Methode und Apparat zur Messung der thermischen Impedanz von integrierten Halbleiterkomponenten
Номер патента: DE69531329D1
Опубликовано: 28-08-2003
Автор(ы): Eric Beyne, Filip Christiaens, Luc Tielemans, Schepper Luc De
Принадлежит: Inst Voor Materiaalonderzoek L, Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC
Опубликовано: 28-08-2003
Автор(ы): Eric Beyne, Filip Christiaens, Luc Tielemans, Schepper Luc De
Принадлежит: Inst Voor Materiaalonderzoek L, Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC
Verfahren und Vorrichtung zum Überwachen der thermischen Impedanz
Номер патента: DE102022122829B3. Автор: Daniel Domes. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-02-08.