈云清,侯留东,房映彤. Владелец: China Nuclear Power Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-05.

Low Power Mass Analyzer and System Integrating Same For Chemical Analysis

Номер патента: US20170271138A1. Автор: Noah Christian. Владелец: Leidos Inc. Дата публикации: 2017-09-21.

Fourier transform mass analyzer dynamic tuning for plural optimization criteria

Номер патента: EP3576130B1. Автор: Jesse D. Canterbury. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2023-06-28.

A method for analyzing impurities in liquids or gases DURING microchannel outflow in vacuum UNDER THE INFLUENCE supersonic gas flow containing ions and metastable excited atoms with the formation and transport of the analyte ions in a linear rf trap Linked to the mass analyzer

Номер патента: RU2016103597A. Автор: Валерий Владиславович Разников,Владислав Валерьевич Зеленов,Илья Вячеславович Сулименков,Александр Робертович Пихтелев,Марина Олеговна Разникова,Геннадий Николаевич Савенков,Елена Викторовна Апарина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л. Тальрозе Российской академии наук ИНЭПХФ РАН им. В.Л. Тальрозе. Дата публикации: 2017-08-09.

MASS ANALYZING APPARATUS, ANALYZING METHOD AND CALIBRATION SAMPLE

Номер патента: US20130277542A1. Автор: Ito Shinya,Nogami Makoto,Tamura Terumi,Sasaki Midori. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

Mass analyzer and mass analyzing method

Номер патента: US20090032697A1. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Yasuaki Takada,Masuyuki Sugiyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-02-05.

Electrostatic trap mass analyzers

Номер патента: EP3855476B1. Автор: Thomas D. McClure. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2024-07-17.

Techniques for mass analyzing a complex sample

Номер патента: EP3542292B1. Автор: Steven J. Ciavarini,Scott J. Geromanos,Curt Devlin. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

INDUCTIVELY COUPLED PLASMA MS/MS MASS ANALYZER

Номер патента: US20130175442A1. Автор: YAMADA NORIYUKI,KITAMOTO JUN,KUWABARA TAKEO. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2013-07-11.

Low Power Mass Analyzer and System Integrating Same For Chemical Analysis

Номер патента: US20210013018A1. Автор: Christian Noah. Владелец: Leidos, Inc.. Дата публикации: 2021-01-14.

QUADRUPOLE MASS ANALYZER AND METHOD OF MASS ANALYSIS

Номер патента: US20200027714A1. Автор: JIANG GONGYU,SUN WENJIAN. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-23.

ION TRAP MASS ANALYZER APPARATUS, METHODS, AND SYSTEMS UTILIZING ONE OR MORE MULTIPLE POTENTIAL ION GUIDE (MPIG) ELECTRODES

Номер патента: US20160035555A1. Автор: HANSON CURTISS DWIGHT. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

VACUUM PROCESSING DEVICE AND MASS ANALYZING DEVICE

Номер патента: US20190033256A1. Автор: MATSUSHITA Tomoyoshi. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-31.

Methods for Operating Electrostatic Trap Mass Analyzers

Номер патента: US20180061625A1. Автор: SYKA John E. P.,SENKO Michael W.,CANTERBURY Jesse D.,WEISBROD Chad R.. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

VACUUM PROCESSING DEVICE AND MASS ANALYZING DEVICE

Номер патента: US20190066990A1. Автор: MATSUSHITA Tomoyoshi. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

METHODS FOR OPERATING ELECTROSTATIC TRAP MASS ANALYZERS

Номер патента: US20200066504A1. Автор: McClure Thomas D.. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

Methods for Operating Electrostatic Trap Mass Analyzers

Номер патента: US20190122879A1. Автор: SYKA John E. P.,SENKO Michael W.,CANTERBURY Jesse D.,WEISBROD Chad R.. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-25.

TECHNIQUES FOR MASS ANALYZING A COMPLEX SAMPLE

Номер патента: US20180144918A1. Автор: Geromanos Scott J.,Ciavarini Steven J.,Devlin Curt. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-24.

METHODS FOR OPERATING ELECTROSTATIC TRAP MASS ANALYZERS

Номер патента: US20200176240A1. Автор: McClure Thomas D.. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

MASS ANALYZER

Номер патента: US20200227247A1. Автор: Boumsellek Said,Murthy Prakash Sreedhar,Anderson Dave. Владелец: ATONARP INC.. Дата публикации: 2020-07-16.

Methods of operating a fourier transform mass analyzer

Номер патента: US20150364303A1. Автор: Remes Philip M.,SENKO Michael W.. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

Method for tandem mass spectrometry analysis in ion trap mass analyzer

Номер патента: US20160365231A1. Автор: Liang Wang,Chuanfan Ding,Fuxing XU. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-12-15.

TWO ROTATING ELECTRIC FIELDS MASS ANALYZER

Номер патента: US20150380227A1. Автор: Adachi Tatsuya,HOTTA Masanao. Владелец: Office Tandem L.L.C.. Дата публикации: 2015-12-31.

A linear quadrupole ion trap mass analyzer

Номер патента: US20220199393A1. Автор: Robert Clark,Wade Rellergert,Harley Hayden,Brian Sawyer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-23.

Method and apparatus for mass analyzing a gas which is selectively desorbed from a body

Номер патента: US3548188A. Автор: Robert C Nemeth. Владелец: Vacuum Instrument Corp. Дата публикации: 1970-12-15.

Mass spectrometer and mass analyzing method for efficiently ionizing a sample with less carry-over

Номер патента: US9543135B2. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Kazushige Nishimura,Masuyoshi Yamada,Hidetoshi Morokuma,Masuyuki Sugiyama,Shun KUMANO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Plasma ion source mass analyzing apparatus

Номер патента: US5559337A. Автор: Yoshitomo Nakagawa,Tetsumasa Ito. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1996-09-24.

METHOD OF MANUFACTURING AN ION FILTER FOR A MASS ANALYZER

Номер патента: DE2625660A1. Автор: Udo Dipl Phys Beeck,Andreas Dipl Phys Dr Kluge. Владелец: Leybold Heraeus GmbH. Дата публикации: 1977-12-22.

Eight electrode linear ion trap mass analyzers

Номер патента: CN108183061A. Автор: 何洋,肖育,丁正知,朱勇勇,陈延龙. Владелец: SHANGHAI YUDA INDUSTRIAL Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-19.

Mass-Analyzing Method and Mass Spectrometer

Номер патента: US20110215238A1. Автор: Shigeki Kajihara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Mass analyzer

Номер патента: EP2131386B1. Автор: Daisuke Okumura,Hiroto Itoi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-22.

Quadrupole mass analyzer and method of operation in RF only mode to reduce background signal

Номер патента: US6194717B1. Автор: James W. Hager. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2001-02-27.

Apparatus for automatically exchanging specimens for mass analyzer instrument

Номер патента: JPS5257883A. Автор: Peeteru Ritsuteru Hansu,Shiyutorebuinsukii Raineru,Deiiteru Burubuiin Hansu,Kotsuho Engeruberuto,Barutooru Heruman,Futsupu Baruteru. Владелец: Bayer AG. Дата публикации: 1977-05-12.

Vacuum processing device and mass analyzing device

Номер патента: EP3404694A1. Автор: Tomoyoshi Matsushita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-11-21.

Liquid chromatograph/mass analyzing interface

Номер патента: JPS55156859A. Автор: Merera Atsuteirio,Noikerumanzu Aamando. Владелец: Yokogawa Hewlett Packard Ltd. Дата публикации: 1980-12-06.

Quadrupole mass analyzer

Номер патента: FR1473389A. Автор: . Владелец: Electronic Associates Inc. Дата публикации: 1967-03-17.

An assembly for coupling an ion source to a mass analyzer

Номер патента: CA2282784A1. Автор: Keqi Tang,Iain C. Mylchreest. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 2000-03-24.

High pressure mass analyzer

Номер патента: WO2021144737A1. Автор: James Hager. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2021-07-22.

Mass spectrometry with multiple ionization sources and multiple mass analyzers

Номер патента: US20070057172A1. Автор: Yang Wang. Владелец: Yang Wang. Дата публикации: 2007-03-15.

Differential-pressure dual ion trap mass analyzer and methods of use thereof

Номер патента: EP2102890B1. Автор: Scott T. Quarmby,Jae C. Schwartz,John E. P. Syka. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2019-05-29.

Mass spectrometer device and method of manufacturing mass analyzer

Номер патента: JP4324554B2. Автор: シムズリチャード. Владелец: マイクロサイクシステムズリミテッド. Дата публикации: 2009-09-02.

Apparatus and method for transferring ions from an ion source to an ion trap mass analyzer

Номер патента: JP3066025B2. Автор: エドワードフィリップサイカジョン,シーシュウォーツジェイ. Владелец: フィニガンコーポレイション. Дата публикации: 2000-07-17.

Mass analyzer

Номер патента: JPS61248349A. Автор: Minoru Sakairi,Hideki Kanbara,秀記神原,実坂入,Setsuko Seki,節子関. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1986-11-05.

Methods for operating electrostatic trap mass analyzers

Номер патента: US10748756B2. Автор: Thomas D. McClure. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2020-08-18.

Mass analyzer

Номер патента: EP1995764A1. Автор: Manabu Shimomura,Shuichi Kawana. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2008-11-26.

Use of an off-axis ion path for background reduction of an rf-only quadrupole mass analyzer

Номер патента: CA2206557A1. Автор: James W. Hager. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 1998-11-30.

Ion guide device, ion reactor, and mass analyzer

Номер патента: WO2007060755A1. Автор: Takashi Baba,Izumi Waki,Hiroyuki Satake. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2007-05-31.

Two rotating electric fields mass analyzer

Номер патента: US9570279B2. Автор: Tatsuya Adachi,Masanao Hotta. Владелец: OFFICE TANDEM LLC. Дата публикации: 2017-02-14.

Mass analyzer systems and methods for their operation

Номер патента: WO2006124097A2. Автор: Marvin L. Vestal,Kevin M. Hayden,Jennifer M. Campbell. Владелец: Mds Inc.. Дата публикации: 2006-11-23.

Vacuum processing device and mass analyzing device

Номер патента: WO2017085875A1. Автор: 知義松下. Владелец: クレイトスアナリティカルリミテッド. Дата публикации: 2017-05-26.

Method for tandem mass spectrometry analysis in ion trap mass analyzer

Номер патента: WO2015007165A1. Автор: 王亮,丁传凡,徐福兴. Владелец: 复旦大学. Дата публикации: 2015-01-22.

Mass spectrometer including quadrupole mass analyzer configuration

Номер патента: JP4965788B2. Автор: カリニチェンコ，ユーリ. Владелец: Varian Australia Pty Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

Mass analyzer with 3D electrostatic field

Номер патента: US11942318B2. Автор: Vyacheslav Shchepunov. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Linear quadrupole ion trap mass analyzer

Номер патента: US11764051B2. Автор: Robert Clark,Wade Rellergert,Harley Hayden,Brian Sawyer. Владелец: Georgia Tech Research Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Low power mass analyzer and system integrating same for chemical analysis

Номер патента: US10998181B2. Автор: Noah Christian. Владелец: Leidos Inc. Дата публикации: 2021-05-04.

Low Power Mass Analyzer and System Integrating Same For Chemical Analysis

Номер патента: US20210013018A1. Автор: Noah Christian. Владелец: Leidos Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

Method of analyzing impurities in liquids in infiltration through track membrane with formation and transportation of analyzed ions through linear radio frequency trap into mass analyzer when exposed to supersonic gas stream with possible content of metastable atoms in it

Номер патента: RU2601294C2. Автор: Валерий Владиславович Разников,Владислав Валерьевич Зеленов,Илья Вячеславович Сулименков,Александр Робертович Пихтелев,Марина Олеговна Разникова,Геннадий Николаевич Савенков,Елена Викторовна Апарина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л. Тальрозе Российской академии наук ИНЭПХФ РАН им. В.Л. Тальрозе. Дата публикации: 2016-10-27.

Mass analyzer having series aligned curvilinear and rectilinear analyzer sections

Номер патента: US3473020A. Автор: Wilson M Brubaker. Владелец: Bell and Howell Co. Дата публикации: 1969-10-14.

Method of mass analyzing a sample over a wide mass range by use of a quadrupole ion trap

Номер патента: US4650999A. Автор: Paul E. Kelley,John E. P. Syka,William J. Fies, Jr.,Walter E. Reynolds,George C. Stafford, Jr.. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1987-03-17.

Mass analyzer and mass analyzing method

Номер патента: US20040132083A1. Автор: Shinichi Yamaguchi,Eizo Kawato. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2004-07-08.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: WO2004063702A2. Автор: Zheng Ouyang,Robert G. Cooks. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2004-07-29.

System and method for producing a mass analyzed ion beam for high throughput operation

Номер патента: US20130001414A1. Автор: Victor M. Benveniste,Svetlana Radovanov,Bon-Woong Koo,Frank Sinclair. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2013-01-03.

OCTA-ELECTRODE LINEAR ION TRAP MASS ANALYZER

Номер патента: US20200294783A1. Автор: Jiang Jian,XIAO Yu,YAO Rujiao,QI Xiaojun,ZHU Yongyong. Владелец: SHANGHAI YUDA INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2020-09-17.

Flight time type mass analyzing device

Номер патента: JPS6123961A. Автор: Morio Ishihara,石原　盛男. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1986-02-01.

ION SOURCE FOR MASS ANALYZER

Номер патента: FR2463504A1. Автор: Eberhard Unsold. Владелец: STRAHLEN UMWELTFORSCH GmbH. Дата публикации: 1981-02-20.

Coaxial hybrid radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: CA2672829A1. Автор: Edgar D. Lee,Samuel E. Tolley,Daniel E. Austin,Aaron R. Hawkins. Владелец: Aaron R. Hawkins. Дата публикации: 2008-08-28.

Mass analyzer

Номер патента: JPS5780652A. Автор: Norihiro Naito. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-05-20.

Apparatus and method for selectively ejecting, transmitting and concentrating ions and mass analyzer

Номер патента: WO2014075204A1. Автор: 徐伟,黄泽建,方向,江游,熊行创. Владелец: 北京理工大学. Дата публикации: 2014-05-22.

Coaxial hybrid radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: EP2126959A4. Автор: Samuel E Tolley,Aaron R Hawkins,Daniel E Austin,Edgar D Lee. Владелец: BRIGHAM YOUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-08-08.

Mass analyzer having improved ion selection unit

Номер патента: US20050098723A1. Автор: Vincent Farnsworth. Владелец: Farnsworth Vincent R.. Дата публикации: 2005-05-12.

Mass analyzing device

Номер патента: JPS59209257A. Автор: ベルナ−ル・ラサ−ル. Владелец: Cameca SAS. Дата публикации: 1984-11-27.

Electronic compensation for quadrupole mass analyzer

Номер патента: FR1473543A. Автор: . Владелец: Electronic Associates Inc. Дата публикации: 1967-03-17.

Miniaturized sample scanning mass analyzer

Номер патента: WO2003086589A2. Автор: Robert J. Cotter,Benjamin D. Gardner,Robert D. English. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-10-23.

Static ion mass analyzer

Номер патента: WO2013002683A1. Автор: Вячеслав Данилович Саченко. Владелец: Sachenko Viacheslav Danilovich. Дата публикации: 2013-01-03.

Mass analyzer

Номер патента: JPS58161237A. Автор: ジヨン・スタンレ−・コツトレル,パトリツク・ジエイムス・タ−ナ−,デビツド・ジヨン・ケイ. Владелец: VG ISOTOPES Ltd. Дата публикации: 1983-09-24.

Controlling ion populations in a mass analyzer

Номер патента: WO2004068523A2. Автор: Robert Malek,Stevan Horning,John E. Syka,Andreas Weighaus. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2004-08-12.

Controlling ion populations in a mass analyzer

Номер патента: CA2514343A1. Автор: Robert Malek,John E. P. Syka,Andreas Wieghaus,Stevan Horning. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-12.

Vacuum processing device and mass analyzing device

Номер патента: EP3419045A4. Автор: Tomoyoshi Matsushita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-11.

System and method for producing a mass analyzed ion beam

Номер патента: WO2012091851A3. Автор: Victor M. Benveniste,Svetlana Radovanov,Frank Sinclair,Bon Woong Koo. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2012-08-30.

Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap

Номер патента: EP0113207A3. Автор: George Caterine Stafford,Paul Edwin Kelley,David Russel Stephens. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1986-02-05.

Ionizer, mass analyzer, ion mobility meter, electron capture detector, and charged particle measuring device for chromatograph

Номер патента: JP4884902B2. Автор: 良俊石原,恵樹松浦,明渥美,善則稲垣. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2012-02-29.

Coaxial hybrid radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: WO2008103492A2. Автор: Edgar D. Lee,Samuel E. Tolley,Daniel E. Austin,Aaron R. Hawkins. Владелец: BRIGHAM YOUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-08-28.

Mass analyzer

Номер патента: WO2007102225A1. Автор: Shuichi Kawana. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2007-09-13.

Ion trap mass analyzing apparatus

Номер патента: US20040211898A1. Автор: Yoshiaki Kato,Tadao Mimura,Kiyomi Yoshinari,Masaru Tomioka. Владелец: Masaru Tomioka. Дата публикации: 2004-10-28.

Mass analyzer using two spaced,tubular,and coaxial electrodes

Номер патента: US3473018A. Автор: Wilson M Brubaker. Владелец: Bell and Howell Co. Дата публикации: 1969-10-14.

Multiplex simultaneous detectable high purity mass analyzer

Номер патента: JPS6110843A. Автор: ジヨルジユ　スロジアン,フランソワ　コスタ　ドウ　ボールガール,ベルナール　デーニユ,フランソワ　ジラール. Владелец: Universite Paris Sud Paris 11. Дата публикации: 1986-01-18.

Mass analyzer

Номер патента: WO2007102202A1. Автор: Manabu Shimomura,Shuichi Kawana. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2007-09-13.

Mass analyzer of annular cylindrical electric field

Номер патента: CN102496556A. Автор: 王新建,邱永红. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-13.

Mass analyzer

Номер патента: JPS6161361A. Автор: デユーン・ピー・リトルジヨン,サハバ・グハデリ. Владелец: Nicolet Instrument Corp. Дата публикации: 1986-03-29.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: CA2513067A1. Автор: Zheng Ouyang,Robert G. Cooks. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-29.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: EP1588399A2. Автор: Zheng Ouyang,Robert G. Cooks. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2005-10-26.

Mass analyzer

Номер патента: JPS55159557A. Автор: Munehiro Naitou. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1980-12-11.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: WO2004063702A3. Автор: Zheng Ouyang,Robert G Cooks. Владелец: Robert G Cooks. Дата публикации: 2004-11-25.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: EP1588399A4. Автор: Zheng Ouyang,Robert G Cooks. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2008-01-23.

Method and instrument for mass analyzing samples with a quistor

Номер патента: CA2010234A1. Автор: Jochen Franzen,Gerhard Weiss,Reemt-Holger Gabling,Gerhard Heinen. Владелец: Individual. Дата публикации: 1990-08-18.

Apparatus, system and techniques for mass analyzed ion beam

Номер патента: US20240339287A1. Автор: Frank Sinclair,Anthony Renau,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi,Nirbhav Singh Chopra. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Hybrid apparatus, system and techniques for mass analyzed ion beam

Номер патента: US20240339288A1. Автор: Frank Sinclair,Anthony Renau,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi,Nirbhav Singh Chopra. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Apparatus, system and techniques for mass analyzed ion beam

Номер патента: WO2024211191A1. Автор: Frank Sinclair,Anthony Renau,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi,Nirbhav Singh Chopra. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-10.

Hybrid apparatus, system and techniques for mass analyzed ion beam

Номер патента: WO2024211181A1. Автор: Frank Sinclair,Anthony Renau,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi,Nirbhav Singh Chopra. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-10.

Apparatus and method for mass analyzed ion beam

Номер патента: US09536712B2. Автор: W. Davis Lee,Svetlana Radovanov,Peter F. Kurunczi. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Method Of Improving Ion Beam Quality In A Non-Mass-Analyzed Ion Implantation System

Номер патента: US20180087148A1. Автор: Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov,Christopher J. Leavitt,John A. Frontiero. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-03-29.

MASS ANALYZING ELECTROMAGNET AND ION BEAM IRRADIATION APPARATUS

Номер патента: US20160126082A1. Автор: TATEMICHI Junichi,DOHI Shojiro,NISHIMURA Ippei. Владелец: NISSIN ION EQUIPMENT CO., LTD.. Дата публикации: 2016-05-05.

Method Of Improving Ion Beam Quality In A Non-Mass-Analyzed Ion Implantation System

Номер патента: US20170247791A1. Автор: Miller Timothy J.,Leavitt Christopher J.,Koo Bon-Woong,Frontiero John A.,Radovanov Svetlana B.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-31.

APPARATUS, SYSTEM AND TECHNIQUES FOR MASS ANALYZED ION BEAM

Номер патента: US20200294755A1. Автор: Biloiu Costel,SINCLAIR Frank,Olson Joseph C.,Likhanskii Alexandre. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-09-17.

APPARATUS AND METHOD FOR MASS ANALYZED ION BEAM

Номер патента: US20150357167A1. Автор: Radovanov Svetlana,Kurunczi Peter F.,Lee W. Davis. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

Liquid switch, and microchip and mass-analyzing system using the same

Номер патента: US20060102836A1. Автор: Hisao Kawaura,Kazuhiro Iida,Minoru Asogawa,Toru Sano,Wataru Hattori,Noriyuki Iguchi,Masakazu Baba,Hiroko Someya. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2006-05-18.

Molecule secondary ion mass analyzer

Номер патента: JPS59157943A. Автор: Hideki Kanbara,秀記神原,Setsuko Seki,節子関. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-09-07.

Liquid switch, and microchip and mass-analyzing system using the same

Номер патента: WO2004051229A1. Автор: Hisao Kawaura,Kazuhiro Iida,Minoru Asogawa,Toru Sano,Wataru Hattori,Noriyuki Iguchi,Masakazu Baba,Hiroko Someya. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2004-06-17.

Ion source in mass analyzer unit

Номер патента: JPH01186744A. Автор: Masahiro Yokota,Naohisa Takano,昌広横田,猶久高野. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1989-07-26.

Micro chip, liquid feeding method using the micro chip, and mass analyzing system

Номер патента: US20060043284A1. Автор: Hisao Kawaura,Kazuhiro Iida,Minoru Asogawa,Toru Sano,Wataru Hattori,Noriyuki Iguchi,Masakazu Baba,Hiroko Someya. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2006-03-02.

Beam stop assembly for a mass analyzer, ion implantation system and method for preventing particle conamination in an ion implantation system

Номер патента: TWI426541B. Автор: John Vanderpot,Yong Zhang Huang. Владелец: Axcelis Tech Inc. Дата публикации: 2014-02-11.

Apparatus and method for mass analyzed ion beam

Номер патента: US20150357167A1. Автор: W. Davis Lee,Svetlana Radovanov,Peter F. Kurunczi. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2015-12-10.

Methods and systems for multi-pass encoded frequency pushing

Номер патента: US12100584B2. Автор: Peter Markel Willis,Jonathan JALOSZYNSKI. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Methods and Systems for Multi-Pass Encoded Frequency Pushing

Номер патента: US20220262616A1. Автор: Peter Markel Willis,Jonathan JALOSZYNSKI. Владелец: Leco Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Method and four-dimensional microscope for measuring interfacial photoelectron transfer and photo-catalytic activities of materials

Номер патента: US20190221419A1. Автор: Juan Zhang,Ruowei JIANG,Wenyang Zhang,Hongying ZHONG,Xuemei TANG. Владелец: CENTRAL CHINA NORMAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-07-18.

A detector device for high mass ion detection, a method for analyzing ions of high mass and a device for selection between ion detectors

Номер патента: WO2009086642A1. Автор: Franz Hillenkamp,Alexis Nazabal,Ryan Wenzel,Ulrich RÖHLING. Владелец: Covalx AG. Дата публикации: 2009-07-16.

Method of operating a secondary-electron multiplier in the ion detector of a mass spectrometer

Номер патента: US20190304764A1. Автор: Andreas Haase,Jens Höhndorf,Sebastian Böhm. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2019-10-03.

Compact mass spectrometer

Номер патента: US09852894B2. Автор: David Gordon,Daniel James Kenny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Photo-dissociation of proteins and peptides in a mass spectrometer

Номер патента: US09508537B2. Автор: Kevin Giles,Jeffery Mark Brown,Daniel James Kenny,Keith Richardson,Paul Murray. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Mass spectrometer

Номер патента: US09673034B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Multipole ion guide ion trap mass spectrometry

Номер патента: CA2262627C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Bruce A. Andrien. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2007-07-10.

Multipole ion guide ion trap mass spectrometry

Номер патента: CA2566919C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Bruce A. Andrien. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2011-05-03.

Ion mobility spectrometer incorporating an ion guide in combination with an ms device

Номер патента: CA2364676C. Автор: Alexander V. Loboda. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2010-07-27.

M/Z targeted attenuation on time of flight instruments

Номер патента: US09721780B2. Автор: Keith Richardson. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Piezoelectric charged droplet source

Номер патента: EP1380045A4. Автор: William Travis Berggren,Michael Scott Westphall,Mark Andrew Scalf,Lloyd Michael Smith. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2005-11-23.

Piezoelectric charged droplet source

Номер патента: CA2440833C. Автор: William Travis Berggren,Michael Scott Westphall,Mark Andrew Scalf,Lloyd Michael Smith. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2009-07-14.

Conversion of ion arrival times or ion intensities into multiple intensities or arrival times in a mass spectrometer

Номер патента: US09673031B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Green,Robert Harold Bateman,Jeffery Mark Brown,Anthony James Gilbert,Steven Derek Pringle. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Systems and methods for multistage mass spectrometry utilizing an electrostatic ion trap

Номер патента: EP4229671A1. Автор: Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2023-08-23.

Systems and methods for multistage mass spectrometry utilizing an electrostatic ion trap

Номер патента: US20230402272A1. Автор: Eric Thomas DZIEKONSKI. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2023-12-14.

Mass spectrometry from surfaces

Номер патента: CA2318586A1. Автор: Craig M. Whitehouse,Bruce A. Andrien, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-07-29.

Mass spectrometry from surfaces

Номер патента: CA2318586C. Автор: Craig M. Whitehouse,Bruce A. Andrien, Jr.. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2004-12-14.

Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis

Номер патента: US8598519B2. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Bruce Andrien. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2013-12-03.

Analysis of samples for mass-cytometry

Номер патента: RU2637795C2. Автор: Александр ЛОБОДА. Владелец: Флуидигм Кэнада Инк.. Дата публикации: 2017-12-07.

Histology guided mass spectrometry

Номер патента: US20210096138A1. Автор: Matthew Jacob Powell,Katy Ryan Smoot,Joerg Manfred Steiner,Sina Marsilio. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-04-01.

Compact mass spectrometer

Номер патента: US20200350149A1. Автор: David Gordon,Daniel James Kenny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Compact Mass Spectrometer

Номер патента: US20170169999A1. Автор: David Gordon,Daniel James Kenny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

Compact mass spectrometer

Номер патента: US20190172693A1. Автор: David Gordon,Daniel James Kenny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Compact mass spectrometer

Номер патента: US20180144917A1. Автор: David Gordon,Daniel James Kelly. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-05-24.

Compact mass spectrometer

Номер патента: US09530631B2. Автор: David Gordon,Daniel James Kenny. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Monitoring method based on the detection of human ingested substance

Номер патента: US20210183636A1. Автор: Hui Wu,Mingyi Hong,Jiansheng ZENG,Zhiyin Zeng,Kongtao Zhu,Henglin Luo. Владелец: Xiamen Lisi Tech Service Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Monitoring method based on the detection of human ingested substance

Номер патента: US11120982B2. Автор: Hui Wu,Mingyi Hong,Jiansheng ZENG,Zhiyin Zeng,Kongtao Zhu,Henglin Luo. Владелец: Xiamen Lisi Tech Service Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Mass spectrometer having high sampling duty cycle

Номер патента: US20240339314A1. Автор: Jason Lee Wildgoose. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Mass spectrometer having high duty cycle

Номер патента: GB2618899A. Автор: Wildgoose Jason. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Method and apparatus for transporting samples in a mass spectrometer

Номер патента: US09443707B2. Автор: Marvin L. Vestal,Kevin Hayden. Владелец: Virgin Instruments Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Mass spectrometer and method of mass spectrometry

Номер патента: CA2406960C. Автор: Michael Jackson,Martin Green,Robert Harold Bateman. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2012-03-27.

Method for Correcting Mass Spectral Data

Номер патента: US20230131302A1. Автор: HAMISH Stewart,Dmitry GRINFELD,Bernd Hagedorn. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-04-27.

Charged particle trapping in near surface potential wells

Номер патента: EP1364386A4. Автор: Craig M Whitehouse,David G Welkie. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2007-05-02.

Method for optimizing the positions of standards on maldi targets for mass spectrometry

Номер патента: EP1495481A2. Автор: Jacques Colinge,Martin Kussmann,Gerald Rossellat. Владелец: Geneprot Inc. Дата публикации: 2005-01-12.

Rapid response mass spectrometer system

Номер патента: CA2382823C. Автор: Jack A. Syage,Karl A. Hanold. Владелец: Syagen Technology LLC. Дата публикации: 2007-11-06.

Multi-reflecting tof mass spectrometry

Номер патента: WO2024161145A1. Автор: Jason Lee Wildgoose,William Johnson,Boris Kozlov. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2024-08-08.

Device of a grid-free ion gate

Номер патента: RU2766305C1. Автор: Николай Васильевич Краснов,Максим Николаевич Краснов,Игорь Васильевич Курнин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Эйч Ви Девайсес". Дата публикации: 2022-03-14.

Methods of separating, characterising and (or) identifying microorganisms using mass spectrometry

Номер патента: RU2519650C2. Автор: Джон УОЛШ,Джонс ХЬЮМЕН,Бредфорд КЛЭЙ,Турмен ТОРП. Владелец: Биомерьё, Инк.. Дата публикации: 2014-06-20.

Mass spectrometric determination of tissue states

Номер патента: GB2621256A. Автор: TREDE Dennis,SCHIFFLER Stefan,STEINHORST Klaus,Hendrik Kobarg Jan. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

METHOD FOR ANALYZING THE IMPURITIES IN LIQUIDS UNDER percolation through track membrane with formation and transport analyte ions through RF linearly TRAP MASS ANALYZER In AT IMPACT supersonic gas flows to contain a IN IT metastable excited atoms

Номер патента: RU2015110662A. Автор: Валерий Владиславович Разников,Владислав Валерьевич Зеленов,Илья Вячеславович Сулименков,Александр Робертович Пихтелев,Марина Олеговна Разникова,Геннадий Николаевич Савенков,Елена Викторовна Апарина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л. Тальрозе Российской академии наук ИНЭПХФ РАН им. В.Л. Тальрозе. Дата публикации: 2016-10-20.

Method of cutting glycochain from glycoprotein, method of mass analyzing for glycochain, and method of mass analyzing for glycoprotein

Номер патента: TW200720437A. Автор: Hisashi Narimatsu,Satoshi Kimura,Akihiko Kameyama. Владелец: Nat Inst Of Advanced Ind Scien. Дата публикации: 2007-06-01.

Method Of Improving Ion Beam Quality In A Non-Mass-Analyzed Ion Implantation System

Номер патента: US20150354056A1. Автор: Miller Timothy J.,Leavitt Christopher J.,Koo Bon-Woong,Frontiero John A.,Radovanov Svetlana B.. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

Secondary ion mass analyzing unit

Номер патента: JPS57187851A. Автор: Yasubumi Kameshima. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-11-18.

Secondary ion mass analyzer

Номер патента: KR960000808B1. Автор: 김동원,김영남,이우성,문환구. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1996-01-12.

Time-of-flight sensor and corresponding operating method

Номер патента: WO2024115519A1. Автор: Peter Trattler,Thomas Jessenig. Владелец: Ams-Osram Ag. Дата публикации: 2024-06-06.

Apparatus and methods for reduction of coherent noise in a digital signal averager

Номер патента: AU2003231091A1. Автор: David G. Welkie,Craig M. Whitehouse. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2003-11-10.

Apparatus and methods for reduction of coherent noise in a digital signal averager

Номер патента: EP1497626A4. Автор: Craig M Whitehouse,David G Welkie. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2005-07-06.

Apparatus and methods for reduction of coherent noise in a digital signal averager

Номер патента: EP1497626A2. Автор: Craig M. Analytica of Branford Inc. Whitehouse,David G. Analytica of Branford Inc. WELKIE. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2005-01-19.

Method for characterizing at least one microorganism by means of mass spectrometry

Номер патента: RU2604199C2. Автор: Коринн БОЛЬЕ,Янник ШАРРЕТЬЕ,Жан-Филипп ШАРРЬЕ,Сонья ШАТЕЛЛЬЕ,Филипп ДЮФУР,Кристин ФРАНСЕШИ,Виктория ЖИРАР,Сильви ПОН. Владелец: Биомерьё. Дата публикации: 2016-12-10.

Microorganism identification

Номер патента: RU2292047C2. Автор: Ричард Вилль м ТИТБОЛЛ,Ричард Вилльям ТИТБОЛЛ,Доминик ДЕСПЕЙРУ. Владелец: Дзе Секретэри Оф Стейт Фор Дефенс Дстл. Дата публикации: 2007-01-20.

Maldi-tof mass spectrometric method for determining microorganism resistance to antibacterial preparations

Номер патента: RU2761096C2. Автор: Арег Артемович Тотолян,Николай Венерович Михайлов,Елена Викторовна Зуева,Людмила Александровна Краева,Иван Владимирович Лихачёв. Владелец: Федеральное бюджетное учреждение науки "Санкт-Петербургский научно-исследовательский институт эпидемиологии и микробиологии им. Пастера Федеральной службы по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека" (ФБУН НИИ эпидемиологии и микробиологии имени Пастера). Дата публикации: 2021-12-03.

Antibody, set and method of determination of amiloidny peptides

Номер патента: RU2571213C2. Автор: Мануэль САРАСА-БАРРИО. Владелец: Эрэклон Байотек, С.Л.. Дата публикации: 2015-12-20.

Method for identification of genetic polymorphisms affecting metabolism of anticancer drugs using biological microchips

Номер патента: RU2697096C1. Автор: Сергей Владимирович Титов,Марина Александровна Емельянова,Александр Сергеевич Заседателев,Владимир Михайлович Михайлович,Борис Леонидович Шаскольский,Рустам Нураддин оглы Гейдаров,Анатолий Юрьевич Попов. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Учреждение Науки Институт Молекулярной Биологии Им. В.А. Энгельгардта Российской Академии Наук (Имб Ран). Дата публикации: 2019-08-12.

Phosphoramidite derivative and method of producing rna oligo

Номер патента: RU2415862C2. Автор: Тадааки ОХГИ,Коуити ИСИЯМА,Ютака МАСУТОМИ. Владелец: Ниппон Синяку Ко., Лтд.. Дата публикации: 2011-04-10.

Method for identifying serovars of leptospira bacteria using maldi-tof spectrometry

Номер патента: RU2661108C1. Автор: Наталия Александровна Стоянова,Николай Константинович Токаревич,Елена Викторовна Зуева,Арег Атёмович Тотолян. Владелец: Федеральное бюджетное учреждение науки "Санкт-Петербургский научно-исследовательский институт эпидемиологии и микробиологии им. Пастера Федеральной службы по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека" (ФБУН НИИ эпидемиологии и микробиологии имени Пастера). Дата публикации: 2018-07-11.

Detection of disease associated proteolysis by direct mass spectrometry analysis of low molecular weight peptides

Номер патента: WO2006044666A3. Автор: Xiaoyang Zheng,William S Hancock,Marina Hincapie,Haven Baker. Владелец: Haven Baker. Дата публикации: 2007-05-31.

Ion storage time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2491198C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Erol E. Gulcicek. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2006-11-07.

Ion storage time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2262646C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Erol E. Gulcicek. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2006-03-28.

Method for sequencing nucleic acids using matrix-assisted laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: WO1998003684A9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1998-08-06.

Time-of-flight mass spectrometer of gases

Номер патента: RU2025821C1. Автор: Валерий Александрович Бочкарев,Николай Данилович Семкин,Гамир Якубович Юсупов. Владелец: Гамир Якубович Юсупов. Дата публикации: 1994-12-30.

A kind of orthogonal acceleration zone device, time of flight mass analyzer and mass spectrograph

Номер патента: CN205723440U. Автор: 张锋,徐春风,朱治祥,胡修稳,戚丽. Владелец: Hefei Meyer Optoelectronic Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-23.

Selectivity ion sieve removes time of flight mass analyzer and its implementation and application

Номер патента: CN103745909B. Автор: 高伟,朱辉,谭国斌,周振,黄正旭,莫婷. Владелец: KUNSHAN HEXIN ZHIPU TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2016-06-29.

Method of formation of ion mass line in time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: SU1691905A1. Автор: Валерий Александрович Бочкарев,Николай Данилович Семкин,Гамир Якубович Юсупов,Сергей Михайлович Семенчук. Владелец: Самарский Авиационный Институт Им.Академика С.П.Королева. Дата публикации: 1991-11-15.

Method for calibrating a time-of-flight mass analyser and time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB202307711D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-07-05.

Thermally stable time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB201617679D0. Автор: . Владелец: Q-Tek d o o. Дата публикации: 2016-11-30.

Time of flight mass analysis system

Номер патента: GB202304506D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-05-10.

Collision cross section measurement in time-of-flight mass analyser

Номер патента: GB202303690D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2023-04-26.

Method and Apparatus for Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20120068062A1. Автор: Satoh Takaya. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2012-03-22.

Time-Of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20120068064A1. Автор: NUMATA Koji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-22.

Method for Sequencing RNA by In-source Decay Using Matrix Assisted Laser Desorption Ionization Time of Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20120080591A1. Автор: YAMADA Masaki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-05.

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY OF SURFACE

Номер патента: US20120085898A1. Автор: Schultz J. Albert,Egan Thomas F.,Waters Kelley L.,Ulrich Steven R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-12.

Tandem Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20120085905A1. Автор: Satoh Takaya. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2012-04-12.

Multi-Turn Time-of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20120112060A1. Автор: KINUGAWA Tohru,FURUHASHI Osamu. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2012-05-10.

Ion Trap Time-Of-Flight Mass Spectrometer

Номер патента: US20120138788A1. Автор: . Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-07.

Linear Time-of-Flight Mass Spectrometry With Simultaneous Space And Velocity Focusing

Номер патента: US20120145893A1. Автор: Vestal Marvin L.. Владелец: VIRGIN INSTRUMENTS CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-14.

Tandem Time-Of-Flight Mass Spectrometry With Simultaneous Space And Velocity Focusing

Номер патента: US20120168618A1. Автор: Vestal Marvin L.. Владелец: VIRGIN INSTRUMENTS CORPORATION. Дата публикации: 2012-07-05.

MICRO-REFLECTRON FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20120199736A1. Автор: DANEL Jean-Sebastien,DURAFFOURG Laurent,PROGENT Frederic,TASSETTI Charles-Marie. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-09.

PROCESSING OF ION CURRENT MEASUREMENTS IN TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS

Номер патента: US20120228488A1. Автор: Decker Jens. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-13.

METHOD FOR OPERATING A TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER WITH ORTHOGONAL ION PULSING

Номер патента: US20120280118A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-08.

Apparatus and Method for Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20120298855A1. Автор: Satoh Takaya. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2012-11-29.

Membrane Detector for Time-of-Flight Mass Spectrometry

Номер патента: US20120305760A1. Автор: Park Jonghoo,Blick Robert. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-06.

ABRIDGED ION TRAP - TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

Номер патента: US20130009051A1. Автор: . Владелец: Bruker Daltonics, Inc.. Дата публикации: 2013-01-10.

DATA ACQUISITION MODES FOR ION MOBILITY TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20130161506A1. Автор: UGAROV MICHAEL. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2013-06-27.

Time of Flight Mass Spectrometer Utilizing Overlapping Frames

Номер патента: US20140048698A1. Автор: Moore George Stennis. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-20.

TRANSIENT LEVEL DATA ACQUISITION AND PEAK CORRECTION FOR TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Номер патента: US20140110574A1. Автор: UGAROV MICHAEL. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2014-04-24.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: RU2003199C1. Автор: Валерий Александрович Бочкарев,Николай Данилович Семкин,Олег Юрьевич Колесников. Владелец: Олег Юрьевич Колесников. Дата публикации: 1993-11-15.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3392345B2. Автор: 俊一日朝,達櫻井,賢二岡西,廣光仲伏. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2003-03-31.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: SU1095272A1. Автор: Николай Владимирович Ларин,Александр Иванович Сучков,Игорь Дмитриевич Ковалев,Владимир Яковлевич Мотовичев. Владелец: Институт химии АН СССР. Дата публикации: 1984-05-30.

Ion trap time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP5164478B2. Автор: 康照井,寛中村,卓哉佐伯,司師子鹿. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-03-21.

Time-of-flight mass-spectrometer

Номер патента: SU1597965A1. Автор: Георгий Иосифович Кирьянов,Владимир Николаевич Игнатов,Александр Николаевич Матанцев,Александр Талатович Эрзин. Владелец: Предприятие П/Я А-3430. Дата публикации: 1990-10-07.

Method for detecting six trace sweetening agents in white spirit by ultra-high pressure liquid chromatography and time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CN101634648B. Автор: 王洪新,吴世嘉,陶冠军. Владелец: JIANGNAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-06-27.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP4037797B2. Автор: 小林達次,佐藤貴弥,岩永光恭. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-01-23.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: SU1247973A1. Автор: Максим Леонидович Александров,Юрий Константинович Голиков,Лидия Николаевна Галль,Николай Алексеевич Холин,Елена Эдуардовна Печалина. Владелец: Институт Аналитического Приборостроения Научно-Технического Объединения Ан Ссср. Дата публикации: 1986-07-30.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3691955B2. Автор: 石原盛男. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-09-07.

Data collection method and apparatus for time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3830366B2. Автор: 邉正渡. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-10-04.

Time-of-flight mass spectrometer with wide dynamic range, implementation method and application thereof

Номер патента: CN101789355A. Автор: 李磊,高伟,李梅,朱辉,周振,王在华,黄正旭,董俊国. Владелец: GUANGZHOU HEXIN ANALYTICAL INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2010-07-28.

Time-of-flight mass spetcrometer

Номер патента: SU1061194A1. Автор: Дмитрий Борисович Каллестинов,Александр Иванович Бусыгин,Бахадыр Шарапович Ульмасбаев. Владелец: Научно-производственное объединение "Квант". Дата публикации: 1983-12-15.

High myopia gene detection kit and chip based on time-of-flight mass spectrometry and high myopia detection method

Номер патента: CN109750103B. Автор: 汪凯,张丽娟,陈川,李沛,丁利杰,韩菲菲,张亚琦,蓝章彰,杨传春,崔孝礼. Владелец: Shenzhen Letu Biological Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Ion signal detection device for time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN210897194U. Автор: 方向,戴新华,丁传凡. Владелец: National Institute of Metrology. Дата публикации: 2020-06-30.

Improvements in or relating to time-of-flight mass spectrometers

Номер патента: GB9612091D0. Автор: . Владелец: HD Technologies Ltd. Дата публикации: 1996-08-14.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: SU1732396A1. Автор: Георгий Георгиевич Манагадзе. Владелец: Институт космических исследований АН СССР. Дата публикации: 1992-05-07.

High-sensitivity time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3623711B2. Автор: 藤太郎今坂. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2005-02-23.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP6287410B2. Автор: 慎一岩本,匡智古田,慶小寺,岩本　慎一,ニコラエスクダン. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-03-07.

Time-of-flight mass spectrometer detector used for positive and negative ion detection

Номер патента: CN203325835U. Автор: 李海洋,花磊,窦健,苏明扬,齐国臣. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2013-12-04.

Ion storage time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CA2491198A1. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch,Erol E. Gulcicek. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-02-19.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: SU989613A1. Автор: Эрнст Пантелеймонович Шеретов,Михаил Петрович Сафонов,Борис Иванович Колотилин. Владелец: Рязанский Радиотехнический Институт. Дата публикации: 1983-01-15.

Solid sample target platform for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CN214313129U. Автор: 肖飞,周媛,秦鹏,杨琼,潘加奎,潘家罗. Владелец: Shanghai Decode Medical Laboratory Co ltd. Дата публикации: 2021-09-28.

Momentum analyzer based time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN103972021A. Автор: 薛增泉,张耿民,郭等柱. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-08-06.

Chip with adjustable target spot aperture for metabolism detection of time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: CN218524632U. Автор: 万馨泽. Владелец: Zhejiang Yinapu Life Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-02-24.

N-carbazole acrylate and application of carbazole acrylate as matrix in matrix-assisted laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry analysis of polymer

Номер патента: CN109776391B. Автор: 朱新海,贾梦影,万一千. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2020-10-30.

Quadrupole time-of-flight mass spectrometer method and apparatus

Номер патента: CA2236275A1. Автор: Charles Jolliffe,John Barry French,Bruce Thomson. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 1998-11-16.

Time delay circuit for time-of-flight mass spectrum

Номер патента: CN115799037B. Автор: 徐振,钱庆,程文播,杨任兵,李文祥. Владелец: Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology of CAS. Дата публикации: 2023-04-14.

Vertical acceleration time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP3581269B2. Автор: 義裕貫名. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2004-10-27.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JPH11260311A. Автор: Morio Ishihara,石原盛男. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1999-09-24.

A kind of vacuum arc ion source time of-flight mass spectrometer

Номер патента: CN105304455B. Автор: 高伟,谭国斌,邱瑞,周长庚,柯建林. Владелец: Institute of Nuclear Physics and Chemistry China Academy of Engineering Physics. Дата публикации: 2017-03-29.

Screening type time-of-flight mass spectrometer and detection method

Номер патента: CN109755096B. Автор: 张汉君. Владелец: Concentrating Technology Hangzhou Co ltd. Дата публикации: 2020-11-06.

Method for determining chemical composition in white spirit by adopting comprehensive two-dimensional gas chromatography-time of flight mass spectrometry

Номер патента: CN104849390A. Автор: 姜利,刘国英,汤有宏,李安军,梁金辉,周庆伍,徐祥浩,高江婧. Владелец: Anhui Ruisiweier Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-19.

Be suitable for time -of -flight mass spectrometer's ion time delay to draw forth module

Номер патента: CN205645754U. Автор: 刘聪,王超,刘伟伟,李康康,吴学炜,王家杰,张瑞峰,郭光辉,刘晓莉,肖永东,易玲,蔡克亚,王晓锦. Владелец: Autobio Labtec Instruments Zhengzhou Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-12.

Time-of-flight mass spectrometer

Номер патента: JP6443262B2. Автор: 遼藤田. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-12-26.

A time of flight mass spectrometer including an orthogonal accelerator

Номер патента: AU6141100A. Автор: Alexander A. Makarov. Владелец: GBC Scientific Equipment Pty Ltd. Дата публикации: 2001-03-05.

Multi-reflection time-of-flight mass analyser with independent trapping region

Номер патента: GB202400009D0. Автор: . Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-14.

Time of flight mass spectrometer

Номер патента: GB202318516D0. Автор: . Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Variable width digital filter for time-of-flight mass spectrometry

Номер патента: AU4847000A. Автор: Leonid Braginsky,Edward J. Gavin. Владелец: Ciphergen Biosystems Inc. Дата публикации: 2000-12-05.

Method for introducing ions to be analyzed into mass-analyzer working space of hyperboloid mass-spectrometer of three-dimensional trap type

Номер патента: RU2281580C2. Автор: Владимир Васильевич Иванов,Игорь Владимирович Филиппов,Эрнст Пантелеймонович Шеретов,Тать на Борисовна Карнав,Татьяна Борисовна Карнав. Владелец: Эрнст Пантелеймонович Шеретов. Дата публикации: 2006-08-10.

Ion transit-time mass-analyzer

Номер патента: RU2096861C1. Автор: Георгий Георгиевич Манагадзе,Нина Георгиевна Манагадзе. Владелец: Нина Георгиевна Манагадзе. Дата публикации: 1997-11-20.

Mass analyzer system for the direct detemination or organic compounds in ppb and high ppt concentrations in the gas phase

Номер патента: AU7826387A. Автор: Frederick Coulston,Friedhelm Korte,Ahmet Harun Parlar. Владелец: Ges fur Strahlen und Umweltforschung M B H. Дата публикации: 1988-03-24.

Quadrupole mass analyzer

Номер патента: AU291697B2. Автор: Uthe Michael. Владелец: Electronic Associates Inc. Дата публикации: 1967-09-07.

Mass analyzer including an ion source and a reaction cell and systems and methods using them

Номер патента: EP3782185A4. Автор: Lisa Cousins,Gholamreza Javahery,Charles Jolliffe,Miles Snow,Heather GAMBLE. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Canada Inc. Дата публикации: 2022-01-12.

Quadrupole mass analyzer

Номер патента: CA796839A. Автор: M. Uthe Paul. Владелец: Electronic Associates Inc. Дата публикации: 1968-10-15.

Quadrupole mass analyzer

Номер патента: AU249366A. Автор: Uthe Michael. Владелец: Electronic Associates Inc. Дата публикации: 1967-09-07.

Ion supply source and mass analyzer

Номер патента: JPS5556344A. Автор: Roido Suuinguraa Donarudo. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 1980-04-25.

Dynamically concentrating ion packets in the extraction region of a tof mass analyzer

Номер патента: EP3776626A4. Автор: Nic G. BLOOMFIELD,Igor Chernushevich,Robert HAUFLER. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2022-01-12.

Electronic compensation for quadrupole mass analyzer

Номер патента: CA809756A. Автор: M. Uthe Paul. Владелец: Electronic Associates Inc. Дата публикации: 1969-04-01.

Ion source power supply for mass analyzer

Номер патента: JPS5517925A. Автор: Eiichi Izumi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1980-02-07.

PRETREATMENT APPARATUS AND MASS ANALYZING APPARATUS EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120079875A1. Автор: Nogami Makoto,Kanda Katsuhiro,Waki Izumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-05.

Cyclone Separator Type Mass Analyzing System

Номер патента: US20120080593A1. Автор: Miki Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-05.

SYSTEM AND METHOD FOR PRODUCING A MASS ANALYZED ION BEAM

Номер патента: US20120168622A1. Автор: . Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2012-07-05.

MASS SPECTROMETER AND MASS ANALYZER COMPRISING PULSER

Номер патента: US20120193524A1. Автор: . Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2012-08-02.

Mass analyzer apparatus and systems operative for focusing ribbon ion beams and for separating desired ion species from unwanted ion species in ribbon ion beams

Номер патента: US20120235053A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-09-20.

Miniature toroidal radio frequency ion trap mass analyzer

Номер патента: US20120267523A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-10-25.

MASS SPECTROMETER AND MASS ANALYZING METHOD

Номер патента: US20120326022A1. Автор: Morokuma Hidetoshi,Sugiyama Masuyuki,Hashimoto Yuichiro,Hasegawa Hideki,Yamada Masuyoshi,KUMANO Shun,Hashiba Shuhei. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

MASS SPECTROMETER AND MASS ANALYZING METHOD

Номер патента: US20130048851A1. Автор: Morokuma Hidetoshi,Sugiyama Masuyuki,Hashimoto Yuichiro,Hasegawa Hideki,Yamada Masuyoshi,NISHIMURA Kazushige,KUMANO Shun. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-28.

Energy mass analyzer

Номер патента: SU1265890A2. Автор: Александр Александрович Косячков,Валентин Тихонович Черепин,Юрий Константинович Голиков. Владелец: Институт металлофизики АН УССР. Дата публикации: 1986-10-23.

Device for power supply of quadrupole mass analyzer

Номер патента: SU917237A1. Автор: Александр Федорович Кузьмин,Олег Николаевич Яковлев,Евгений Яковлевич Мельничук,Ростислав Николаевич Галль,Анатолий Семенович Мелешкин. Владелец: Специальное Конструкторское Бюро Аналитического Приборостроения Научно-Технического Объединения Ан Ссср. Дата публикации: 1982-03-30.

METHOD FOR SEPARATION OF IONS OF ORGANIC AND BIO-ORGANIC COMPOUNDS IN A SUPERSONIC GAS FLOW, PRELIMINARY REGISTRATION AND TRANSPORT OF THESE IONS IN THE FOLLOWING MASS ANALYZER

Номер патента: RU2011119310A. Автор: Валерий Владиславович Разников,Владислав Валерьевич Зеленов,Алексей Владимирович Чудинов,Илья Вячеславович Сулименков,Александр Робертович Пихтелев,Марина Олеговна Разникова,Елена Викторовна Апарина. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт энергетических проблем химический физики РАН. Дата публикации: 2012-11-27.

Mass analyzer system for the direct detemination or organic compounds in ppb and high ppt concentrations in the gas phase

Номер патента: AU593941B2. Автор: Frederick Coulston,Friedhelm Korte,Ahmet Harun Parlar. Владелец: Coulston International Corp. Дата публикации: 1990-02-22.

Method for analysing admixtures in gas mixtures in their passing in form of extra-axial supersonic gas stream through source of electronic ionisation and radio-frequency quadrupole with following output of ions into mass-analyser

Номер патента: RU2576673C2. Автор: Валерий Владиславович Разников,Владислав Валерьевич Зеленов,Алексей Владимирович Чудинов,Илья Вячеславович Сулименков,Александр Робертович Пихтелев,Марина Олеговна Разникова,Геннадий Николаевич Савенков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л. Тальрозе Российской академии наук. Дата публикации: 2016-03-10.

Fluid Expansion in Mud Gas Logging

Номер патента: US20120000279A1. Автор: Pop Julian J.,Taherian Reza,Daniel Pierre J.,Smuk Stefan. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.