Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP3272283B1
Опубликовано: 20-07-2022
Автор(ы): Takashi Sudo, Yasuhiro Kanishima
Принадлежит: Toshiba Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Biological condition measurement device, biological condition measurement method, program, and biological condition measurement system

Номер патента: EP4324390A1. Автор: Yasuhiro Tamura. Владелец: FINGGAL LINK CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-21.

Biological condition measurement device, biological condition measurement method, program, and biological condition measurement system

Номер патента: EP4324390A4. Автор: Yasuhiro Tamura. Владелец: FINGGAL LINK CO Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE, BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20180228383A1. Автор: Fukui Rui,WARISAWA Shinichi,SANUKI Haruyuki. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-16.

Biological state measurement device, biological state measurement method, program, and biological state measurement system

Номер патента: JP2022172781A. Автор: Yasuhiro Tamura,泰弘 田村. Владелец: FINGGAL LINK CO Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Physiological information measurement device, physiological information measurement method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20240335125A1. Автор: Shogo TOTSUKA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Blood pressure measurement device, blood pressure measurement method, blood pressure measurement program

Номер патента: CN104684467A. Автор: 小椋敏彦,佐藤博则,木下广幸. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2015-06-03.

Blood pressure measurement device, blood pressure measurement method, and control program

Номер патента: JP4559279B2. Автор: 浩司 萩,仁 小澤,小泉弘,林田尚一,能行 羽生,嶋田純一. Владелец: TRUMO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-10-06.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement program

Номер патента: US20220175288A1. Автор: Takuro Matsuda,Yoshinari Uehara,Yukiya TANOUE. Владелец: Fukuoka University. Дата публикации: 2022-06-09.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and medium storing biological information measurement program

Номер патента: US11986303B2. Автор: Takuro Matsuda,Yoshinari Uehara,Yukiya TANOUE. Владелец: Fukuoka University. Дата публикации: 2024-05-21.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US09808189B2. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2017-11-07.

Flow volume measuring device, flow volume measuring method, pressure measuring device, and pressure measuring method

Номер патента: US20200323438A1. Автор: Ryo Inoue,Hirofumi Nogami,Ryuta Shiraishi,Renshi Sawada,Tomohito SEKIGUCHI,Yuma HAYASHIDA. Владелец: Kyushu University NUC. Дата публикации: 2020-10-15.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US10660551B2. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2020-05-26.

Pulmonary function measurement device, pulmonary function measurement method, and pulmonary function measurement program

Номер патента: US20190125212A1. Автор: Shin Maki,Tomoki UTSUGIDA. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2019-05-02.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE, BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD AND RECORDING MEDIUM HAVING BLOOD PRESSURE MEASURING PROGRAM RECORDED THEREIN

Номер патента: US20190209031A1. Автор: Abe Katsumi,Kubo Masahiro,AKAGAWA Takeshi,Ohno Yuji,ARIYAMA Tetsuri. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2019-07-11.

Biological information measures auxiliary device, vital information measurement device, biological information measurement householder method and auxiliary program

Номер патента: CN109414201A. Автор: 山下新吾,前田直辉. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2019-03-01.

Biological information measurement device, biological information measurement support method, and biological information measurement support program

Номер патента: JP6699397B2. Автор: 新吾 山下,直輝 前田. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2020-05-27.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US20140058233A1. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2014-02-27.

CONCENTRATION-MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION-MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180020959A1. Автор: Suzuki Susumu,Koyama Yasuaki,Ozaki Takeo. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

Body composition measurement device, body composition measurement method, and correction method in body composition measurement

Номер патента: US09795317B2. Автор: Tatsuya Takahashi,Hiroaki Fukuda,Kazuhiro Ochi,Jakusei Kiyosaki. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Magnetic field measurement device, magnetic field measurement method, and recording medium having magnetic field measurement program recorded thereon

Номер патента: US12082915B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Non-invasive blood glucose measuring device and measuring method using the same

Номер патента: US20170156645A1. Автор: Yen-Hsien Lee,Hong-Dun Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-06-08.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement system

Номер патента: US20240206753A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement system

Номер патента: US20240180457A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Body composition measurement device, body composition measurement method, and correction method in body composition measurement

Номер патента: US20150150478A1. Автор: Tatsuya Takahashi,Hiroaki Fukuda,Kazuhiro Ochi,Jakusei Kiyosaki. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-04.

Vital sign measuring device, vital sign measuring method, and vital sign measuring program

Номер патента: JP6737261B2. Автор: 靖和 田中,安川　徹,徹 安川. Владелец: Noritsu Precision Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Blood pressure measurement device, blood pressure measurement method, and program

Номер патента: WO2018168797A1. Автор: 新吾 山下,北川　毅,勇輝 太田. Владелец: オムロンヘルスケア株式会社. Дата публикации: 2018-09-20.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190290142A1. Автор: ISHIHARA Daisuke,KAWABATA Yasuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Activity amount measuring device, activity amount measuring method, activity amount measuring program

Номер патента: CN106456060A. Автор: 滨口刚宏,北村优美,江副美佳. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-02-22.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and storage medium

Номер патента: CN111432719B. Автор: 赤松学,小泽秀明,梅川英之,逆井一宏,松下和征,汤川浩平. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-04-18.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US20240268719A1. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-08-15.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US12102430B2. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-10-01.

Absorbed calorie measuring device, absorbed calorie measuring method, and absorbed calorie measuring program

Номер патента: EP3904863A1. Автор: Kazuya Iinaga. Владелец: Medical Photonics Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-03.

Biological information measuring system, measuring device, biological information measuring method and biological information measuring program

Номер патента: JP2008073456A. Автор: Takuji Suzuki,琢治 鈴木,一成 大内,研一 亀山,Kenichi Kameyama,Kazunari Ouchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Caloric consumption measuring device, caloric consumption measuring method, and caloric consumption measurement preparation processing method

Номер патента: TW200936099A. Автор: Ryuji Abe. Владелец: Shimano Kk. Дата публикации: 2009-09-01.

Heartbeat measuring device and heartbeat measuring method

Номер патента: US20130138007A1. Автор: Kazuo Kato,Hisao Nakamura,Kazuhiro Koyama,Akira Takakura,Keisuke Tsubata,Takanori Hasegawa,Katsuya Mugishima. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2013-05-30.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150051464A1. Автор: Suzuki Susumu,Ozaki Takeo. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2015-02-19.

BIOLOGICAL MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190282104A1. Автор: Kawakami Ken,FUJINAMI Takashi,Iguchi Akira. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-19.

Stress measurement device and Stress measurement method

Номер патента: KR102290279B1. Автор: 김상규,조성호,이준형. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-08-17.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240268681A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Contactless internal measurement device, contactless internal measurement method, and internal measurement result display system

Номер патента: US11721452B2. Автор: Yukinobu Tanaka. Владелец: Maxell Ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: CA3190342A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-03-29.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190307336A1. Автор: Fujii Kenji,Matsumoto Naoki,Mori Kentaro. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-10.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190313924A1. Автор: Fujii Kenji,Matsumoto Naoki,Mori Kentaro,KAWABATA Yasuhiro,MATSUMURA Naomi. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

CARDIAC FUNCTION MEASUREMENT DEVICE, CARDIAC FUNCTION MEASUREMENT METHOD, AND CARDIAC FUNCTION MEASURING PROGRAM

Номер патента: US20190014991A1. Автор: UTSUGIDA Tomoki,Maki Shin. Владелец: TERUMO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-01-17.

Cardiac function measurement device, cardiac function measurement method, and cardiac function measurement program

Номер патента: WO2017159574A1. Автор: 牧伸,櫨田知樹. Владелец: テルモ株式会社. Дата публикации: 2017-09-21.

Biological information measurement device, biological information measurement method and biological information measurement program

Номер патента: CN108024737A. Автор: 小椋敏彦,山下新吾,加藤雄树,吉元俊辅,井村诚孝,大城理. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-05-11.

Cardiac function measurement device, cardiac function measurement method, and cardiac function measurement program

Номер патента: WO2017159573A1. Автор: 牧伸,櫨田知樹. Владелец: テルモ株式会社. Дата публикации: 2017-09-21.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180125377A1. Автор: Abe Katsumi,Takoh Kimiyasu,Kubo Masahiro,AKAGAWA Takeshi,Ohno Yuji,ALTINTAS ERSIN,ARIYAMA Tetsuri. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2018-05-10.

Biological light measurement device, biological light measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: EP2832304A4. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2015-11-11.

BIOLOGICAL SOUND MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL SOUND MEASUREMENT SUPPORT METHOD, AND BIOLOGICAL SOUND MEASUREMENT SUPPORT PROGRAM

Номер патента: US20210015444A1. Автор: Matsumoto Naoki,HASHINO Kenji,ASAI Kei,OHGAMI Naoto. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: EP3895611A4. Автор: Takeo Ozaki,Tsuyoshi Kamada,Wataru KAMO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-17.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: WO2021220396A1. Автор: 倫子 瀬山,雄次郎 田中,大地 松永. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2021-11-04.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: DE112018005152T5. Автор: Shinya Nakagawa. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2020-09-03.

Step width measurement device, measurement system, step width measurementmethod, and program

Номер патента: US20240081687A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Biological data measurement device, biological data measurement method, and program

Номер патента: EP3949852A1. Автор: Masayoshi Takahashi. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Concentration degree measuring device, concentration degree measuring method, and program

Номер патента: CN113631211A. Автор: 吉冈元贵,铃木海友,苏克萨洪·本扬,今村邦博. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-09.

Concentration degree measurement device, concentration degree measurement method, and recording medium

Номер патента: US20220160276A1. Автор: Mototaka Yoshioka,Kunihiro Imamura,Kaiyu SUZUKI,Souksakhone Bounyong. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Substance concentration measuring device, substance concentration measuring method and human condition monitoring system

Номер патента: US20230218207A1. Автор: Chih-Hao Wang,Chien-Yi Kao,Hsin-Yi Lin,Shih-Jen Lu,Yang-Ming Chou. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Component measurement device and component measurement method

Номер патента: US20240122503A1. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

A measuring device and a measurement method thereof

Номер патента: EP4340718A1. Автор: Jihad Ali Mustapha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-27.

Measuring device and a measurement method thereof

Номер патента: US11920926B2. Автор: Jihad Ali Mustapha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-05.

Absorbed calorie measuring device, absorbed calorie measuring method, and absorbed calorie measuring program

Номер патента: EP3904863A4. Автор: Kazuya Iinaga. Владелец: Medical Photonics Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-07.

Bloodless blood glucose measuring device using magnetic resonance absorption method and measuring method thereof

Номер патента: JP4275653B2. Автор: 東 均 金,鐘 華 元,エブジェニ プロタソフ アレクサンドロフ. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-06-10.

Biological measurement device and biological measurement method

Номер патента: US20190209012A1. Автор: Tetsuya Mimura,Yukio Ueda,Kenji Yoshimoto,Harumi Sakahara,Hiroyuki Ogura,Hatsuko Nasu,Nobuko Yoshizawa,Etsuko Ohmae. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2019-07-11.

Biological sound measuring device, biological sound measurement support method, and biological sound measurement support program

Номер патента: US20210015443A1. Автор: Naoki Matsumoto,Kei Asai,Naoto Ohgami,Kenji Hashino. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2021-01-21.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: US20230047257A1. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and program

Номер патента: EP4296668A1. Автор: Rihito Kuroda,Hideaki Hasegawa,Koji KAWAJIRI,Takayori Ito,Hiroyuki Tamaoka. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-12-27.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: EP4137213A1. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-22.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20230393117A1. Автор: Rihito Kuroda,Hideaki Hasegawa,Koji KAWAJIRI,Takayori Ito,Hiroyuki Tamaoka. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-12-07.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and body composition measurement device

Номер патента: US20120004570A1. Автор: Yasuo Fujita,Naoto Mukai,Satoe SHIMIZU. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-01-05.

Biological information measuring device, biological information measuring method, and body composition measuring device

Номер патента: JPWO2010095709A1. Автор: 里恵 清水,直人 向井,安生 藤田. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-08-30.

Wrinkle Measuring Device and Wrinkle Measuring Method

Номер патента: KR102262307B1. Автор: 김은주,이해광,연영민,장수임. Владелец: (주)아모레퍼시픽. Дата публикации: 2021-06-09.

Brain function measurement device, brain function measurement method, and probe

Номер патента: US20210145286A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-05-20.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: EP3299781B1. Автор: Hisashi Isozaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Internal temperature measurement device, internal temperature measurement method, and program

Номер патента: WO2023162054A1. Автор: 勝啓 平山,裕也 小寺,隆弘 塩津. Владелец: Ｂｉｏｄａｔａ Ｂａｎｋ株式会社. Дата публикации: 2023-08-31.

Temperature measurement device, thermometer, temperature measurement method, and temperature attenuation measurement method

Номер патента: US20240068884A1. Автор: Takashi Nonaka,Takahiro Okabe,Shigenao Maruyama,Toshinori Nakajima,Masaya Higashi,Yasushi Hosokawa,Manabu Orito,Yuya Iseki,Takuma Kogawa,Yutaro Tabata,Tadashi Matsudate. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Brain function measurement device, brain function measurement method, and probe

Номер патента: EP3791793A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-03-17.

Brain function measurement device, brain function measurement method, and probe

Номер патента: US11911130B2. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2024-02-27.

Methods and apparatus for calibrating an electromagnetic measurement device

Номер патента: CA2582466A1. Автор: John Phelps Sottery,Patricia Alison La Fleur,Jorge Hernan Jaramillo. Владелец: Innovative Measurement Solutions, Inc.. Дата публикации: 2006-04-27.

Methods and apparatus for calibrating an electromagnetic measurement device

Номер патента: WO2006044560A1. Автор: John Phelps Sottery,Patricia Alison La Fleur,Jorge Hernan Jaramillo. Владелец: Innovative Measurement Solutions, Inc.. Дата публикации: 2006-04-27.

Methods and apparatus for calibrating an electromagnetic measurement device

Номер патента: EP1800108A1. Автор: John Phelps Sottery,Patricia Alison La Fleur,Jorge Hernan Jaramillo. Владелец: Innovative Measurement Solutions Inc. Дата публикации: 2007-06-27.

PULMONARY FUNCTION MEASUREMENT DEVICE, PULMONARY FUNCTION MEASUREMENT METHOD, AND PULMONARY FUNCTION MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20190021692A1. Автор: UTSUGIDA Tomoki,Maki Shin. Владелец: TERUMO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-01-24.

BIOLOGICAL-SIGNAL MEASUREMENT DEVICE, BIOLOGICAL-SIGNAL MEASUREMENT METHOD, WEARABLE ACTION ASSISTANCE DEVICE, AND ACTION ASSISTANCE METHOD

Номер патента: US20170127962A1. Автор: Sankai Yoshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-11.

Biological signal measuring device, biological signal measuring method, mounted-type motion assist device, and motion assist method

Номер патента: WO2016006688A1. Автор: 嘉之 山海. Владелец: Cyberdyne株式会社. Дата публикации: 2016-01-14.

PULSE WAVE MEASURING DEVICE, PULSE WAVE MEASURING METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180055391A1. Автор: OZAWA Jun,YOSHIOKA Mototaka,MURAKAMI KENTA. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130215428A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-08-22.

BIOLOGICAL MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160143589A1. Автор: Oikaze Hirotoshi,Kabetani Yasuhiro,TAKECHI YOHEI,FURUTA TOMOTAKA. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160249813A1. Автор: ZHANG Kailiang. Владелец: BOE Technology. Дата публикации: 2016-09-01.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: JP7151607B2. Автор: 倫子 瀬山,雄次郎 田中,大地 松永. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-10-12.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP6462432B2. Автор: 峯邑　浩行,浩行 峯邑,賢太郎 大澤. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2019-01-30.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150045640A1. Автор: Suzuki Susumu,Ozaki Takeo. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190274605A1. Автор: Kamada Tsuyoshi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2019-09-12.

Measuring device and a measurement method thereof

Номер патента: US20220364841A1. Автор: Jihad Ali Mustapha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-17.

Nerve stimulation measurement device, nerve stimulation measurement method, and nerve stimulation measurement program

Номер патента: EP3738647B1. Автор: Jun Motogi,Takashi KAIAMI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-05-15.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: US09700248B2. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-11.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: EP4137213A4. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Contrast sensitivity measuring device, contrast sensitivity measuring method, and program

Номер патента: WO2021044455A1. Автор: 和史 丸谷,研知 細川. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2021-03-11.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE, BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD, AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20220175288A1. Автор: Matsuda Takuro,UEHARA Yoshinari,TANOUE Yukiya. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-09.

EYE MOVEMENT MEASUREMENT DEVICE, EYE MOVEMENT MEASUREMENT METHOD, AND EYE MOVEMENT MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210264618A1. Автор: Hoshino Kiyoshi,Ono Nayuta. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

Light reflex measurement device, light reflex measurement method, and light reflex measurement program

Номер патента: WO2020179136A1. Автор: 齋藤　敦,美玖 小村田,林　孝浩. Владелец: 株式会社Ｊｖｃケンウッド. Дата публикации: 2020-09-10.

Force measuring device and force measuring method, master-slave device, force measuring program, and integrated electronic circuit

Номер патента: JP6064263B2. Автор: 優子 津坂,太一 佐藤,津坂　優子,勇大 札場. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-25.

Ultrasonic measuring device and ultrasonic measuring method using ultrasonic measuring device

Номер патента: WO2018168363A1. Автор: 中嶋健,笹谷信哉. Владелец: 株式会社リリアム大塚. Дата публикации: 2018-09-20.

Magnetic field measuring device, magnetic field measuring method, magnetic field measuring program

Номер патента: JP6664568B1. Автор: 威信 中村,茂樹 岡武,森安　嘉貴,嘉貴 森安,片岡　誠,誠 片岡. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2020-03-13.

Pulse wave measuring device, pulse wave measuring method, and recording medium

Номер патента: US11006844B2. Автор: Jun Ozawa,Kenta Murakami,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-18.

BIOLOGICAL SOUND MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL SOUND MEASUREMENT SUPPORT METHOD, AND BIOLOGICAL SOUND MEASUREMENT SUPPORT PROGRAM

Номер патента: US20210015443A1. Автор: Matsumoto Naoki,HASHINO Kenji,ASAI Kei,OHGAMI Naoto. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

HEARTBEAT MEASURING DEVICE AND HEARTBEAT MEASURING METHOD

Номер патента: US20130138007A1. Автор: KOYAMA Kazuhiro,Nakamura Hisao,KATO Kazuo,TAKAKURA Akira,HASEGAWA Takanori,TSUBATA Keisuke,MUGISHIMA Katsuya. Владелец: SEIKO INSTRUMENTS INC.. Дата публикации: 2013-05-30.

THICKNESS MEASURING DEVICE AND THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20150211844A1. Автор: Cretin Dorian. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-30.

ULTRASONIC PROBE, BIOINFORMATION MEASUREMENT DEVICE, AND BIOINFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140296714A1. Автор: Yamashita Shiro,Kuroki Shigehiro. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-02.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170258381A1. Автор: Suzuki Susumu,Ozaki Takeo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-14.

Integrated lancing and measurement device and analyte measuring methods

Номер патента: US6607658B1. Автор: Adam Heller,James Say,Mark S. Vreeke,Benjamin J. Feldman. Владелец: Therasense Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Integrated Lancing And Measurement Device And Analyte Measuring Methods

Номер патента: US20080194990A1. Автор: Adam Heller,James Say,Benjamin J. Feldman. Владелец: Abbott Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2008-08-14.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: EP3092950A1. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2016-11-16.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: WO2018051832A1. Автор: 鎌田　毅. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2018-03-22.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: JP2013169280A. Автор: Susumu Suzuki,進 鈴木,Takeo Ozaki,健夫 尾崎. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-09-02.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: EP2818110B1. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2016-08-17.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: WO2014038569A1. Автор: ドリアン クレタン. Владелец: 古野電気株式会社. Дата публикации: 2014-03-13.

Target measurement device and target measurement method

Номер патента: EP3951431A1. Автор: Masanori Ito. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Fish measuring device and fish measuring method

Номер патента: EP4292430A1. Автор: Satoshi Nakamura,Wataru Sato,Atsushi Ikegami. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Fish measuring device and fish measuring method

Номер патента: EP4292431A1. Автор: Satoshi Nakamura,Wataru Sato,Atsushi Ikegami. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180087968A1. Автор: Isozaki Hisashi. Владелец: TOPCON CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-29.

Milk level measurement device and related measurement method

Номер патента: US20150114105A1. Автор: Carlo Carbonini,Fabian Dietschi,Alain Erismann. Владелец: Rancilio Group Spa. Дата публикации: 2015-04-30.

Milk level measurement device and related measurement method

Номер патента: US9709432B2. Автор: Carlo Carbonini,Fabian Dietschi,Alain Erismann. Владелец: Rancilio Group Spa. Дата публикации: 2017-07-18.

Spherical object velocity measuring device and velocity measuring method

Номер патента: JP2686706B2. Автор: 哲司 西山,隆司 寺口. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 1997-12-08.

Rolling resistance measurement device, rolling resistance measurement method, and program

Номер патента: US20230184631A1. Автор: Makoto Tachibana,Tatsuya Ueda. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: EP4446717A1. Автор: Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-16.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US20200386537A1. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2020-12-10.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US11156451B2. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2021-10-26.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Communication status measurement device, communication status measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20150263924A1. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-17.

Communication status measurement device, communication status measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09847923B2. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Threaded shaft measuring device, threaded shaft measuring method, and adjustment jig

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Yoshiyuki Omori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Brake dust measurement device, brake dust measurement method, and brake dust measurement program instructions

Номер патента: US20240035934A1. Автор: Yoshinori Otsuki,Joel Danzer,Dmytro Lugovyy. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449A1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2022-05-18.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Integrated impedance measurement device and impedance measurement method thereof

Номер патента: US12038463B2. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Crankshaft phase measuring device, crankshaft phase measuring method, internal combustion engine control method, crankshaft, and internal combustion engine

Номер патента: EP4411338A1. Автор: Tsutomu Morimoto,Kaname ARAKI,Mariko Matsuda,Takashi Takishita,Tsukasa Shirafuji,Shohei UEMURA,Yuma Obayashi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Integrated Impedance Measurement Device and Impedance Measurement Method Thereof

Номер патента: US20240345146A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US09513101B2. Автор: Yasuto Kanayama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Overlay measurement device and method for controlling focus movement and program storage medium therefor

Номер патента: US20240259682A1. Автор: Seong-Yun CHOI,Hyo-Sik Ham. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Planar motor rotor displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: US09766054B2. Автор: Ming Zhang,Zhao Liu,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Kaiming Yang,Wensheng Yin,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Longmin Chen. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US20120092671A1. Автор: Hitoshi Igarashi,Kenji Hatada,Jun USHIAMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-19.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US09671289B2. Автор: Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-06.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US12039904B2. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US20230054156A1. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140036956A1. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11762070B2. Автор: Yuki Matsui,Franco Zappa,Federica Villa,Ken NAKAMURO,Rudi LUSSANA. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US09494622B2. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-11-15.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US09341519B2. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4130738A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US20240329094A1. Автор: Yusuke Shindo. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring device and a measuring method for testing mobile-radio relay stations

Номер патента: US09642025B2. Автор: Christina Gessner,Juergen Schlienz. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-02.

Fine particle measurement device, and laminar flow monitoring method and fine particle analysis method in fine particle measurement device

Номер патента: US09417173B2. Автор: Nao Nitta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240230899A9. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

OCT measuring device and oct measuring method

Номер патента: US11408722B2. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP3904826A1. Автор: Kenichi TAYU. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

Stitching-measurement device and stitching-measurement method

Номер патента: US20210278201A1. Автор: Xin JIA,Fuchao Xu,Tingwen Xing,Dachun GAN. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2021-09-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11719791B2. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: US09970838B2. Автор: Tomohide Minami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Porosity measuring device and porosity measuring method

Номер патента: US09366614B2. Автор: Makoto Kawano,Hitoshi Watarai. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2016-06-14.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200088853A1. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11747427B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US12098972B2. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20230136517A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4332526A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Volume measuring device and volume measuring method

Номер патента: US09976892B2. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20230417600A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240241254A1. Автор: Yusuke YATA. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Wavefront measurement device and wavefront measurement method

Номер патента: EP4400818A1. Автор: Yoshinori Kato,Takashi Sekine,Satoru Kobayashi,Yuki Ikeya,Takaaki Morita,Takuto IGUCHI,Kazuki Kawai. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-17.

Eddy current multi-parameter measurement device and corresponding measurement method

Номер патента: EP4446692A1. Автор: Luigi Ferrigno,Marco Laracca,Alessandro Sardellitti,Antonello Tamburrino,Salvatore Ventre,Filippo Milano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-16.

Colour measurement device and colour measurement method

Номер патента: US09681012B2. Автор: Yasushi Goto,Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-13.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method, and program

Номер патента: US20100286961A1. Автор: Tsukasa Kojima. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20150003491A1. Автор: Hidenori Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US12078648B2. Автор: Masaki Shiba,Hiroki Kotake,Akihito Kato. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Backlash measurement device and backlash measurement method

Номер патента: US09651451B2. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Size measurement device and size measurement method

Номер патента: US09607406B2. Автор: Yuuji Toyomura,Takahiro Shoji,Ryouta Hata. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A2. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230296773A1. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A3. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-24.

Dispersion measuring device, and dispersion measuring method

Номер патента: US20240201046A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-20.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230079310A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-16.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: US09766174B2. Автор: Gakuji Hashimoto,Suguru Dowaki,Shingo Imanishi,Shunpei Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20240210275A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-27.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US11867628B2. Автор: Takahiro Ando,Sakuichiro Adachi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240011848A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4303550A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-10.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20210285757A1. Автор: Hisataka Sugiyama,Toshimichi Shintani,Hiroshi Ogasawara,Takahiro Komaki. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2021-09-16.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP3872479A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-09-01.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US20150226852A1. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Measuring device and a measuring method for determining an active channel

Номер патента: US09877326B2. Автор: Stefan Schmidt. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-01-23.

Test set for a photometric measuring device, and photometric measuring method for a sample liquid

Номер патента: US09804095B2. Автор: Gerhard Bonecker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US09605944B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Deflection measuring device and deflection measuring method

Номер патента: US09459093B2. Автор: Hidenori Sato,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Branch ratio measuring device, branch ratio measuring method, and optical multiplexing/demultiplexing circuit manufacturing method

Номер патента: US20230324623A1. Автор: Hiroyuki Iida,Hidenobu HIROTA,Takui UEMATSU. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Surface shape measurement device, surface shape measurement method, and conveyor belt management method

Номер патента: EP4354080A1. Автор: Yoshihiro Akechi,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Micro force measurement device, micro force measurement method, and micro surface shape measurement probe

Номер патента: US7685733B2. Автор: Yutaka Watanabe,Hitoshi Ohmori,Shinya Morita,Weimin Lin,Yoshihiro Uehara,Kazutoshi Katahira. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2010-03-30.

Magnetic field measuring device, magnetic field measurement method, and recording medium having recorded thereon magnetic field measurement program

Номер патента: US20210181269A1. Автор: Masanori Masuda,Takenobu Nakamura,Kazuhiro Ishida. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Overlay measurement device and method for controlling focus movement and program storage medium therefor

Номер патента: US20240155232A1. Автор: Seong-Yun CHOI,Hyo-Sik Ham. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-09.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and three-dimensional measurement program

Номер патента: EP3751230A1. Автор: Takashi Shimizu,Xingdou FU. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-16.

Overlay measurement device and method for controlling focus movement and program storage medium therefor

Номер патента: US12010425B2. Автор: Seong-Yun CHOI,Hyo-Sik Ham. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP1486763A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Zixsys Inc. Дата публикации: 2004-12-15.

Thrust clearance measuring device, thrust clearance measuring method, and marine vessel

Номер патента: EP4316974A1. Автор: Masahiro Shimizu,Saiki Nishiyama,Masashi NAKAIE. Владелец: Japan Marine United Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP3370035A1. Автор: Takahiro Kubota,Takuya Goto,Yuichi Sasano,Kei Yoshitomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Size distribution measurement device, size distribution measurement method, and sample container

Номер патента: EP3910315A1. Автор: Hiroyuki Minemura,Yumiko Anzai,Masakazu Sugaya,Kentaro Osawa,Hiroyuki Nishihara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-11-17.

Thz measuring device and thz measuring method for performing a measurement on a corrugated pipe

Номер патента: US20240027182A1. Автор: Arno Neumeister,Jan Hendrik Petermann. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: US20240085298A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD FOR PROVIDING LIGHT SPOT MARKS OF DIFFERENT COLORS

Номер патента: US20230007961A1. Автор: Yung-Chang Chang,Feng-Lien Huang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2023-01-12.

Speed measurement device and speed measurement method

Номер патента: US20200003887A1. Автор: Takafumi Matsumura,Masayuki Satou. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2020-01-02.

Integrated Impedance Measurement Device and Impedance Measurement Method Thereof

Номер патента: US20230366917A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A3. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-18.

THz measuring device and THz measuring method for determining defects in measuring objects

Номер патента: AU2019344469A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2021-05-13.

Relative position measuring device, relative position measuring method, and relative position measuring program

Номер патента: EP4027102A1. Автор: Hiroyuki Toda,Hiraku Nakamura,Tatsuya SONOBE,Kazuki Tsujimoto. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Position measuring system, position measuring device, and position measuring method

Номер патента: US20230161039A1. Автор: Kazutaka Hara,Tomohiro Taniguchi,Atsuko Kawakita. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11828882B2. Автор: Keitarou Amagawa,Yusuke Moriyama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and three-dimensional measurement program

Номер патента: US11941852B2. Автор: Atsushi Hayashi,Nobuo Kochi,Takanari Tanabata,Sachiko ISOBE. Владелец: KAZUSA DNA RESEARCH INSTITUTE FOUNDATION. Дата публикации: 2024-03-26.

Bubble measurement device and bubble measurement method

Номер патента: AU2021230183A1. Автор: Shintaro Ishikawa,Yoshihiko NAKAO. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2022-09-08.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10704899B2. Автор: Shinya Takahashi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-07-07.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program

Номер патента: EP2017572A3. Автор: Hiroyuki Hidaka,Tsukasa Kojima. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2009-03-18.

Permeability measurement jig, permeability measurement device, and permeability measurement method

Номер патента: US11782106B2. Автор: Shingo Tamaru. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-10-10.

Displacement measuring device and speed measuring method of drilling traction robot

Номер патента: US11781420B2. Автор: Jianguo Zhao,Guorong Wang,Qingyou Liu,Haiyan ZHU. Владелец: Chengdu Univeristy of Technology. Дата публикации: 2023-10-10.

Measurement device, printer, and measurement method

Номер патента: US20210190592A1. Автор: Takashi Toya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20220091253A1. Автор: Hiroshi Yoshida,Masaki Nishikawa,Masayoshi OSHIRO,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Bubble measurement device and bubble measurement method

Номер патента: US20230228663A1. Автор: Yoshihiko NAKAO. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-07-20.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20170307358A1. Автор: Yoshio MOTOWAKI. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Temperature sensor, temperature measuring device, and temperature measuring method

Номер патента: US11867458B2. Автор: Manabu NAKAGAWASAI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US11899097B2. Автор: Hiroshi Yoshida,Masaki Nishikawa,Masayoshi OSHIRO,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Defect coordinates measurement device, defect coordinates measurement method, mask manufacturing method, and reference mask

Номер патента: US9638739B2. Автор: Haruhiko Kusunose,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Displacement measuring device and speed measuring method of drilling traction robot

Номер патента: US20220307367A1. Автор: Jianguo Zhao,Guorong Wang,Qingyou Liu,Haiyan ZHU. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-29.

Position measurement device, speed measurement device, and position measurement method

Номер патента: EP4155780A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yusuke Takahashi,Noriyasu Kato,Yohei Hattori,Naoto Seto,Tatsuya Oodake,Yoshiaki YAMASAKI. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-03-29.

Optoelectronic position measurement device and position measurement method

Номер патента: CA2747075C. Автор: Werner Amann. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2013-12-24.

Thz measuring device and thz measurement method for measuring test objects, in particular pipes

Номер патента: US20230314315A1. Автор: Ralph Klose,Jörg Klever. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-10-05.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: EP4354079A1. Автор: Shinji Sato. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: US20150377732A1. Автор: Tomohide Minami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-12-31.

Thz measuring device and thz measuring method for determining a layer thickness or a distance of a measurement object

Номер патента: US20220146251A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2022-05-12.

Oct measuring device and oct measuring method

Номер патента: US20210381818A1. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US12007479B2. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

THz measuring device and THz measuring method for determining a layer thickness or a distance of a measurement object

Номер патента: US11988499B2. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-05-21.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US20230341224A1. Автор: Takeshi Tamura,Tomohiro Kaneko,Munehisa Kodama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20170097267A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200124514A1. Автор: Yusuke Matsuura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Takuya TABUCHI,Kazuna BANDO. Владелец: Rion Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240134045A1. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Surface measuring device and surface measuring method

Номер патента: US20200158502A1. Автор: Cheng-Ting Tsai,Lan-Sheng Yang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US20230016943A1. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4123292A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-01-25.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20210181322A1. Автор: Yutaka Shimizu,Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shigeyasu Iwata,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20180267155A1. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: US20210181024A1. Автор: Norio Hasegawa. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: US11391630B2. Автор: Norio Hasegawa. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

Colour measurement device and colour measurement method

Номер патента: US20170078505A1. Автор: Yasushi Goto,Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-03-16.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20220244558A1. Автор: Makio KURASHIGE,Shumpei NISHIO,Kazutoshi Ishida. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2022-08-04.

Deformation measuring device and deformation measuring method

Номер патента: US20230041474A1. Автор: Kazuaki Watanabe,Daiki Kobayashi,Masafumi Nakagawa,Atsushi Aratake. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: EP4293344A1. Автор: Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada,Manase Mizutani. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-12-20.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US11960101B2. Автор: Makio KURASHIGE,Shumpei NISHIO,Kazutoshi Ishida. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: US20230408400A1. Автор: Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada,Manase Mizutani. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-12-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200284888A1. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Odor measuring device and odor measuring method

Номер патента: US20240210355A1. Автор: Junji Oshita. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2024-06-27.

Battery measurement device and battery measurement method

Номер патента: US20240125863A1. Автор: Masaaki Kitagawa,Isao Ishibe. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US11846632B2. Автор: Masaki Shiba,Hironori KATSUMI,Tsuyoshi Fukuzaki. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: EP4101810A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2022-12-14.

Fine particle measurement device, and laminar flow monitoring method and fine particle analysis method in fine particle measurement device

Номер патента: US20150177113A1. Автор: Nao Nitta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-06-25.

Angle measuring device and angle measuring method

Номер патента: US20230072262A1. Автор: Daisuke Takai,Mitsunobu Inoue,Naoya SHIMADA,Taiki Igarashi. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Robot installation position measurement device, installation position measurement method, robot controller, teaching system, and simulator

Номер патента: US20240091940A1. Автор: Kunihiko Harada. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230078944A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-16.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240103166A1. Автор: Shoji Ichiki. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Noise measuring device and noise measuring method

Номер патента: EP4332590A1. Автор: Toshiaki Makino,Yoshio Kubota. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

pH measuring device and pH measuring method

Номер патента: US11802848B2. Автор: Toshiyuki Shiokawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-31.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: EP4325194A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-21.

Distance measuring device and distance measurement method

Номер патента: US20240159876A1. Автор: Yoshinao Kawai,Masaki Kanemaru,Toshiaki Hiraoka. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-05-16.

Spectroscopic measurement device and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20140009761A1. Автор: Teruyuki Nishimura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-01-09.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20240192082A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-13.

Clearance measurement device and clearance measurement method for combustor

Номер патента: US9618333B2. Автор: Kenta Taniguchi,Yugo Tokunaga. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10746539B2. Автор: Masaki Fujiwara,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-08-18.

Dispersion measuring device, and dispersion measuring method

Номер патента: EP4303548A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-01-10.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: EP4325193A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-21.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: EP3699573A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Kazuhiro Sasaki. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2020-08-26.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240125932A1. Автор: Tomohito Nagata. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-04-18.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US9395178B2. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-07-19.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: EP4102212A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2022-12-14.

Velocity measuring device and velocity measuring method using the same

Номер патента: US20210374983A1. Автор: Jian-An Chen. Владелец: ICatch Technology Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: EP4365546A1. Автор: Tomohito Nagata. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-05-08.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: EP3627120A1. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230096909A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-30.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: EP4086619A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2022-11-09.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Sensor device, water amount measurement device, water amount measurement method, information processing device, and information processing method

Номер патента: US12066461B2. Автор: Atsushi Yamada,Seiji Kobayashi,Sachio Iida,Hiroyuki Mita,Toshiyuki Hiroi,Kyohei Yoshimitsu. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Surface measurement device and surface measurement method

Номер патента: EP3951315A1. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Light wavefront measuring device, light wavefront measuring method and adjusting method for light source device

Номер патента: TW200422651A. Автор: Teruo Fujita,Nobuo Takeshita,Michihiro Tadokoro,Toshiya Matozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-11-01.

Profile gauge, measuring device equipped with the profile gauge, and measurement method

Номер патента: US09575483B2. Автор: Edgar WEPPELMANN,Juergen Kreschel. Владелец: Gleason Pfauter Maschinenfabrik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Distance measuring device, distance measuring method, and program

Номер патента: US20240004072A1. Автор: Haruhiko Terada. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US11287519B2. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2022-03-29.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US20200088863A1. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Mechanical property measurement device, mechanical property measurement method, material production equipment, material management method, and material production method

Номер патента: EP4166941A4. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200371050A1. Автор: Tomihiro Hashizume,Masatoshi Yasutake,Tsunenori Nomaguchi,Takafumi Miwa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-11-26.

Thrust clearance measuring device, thrust clearance measuring method, and marine vessel

Номер патента: EP4316974A4. Автор: Masahiro Shimizu,Saiki Nishiyama,Masashi NAKAIE. Владелец: Japan Marine United Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Time measurement device, fluorescence lifetime measurement device, and time measurement method

Номер патента: EP4174588A4. Автор: Fuminori NIIKURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-17.

Dust measurement device and dust measurement method

Номер патента: EP3862744A1. Автор: Atsushi Ueno,Hidehiko Nakagawa,Shigetomo SUZUKI,Taro Matsuda,Yasuko Yamazaki. Владелец: Akebono Brake Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Time measuring device, fluorescence lifetime measuring device, and time measuring method

Номер патента: EP4170436A4. Автор: Takayuki Inoue,Fuminori NIIKURA,Ayumu YOSHIMI,Ken KITAZAWA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-10.

Feature quantity measuring device, radio wave environment measuring device, feature quantity measuring method, radio wave environment measuring method, and program

Номер патента: US20190166461A1. Автор: Kenta Tsukamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Method and Means for Detecting the Activity of Osteoclasts

Номер патента: US20120003684A1. Автор: Peter Dieter,Ute Hempel,Anne-Helen Lutter. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2012-01-05.

Light source device, distance measuring device, and distance measuring method

Номер патента: US20240337730A1. Автор: Takuya Yokoyama,Shunpei Suzuki. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Molecule Measuring Device and Molecule Measuring Method

Номер патента: US20080289404A1. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: NATIONAL UNVIERSITY Corp HOKKAIDO UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-11-27.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4455722A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Angle measuring device and angle measuring method for scanning device of laser radar

Номер патента: EP4318024A4. Автор: Shaoqing Xiang,Yongfeng Gao. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Optical waveform measurement device and measurement method thereof, complex refractive index measurement device and measurement method thereof, and computer program recording medium containing the program

Номер патента: EP1640709A1. Автор: Shingo NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. SAITO,Masaru NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. IIDA,Masaaki NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. ASHIDA. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2006-03-29.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: US20200333250A1. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-22.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240118418A1. Автор: Kazuki CHIDA. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Surface scan measuring device, surface scan measuring method, surface scan measuring program and recording medium

Номер патента: EP1602895B1. Автор: Takashi c/o MITUTOYO CORPORATION Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2007-08-29.

Light measuring device and light measuring method

Номер патента: US09625389B2. Автор: Masataka Shirai,Koichi Watanabe,Manabu Shiozawa,Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Rope diameter measuring system, rope diameter measuring device, rope diameter measuring method, and program stored in computer readable recording medium

Номер патента: KR102049717B1. Автор: 히로시 사사이,히로요시 기시모토,가즈히로 니시키. Владелец: 미쓰비시덴키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-11-28.

Rope diameter measuring system, rope diameter measuring device, rope diameter measuring method, and program

Номер патента: WO2016072381A1. Автор: 浩之 笹井,博吉 岸本,和博 錦. Владелец: 三菱電機株式会社. Дата публикации: 2016-05-12.

Shape measuring device, shape measuring method, and shape measuring program

Номер патента: US8743374B2. Автор: Takashi Nakatsukasa. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2014-06-03.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US20170180064A1. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-06-22.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: EP2901102A1. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2015-08-05.

Workpiece measuring device and workpiece measuring method

Номер патента: TWI537564B. Автор: Hiroaki Abe,Tomoyuki Kojima,Seiji Yoshizawa. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-11.

Magnetization measurement device and magnetization measurement method

Номер патента: EP4033265A4. Автор: Tatsunori SHINO. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-11-09.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: EP4194840A4. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449B1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2023-09-13.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: EP4365546A4. Автор: Tomohito Nagata. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-09-18.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: US09851224B2. Автор: Satoshi Adachi,Toshihiro Hasegawa,Youhei TOKU. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Beam measurement method and beam measurement device

Номер патента: EP4075849A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A4. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Electromagnetic wave measuring device, electromagnetic wave measuring method, and programs therefor

Номер патента: US20170097262A1. Автор: Akira Oide,Atsushi Shoji,Hiroki Nagashima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-04-06.

WIND SPEED MEASURING DEVICE, WIND SPEED MEASURING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210181230A1. Автор: HANEDA NAOYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-17.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE, THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20200386537A1. Автор: NISHIYAMA Akira. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc.. Дата публикации: 2020-12-10.

3D shape measuring device, 3D shape measuring method and program

Номер патента: JP6994165B2. Автор: 静生 坂本. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-01-14.

Position attitude measurement device, position attitude measurement method, and program

Номер патента: JP2012037391A. Автор: Kazuhiko Kobayashi,一彦 小林,晋二 内山,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-02-23.

Three-dimensional measuring device, three-dimensional measuring method, and program

Номер патента: JP2016080393A. Автор: Toshihiro Kobayashi,俊広 小林,小林　俊広. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-16.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: WO2023105856A1. Автор: 基広 浅野. Владелец: コニカミノルタ株式会社. Дата публикации: 2023-06-15.

3D shape measuring device, 3D shape measuring method and program

Номер патента: KR20190103270A. Автор: 다카시 시미즈,야스히로 오니시. Владелец: 오므론 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-09-04.

Voltage measurement apparatus voltage measurement method and storage medium

Номер патента: GB2612457A. Автор: Li Peng,Zhou Ke,Li Licheng,Zhang Jiaming,Wang Xiaoming,LIU Zhong,WANG Zhiming,LUO Bofeng,Tian Bing,Lv Qiancheng,Yin Xu,Sun Hongdi,Chen Renze. Владелец: Electric Power Res Institute Of Guangxi Power Grid Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Mechanical property measurement device, mechanical property measurement method, material manufacturing facility, material managing method, and material manufacturing method

Номер патента: EP4166251A1. Автор: Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA,Yutaka MATSU. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-19.

Displacement response measuring device and measuring method under impact environment

Номер патента: NL2033377B1. Автор: XU WEI,Yan Ming,SUN He,Wang Yuqi,HAN He,Liu Haichao,Sun Ziqiang,Jin Yingli,Ba Zhongcheng,Wu Zikun. Владелец: Univ Shenyang Technology. Дата публикации: 2023-11-16.

Jitter measuring device, jitter measuring method, recording medium, and program

Номер патента: TW200815767A. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida,Kiyotaka Ichiyama. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2008-04-01.

Displacement response measuring device and measuring method under impact environment

Номер патента: NL2033377A. Автор: XU WEI,Yan Ming,SUN He,Wang Yuqi,HAN He,Liu Haichao,Sun Ziqiang,Jin Yingli,Ba Zhongcheng,Wu Zikun. Владелец: Univ Shenyang Technology. Дата публикации: 2023-06-13.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20240085348A1. Автор: Atsushi Yamada,TAKAHIRO Oishi,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190306046A1. Автор: Yoshitaka Kihara,Takahiro KASAGI,Custodio Jean-Elaine GARCIA,Yuichi TSUIKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US10855571B2. Автор: Yoshitaka Kihara,Takahiro KASAGI,Custodio Jean-Elaine GARCIA,Yuichi TSUIKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-12-01.

Spectroscopic characteristic measurement device, spectroscopic characteristic measurement method, and furnace control method

Номер патента: EP3760991A1. Автор: Yukio Takahashi,Toshifumi Kodama,Shota Amano. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-01-06.

Measuring device and measuring method

Номер патента: EP4283283A1. Автор: Atsushi Yamada,TAKAHIRO Oishi,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Aperture measuring device and an aperture measuring method

Номер патента: US20190017800A1. Автор: Jie Wang,Haifeng Chen,Dingyuan LI,Ruwang Guo. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

MEASURING DEVICE, MEASUREMENT ABNORMALITY DETECTING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210025821A1. Автор: Aoki Youichi,Noda Tetsuya. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Position measuring device, position measurement method, exposure apparatus, exposure method, and superposition measuring device and superposition measurement method

Номер патента: US20020062204A1. Автор: Shinichi Nakajima. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-05-23.

Measuring device, measurement abnormality detecting method, and program

Номер патента: WO2018105607A1. Автор: 洋一 青木,野田　哲也. Владелец: コニカミノルタ株式会社. Дата публикации: 2018-06-14.

Angle measuring device and angle measuring method for scanning device of laser radar

Номер патента: EP4318024A1. Автор: Shaoqing Xiang,Yongfeng Gao. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Position measuring device and position measuring method, mobile body driving system and mobile body driving method, pattern forming device and pattern forming method, exposure device and exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: TW200736574A. Автор: Akihiro Watanabe,Toru Imai,Susumu Makinouchi. Владелец: Sendai Nikon Corp. Дата публикации: 2007-10-01.

Angle measuring device and angle measuring method for scanning device of laser radar

Номер патента: US20240061093A1. Автор: Shaoqing Xiang,Yongfeng Gao. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Dual-dial measurement device and measurement method for viewing angle measurement of optical component

Номер патента: US20230375438A1. Автор: Wei Wang,Yun Qi,Lihua Li,Yi QIU,Keqing LIU,Fuzhi Chen,Huasha Lan,Lisha Wu. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-11-23.

Posture measuring device and posture measuring method, image processing device and image processing method, display device and display method, computer program, and image display system

Номер патента: US20160291688A1. Автор: Tetsuya Hayashi,Naomasa Takahashi,Yoichi Hirota. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-10-06.

Measurement system, measurement device, and measurement method to detect a direction in which fluid flows

Номер патента: US11927463B2. Автор: Yutaka Yano,Makoto Saitoh,Eitaro MISUMI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

People flow measuring device, people flow measuring method, people flow simulation system, people flow simulation method, and people flow simulation program

Номер патента: US20220341765A1. Автор: Masaru Miyamoto,Yusuke Tanaka,Koshin TO,Shinya OI. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Surface shape measuring device, stress measuring device, surface shape measuring method and stress measuring method

Номер патента: JP5459944B2. Автор: 正浩 堀江,久美子 赤鹿. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-02.

Flow rate measuring method, flow rate measuring device, flow rate measuring method, and flow rate measuring device

Номер патента: JP4538163B2. Автор: 栄作 小松,惠一 松島. Владелец: Surpass Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-08.

Sensor device, water amount measurement device, water amount measurement method, information processing device, and information processing method

Номер патента: US20200182906A1. Автор: Atsushi Yamada,Seiji Kobayashi,Sachio Iida,Hiroyuki Mita,Toshiyuki Hiroi,Kyohei Yoshimitsu. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Measuring device and measuring method for continuous physical quantity

Номер патента: CA2767586C. Автор: Yushan Hao. Владелец: Baoding Sanchuan Electric Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-07.

Measuring device and measuring method for continuous physical quantity

Номер патента: US20120109586A1. Автор: Yushan Hao. Владелец: Baoding Sanchuan Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

Thz measuring device and thz measuring method for determining defects in measuring objects

Номер патента: US20220057333A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2022-02-24.

Bubble measurement device and bubble measurement method

Номер патента: AU2021375031A1. Автор: Yoshihiko NAKAO. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-03-30.

THz measuring device and THz measuring method for determining defects in measuring objects

Номер патента: US11835467B2. Автор: Ralph Klose. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2023-12-05.

Measuring method and measuring device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test device for coated metal material

Номер патента: JP6801805B1. Автор: 照朗 浅田,將展 佐々木,重永　勉,勉 重永. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2020-12-16.

Optical characteristic measuring device, optical characteristic measuring method, exposure device, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: KR101193830B1. Автор: 야스시 미즈노,도루 후지이,고지 가이세. Владелец: 가부시키가이샤 니콘. Дата публикации: 2012-10-23.

Optical characteristic measuring device, optical characteristic measuring method, exposure device, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: EP1796142A4. Автор: Toru Fujii,Yasushi Mizuno,Koji Kaise. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-06.

Position measuring device and position measuring method in semiconductor single crystal manufacturing device

Номер патента: US8115908B2. Автор: Toshio Hayashida,Ayumi Kihara,Naoji Mitani. Владелец: Sumco Techxiv Corp. Дата публикации: 2012-02-14.

Time measuring device, fluorescence lifetime measuring device, and time measuring method

Номер патента: US20230288336A1. Автор: Takayuki Inoue,Fuminori NIIKURA,Ayumu YOSHIMI,Ken KITAZAWA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-09-14.

ROTATION NUMBER MEASUREMENT DEVICE, ROTATION NUMBER MEASUREMENT METHOD, AND FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20150292924A1. Автор: Shiraishi Naoyuki. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-15.

A kind of distance-measuring device and its measuring method and actual range measuring method

Номер патента: CN105277935B. Автор: 陈健,陈祝明. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2017-10-03.

Flow velocity measuring device, antigen concentration measuring device, flow velocity measuring method, antigen concentration measuring method

Номер патента: JP4897054B2. Автор: 恒之 芳賀,勉 堀内,倫子 瀬山,弦 岩崎,剛 林,達 三浦,淳一 高橋. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2012-03-14.

Voltage measurement device and voltage measurement method, and voltage control device and voltage control method

Номер патента: JP6627635B2. Автор: 洋平 山口,裕章 武智,貴宏 松浦,圭一 河野,智美 片岡. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2020-01-08.

TIME DIFFERENCE MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: DE602005027381D1. Автор: Fumio Ohtomo,Masahiro Ohishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2011-05-19.

Laser Range Measuring Device, Laser Range Measuring Method and Laser Range Measuring Device

Номер патента: KR20230004200A. Автор: 신웅철. Владелец: 주식회사 맥파이테크. Дата публикации: 2023-01-06.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20240110866A1. Автор: Katsuya Watanabe,Takuma Yokoyama. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-04-04.

Interest level measurement system, interest level measurement device, interest level measurement method, and interest level measurement program

Номер патента: US20120317066A1. Автор: Yoji Miyazaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-12-13.

CONCENTRATION-FACTOR MEASUREMENT DEVICE, CONCENTRATION-FACTOR MEASUREMENT METHOD, AND WATER-QUALITY-INDEX-VALUE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170038358A1. Автор: Mori Shintarou,Shimura Yukimasa. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

Measuring Sensor, Measuring Device, Detection Module, Measuring Method and Calibration Method

Номер патента: US20200309823A1. Автор: Beiner Dirk,Wun Tommy,Lo Benson. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

Optical characteristic measuring device, optical characteristic measuring method, and dual spectral emissivity factor measuring method

Номер патента: WO2010103807A1. Автор: 井村健二. Владелец: コニカミノルタセンシング株式会社. Дата публикации: 2010-09-16.

Sonic velocity measuring method using ultrasonic microscope, sonic velocity measuring device, sonic velocity image acquiring method, and diagnostic imaging device

Номер патента: JP4521585B2. Автор: 和人 小林,直裕 穂積. Владелец: Honda Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-11.

Radio wave measurement system, radio wave measurement device, radio wave measurement method, and radio wave measurement program

Номер патента: JP7168536B2. Автор: 広昭 高橋. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2022-11-09.

Light wavefront measuring device, light wavefront measuring method and adjusting method for light source device

Номер патента: CN1759304A. Автор: 竹下伸夫,的崎俊哉,藤田辉雄,田所通博. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2006-04-12.

Substrate temperature measuring device, substrate temperature measuring method, substrate heating method and heat treatment device

Номер патента: DE19880398T1. Автор: Syusaku Yanagawa,Werner Blersh. Владелец: Steag AST Elektronik GmbH. Дата публикации: 1999-04-01.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, METHOD FOR REVISING OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180143000A1. Автор: YAMAZAKI Hiroshi,FUKUSHIMA Eri,ASADA Takafumi,TATEYAMA Takuya. Владелец: Adamant Namiki Precision Jewel Co., Ltd.. Дата публикации: 2018-05-24.

Posture measuring device and posture measuring method, image processing device and image processing method, display device and display method, computer program, and image display system

Номер патента: US20160291688A1. Автор: Tetsuya Hayashi,Naomasa Takahashi,Yoichi Hirota. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-10-06.

MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT DEVICE, AND CORROSION RESISTANCE TEST METHOD AND CORROSION RESISTANCE TEST APPARATUS FOR COATED METAL MATERIAL

Номер патента: US20210396648A1. Автор: ASADA Teruaki,SASAKI Katsunobu,SHIGENAGA Tsutomu. Владелец: MAZDA MOTOR CORPORATION. Дата публикации: 2021-12-23.

MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT DEVICE, AND CORROSION RESISTANCE TEST METHOD AND CORROSION RESISTANCE TEST APPARATUS FOR COATED METAL MATERIAL

Номер патента: US20210396649A1. Автор: ASADA Teruaki,SASAKI Katsunobu,SHIGENAGA Tsutomu. Владелец: MAZDA MOTOR CORPORATION. Дата публикации: 2021-12-23.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US11709127B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Shaft misalignment measurement device, shaft misalignment measurement method, combined single shaft machine with shaft misalignment measuring device and startup method of single shaft combined system

Номер патента: DE102004047939B4. Автор: SATOSHI Tanaka,Kenyu Takeda,Masamitsu Shimada,Ryutaro Kitagawa,Fumikatsu Inoue. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: EP3929563A1. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2021-12-29.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US11796468B2. Автор: Kazune Mano. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Electric current measuring device, electric current measuring method, and electric current measuring program

Номер патента: US20120112727A1. Автор: Naoki Nagashima,Hayato Motohashi,Hirofumi Hirayama. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2012-05-10.

Magnetic field measuring device, magnetic field measurement method, and recording medium having recorded thereon magnetic field measurement program

Номер патента: US20200003846A1. Автор: Masanori Masuda,Kazuhiro Ishida. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

MAGNETIC FIELD MEASURING DEVICE, MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM HAVING RECORDED THEREON MAGNETIC FIELD MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20200003847A1. Автор: Nakamura Takenobu,Ishida Kazuhiro,Masuda Masanori. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

ABSORBED CALORIE MEASURING DEVICE, ABSORBED CALORIE MEASURING METHOD, AND ABSORBED CALORIE MEASURING PROGRAM

Номер патента: US20220034790A1. Автор: IINAGA Kazuya. Владелец: MEDICAL PHOTONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-02-03.

SENSOR DEVICE, WATER AMOUNT MEASUREMENT DEVICE, WATER AMOUNT MEASUREMENT METHOD, INFORMATION PROCESSING DEVICE, AND INFORMATION PROCESSING METHOD

Номер патента: US20220057435A1. Автор: Yamada Atsushi,Kobayashi Seiji,Mita Hiroyuki,IIDA Sachio,HIROI Toshiyuki,YOSHIMITSU Kyohei. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

Magnetic field measuring device, magnetic field measurement method, and recording medium having recorded thereon magnetic field measurement program

Номер патента: US20210181269A1. Автор: Masanori Masuda,Takenobu Nakamura,Kazuhiro Ishida. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

SENSOR DEVICE, WATER AMOUNT MEASUREMENT DEVICE, WATER AMOUNT MEASUREMENT METHOD, INFORMATION PROCESSING DEVICE, AND INFORMATION PROCESSING METHOD

Номер патента: US20200182906A1. Автор: Yamada Atsushi,Kobayashi Seiji,Mita Hiroyuki,IIDA Sachio,HIROI Toshiyuki,YOSHIMITSU Kyohei. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

CONTACTLESS INTERNAL MEASUREMENT DEVICE, CONTACTLESS INTERNAL MEASUREMENT METHOD, AND INTERNAL MEASUREMENT RESULT DISPLAY SYSTEM

Номер патента: US20200243211A1. Автор: TANAKA Yukinobu. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE, THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING METHOD AND VACUUM EVALUATION DEVICE

Номер патента: US20190360953A1. Автор: Goto Yukihiro,HASEGAWA Toshikazu,CHIBA Isamu. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method, and surface texture measuring program

Номер патента: JP5274782B2. Автор: 孝 野田,博美 出口,直也 菊池. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2013-08-28.

Biological information measuring device, biological information measuring method, and biological information measuring program

Номер патента: JPWO2017104056A1. Автор: 福西　宗憲,宗憲 福西. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Mechanical property measurement device, mechanical property measurement method, material manufacturing facility, material management method, and material manufacturing method

Номер патента: KR20230011347A. Автор: 준지 시마무라,다이치 이즈미,겐지 아다치,가즈키 데라다,유타카 마츠이,다카후미 오제키,히로키 이마나카. Владелец: 제이에프이 스틸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2023-01-20.

Mechanical property measuring device, mechanical property measuring method, substance manufacturing facility, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: WO2021256442A1. Автор: 純二 嶋村,孝文 尾関,大地 泉,健二 安達,穣 松井,一貴 寺田,大輝 今仲. Владелец: Ｊｆｅスチール株式会社. Дата публикации: 2021-12-23.

Optical rotation measurement device, optical rotation measurement method that can be used in optical rotation measurement system, optical rotation measurement optical system, and sample cell for optical rotation measurement

Номер патента: WO2012070646A1. Автор: 博 梶岡. Владелец: 株式会社グローバルファイバオプティックス. Дата публикации: 2012-05-31.

Micro force measuring device, micro force measuring method, and surface shape measuring probe

Номер патента: EP1793197A2. Автор: Hitoshi Omori,Yutaka Watanabe,Shinya Morita,Weimin Lin,Yoshihiro Uehara,Kazutoshi Katahira. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2007-06-06.

3d-shape measurement device, 3d-shape measurement method, and 3d-shape measurement program

Номер патента: EP3067658A4. Автор: Tatsuya Ishii,Hiroki Unten. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-21.

Electric resistance measurement device, electric resistance measurement method and electric resistance calculation device

Номер патента: JP2021050936A. Автор: 正瑛 山▲崎▼,Seiei Yamazaki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

3d-shape measurement device, 3d-shape measurement method, and 3d-shape measurement program

Номер патента: WO2015068470A1. Автор: 弘樹 運天,石井　達也. Владелец: 凸版印刷株式会社. Дата публикации: 2015-05-14.

Flow channel structure, measuring unit, the measuring device of the measuring method of measurement object liquid and measurement object liquid

Номер патента: CN107923926A. Автор: 田口好弘,水口博义,细矢宪. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

3D-shape measurement device, 3D-shape measurement method, and 3D-shape measurement program

Номер патента: CN105705903A. Автор: 石井达也,运天弘树. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-22.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program

Номер патента: EP2017572B1. Автор: Hiroyuki Hidaka,Tsukasa Kojima. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-03-09.

Optical rotation measurement device, optical rotation measurement method that can be used in optical rotation measurement system, optical rotation measurement optical system, and sample cell for optical rotation measurement

Номер патента: TW201239337A. Автор: Hiroshi Kajioka. Владелец: Global Fiberoptics Ltd. Дата публикации: 2012-10-01.

Brake dust measurement device, brake dust measurement method, and brake dust measurement program

Номер патента: WO2022130853A1. Автор: 喜則 大槻,ジョエル ダンツァー,ドミトロ ルガビィ. Владелец: ホリバ ヨーロッパ ゲーエムベーハー. Дата публикации: 2022-06-23.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and three-dimensional measurement program

Номер патента: US20220215585A1. Автор: Atsushi Hayashi,Nobuo Kochi,Takanari Tanabata,Sachiko ISOBE. Владелец: KAZUSA DNA RESEARCH INSTITUTE FOUNDATION. Дата публикации: 2022-07-07.

Stereo distance measuring device, stereo distance measuring method, and stereo distance measuring program

Номер патента: JP6463319B2. Автор: 章弘 山根,陽一 小野村,山根　章弘,晃敏 阪口. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2019-01-30.

3d-shape measurement device, 3d-shape measurement method, and 3d-shape measurement program

Номер патента: EP3067658B1. Автор: Tatsuya Ishii,Hiroki Unten. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-02.

Flow rate measuring device, flow rate measuring method, and flow rate measuring program

Номер патента: JP6493235B2. Автор: 克行 山本,隆平 後藤,秀之 中尾,憲一 半田. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-04-03.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and three-dimensional measurement program

Номер патента: CN113874677A. Автор: 高地伸夫,七夕高也,林笃司,矶部祥子. Владелец: KAZUSA DNA RESEARCH INSTITUTE FOUNDATION. Дата публикации: 2021-12-31.

Mechanical property measuring device, mechanical property measuring method, substance manufacturing facility, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: EP4166252A4. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Relative position measuring device, relative position measuring method, and relative position measuring program

Номер патента: EP4027102A4. Автор: Hiroyuki Toda,Hiraku Nakamura,Tatsuya SONOBE,Kazuki Tsujimoto. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Surface-shape measuring device, surface-shape measuring method and surface-shape measuring program

Номер патента: EP3346232B1. Автор: Takashi Miyawaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20230333007A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Mechanical property measurement device, mechanical property measurement method, material manufacturing facility, material managing method, and material manufacturing method

Номер патента: EP4166251A4. Автор: Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA,Yutaka MATSU. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and three-dimensional measurement program

Номер патента: EP3751230A4. Автор: Takashi Shimizu,Xingdou FU. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2021-10-27.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and three-dimensional measurement program

Номер патента: EP3751230B1. Автор: Takashi Shimizu,Xingdou FU. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2022-05-04.

DEFECT COORDINATES MEASUREMENT DEVICE, DEFECT COORDINATES MEASUREMENT METHOD, MASK MANUFACTURING METHOD, AND REFERENCE MASK

Номер патента: US20130245971A1. Автор: KUSUNOSE Haruhiko,MIYAI Hiroki. Владелец: LASERTEC CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-19.

Magnetic field sensor, as well as magnetic field measurement method, power measurement device, and power measurement method using the same

Номер патента: CN102656471A. Автор: 武长秀树,岩见英司,泽田知行,辻本浩章,吉川启介,福井卓. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-05.

Particle measuring head, particle measuring device and particle measuring method for measuring the particle load of fluids

Номер патента: DE102009030691A1. Автор: Ralf Dipl.-Ing. Grimme (FH),Udo Dr.-Ing. Gommel,Martin Dipl.-Ing. Groening (FH),Stefan Dipl.-Ing. Boos (FH). Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2010-12-30.

Electronic circuit for dimension measuring device, dimension measuring device and dimension measuring method

Номер патента: JP3069789B2. Автор: ジョーディル パスカル,ボリ ジェーン−ルック. Владелец: ブラウン アンド シャープ テサ ソシエテ アノニム. Дата публикации: 2000-07-24.

Particle imager, particle size measuring device, compound particle size measuring device, computer program, particle observation method, and compound particle measuring device

Номер патента: JP6982175B2. Автор: 哲也 森,久 秋山,武 赤松,誠 名倉. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-12-17.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and manufacturing method of substrate

Номер патента: TWI661176B. Автор: 杉浦崇正. Владелец: 日商重機自動化系統有限公司. Дата публикации: 2019-06-01.

X-ray measuring device, X-ray measuring method and machine learning method

Номер патента: JP7200193B2. Автор: 孝訓 村野,文徳 植松. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-06.

Sound corrector, sound measurement device, sound reproducer, sound correction method, and sound measurement method

Номер патента: US8280062B2. Автор: Takashi Fukuda,Yutaka Oki,Kazuyuki Saito,Toshifumi Yamamoto,Norikatsu Chiba,Yasuhiro Kanishima,Shigeyasu Iwata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-10-02.

Electrical characteristic measuring device, electrical characteristic measuring method, blood condition analyzing system, and electrical characteristic measuring program for computerized method

Номер патента: CN107407650B. Автор: 马尔科雷勒·布兰,日高伊佐夫. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-09-11.

Spectroscopic characteristic measurement device, spectroscopic characteristic measurement method, and furnace control method

Номер патента: WO2019168141A1. Автор: 幸雄 ▲高▼橋,児玉　俊文,勝太 天野. Владелец: Ｊｆｅスチール株式会社. Дата публикации: 2019-09-06.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: EP3796042A1. Автор: Tsuneo Suzuki,Hiroshi Yoshida,Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Masayoshi OSHIRO,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-24.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20210088646A1. Автор: Hiroshi Yoshida,Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Masayoshi OSHIRO,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Displacement amount measuring device, displacement amount measuring method, and recording medium

Номер патента: US11846498B2. Автор: Hiroshi Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Spectroscopic characteristic measurement device, spectroscopic characteristic measurement method, and furnace control method

Номер патента: EP3760991B1. Автор: Yukio Takahashi,Toshifumi Kodama,Shota Amano. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-02-21.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20210078537A1. Автор: Tsuneo Suzuki,Hiroshi Yoshida,Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Masayoshi OSHIRO,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Position measurement device, speed measurement device, and position measurement method

Номер патента: EP4155780A4. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yusuke Takahashi,Noriyasu Kato,Yohei Hattori,Naoto Seto,Tatsuya Oodake,Yoshiaki YAMASAKI. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-06-26.

Image projection device, image protection method, distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20120200832A1. Автор: Hiroshi Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-08-09.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210080250A1. Автор: Ohtsuka Kenichi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2021-03-18.

ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE, ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD, BLOOD CONDITION ANALYSIS SYSTEM, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT PROGRAM FOR CAUSING COMPUTER TO EXECUTE THE METHOD

Номер патента: US20180080920A1. Автор: Hidaka Isao,BRUN MARCAURELE. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-22.

Mark position detection device, mark position detection method, overlay measurement device, and overlay measurement method

Номер патента: JP4178875B2. Автор: 洋 青木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-11-12.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: KR20200105475A. Автор: 겐이치 오츠카. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-09-07.

Magnetic field sensor, as well as magnetic field measurement method, power measurement device, and power measurement method using the same

Номер патента: KR101314365B1. Автор: 히데끼 다께나가,에이지 이와미,도모유끼 사와다,히로아끼 쯔지모또,게이스께 요시까와,스구루 후꾸이. Владелец: 파나소닉 주식회사. Дата публикации: 2013-10-04.

Method for measuring the angle of incidence of a light beam, measuring device for carrying out the method, and distance measuring device utilising same

Номер патента: EP0458752B1. Автор: Charles Rheme,Ag Optosys. Владелец: Optosys SA. Дата публикации: 1997-07-23.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TW201930818A. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-01.

Mark position detection device, mark position detection method, superimposing measurement device, and superimposing measurement method

Номер патента: AU2003264338A1. Автор: Hiroshi Aoki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2004-03-11.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: WO2019138614A1. Автор: 賢一 大塚. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2019-07-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TWI766116B. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

Image projection device, image protection method, distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN102648431A. Автор: 今井浩. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-08-22.

THz MEASURING DEVICE AND THz MEASURING METHOD FOR MEASURING A TRANSPORTED MEASURING OBJECT

Номер патента: US20230095853A1. Автор: Marius Thiel. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-03-30.

Robot installation position measurement device, installation position measurement method, robot control device, teaching system, and simulation device

Номер патента: WO2022181688A1. Автор: 邦彦 原田. Владелец: フアナツク株式会社. Дата публикации: 2022-09-01.

Vibration measurement device and vibration measurement method

Номер патента: EP4354100A1. Автор: Hiroyuki Iida,Daisuke Iida,Yoshifumi Wakisaka,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Molecule measuring device and molecule measuring method

Номер патента: EP1780529A4. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2011-11-09.

Electrical measurement cartridge, electrical measurement device, and electrical measurement method

Номер патента: US20190353638A1. Автор: Isao Hidaka,Daisuke Terakado. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2019-11-21.

INTELLECTUAL PRODUCTIVITY MEASUREMENT DEVICE, INTELLECTUAL PRODUCTIVITY MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20130080215A1. Автор: KAWAI Hideki. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2013-03-28.

TRANSMISSION LOSS MEASUREMENT DEVICE, TRANSMISSION LOSS MEASUREMENT METHOD, AND OPTICAL TRANSMISSION SYSTEM

Номер патента: US20170005727A1. Автор: KACHITA Yoshito. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-01-05.

Measuring device and a measuring method for the synchronisation of measurement procedures

Номер патента: US20160018802A1. Автор: STROHMEIER Anton. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

LIQUID SAMPLE MEASUREMENT DEVICE, LIQUID SAMPLE MEASUREMENT METHOD, AND BIOSENSOR

Номер патента: US20160025674A1. Автор: FUJIWARA Masaki,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD ESPECIALLY FOR THE MEASUREMENT OF FMCW SIGNALS

Номер патента: US20160033624A1. Автор: Cirillo Luke,Lagler Andreas,Lohmer Clemens. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

THZ MEASURING DEVICE AND THZ MEASURING METHOD FOR DETERMINING DEFECTS IN MEASURING OBJECTS

Номер патента: US20220057333A1. Автор: KLOSE Ralph. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

SIZE DISTRIBUTION MEASUREMENT DEVICE, SIZE DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD, AND SAMPLE CONTAINER

Номер патента: US20220065766A1. Автор: Minemura Hiroyuki,SUGAYA Masakazu,OSAWA Kentaro,ANZAI Yumiko,Nishihara Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

THREADED SHAFT MEASURING DEVICE, THREADED SHAFT MEASURING METHOD, AND ADJUSTMENT JIG

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Omori Yoshiyuki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-14.

SELF-POSITION MEASURING DEVICE, SELF-POSITION MEASURING METHOD, AND NON-TRANSITORY STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20190056512A1. Автор: YAMANE Akihiro,ONOMURA Yoichi,TOMONAGA Yukinobu,FUKUROSE Takeshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

DISTANCE MEASUREMENT SYSTEM, DISTANCE MEASUREMENT DEVICE, AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200088863A1. Автор: Kato Takayuki,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

THZ MEASURING DEVICE AND THZ MEASURING METHOD FOR DETERMINING A LAYER THICKNESS OR A DISTANCE OF A MEASUREMENT OBJECT

Номер патента: US20220146251A1. Автор: BÖHM Roland. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

PERMEABILITY MEASUREMENT JIG, PERMEABILITY MEASUREMENT DEVICE, AND PERMEABILITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220171002A1. Автор: TAMARU Shingo. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-02.

MEASUREMENT INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM, MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT INFORMATION MANAGEMENT METHOD, AND MEASUREMENT INFORMATION MANAGEMENT PROGRAM

Номер патента: US20150116189A1. Автор: HIRABAYASHI Shinji,Morita Hiroyuki,NAKADAIRA Michio. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

Measurement information management system, measurement device, measurement information management method, and measurement information management program

Номер патента: US20150124571A1. Автор: Shinji Hirabayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

MEASURING JIG, MEASURING DEVICE, AND GAP MEASURING METHOD

Номер патента: US20190137251A1. Автор: KAMEDA Takuro,Nishioka Yasunori,Kataoka Masahito,KONISHI Tetsu,MORIMOTO Hitoshi. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems, Ltd.. Дата публикации: 2019-05-09.

MEASUREMENT DEVICE AND FEATURE MEASUREMENT METHOD OF OBJECT TO BE MEASURED EMPLOYING SAME

Номер патента: US20140252235A1. Автор: Kamba Seiji,Kondo Takashi. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2014-09-11.

Temperature Measuring Device and Temperature Measuring Method for Measuring Temperature of Molten Metals

Номер патента: US20200158575A1. Автор: Sun Jie,Liang Bin,XIE Qixian,Zhang Jiu,Mei Guohui. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

Positional change measurement device, positional change measurement method, and image forming apparatus

Номер патента: US20140268180A1. Автор: Takeshi Ueda,Koichi Kudo,Kenichi Shimizu,Asato Tamura,Koji Masuda,Atsushi Takaura,Taku Amada,Yasuhiro Nihei. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Terahertz measuring device and terahertz measuring method for measuring objects to be inspected

Номер патента: US20200173766A1. Автор: Marius Thiel. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2020-06-04.

DISPLACEMENT AMOUNT MEASURING DEVICE, DISPLACEMENT AMOUNT MEASURING METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20210239458A1. Автор: Imai Hiroshi. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2021-08-05.

COMMUNICATION STATUS MEASUREMENT DEVICE, COMMUNICATION STATUS MEASUREMENT METHOD AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM

Номер патента: US20150263924A1. Автор: Thapliya Roshan. Владелец: FUJI XEROX CO., LTD.. Дата публикации: 2015-09-17.

LIQUID SAMPLE MEASUREMENT DEVICE, LIQUID SAMPLE MEASUREMENT METHOD, AND BIOSENSOR

Номер патента: US20190250119A1. Автор: FUJIWARA Masaki,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-15.

DISTANCE-MEASURING SYSTEM, DISTANCE-MEASURING DEVICE AND DISTANCE-MEASURING METHOD

Номер патента: US20200309941A1. Автор: YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Makari Hiroo. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

ELECTRICAL MEASUREMENT CARTRIDGE, ELECTRICAL MEASUREMENT DEVICE, AND ELECTRICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190353638A1. Автор: Hidaka Isao,Terakado Daisuke. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-21.

Electrochemical measurement system, electrochemical measurement device, and electrochemical measurement method

Номер патента: US20180364190A1. Автор: Masahiro Yasumi,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-20.

DEFOCUS AMOUNT MEASURING DEVICE, DEFOCUS AMOUNT MEASURING METHOD, DEFOCUS AMOUNT MEASURING PROGRAM, AND DISCRIMINATOR

Номер патента: US20200404186A1. Автор: Wakui Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Abrasion-loss measuring device, abrasion-loss measuring method, abrasion-loss measuring program, and recording medium

Номер патента: WO2011099337A1. Автор: 茂人 丸本,秀之 若井,幸弘 須崎,大二郎 伊藤,朋征 椿,健一 久松. Владелец: 株式会社小松製作所. Дата публикации: 2011-08-18.

Temperature measuring probe, temperature measuring device, and temperature measuring method

Номер патента: JP5455781B2. Автор: 薫 小嶋. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-03-26.

Transmission characteristic measuring device, transmission characteristic measuring method, and amplifier

Номер патента: EP1501334A1. Автор: Michiaki SONY CORPORATION YONEDA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-01-26.

Temperature measurement probe, temperature measurement device, and temperature measurement method

Номер патента: JP2011242287A. Автор: 薫 小嶋,Kaoru Kojima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-01.

Extractor for oil measurement, full-automatic ultraviolet oil measurement device and oil measurement method thereof

Номер патента: CN114062292A. Автор: 梁宵,宋兴伟,郁建桥. Владелец: JIANGSU ENVIRONMENTAL MONITORING CENTER. Дата публикации: 2022-02-18.

Measuring jig, measuring device, and gap measuring method

Номер патента: JPWO2017199795A1. Автор: 仁志 森本,靖記 西岡,哲 小西,拓郎 亀田,片岡　正人,正人 片岡. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2018-11-22.

Measuring device, engineering machinery, measuring method and controller

Номер патента: CN114111700A. Автор: 刘晓东,黄建华,侯志强,周忠尚. Владелец: Jiangsu XCMG Construction Machinery Institute Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-01.

A measuring device and a measuring method for measuring three-dimensional coordinates of points on surface of an object

Номер патента: TWI688744B. Автор: 馮玉忠. Владелец: 鴻海精密工業股份有限公司. Дата публикации: 2020-03-21.

Outside dimension measuring device, outside dimension measuring method, and computer program product

Номер патента: DE102015009471B4. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Distance-measuring system, distance-measuring device, and distance-measuring method

Номер патента: JP2020159766A. Автор: Hiroshi Yoshida,弘 吉田,章二 大高,Shoji Otaka,吉田　弘,Masaki Nishikawa,正樹 西川,弘夫 真狩,Hiroo Magari,西川　正樹,与晴 仁藤,Tomoharu Nito,大高　章二. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Resistance measurement circuit, measurement device and resistance measurement method

Номер патента: DE102020004075A1. Автор: Stefan Nickl. Владелец: Diehl Metering GmbH. Дата публикации: 2022-01-13.

Thickness measuring probe, thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: CN115077401B. Автор: 杨灏,金少峰,王三宏. Владелец: Shenzhen Sincevision Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-02.

Blood component measuring device, blood component measuring method, and biosensor

Номер патента: JP6182155B2. Автор: 雅樹 藤原,智浩 山本,山本　智浩. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-16.

Thrust gap measurement device, thrust gap measurement method, and vessel

Номер патента: JP2022158220A. Автор: Masahiro Shimizu,Toshitaka Nishiyama,政宏 清水,才貴 西山,正史 中家,Masashi NAKAIE. Владелец: Japan Marine United Corp. Дата публикации: 2022-10-17.

Waveguide mode measuring device, waveguide mode measuring method, and waveguide system

Номер патента: JP7186932B2. Автор: 秀憲 湯川,伸一 山本,宏昌 中嶋. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-12-09.

Measurement device and feature measurement method of object to be measured employing same

Номер патента: EP2755017A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-16.

Three-dimensional measuring device, three-dimensional measuring method, and storage medium

Номер патента: CN109751973B. Автор: 诹访正树,付星斗. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-12-11.

Transmission characteristic measuring device transmission characteristic measuring method, and amplifier

Номер патента: US20060100809A1. Автор: Michiaki Yoneda. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2006-05-11.

Shape measuring device and shape measuring method capable of reducing the influence of external temperature changes and achieving high-precision shape measurement

Номер патента: TW202040097A. Автор: 高娜,宮武勤. Владелец: 日商住友重機械工業股份有限公司. Дата публикации: 2020-11-01.

Wavefront measurement device and wavefront measurement method

Номер патента: EP4242621A1. Автор: Toshiyuki Ando,Takao Endo,Akihiro FUJIE,Yoshichika MIWA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

Acoustic measurement device and acoustic measurement method

Номер патента: US20100162819A1. Автор: Takayuki Kojima,Hideyuki Taguchi,Mikiya Araki,Seiichi Shiga,Tomio Obokata,Yusuke Sone. Владелец: Gunma University NUC. Дата публикации: 2010-07-01.

SOLID STATE IMAGING DEVICE, DISTANCE MEASURING DEVICE, AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20130242087A1. Автор: KANEMITSU Shiroshi,Ashitani Tatsuji,IIZUKA Miho. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2013-09-19.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE, DISTANCE MEASURING DEVICE, AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220057490A1. Автор: ISHII Motonori,KASUGA Shigetaka. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

FINE PARTICLE MEASUREMENT DEVICE, AND LAMINAR FLOW MONITORING METHOD AND FINE PARTICLE ANALYSIS METHOD IN FINE PARTICLE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20150177113A1. Автор: Nitta Nao. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2015-06-25.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE, DISTANCE MEASUREMENT DEVICE, AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180246214A1. Автор: SAITOU Shigeru,KOYAMA Shinzo,TAKEMOTO Masato,ISHII Motonori. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-30.

Optical measuring device and optical measuring method for a stereoscopic display device

Номер патента: DE102010061535A1. Автор: Jae Hong Kim,Kyong Ho Lim,Don Gyou Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

Spread angle measurement device, spread angle measurement method, laser device, and laser system

Номер патента: EP3605039A1. Автор: Hikaru Hidaka. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2020-02-05.

Solid state imaging device, distance measuring device, and distance measuring method

Номер патента: US9148595B2. Автор: Shiroshi Kanemitsu,Tatsuji Ashitani,Miho IIZUKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-29.

A kind of test method, measuring device and the measuring method of vehicle rotary drum differential mechanism performance

Номер патента: CN107957338A. Автор: 张强,张凯,杨超,杜宇,白云龙,张新亮,张艳辉,徐思远,尹东升,高培龙,邱宏凯,翟砚烽,杨金民,范宝庆,代国勇,刘长峰,李日成,宋贵涛,马良琳. Владелец: Harbin Dongan Automotive Engine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Signal processing device, distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: JP2022058663A. Автор: Takashi Ida,孝 井田,賢造 五十川,淳 松村,Jun Matsumura,Kenzo Isogawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-04-12.

Spread angle measurement device, spread angle measurement method, laser device, and laser system

Номер патента: JP2018163014A. Автор: 輝 日高,Teru Hidaka. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP3736540C0. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-19.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP3736540B1. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-19.

Solid-state imaging device, distance measuring device, and distance measuring method

Номер патента: US11965987B2. Автор: Motonori Ishii,Shigetaka Kasuga. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP4382858A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Light measurement device and light measurement method

Номер патента: EP3745114A1. Автор: Kengo Suzuki,Kazuya Iguchi,Shigeru EURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-12-02.

Measuring device, measuring coordinate setting method and measuring coordinate number calculating method

Номер патента: JP5450180B2. Автор: 眞 小野. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-03-26.

Balance and oscillation adjustment system for rotary tool, balance and oscillation measurement device, balance and oscillation adjustment method, and tool holder

Номер патента: EP3760372A1. Автор: Kouichi Uemura,Yukio Tsujita,Masataka YAUCHI,Reina OOHASHI,Shunsuke KUMASAKI,Akihito FUNASHOKU. Владелец: Big Daishowa Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-06.

Measurement instrument, measurement method, measurement system, and program

Номер патента: US20170097277A1. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-04-06.

Image measuring method, system, device, and program

Номер патента: US09646223B2. Автор: Akari SATO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

PRESSURE-MEASURING DEVICE AND PRESSURE-MEASURING METHOD FOR A TURBOMACHINE

Номер патента: US20130139578A1. Автор: Schroer Frank,HOEHNE Peter. Владелец: ROLLS-ROYCE DEUTSCHLAND LTD & CO KG. Дата публикации: 2013-06-06.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20130194572A1. Автор: Kenji Goto,Hideaki Yamada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-08-01.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20130222577A1. Автор: YAMANAKA Yuji,MASUDA Kensuke. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

ERROR MEASURMENT DEVICE AND ERROR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130282328A1. Автор: Ono Shunro,Iuchi Yukihiro,Sato Ryuta. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2013-10-24.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130342849A1. Автор: Shioda Tatsutoshi. Владелец: National University Corporation Nagaoka University of Technology. Дата публикации: 2013-12-26.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140009761A1. Автор: Nishimura Teruyuki. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140036956A1. Автор: GOTO Kenji. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD WITH COUPLED DISPLAY

Номер патента: US20140095116A1. Автор: Keller Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-03.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220003849A1. Автор: Tayu Kenichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-06.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20150003491A1. Автор: MATSUMOTO Hidenori. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2015-01-01.

SPEED MEASUREMENT DEVICE AND SPEED MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200003887A1. Автор: MATSUMURA Takafumi,SATOU Masayuki. Владелец: Hitachi Automotive Systems, Ltd.. Дата публикации: 2020-01-02.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150006107A1. Автор: GOTO Kenji,YAMADA Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

PLANAR MOTOR ROTOR DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND ITS MEASURING METHOD

Номер патента: US20150012242A1. Автор: Zhu Yu,Zhang Ming,Hu Jinchun,Yin Wensheng,Yang Kaiming,Xu Dengfeng,Mu Haihua,LIU Zhao,CHEN Longmin,Hu Chuxiong. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

MICROCHIP, MICROPARTICLE MEASURING DEVICE, AND MICROPARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210018424A1. Автор: Kajihara Junji,Okamoto Yoshiki. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2021-01-21.

DISTANCE MEASURING DEVICE, AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210026012A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: US20170029002A1. Автор: Takashi Iwamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-02-02.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190033067A1. Автор: Yamagami Tsuyoshi,Shimodaira Masato. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-31.

DIVERGENCE ANGLE MEASUREMENT DEVICE, DIVERGENCE ANGLE MEASUREMENT METHOD, LASER APPARATUS, AND LASER SYSTEM

Номер патента: US20200033188A1. Автор: Hidaka Hikaru. Владелец: FUJIKURA LTD.. Дата публикации: 2020-01-30.

GLITCH MEASUREMENT DEVICE AND GLITCH MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200033406A1. Автор: Wang Ting-Hao,LEE Po-Chen. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

FRET MEASUREMENT DEVICE AND FRET MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150044690A1. Автор: Doi Kyouji,Asano Yumi,Ohba Yusuke,Nakada Shigeyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

FRET MEASUREMENT DEVICE AND FRET MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150044763A1. Автор: Doi Kyouji,Asano Yumi,Ohba Yusuke,Nakada Shigeyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220057203A1. Автор: Tayu Kenichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20180045571A1. Автор: Masataka Shirai,Koichi Watanabe,Manabu Shiozawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-15.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220066033A1. Автор: Kondo Tomonori,KAJII Yosuke. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2022-03-03.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210055160A1. Автор: ZHUANG TUO. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

LOAD MEASURING DEVICE AND LOAD MEASURING METHOD

Номер патента: US20210055193A1. Автор: NAGASAWA Kaoru,NUKUI Kotaro,SHIGENO Suguru. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

COLOR MEASUREMENT DEVICE AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170052068A1. Автор: Nagai Yoshiroh. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2017-02-23.

Portable noise measuring device and noise measuring method

Номер патента: US20180054674A1. Автор: Sung Uk CHOI,Young Key Kim,Sung Gyoo CHOI,Se Min MOON,Ki Ho JANG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-02-22.

CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND CURRENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150061642A1. Автор: TSUBATA Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220075062A1. Автор: TAKASHIMA Jun,KANETANI Yoshihiro. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2022-03-10.

ENVIRONMENT MEASURING DEVICE AND ENVIRONMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20160061777A1. Автор: Takasu Ryozo. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2016-03-03.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220082694A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu,Katagiri Hisaaki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2022-03-17.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200064451A1. Автор: MATSUI Yuki,NAKAMURO Ken,Zappa Franco,VILLA Federica,LUSSANA Rudi. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210074015A1. Автор: Miyamoto Ken. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2021-03-11.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180073928A1. Автор: TSUE Mitsuhiro,NAKAYA Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220091253A1. Автор: YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Oshiro Masayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-24.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210078537A1. Автор: Kato Takayuki,YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,SUZUKI Tsuneo,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Oshiro Masayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

COLOUR MEASUREMENT DEVICE AND COLOUR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170078505A1. Автор: GOTO Yasushi,Nagai Yoshiroh. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2017-03-16.

Color Measuring Device And Color Measuring Method

Номер патента: US20180080829A1. Автор: TANIMURA YASUTAKA,BANDO Ryoji. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

ELECTROOPTICAL DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160084651A1. Автор: HINDERLING Jürg,SINGER Julien. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-24.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200081088A1. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-12.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210088646A1. Автор: Kato Takayuki,YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Oshiro Masayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210088660A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

POROSITY MEASURING DEVICE AND POROSITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20140174157A1. Автор: KAWANO Makoto,Watarai Hitoshi. Владелец: OSAKA UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-06-26.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200088853A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200088854A1. Автор: Keitarou Amagawa,Yusuke Moriyama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20170097267A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210104032A1. Автор: IMAGAWA Taro,Maruyama Yuki,NODA Akihiro,KUSAKA Hiroya. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-08.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220170800A1. Автор: Seyama Michiko,Tanaka Yujiro,Matsunaga Daichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-02.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150116707A1. Автор: TATSUDA Tetsuo. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160116305A1. Автор: MIYAZAWA Fuyuki,HAMAMOTO Takaki,Oyama Katsuhiro,HAGIWARA Yasuhito. Владелец: TAIYO YUDEN CO., LTD.. Дата публикации: 2016-04-28.

DYE MEASUREMENT DEVICE AND DYE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180128684A1. Автор: KAWANO Yoshihiro. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-05-10.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180128918A1. Автор: Kubota Hiroshi,OTA Yutaka,Hirono Masatoshi,MATSUMOTO Nobu,UCHIYAMA Mineharu,OHTSUKA Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200124514A1. Автор: KATO Haruhisa,Matsuura Yusuke,TABUCHI Takuya,KONDO Kaoru,BANDO Kazuna. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-23.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: US20140218751A1. Автор: QI Wu,Koji Omichi,Hideki Soejima,Yoji Okabe,Ryujiro NOMURA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2014-08-07.

PATTERN MEASUREMENT DEVICE AND PATTERN MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140224986A1. Автор: Shindo Hiroyuki,SHIBAHARA Takuma,OIKAWA Michio,SUGAHARA Hitoshi,Hojo Yutaka. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-14.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220291371A1. Автор: Nakano Hiroaki,TANAKA Masayuki,Omae Uichiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: US20210181024A1. Автор: Norio Hasegawa. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210181322A1. Автор: Kato Takayuki,Shimizu Yutaka,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Iwata Shigeyasu,SETO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-17.

LOAD MEASURING DEVICE AND LOAD MEASURING METHOD

Номер патента: US20190154528A1. Автор: Kawaguchi Koji,NARITA Junichi,SUGIHARA Kohei. Владелец: FUJI CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-23.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190154815A1. Автор: OOHATA TOYOHARU. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-23.

MEASUREMENT DEVICE, PRINTER, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210190592A1. Автор: TOYA Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND SPEED MEASURING METHOD OF DRILLING TRACTION ROBOT

Номер патента: US20220307367A1. Автор: Liu Qingyou,Zhao Jianguo,ZHU Haiyan,WANG Guorong. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180165815A1. Автор: MURASHITA Kimitaka,OKADA Yasutaka. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-06-14.

STRESS MEASURING DEVICE AND STRESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20200158493A1. Автор: LEE Cheng-Chung,Yeh Wen-Yung,Pan Cheng-Ta,Ko Hung-Hsien,Chiang I-Hung. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2020-05-21.

SURFACE MEASURING DEVICE AND SURFACE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200158502A1. Автор: Yang Lan-Sheng,Tsai Cheng-Ting. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

FREQUENCY MEASUREMENT DEVICE AND FREQUENCY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150177295A1. Автор: HO Tzong-Hsien. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2015-06-25.

Size measurement device and size measurement method

Номер патента: US20150187091A1. Автор: Yuuji Toyomura,Takahiro Shoji,Ryouta Hata. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190182430A1. Автор: Nakamura Yusuke,Yamaguchi Keita. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140278201A1. Автор: Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-09-18.

PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200182723A1. Автор: NAKAGAWA Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

CLEARANCE MEASUREMENT DEVICE AND CLEARANCE MEASUREMENT METHOD FOR COMBUSTOR

Номер патента: US20150204656A1. Автор: Taniguchi Kenta,TOKUNAGA Yugo. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

OPTICAL MEASURING DEVICE AND OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20140293273A1. Автор: Dowaki Suguru,Suzuki Shunpei,Hashimoto Gakuji,Imanishi Shingo. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160209200A1. Автор: KANAYAMA Yasuto. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-07-21.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20160209242A1. Автор: ADACHI Satoshi,HASEGAWA Toshihiro,TOKU Youhei. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-21.

MICROPARTICLE MEASURING DEVICE AND MICROPARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190195772A1. Автор: Tahara Katsutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-27.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170212047A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru,IKEMURA Kenichiro. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2017-07-27.

LEVELNESS MEASURING DEVICE AND LEVELNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20190204061A1. Автор: YANG WEI-DA,LV XIAO-MING,JIANG SHU-FA,WU GUO-HUA. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190204304A1. Автор: Katsumi Hironori,Fukuzaki Tsuyoshi,SHIBA Masaki. Владелец: SYSMEX CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-04.

VOLUME MEASURING DEVICE AND VOLUME MEASURING METHOD

Номер патента: US20150226593A1. Автор: Ikeda Yuji. Владелец: IMAGINEERING, INC.. Дата публикации: 2015-08-13.

POSITION MEASURING DEVICE AND POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20150226852A1. Автор: TAKAI Toshihisa,MIYAZAKI Masahito. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2015-08-13.

ACCELERATOR PLAY MEASUREMENT DEVICE, ACCELERATOR PLAY MEASUREMENT METHOD, PROGRAM, AND MEDIUM

Номер патента: US20210247272A1. Автор: WATANABE Kenji,SHIMIZU Tsuyoshi,KODAMA Akihiko. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

Deflection measuring device and deflection measuring method

Номер патента: US20150233706A1. Автор: Hidenori Sato,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

INFLUENCE MEASUREMENT DEVICE AND INFLUENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180225704A1. Автор: Kobayashi Jun,ANAMI Shinichi. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2018-08-09.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190219695A1. Автор: Matoba Kenichi,Kondo Tomonori,KAJII Yosuke. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-07-18.

MEASURING DEVICE AND PESTICIDES MEASUREMENT METHOD FOR AGRICULTURAL PRODUCTS

Номер патента: US20210255109A1. Автор: Andrzejewski Damian,WROBEL Maciej,KARPIENKO Katarzyna,MARKIEWICZ Natalia. Владелец: Rambox Sp. z o.o.. Дата публикации: 2021-08-19.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD WITH USER DIALOGS CAPABLE OF BEING ADAPTED IN SIZE AND INFORMATION CONTENT

Номер патента: US20150242109A1. Автор: Reich Friedrich,MÜSSIG Rene,MAYET Ferdinand. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-27.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190227141A1. Автор: Nishikawa Masaki. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

GAS MEASUREMENT DEVICE AND GAS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210262929A1. Автор: Mano Kazune. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180239022A1. Автор: LENG Yao-Shih,Lee Yung-Shen. Владелец: MSI Computer (Shenzhen) Co., Ltd. Дата публикации: 2018-08-23.

STITCHING-MEASUREMENT DEVICE AND STITCHING-MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210278201A1. Автор: Jia Xin,XING Tingwen,Xu Fuchao,GAN Dachun. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

Backlash measurement device and backlash measurement method

Номер патента: US20150260608A1. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-17.

IMAGE MEASUREMENT DEVICE AND IMAGE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150262384A1. Автор: Sato Yoshikuni,MOTOMURA Hideto,ADACHI Yasuhiko. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20140343887A1. Автор: SHIMIZU Sakiko. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-20.

SCINTILLATOR UNIT, RADIATION MEASURING DEVICE, AND RADIATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20200241153A1. Автор: KATO Yuka,Ogata Yoshimune,Minowa Haruka. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2020-07-30.

CAPACITANCE MEASURING DEVICE AND CAPACITANCE MEASUREMENT METHOD FOR DIELECTRIC ELASTOMER

Номер патента: US20170268939A1. Автор: Orita Atsuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180267154A1. Автор: Kato Takayuki,Shimizu Yutaka,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Iwata Shigeyasu,SETO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-20.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180267155A1. Автор: Shimizu Yutaka,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,SETO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-20.

Test Set for a Photometric Measuring Device, and Photometric Measuring Method for a Sample Liquid

Номер патента: US20150285741A1. Автор: Bonecker Gerhard. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20170276772A1. Автор: TOKUDA Yoshikatsu. Владелец: TOPCON CORPORATION. Дата публикации: 2017-09-28.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210356548A1. Автор: Nishikawa Masaki. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-18.

WEIGHT MEASURING DEVICE AND THE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180274966A1. Автор: Jurík Tomás,Urban Frantisek,Helán Radek. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

OCT MEASURING DEVICE AND OCT MEASURING METHOD

Номер патента: US20210381818A1. Автор: YOKOYAMA Jun,TAKECHI YOHEI. Владелец: . Дата публикации: 2021-12-09.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190271642A1. Автор: TAKAHASHI Hironori,Kawada Yoichi,Nakanishi Atsushi,FUJITA Kazuue,SATOZONO Hiroshi,HORITA Kazuki. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2019-09-05.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170284788A1. Автор: MATSUOKA Hideki,KANNAKA Masato,TAHARA Kazuhiko,MORIOKA Noritaka,TSUNAKI Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-05.

TEMPERATURE MEASUREING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210389185A1. Автор: Lee Ching-Feng,HU JA-SON. Владелец: . Дата публикации: 2021-12-16.

SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200271585A1. Автор: YAMAMOTO Takeshi,Sasaki Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND CURRENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150301088A1. Автор: Takei Fumio,SONEDA Hiromitsu. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-22.

Light Measuring Device and Light Measuring Method

Номер патента: US20160299080A1. Автор: WATANABE Koichi,OSAWA Kentaro,SHIOZAWA Manabu,SHIRAI Masataka. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-13.

Pattern Measurement Device and Pattern Measurement Method

Номер патента: US20200278615A1. Автор: Yamamoto Takuma,Nojiri Masaaki,OHTA Hiroya,TANIMOTO Kenji,ABE Yusuke,TAMORI Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190285400A1. Автор: TAKASHIMA Jun,Kondo Tomonori. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-09-19.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200284888A1. Автор: Shimizu Yutaka,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,SETO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-10.

STANDALONE ON-BOARD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, AND PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200290411A1. Автор: FANTON Nicolas,COUTURIER Emmanuel,BICKARD Thierry. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

Pattern Measurement Device and Pattern Measurement Method

Номер патента: US20200292308A1. Автор: Yamamoto Takuma,OHTA Hiroya,TANIMOTO Kenji,TAMORI Tomohiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-17.

THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170307358A1. Автор: Motowaki Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

SPECTROSCOPE, WAVELENGTH MEASURING DEVICE, AND SPECTRUM MEASURING METHOD

Номер патента: US20190301938A1. Автор: Konishi Tsuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Velocity Measurement Device and Velocity Measurement Method

Номер патента: US20150331006A1. Автор: Urata Jyunichi,Inaba Masayuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-19.

SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200309801A1. Автор: SHIBA Masaki,KOTAKE Hiroki,KATO Akihito. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20170329009A1. Автор: LIU Tze-An,HSU PO-ER,Lee Hau-Wei,Liou Huay-Chung,Pan Shan-Peng. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

OPTICAL MEASURING DEVICE AND OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20200318948A1. Автор: Imaizumi Ryoichi,TANIGUCHI Ichiro. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-08.

DIMENSION MEASUREMENT DEVICE AND DIMENSION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170336195A1. Автор: ISHIHARA Takeshi,Suzuki Akihiro,Ikeda Yutaka,Moriyama Takaaki,OHTSUBO Shohji. Владелец: PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LT D.. Дата публикации: 2017-11-23.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190323829A1. Автор: FUJIWARA Masaki,Suenaga Tsuyoshi. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190323830A1. Автор: Takahashi Shinya. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190323831A1. Автор: FUJIWARA Masaki,Natori Kazuki. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

A MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD FOR DETERMINING AN ACTIVE CHANNEL

Номер патента: US20150351097A1. Автор: SCHMIDT Stefan. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2015-12-03.

FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200333250A1. Автор: Yamauchi Toyohiko,YAMADA Hidenao. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-10-22.

GAP MEASUREMENT DEVICE AND GAP MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180347973A1. Автор: Kubota Takahiro,Sasano Yuichi,GOTO Takuya,Yoshitomi Kei. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

LIGHT MEASUREMENT DEVICE AND LIGHT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200340862A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-10-29.

LIGHT MEASUREMENT DEVICE AND LIGHT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200348178A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-11-05.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20150377732A1. Автор: Minami Tomohide. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2015-12-31.

SPECTRUM MEASURING DEVICE AND SPECTRUM MEASURING METHOD

Номер патента: US20150377770A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru,IKEMURA Kenichiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND CURRENT MEASUREMENT METHOD USING NANOPORE

Номер патента: US20190353636A1. Автор: Goto Yusuke,Akahori Rena,Fujioka Michiru,YOKOI Takahide,MATSUI Kazuma. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-21.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190353754A1. Автор: Moriyama Yusuke,Namba Kazuhide. Владелец: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-21.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US20180364021A1. Автор: Yuki Takahashi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-12-20.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190361124A1. Автор: Ogawa Riki,NAGAHAMA Hiroyuki,SAITO Michiyo. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2019-11-28.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200371050A1. Автор: Nomaguchi Tsunenori,Miwa Takafumi,HASHIZUME Tomihiro,YASUTAKE Masatoshi. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-26.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: US20190378299A1. Автор: Hideaki Uchiyama,Naoki Nagamoto,Takao Kakehashi,Kentaro Tokura,Motohiro Ikehara. Владелец: Sumitomo Mitsui Construction Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-12.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200386973A1. Автор: Tabata Seiichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190391237A1. Автор: IKEZAWA KATSUYA. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-26.

Pressure measurement device and pressure measuring method for a turbomachinery

Номер патента: EP2600130B1. Автор: Frank Schröer,Peter HÖHNE. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2016-02-03.

Backlash measuring device and backlash measuring method

Номер патента: JP5903498B2. Автор: 英夫 鈴木,一成 稲森,田中　進,進 田中,誠一郎 中,祐二 瀬崎. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-13.

Elastic constant measuring device, elastic constant measuring method, program, and computer-readable storage medium

Номер патента: JP4700475B2. Автор: 直也 浜田,泰昭 永田,昇平 橋口. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2011-06-15.

Extracellular potential measuring device, extracellular potential measuring method using the same, and high-speed drug screening apparatus equipped with the same

Номер патента: JPWO2002055653A1. Автор: 岡　弘章,小川　竜太,行政　哲男,杉原　宏和,小西　聡,慈幸　秀保,尾崎　亘彦,江本　文昭. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2004-05-20.

Displacement difference solution density measuring device and its measuring method

Номер патента: CN105675437B. Автор: 唐勇,张昊,朱宗铭,梁亮,庞佑霞,唐壮,许焰. Владелец: Changsha University. Дата публикации: 2018-07-03.

Scattering measurement device and scattering measurement method

Номер патента: CN113124751B. Автор: 周钰颖. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-29.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: DE102005028570B4. Автор: Dr. Barenz Joachim,Dr. Tholl Hans Dieter. Владелец: Diehl BGT Defence GmbH and Co KG. Дата публикации: 2012-12-13.

Electromagnetic levitation type bridge pier top deviation measurement device and its measuring method

Номер патента: CN106500676A. Автор: 高建明,徐赵东,陈齐风,郝天之,刘世建,黎力韬,杨雨厚,王龙林,梁茜雪,于孟生,鞠玉财. Владелец: Guangxi Transportation Research Institute. Дата публикации: 2017-03-15.

Vehicle distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3669524B2. Автор: 正一 田中,宏司 藤岡,雅平 赤須. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2005-07-06.

Level measuring device and a measuring method

Номер патента: KR101448435B1. Автор: 신언호,신동성,송성석. Владелец: 송성석. Дата публикации: 2014-10-21.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: KR102314935B1. Автор: 겐고 스즈키,가즈야 이구치,시게루 에우라,겐이치로 이케무라. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-10-21.

Atmospheric turbulence height and angle anisoplanatism wavefront error synchronization measurement device and synchronization measurement method

Номер патента: CN105466576A. Автор: 李敏,魏凯,张雨东,晋凯,江长春,郑文佳,周璐春. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2016-04-06.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP6880513B2. Автор: 潤 ▲高▼嶋,智則 近藤. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-06-02.

A kind of pipeline flow resistance measuring device and its measuring method

Номер патента: CN108132135A. Автор: 王晓东,李涛,王智刚,刘加成,于炳军,张玉卓. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2018-06-08.

Antenna measuring device and antenna measuring method

Номер патента: JPH071290B2. Автор: 実 田島,孝至 片木,正人 井上,晋啓 折目. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1995-01-11.

Plastics weldment airtightness measurement device and its measurement method

Номер патента: CN110285938A. Автор: 朱立华,章富贵,段聪军. Владелец: Roechling Automotive Parts (kunshan) Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-27.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: JP4734398B2. Автор: 勝 赤松,康秀 中井,英久 橋爪. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2011-07-27.

Fluid measurement device and fluid measurement method

Номер патента: KR101191975B1. Автор: 다이시 우에노,켄지 무타,마사즈미 타노우라,아츠시 타키타,타다시 아오키,미츠노부 세키야,히카루 츠카코시,키요시 미네. Владелец: 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-10-17.

Engine link dimension measuring device and its measuring method based on machine vision

Номер патента: CN107957245A. Автор: 袁海平,丁平峰,臧跃东. Владелец: Jiangsu Hongbao Forging Ltd By Share Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Integrated industrial exhaust gas multiparameter measuring device and its measurement method

Номер патента: CN108344434A. Автор: 盛艳波,戈燕红,谢广群. Владелец: Universtar Science and Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-31.

Liquid turbidity measuring device and its measurement method

Номер патента: CN106645036B. Автор: 崔莉,黄希,孙明亮. Владелец: Institute of Computing Technology of CAS. Дата публикации: 2019-06-18.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102265178A. Автор: 大石政裕,德田义克. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2011-11-30.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: JP5502963B2. Автор: 勝弘 小山. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2014-05-28.

Strain-type tire road three-dimensional stress measuring device and its measurement method

Номер патента: CN110333023A. Автор: 董建平,周兴林,王明石,骆训煌. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2019-10-15.

A kind of water paint fluidity measurement device and its measuring method

Номер патента: CN108827826A. Автор: 王辉,沈恒,冉东升. Владелец: XIANYANG DONGFANG YUHONG BUILDING MATERIAL Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-16.

Current measuring device and current measuring method based on current divider

Номер патента: CN109633255A. Автор: 阳威,杨锡旺. Владелец: Changzhou Suo Wei Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-16.

Distance measuring device and distance measuring method capable of estimating weather conditions

Номер патента: JP3273530B2. Автор: 渉 石尾,眞人 吉田,吉朗 田坂. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2002-04-08.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: KR102052786B1. Автор: 겐고 스즈키,가즈야 이구치,시게루 에우라,겐이치로 이케무라. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-12-05.

Roundness measuring device and roundness measurement method

Номер патента: CN107167062A. Автор: 张剑,张燕,尹峰,魏颖颖,巩鹏,蒋超友,柏进财. Владелец: Shandong Iron and Steel Group Co Ltd SISG. Дата публикации: 2017-09-15.

Viscoelastic fluid abrasive particle two phase flow abrasive particle sliding velocity measuring device and its measuring method

Номер патента: CN106392864B. Автор: 张晓东,刘建成,董志国,轧刚. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-05-18.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP7064167B2. Автор: 智則 近藤,陽介 梶井,賢一 的場. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2022-05-10.

A kind of vertical non-contact revolving body high precision measuring device and its measuring method

Номер патента: CN107664478A. Автор: 周磊. Владелец: Chengdu Zhongxin Polymerization Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

A kind of width of measuring device and its measurement method of beam

Номер патента: CN109458938A. Автор: 刘剑,黄莉根,黄彦乐. Владелец: Shenzhen Qinghua Court Engineering Structure Identification Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-12.

Inclination measuring device and inclination measuring method based on shape sensor

Номер патента: CN110686612A. Автор: 任亮,尤润州. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2020-01-14.

Pressure signal flow measurement device and flow measurement method

Номер патента: CN104766513A. Автор: 毛欣炜,毛根海. Владелец: HANGZHOU YUANLIU TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-08.

The measuring device and its measuring method of underwater glider pressure hull compressive deformation

Номер патента: CN108253922A. Автор: 俞建成,曲明伟,谭智铎,王启家. Владелец: Shenyang Institute of Automation of CAS. Дата публикации: 2018-07-06.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: WO2011086913A1. Автор: 成幸 中田,一輝 星島. Владелец: 三井造船株式会社. Дата публикации: 2011-07-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN114258500A. Автор: 田中正幸,中野裕章,大前宇一郎. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-29.

A kind of realization superconducting magnet cryogenic system leaking heat measuring device and its measuring method

Номер патента: CN108168738A. Автор: 李蕾,王永胜,陈根,胡锐,张华辉,陈永华,宋云涛,杨庆喜,丁开忠,冯汉升,邹春龙,丁曾飞. Владелец: Hefei Zhongke Ion Medical Technology Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-15.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: DE112015006288T5. Автор: Masataka Shirai,Koichi Watanabe,Manabu Shiozawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2017-11-30.

RETAINING CLIP FOR GAME MEASURING DEVICE AND GAME MEASURING METHOD

Номер патента: FR2518669B1. Автор: Bruce Walker Stowe,Joseph Clefton Young,Jerome Perry Clark. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1987-01-30.

Azimuth measuring device and azimuth measuring method

Номер патента: KR100939158B1. Автор: 고이찌 히끼다,마사야 야마시따. Владелец: 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2010-01-28.

PROGRESSIVE WAVE MOTOR PROVIDED WITH A TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: FR2769149A1. Автор: Walter Huber,Michael Schreiner. Владелец: Daimler Benz AG. Дата публикации: 1999-04-02.

Shape measurement device and shape measurement method

Номер патента: WO2012029809A3. Автор: 塩田達俊. Владелец: 国立大学法人 長岡技術科学大学. Дата публикации: 2012-05-10.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: CN107037437B. Автор: 丰田一贵,泽村义巳. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-18.

Position measuring device and position measuring method by means of gps

Номер патента: WO2010035384A1. Автор: 三宅寿英,吉田晴彦,阿部知宏. Владелец: 日立造船株式会社. Дата публикации: 2010-04-01.

Differential surface plasmon resonance measuring device and its measuring method

Номер патента: EP1617203A1. Автор: Toshihiko Imato,Yasukazu Asano. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2006-01-18.

Road measuring device and road measuring method

Номер патента: JP5100845B2. Автор: 秀明 黒須,正憲 岸田. Владелец: Pasco Corp. Дата публикации: 2012-12-19.

Battery measuring device and battery measuring method

Номер патента: JP2023005756A. Автор: Masaaki Kitagawa,昌明 北川,功 石部,Isao Ishibe. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: EP2848946A1. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Fuji Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2015-03-18.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN114966724B. Автор: 杨灏,金少峰,王三宏. Владелец: Shenzhen Sincevision Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-02.

A kind of gas-turbine unit turbine guide vane profile measurement device and its measurement method

Номер патента: CN106091895B. Автор: 杨林,谢长城,郭双全,何黎明,任天明. Владелец: No 5719 Factory of PLA. Дата публикации: 2019-01-04.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP3264055A1. Автор: Shinji NAKAYA,Mitsuhiro TSUE. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2018-01-03.

A kind of pressure distribution measurement device and its measurement method based on light total internal reflection

Номер патента: CN105841861B. Автор: 丁晨阳,邓志辉,贾允毅. Владелец: Changzhou College of Information Technology CCIT. Дата публикации: 2018-08-17.

Radiation measuring device and radiation measuring method

Номер патента: EP3316003A4. Автор: Kazuhisa Yamamura,Shin Watanabe,Yoshikatsu Kuroda,Hiroo Yamamoto,Kazumasa Kosugi,Daisuke Matsuura,Tadayuki Takahashi,Kei GEMBA,Shin'ichiro Takeda. Владелец: Japan Aerospace Exploration Agency JAXA. Дата публикации: 2018-08-15.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: CN101283242A. Автор: 山本义典,坂部至,屉冈英资. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-10-08.

Azimuth measurement device and azimuth measurement method

Номер патента: KR100735494B1. Автор: 최성우,권경수,강진용. Владелец: 삼성전기주식회사. Дата публикации: 2007-07-04.

A kind of measuring device and its measurement method of optical fiber grating temperature coefficient

Номер патента: CN108414089B. Автор: 朱日宏,沈华,韩志刚,舒剑,汤亚洲,葛诗雨,关智文,矫岢蓉,卓烜. Владелец: Nanjing University of Science and Technology. Дата публикации: 2019-06-07.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: WO2022162922A1. Автор: 一輝 千田. Владелец: 株式会社ニコンビジョン. Дата публикации: 2022-08-04.

Image measurement device and image measurement method

Номер патента: WO2015004843A1. Автор: 本村　秀人,安比古 足立,佳州 佐藤. Владелец: パナソニックＩｐマネジメント株式会社. Дата публикации: 2015-01-15.

A kind of contactless remote fiber displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: CN107024179A. Автор: 陆海东,耿开胜. Владелец: JIANGSU ANGDE PHOTOELECTRIC TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Image measurement device and image measurement method

Номер патента: US9767578B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato,Yasuhiko ADACHI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102384736A. Автор: 陈信嘉,古人豪,黄森煌,杨恕先. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP6402272B1. Автор: 薫 秋山,晃一 森本,勇貴 佐々木. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-10.

Range measuring device and range measuring method

Номер патента: DE102013211240B4. Автор: Yuichiro Hirota,Hisayoshi Furihata,Yusuke Nakazato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-29.

Road measuring device and road measuring method

Номер патента: JPWO2010050162A1. Автор: 秀明 黒須,正憲 岸田. Владелец: Pasco Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Load measuring device and load measuring method

Номер патента: CN108353531A. Автор: 杉原康平,河口浩二,成田纯,成田纯一. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-31.

Communication performance measurement device and its measurement method

Номер патента: JP2000106557A. Автор: Takeshi Aoki,Shinji Kikuchi,英一 高橋,Tsuneo Katsuyama,哲也 岡野,Hidekazu Takahashi,慎司 菊池,乾 横山,Tetsuya Okano,Ken Yokoyama,武司 青木,恒男 勝山. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2000-04-11.

Torque measurement device and torque measurement method

Номер патента: EP2072984B1. Автор: Robert J White,Timothy J Kilworth. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 2019-03-20.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: WO2020079776A1. Автор: 栄実 野口. Владелец: 日本電気株式会社. Дата публикации: 2020-04-23.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: KR20130072213A. Автор: 히로시 아오키. Владелец: 가부시키가이샤 니콘. Дата публикации: 2013-07-01.

Exempt from the image measuring device and its measurement method to positive axle center

Номер патента: CN108534713B. Автор: 林明慧. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-08-06.

Acceleration measuring device and acceleration measuring method of the same

Номер патента: US20210325423A1. Автор: Hong Wang,Changlin Leng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP7027403B2. Автор: 和秀 難波. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Ac magnetic susceptibility measuring device and its measurement method

Номер патента: CN109655771A. Автор: 王云平,宋小会,苏少奎,米振宇. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2019-04-19.

Whole-vehicle axle base laser location measuring device and location measuring method thereof

Номер патента: CN106705871A. Автор: 陈平,肖叶,李淳,丁国庆,宋文斌,邰柏翠,翟郢. Владелец: SAIC Chery Automobile Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-24.

Headlamp air flow measurement device and a measurement method

Номер патента: KR101609204B1. Автор: 김두현,김철숙. Владелец: 주식회사 티제이에스리써치. Дата публикации: 2016-04-21.

Optical measuring device and its measuring method

Номер патента: KR0131526B1. Автор: 데루오 아사에다,도쿠이치 이나가키. Владелец: 도소쿠가가부시키가이샤. Дата публикации: 1998-04-11.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: WO2021186910A1. Автор: 恭隆 増田. Владелец: 横浜ゴム株式会社. Дата публикации: 2021-09-23.

Temperature measuring device and temperature measuring method for friction pair material in friction process

Номер патента: CN113739953A. Автор: 李健,李银华,段海涛,凃杰松,詹胜鹏,贾丹,杨田,万长鑫. Владелец: Wuhan Research Institute of Materials Protection. Дата публикации: 2021-12-03.

Portable torque type flow measuring device and flow measuring method

Номер патента: CN114543903A. Автор: 李�浩,赵永军,张红丽,时宇,王慧强,周义仁,王新怡,程复,袁振伦,索筠博. Владелец: Water And Oil Maintenance Monitoring Center Ministry Of Water Resources. Дата публикации: 2022-05-27.

Gap measuring device and gap measuring method

Номер патента: KR102045696B1. Автор: 다카히로 구보타,다쿠야 고토,유이치 사사노,게이 요시토미. Владелец: 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-11-15.

A kind of pitch rate of dissolution measurement device and its measuring method

Номер патента: CN109297856A. Автор: 张强,陈凯,陈军,王贵,唐婧,潘定成,冯浦涌,丁文刚. Владелец: China Oilfield Services Ltd. Дата публикации: 2019-02-01.

Color measuring device and color measuring method

Номер патента: JP6558435B2. Автор: 聡 横田,横田　聡,孝仁 原田. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-08-14.

A kind of longitudinal stretching insulation dielectric electrical property measuring device and its measurement method

Номер патента: CN108594091A. Автор: 张瑞敏,赵洪,吕雪松,闫志雨,薛佳莹,宋淑伟. Владелец: Harbin University of Science and Technology. Дата публикации: 2018-09-28.

A kind of high-temperature flue gas contact type temperature measuring device and its measurement method

Номер патента: CN109556749A. Автор: 于吉明,张松松,齐国利,刘雪敏,管坚. Владелец: China Special Equipment Inspection and Research Institute. Дата публикации: 2019-04-02.

Temperature measuring device and temperature measuring method of integrated chip

Номер патента: CN112945418A. Автор: 邴春秋. Владелец: SG Micro Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-11.

Propagation measuring device and propagation measuring method

Номер патента: JP3828111B2. Автор: 尚治 仁木,隆 城戸. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-10-04.

Height measuring device and height measuring method for vehicle body

Номер патента: CN114812472A. Автор: 张艳平,赵钺. Владелец: BAIC Group ORV Co ltd. Дата публикации: 2022-07-29.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: CN111771117A. Автор: 田端诚一郎. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10190873B1. Автор: Tsuyoshi Yamagami,Masato Shimodaira. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2019-01-29.

Differential surface plasmon resonance measuring device and its measuring method

Номер патента: KR100714145B1. Автор: 도시히코 이마토,야스카즈 아사노. Владелец: 도쿠리쓰교세이호징 가가쿠 기주쓰 신코 기코. Дата публикации: 2007-05-02.

Photoresist component concentration measuring device and concentration measuring method

Номер патента: TWI697743B. Автор: 島田和哉,西川晴香,鬼頭佑典. Владелец: 日商松下知識產權經營股份有限公司. Дата публикации: 2020-07-01.

State measuring device and state measuring method

Номер патента: JP5358822B2. Автор: 真 大川内,都一 田口. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-04.

Single-wavelength single-beam non-scanning three-dimensional laser speed measuring device and speed measuring method

Номер патента: CN113030509A. Автор: 苏娟,郝相龙,吴锜,宋冉,于立平,高莉媛,景旭杨. Владелец: Qingdao Yaoding Photoelectric Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-06-25.

Paraxial laser distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN115308755A. Автор: 李杨,宋小亮. Владелец: Chengdu Liangxin Integrated Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Optoelectronic position measurement device and position measurement method

Номер патента: CN102246007B. Автор: W·阿曼. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2014-07-02.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: CN113137929A. Автор: 田口都一,入江优. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-20.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: DE112020003930T5. Автор: Masayuki Tanaka,Hiroaki Nakano,Uichiro Omae. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-05-19.

Cutter parameter measuring device and its measuring method based on CCD

Номер патента: CN105666246B. Автор: 李楠,孙杰,国凯,姜振喜,侯秋林. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2017-11-10.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102575930A. Автор: 川真田进也,船山龙士,佐鸟新,青柳贤英,小松田忠良. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2012-07-11.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: WO2018138904A1. Автор: 忠富 石上,浩平 藤本,将智 藤井,崇志 入江,竜輔 木下,晶史 城戸. Владелец: 三菱電機株式会社. Дата публикации: 2018-08-02.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN115315635A. Автор: 竹中博一. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

A kind of aluminium cell anode stroke measuring device and its measuring method

Номер патента: CN104746101B. Автор: 徐阳,陈志洋,易小兵,汪慎独,孟涌,田庆红,谭群发. Владелец: Guiyang Aluminum Magnesium Design and Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Motion scan tunnel drift section and volume measurement device and its measurement method

Номер патента: CN105698714B. Автор: 余新明,石零. Владелец: Jianghan University. Дата публикации: 2018-09-25.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: TWI793321B. Автор: 井上展幸,新家俊輝,川口史朗. Владелец: 日商大塚電子股份有限公司. Дата публикации: 2023-02-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP4830096B2. Автор: 典彦 西澤,俊夫 後藤. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2011-12-07.

Ka-band bottom view synthetic aperture cm-level height measuring device and height measuring method

Номер патента: CN115336430B. Автор: 陈潜,卢护林,魏维伟. Владелец: SHANGHAI RADIO EQUIPMENT RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2016-11-30.

The measuring device and its measurement method of molten steel flow velocity in a kind of continuous cast mold

Номер патента: CN109550906A. Автор: 袁磊,于景坤,宋杨,刘震丽,田晨. Владелец: Northeastern University China. Дата публикации: 2019-04-02.

Sample measures device and sample measures method

Номер патента: CN109975570A. Автор: 胜见宏则,福崎刚,芝正树,渡边雄治. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-07-05.

Width measuring device and width measuring method

Номер патента: JPWO2015045781A1. Автор: 秀美 高橋,晃寛 奈良. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-09.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: TW202004121A. Автор: 井上展幸,新家俊輝,川口史朗. Владелец: 日商大塚電子股份有限公司. Дата публикации: 2020-01-16.

Color measuring device and color measuring method

Номер патента: JPWO2016076165A1. Автор: 亮二 板東,康隆 谷村,孝仁 原田,谷村　康隆,板東　亮二. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-08-17.

Shield shield tail simultaneous grouting slurry buoyancy measuring device and its measurement method

Номер патента: CN109974924A. Автор: 孙杰,马元,侯永茂,俞建霖,甘晓露,朱灵圣,张杜坪. Владелец: Shanghai Tunnel Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-05.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: US8804130B2. Автор: Terutake Hayashi,Yasuhiro Takaya,Masaki Michihata. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-08-12.

Ultrasonic measurement device and ultrasonic measurement method

Номер патента: KR101218473B1. Автор: 하지메 다카다,다카후미 오제키. Владелец: 제이에프이 스틸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-01-04.

Quick-response temperature measuring device and temperature measuring method for hypersonic wind tunnel

Номер патента: CN113310655B. Автор: 张伟,刘俊,王晓宇,杨海滨,付泰,杜林峰,杜俊,黄飓,杨永能,吴冠青,罗胤洲. Владелец: High Speed Aerodynamics Research Institute of China Aerodynamics Research and Development Center. Дата публикации: 2022-04-26.

A kind of electric pole inclination angle measurement device and its measurement method

Номер патента: CN110207665A. Автор: 刘鹏,黄伟,李明华,杨柳青,冯文斌,曾宪武,王德贺,罗华枫,龙福刚. Владелец: Guizhou Power Grid Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-06.

Resistance measuring device and resistance measuring method

Номер патента: TWI761398B. Автор: 山下宗寛. Владелец: 日商日本電產理德股份有限公司. Дата публикации: 2022-04-21.

Particulate measurement device and particulate measurement method

Номер патента: WO2009128233A1. Автор: 田中稔之,濱田了,稲口哲也. Владелец: パナソニック株式会社. Дата публикации: 2009-10-22.

A kind of double indirection point distance-measuring devices and its measuring method

Номер патента: CN108267115A. Автор: 董梁,程波,王若飞. Владелец: United Engineers Ltd In China. Дата публикации: 2018-07-10.

Current measurement device and current measurement method using nanopore

Номер патента: GB2573433B. Автор: Goto Yusuke,Akahori Rena,Fujioka Michiru,YOKOI Takahide,MATSUI Kazuma. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-05-25.

Shape measurement device and shape measurement method

Номер патента: EP2634558A2. Автор: Tatsutoshi Shioda. Владелец: Nagaoka University of Technology. Дата публикации: 2013-09-04.

Wavelength measurement device and wavelength measurement method

Номер патента: WO2021185301A1. Автор: 李裔,秦华强. Владелец: 华为技术有限公司. Дата публикации: 2021-09-23.

The measuring device and its measurement method of electro-optic crystal light pass surface normal and Z axis deflecting angle

Номер патента: CN106918309B. Автор: 马啸,张志刚,邵建达,周游,刘世杰,鲁棋,徐天柱,倪开灶. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2019-12-03.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11105880B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-08-31.

Microparticle measurement device and microparticle measurement method

Номер патента: EP3521807A4. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2019-12-18.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP7068054B2. Автор: 孝 井田,賢造 五十川,淳 松村. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-05-16.

Jitter measurement device and jitter measurement method

Номер патента: US20060064258A1. Автор: Ken Mochizuki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2006-03-23.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP3514484A1. Автор: Tomonori Kondo,Kenichi Matoba,Yosuke Kajii. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2019-07-24.

Battery measurement device and battery measurement method

Номер патента: WO2023276577A1. Автор: 昌明 北川,功 石部. Владелец: 株式会社デンソー. Дата публикации: 2023-01-05.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: EP3141879A1. Автор: Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-03-15.

Optical system structure, optical measuring device, and optical measuring method

Номер патента: KR102150577B1. Автор: 유지 오키,히로아키 요시오카,긴이치 모리타. Владелец: 고쿠리쓰다이가쿠호진 규슈다이가쿠. Дата публикации: 2020-09-01.

Flow measurement device and flow measurement method for pond type natural circulation reactor

Номер патента: CN103839600A. Автор: 周涛,吴宜灿,刘书勇,柏云清. Владелец: Hefei Institutes of Physical Science of CAS. Дата публикации: 2014-06-04.

Shape measurement device and shape measurement method

Номер патента: JP2021189003A. Автор: Masahiro Watanabe,正浩 渡辺,Kenji Maruno,達雄 針山,Tatsuo Hariyama,真也 浜岸,兼治 丸野,Shinya Hamagishi,元希 原山,Motoki HARAYAMA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-12-13.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP2021162509A. Автор: Naoki Iwata,直樹 岩田,Teruo Takeshita,照雄 竹下,朋和 松村,Tomokazu MATSUMURA,房宣 近藤,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-10-11.

Wear measurement device and wear measurement method

Номер патента: WO2020129368A1. Автор: 勇介 渡部,亀山　悟. Владелец: 株式会社明電舎. Дата публикации: 2020-06-25.

Microparticle measurement device and microparticle measurement method

Номер патента: WO2018047441A1. Автор: 克俊 田原. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2018-03-15.

Full-automatic portable ultraviolet oil measurement device and oil measurement method

Номер патента: CN112730295A. Автор: 于海洋,王国峰,马云,王韦,赵晓楠,邹来娣. Владелец: Shanghai Online Science Instrument Co ltd. Дата публикации: 2021-04-30.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: CN1657873A. Автор: 冈部浩史,福井浩,本城琢也,古泽拓一. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2005-08-24.

Game measuring device and game measuring method

Номер патента: DE112013005357T5. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: JP5125544B2. Автор: 直樹 小田. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-01-23.

Microparticle measurement device and microparticle measurement method

Номер патента: WO2018047442A1. Автор: 克俊 田原. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2018-03-15.

Position measuring device and position measuring method using GPS

Номер патента: DE112009002148A5. Автор: Toshihide Miyake,Tomohiro Abe,Haruhiko Yoshida. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2011-12-08.

Sir measuring device and sir measuring method

Номер патента: KR100408352B1. Автор: 미요시겐이치,히라마츠가츠히코. Владелец: 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2003-12-03.

Movement measurement device and movement measurement method

Номер патента: JP7255110B2. Автор: 翔 釣谷. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-11.

Infrared optical gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: DE10005923C2. Автор: Burkhard Stock. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2002-06-27.

Scintillator unit, radiation measuring device, and radiation measuring method

Номер патента: US11092700B2. Автор: Yuka Kato,Yoshimune Ogata,Haruka Minowa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-08-17.

Multifunctional spectrum emissivity measurement device and its measurement method

Номер патента: CN106404181B. Автор: 刘玉芳,李龙飞,刘栋,张凯华,于坤,张飞麟. Владелец: Henan Normal University. Дата публикации: 2019-03-12.

Light measurement device and light measurement method

Номер патента: CN111630373A. Автор: 铃木健吾,井口和也,江浦茂. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-09-04.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: KR101994051B1. Автор: 유스케 곤노,다카미치 고바야시,도시오 아카기,아츠히로 히비,노부히로 후루야,아키히토 나카자키. Владелец: 닛폰세이테츠 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-06-27.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: WO2021166523A1. Автор: 宏明 西森. Владелец: ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社. Дата публикации: 2021-08-26.

Distance measuring device and distance measuring method thereof

Номер патента: CN107356928B. Автор: 李浩玮,刘子安,刘惠中,潘善鹏,许博尔. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-11-13.

Azimuth measuring device and azimuth measuring method

Номер патента: EP1519148B1. Автор: Koichi Hikida,Masaya Yamashita. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

Velocity measuring device and speed measurement method during a kind of shot-peening

Номер патента: CN110082559A. Автор: 杨杰,门向南,蒋建军,王成雨,杨武飞,曾维逵,钞欣. Владелец: Chengdu Aircraft Industrial Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-02.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: WO2003078948A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Fec Inc.. Дата публикации: 2003-09-25.

Vibration measuring device and vibration measuring method for high-speed rotating machine

Номер патента: CN106687791B. Автор: 林慎之,山下胜也,中川大志,森英夫,井上智晃,川下伦平,清家齐显. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2020-07-17.

Weight measuring device and the measuring method

Номер патента: PL3350553T3. Автор: Tomás JURÍK,Frantisek Urban,Radek HELÁN. Владелец: Network Group, S.R.O.. Дата публикации: 2022-08-16.

Levelness measuring device and levelness measuring method

Номер патента: US10677578B2. Автор: Wei-Da Yang,Xiao-Ming Lv,Shu-Fa Jiang,Guo-Hua Wu. Владелец: Fu Tai Hua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-09.

Contactless water surface wave speed measuring device and speed-measuring method

Номер патента: CN108627671A. Автор: 杨慧,夏超群,甄莉. Владелец: Jiangsu Dqu Automation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-09.

A kind of pressure signal flow measurement device and flow-measuring method

Номер патента: CN104766513B. Автор: 毛欣炜,毛根海. Владелец: HANGZHOU YUANLIU TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

High-accuracy optical particle measurement device and particle measurement method using laser power scanning

Номер патента: WO2022114452A1. Автор: 문지훈,강상우. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2022-06-02.

Levelness measuring device and levelness measuring method

Номер патента: CN111595298A. Автор: 唐立伟,杨晓斌,周庆一,宋金杨,蔡叶林. Владелец: Shanghai Waigaoqiao Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-28.

Stress measuring device and stress measuring method

Номер патента: TWI716183B. Автор: 李正中,江奕宏,柯宏憲,潘正達,葉文勇. Владелец: 財團法人工業技術研究院. Дата публикации: 2021-01-11.

Laser measurement device and laser measurement method

Номер патента: US20090161116A1. Автор: Tadashi Sasakawa,Yoshifumi Natsume,Nobuyasu Teraoka,Toshikazu Asanuma. Владелец: Pasco Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Test set for a photometric measuring device, and photometric measuring method for a sample liquid.

Номер патента: MX2015005616A. Автор: Gerhard Bonecker. Владелец: Gerhard Bonecker. Дата публикации: 2016-02-03.

Laser triangulation lens center thickness measuring device and its measurement method

Номер патента: CN108981593A. Автор: 朱学亮,岳鑫,田爱玲,王红军,刘丙才,高珂. Владелец: Xian Technological University. Дата публикации: 2018-12-11.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: JP7097718B2. Автор: 誠一郎 田端. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2022-07-08.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: JP2021148630A. Автор: 恭隆 増田,Yasutaka Masuda. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-27.

Distance measurement device and distance measuring method thereof

Номер патента: TWI595252B. Автор: 劉子安,李浩瑋,劉惠中,潘善鵬,許博爾. Владелец: 財團法人工業技術研究院. Дата публикации: 2017-08-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: CN115295906B. Автор: 王军. Владелец: Yancheng Junle Da Electrical Appliance Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-20.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: WO2016143084A1. Автор: 正敬 白井,康一 渡辺,学 塩澤. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2016-09-15.

A kind of three-jaw centering internal diameter measuring device and its measurement method

Номер патента: CN106705801B. Автор: 张博文,刘群,洪占勇,崔堃,刘正瑞,黄雍囥. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2019-04-19.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102695939B. Автор: 木村雅之. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-17.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: CN102713575A. Автор: 中田成幸,星岛一辉. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-03.

Ultrasonic measurement device and ultrasonic measurement method

Номер патента: EP3407060A1. Автор: Tomonori Kimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-11-28.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: WO2020145172A1. Автор: 智則 近藤,陽介 梶井. Владелец: オムロン株式会社. Дата публикации: 2020-07-16.

Weight measuring device and the measuring method

Номер патента: HUE058919T2. Автор: Tomás JURÍK,Frantisek Urban,Radek HELÁN. Владелец: Network Group S R O. Дата публикации: 2022-09-28.

Concentration measuring device and concentration measuring method

Номер патента: JP4455032B2. Автор: 充朗 杉田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-04-21.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: TWI667464B. Автор: 的場賢一,梶井陽介,近藤智則. Владелец: 日商歐姆龍股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-01.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: US8817244B2. Автор: Shigeyuki Nakada,Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-26.

Photoresist component concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: WO2017130620A1. Автор: 佑典 鬼頭,晴香 西川,和哉 島田. Владелец: パナソニックＩｐマネジメント株式会社. Дата публикации: 2017-08-03.

Battery measurement device and battery measurement method

Номер патента: WO2023276546A1. Автор: 昌明 北川,功 石部,駿 宮内. Владелец: 株式会社デンソー. Дата публикации: 2023-01-05.

POLARIZATION DISPERSION MEASURING DEVICE AND CORRESPONDING MEASURING METHOD

Номер патента: FR2738634B1. Автор: Herve Lefevre,Philippe Martin,Edouard Taufflieb,Boudec Gilles Le. Владелец: Photonetics SA. Дата публикации: 1997-11-21.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: WO2020003762A1. Автор: 北村　藤和. Владелец: 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス. Дата публикации: 2020-01-02.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: WO2022259536A1. Автор: 真路 佐藤. Владелец: 株式会社ニコン. Дата публикации: 2022-12-15.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: TW201938989A. Автор: 髙嶋潤,近藤智則. Владелец: 日商歐姆龍股份有限公司. Дата публикации: 2019-10-01.

Color measuring device and color measuring method

Номер патента: JPWO2015166797A1. Автор: 長井　慶郎,慶郎 長井. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-04-20.

Silicon photonic chip optical power measuring device, equipment and measuring method

Номер патента: CN110955001A. Автор: 陈奔,郭倩,洪小刚,田桂霞,沈笑寒. Владелец: Hengtong Rockley Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-03.

Method and Means for Detecting the Activity of Osteoclasts

Номер патента: US20120003684A1. Автор: Dieter Peter,Lutter Anne-Helen,Hempel Ute. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2012-01-05.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP4382858A4. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Joint gripping line measuring device and its measuring method

Номер патента: TWI580403B. Автор: Dong-Ying Li,Ying-Jian Cai,Qun-Yao Zheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-01.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: TW201224392A. Автор: Shingo Matsumoto,Yoshiharu Morimoto,Motoharu Fujigaki,Akihiro Masaya. Владелец: Akihiro Masaya. Дата публикации: 2012-06-16.

Multiphase flow measuring device, multiphase flow measuring method and program

Номер патента: JP6952952B2. Автор: 季子 小林,壮一郎 勝島,賢志 小林. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Belt tension measuring device, belt tension measuring method, and program

Номер патента: JP4846283B2. Автор: 清 大倉,研二 梶川. Владелец: Mitsuboshi Belting Ltd. Дата публикации: 2011-12-28.

Refractive index measuring device, refractive index measuring method and program

Номер патента: JP7205851B2. Автор: 智宏 雨宮,滋久 荒井,響 各務. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2023-01-17.

Surface acoustic wave propagation state measuring device, surface acoustic wave propagation state measuring method, environment change measuring device, environment change measuring method, and multi-round surface acoustic wave element

Номер патента: JP4631615B2. Автор: 教尊 中曽. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2011-02-16.

DC circuit insulation resistance measuring device, capacitance measuring device, insulation resistance measuring method and capacitance measuring method

Номер патента: JP5578573B2. Автор: 和文 橋本,満洋 野々上,浩行 竹内,利浩 中原. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2014-08-27.

Power measuring device and power measuring method, and electric leak detection device and electric leak detection method

Номер патента: JP2016090581A. Автор: Koichiro Ishibashi,孝一郎 石橋,石橋　孝一郎. Владелец: University of Electro Communications NUC. Дата публикации: 2016-05-23.

Shape accuracy measuring device by sequential two-point method and laser displacement meter interval measuring method for shape accuracy measurement by sequential two-point method

Номер патента: JP4571256B2. Автор: 壽芳 佐藤,哲夫 曽根,敬彦 松崎,照康 平上. Владелец: 佐藤 ▼壽▲芳. Дата публикации: 2010-10-27.

Volume measuring device, endoscope cleaning / disinfecting device equipped with volume measuring device, and volume measuring method

Номер патента: JP6381130B2. Автор: 章裕 宮下. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-08-29.

Thermal conductivity measuring device, thermal conductivity measuring method, and vacuum degree evaluation device

Номер патента: JP6634546B2. Автор: 長谷川　壽一,壽一 長谷川,千葉　勇,勇 千葉,志宏 後藤. Владелец: EKO Instruments Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-22.

Biological information measuring device, biological information measuring method, and biological information measuring program

Номер патента: JP5552853B2. Автор: 真朗 黒田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-07-16.

Sleeping condition measuring device, sleeping condition measuring method, and sleeping condition measuring system

Номер патента: JP2010179133A. Автор: Takuji Suzuki,琢治 鈴木,一成 大内,研一 亀山,Kenichi Kameyama,Kazunari Ouchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Perceptual threshold measurement device, perceptual threshold measurement method and perceptual threshold measurement program

Номер патента: JP6534531B2. Автор: 裕 福井,常夫 川野. Владелец: JOSHO GAKUEN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2019-06-26.

Biological information measuring device, biological information measuring method, and biological information measuring program

Номер патента: JP5589487B2. Автор: 英典 中村,真朗 黒田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-09-17.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method, and surface texture measuring program

Номер патента: JP4199450B2. Автор: 洋一 斎藤,文宏 竹村. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2008-12-17.

Wafer thickness measuring device, wafer thickness measuring method, and wafer polishing device

Номер патента: JP3218881B2. Автор: 修 遠藤,克己 茂木. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 2001-10-15.

Fluid fin flow guiding type bend speed measurement device and speed measurement method of fluid fin flow guiding type bend speed measurement device

Номер патента: CN103837703B. Автор: 陈宇,李想,王寅,卢熠,陈献春,何多微,蒋孝科,林阿平,蓝德智. Владелец: FUJIAN EPRI POWER COMMISSIONING Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-01.

Slag height measuring device, slag height measuring method and hot metal pretreatment method

Номер патента: JP6583204B2. Автор: 友彦 伊藤,泰志 小笠原,伊藤　友彦,直敬 佐々木. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-10-02.

Concentration measuring device, beverage concentration measuring method, and beverage manufacturing method

Номер патента: JP3568452B2. Автор: 一太郎 宍戸,力 永吉. Владелец: Asahi Soft Drinks Co Ltd. Дата публикации: 2004-09-22.

Image moment sensor, image moment measurement device, image moment sensor calculation method, and image moment measurement method

Номер патента: JP4565122B2. Автор: 正俊 石川,孝 小室,慎吾 鏡. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2010-10-20.

Interosseous distance measuring device, interosseous distance measuring method, program for causing a computer to function as an interosseous distance measuring device, and a recording medium storing the program

Номер патента: JP6598287B2. Автор: 雅人 清水,康治 舟橋,富朗 後藤. Владелец: 国立大学法人 名古屋工業大学. Дата публикации: 2019-10-30.

Spectral characteristic measuring device, spectral characteristic measuring method, surface measurement object quality monitoring device

Номер патента: JP5907364B2. Автор: 千田　直道,直道 千田,西田　和史,和史 西田,敦 辻井. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-04-26.

MAGNETIC FIELD SENSOR, AS WELL AS MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD, POWER MEASUREMENT DEVICE, AND POWER MEASUREMENT METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120229131A1. Автор: Takenaga Hideki,Iwami Eiji,Sawada Tomoyuki,Tsujimoto Hiroaki,Yoshikawa Keisuke,Fukui Suguru. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-09-13.

Mark position detection device, mark position detection method, overlay measurement device, and overlay measurement method

Номер патента: JP4300802B2. Автор: 洋 青木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-07-22.

TONER ADHESION MEASURING DEVICE, TONER ADHESION MEASURING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120106997A1. Автор: Aoki Kunitoshi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-05-03.

WEAR AMOUNT MEASURING DEVICE, WEAR AMOUNT MEASURING METHOD, WEAR AMOUNT MEASURING PROGRAM AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120306916A1. Автор: . Владелец: KOMATSU LTD.. Дата публикации: 2012-12-06.

Flow rate measuring device, flow rate measuring method, and computer program

Номер патента: JP4953001B2. Автор: 治嗣 森,英昭 手塚,陽 中城. Владелец: Tokyo Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2012-06-13.

Body temperature measuring device, body temperature measuring method and body temperature management system

Номер патента: JP6002048B2. Автор: 彰一 木村,枝里 濱田,伸造 河野. Владелец: Nippon Avionics Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-05.

Current measurement component, current measurement device, and current measurement method

Номер патента: JP2022008080A. Автор: Hideo Watanabe,英雄 渡辺,豊 芦田,Yutaka Ashida,宏紀 中沢,Koki Nakazawa. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2022-01-13.

Measurement point coordinate measuring device and coordinate measuring method

Номер патента: JP3444984B2. Автор: 江 尹. Владелец: 株式会社ソキア. Дата публикации: 2003-09-08.

Boom length measuring device, boom length measuring method and telescopic boom

Номер патента: CN102735172A. Автор: 李胜华,袁喻华. Владелец: Sany Heavy Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-17.

Injection pressure measurement device, injection pressure measurement method and molding system

Номер патента: JP2023054402A. Автор: Satoshi Fukushima,聡 福島,高弘 水嶋,Takahiro Mizushima. Владелец: Ube Machinery Corp Ltd. Дата публикации: 2023-04-14.

Stage device, coordinate measuring device, and position measuring method

Номер патента: JP3772444B2. Автор: 至晴 大久保. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-05-10.

Broadband pulse light source device, spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: JP2020159972A. Автор: 寿一 長島,Juichi Nagashima. Владелец: Ushio Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Armature resistance measuring device and resistance measuring method using the device

Номер патента: JPH0752204B2. Автор: 旭 佐藤. Владелец: Odawara Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1995-06-05.

Power supply loading temperature measuring device and temperature measuring method for emergency power supply quick switching-in device

Номер патента: CN103226042A. Автор: 顾金,王逊峰,钱忠,杨希磊,孟寅. Владелец: Shanghai Municipal Electric Power Co. Дата публикации: 2013-07-31.

IMAGE MEASURING DEVICE AND IMAGE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120056999A1. Автор: Handa Hirohisa. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-08.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20120068066A1. Автор: . Владелец: OSAKA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-03-22.

COLOR MEASUREMENT DEVICE AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120092671A1. Автор: USHIAMA Jun,Igarashi Hitoshi,HATADA Kenji. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-19.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120093372A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120109572A1. Автор: SHIMIZU Sakiko. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-05-03.

TEST SET FOR A PHOTOMETRIC MEASURING DEVICE AND PHOTOMETRIC MEASURING METHOD FOR A SAMPLE LIQUID

Номер патента: US20120214251A1. Автор: Bonecker Gerhard. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-23.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120232840A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-09-13.

STRESS MEASUREMENT DEVICE AND STRESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120250001A1. Автор: . Владелец: National University Corporation Kyoto Institute of Technology. Дата публикации: 2012-10-04.

LINE WIDTH MEASURING DEVICE, LINE WIDTH MEASURING METHOD, IMAGE PROCESSING APPARATUS, IMAGE PROCESSING SYSTEM, AND COMPUTER READABLE MEDIUM

Номер патента: US20120250054A1. Автор: NISHIKUNI Yuichi,KORIYAMA Toshio,MITSUHASHI Tomoyuki,OGASAWARA Fumihiko. Владелец: FUJI XEROX CO., LTD.. Дата публикации: 2012-10-04.

FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120281204A1. Автор: Hoshishima Kazuteru,Nakada Shigeyuki. Владелец: MITSUI ENGINEERING & SHIPBUILDING CO.,LTD.. Дата публикации: 2012-11-08.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD FOR TESTING MOBILE-RADIO RELAY STATIONS

Номер патента: US20120282856A1. Автор: Gessner Christina,Schlienz Juergen. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2012-11-08.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD WITH HISTOGRAM FORMATION

Номер патента: US20120287738A1. Автор: . Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2012-11-15.

VISCOSITY MEASURING DEVICE AND VISCOSITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20120291528A1. Автор: . Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-11-22.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120293651A1. Автор: Kawamata Shinya,Funayama Ryuji,Satori Shin,Aoyanagi Yoshihide,Komatsuda Tadayoshi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-11-22.

Distance Measuring Device and Distance Measuring Method

Номер патента: US20130003038A1. Автор: Watanabe Masahiro,Yoshitake Yasuhiro,Matsui Tetsuya,Tachizaki Takehiro,Hariyama Tatsuo,Matsumoto Hirokazu,Takamasu Kiyoshi. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2013-01-03.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20130027540A1. Автор: Ito Nobuaki. Владелец: NIPPON STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-31.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE, AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130070247A1. Автор: FUNAMOTO Tatsuaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2013-03-21.

NONINVASIVE MEASURING DEVICE AND NONINVASIVE MEASURING METHOD FOR PROBING AN INTERFACE

Номер патента: US20140033821A1. Автор: Chen Chien-Cheng,Sun Chi-Kuang,WEN YU-CHIEH. Владелец: NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-02-06.

Dimension measurement device and dimension measurement method using it

Номер патента: JPH1038525A. Автор: Takaaki Kishida,任晤 岸田,Atsushi Naito,敦之 内藤. Владелец: Tokai Rika Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-13.

Friction measuring device and friction measuring method

Номер патента: CN104913870B. Автор: 来新民,易培云,彭林法,何俊艺. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-05-24.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: JP7024524B2. Автор: 哲也 天野,禎明 境. Владелец: JFE Engineering Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Light measuring device and light measuring method

Номер патента: JP6867320B2. Автор: 憲志 福満,諭 山本,山本　諭,福満　憲志. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-04-28.

Viscosity measuring device and viscosity measuring method

Номер патента: JP6704331B2. Автор: 明彦 神鳥,崇子 溝口,龍三 川畑,神鳥　明彦. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-06-03.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3651412B2. Автор: 公一 中村. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2005-05-25.

Stride measuring device and stride measuring method

Номер патента: JP4102119B2. Автор: 剛弘 黒野,崇宏 村越. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2008-06-18.

Spectral measuring device and spectroscopic measuring method

Номер патента: JP6763995B2. Автор: 鈴木　健吾,健吾 鈴木,和也 井口. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-09-30.

Lens-chromatism spectrum measurement device and spectrum measurement method

Номер патента: CN104792697A. Автор: 胡恩德,郑仲翔,陈敬修. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2015-07-22.

A kind of on-line measurement device and its measurement method

Номер патента: CN105300888B. Автор: 夏玮,戚飞,吉永强. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-08-28.

Measuring device and its measuring method for circular dichroism

Номер патента: CN100451610C. Автор: 陶卫东,潘雪丰,白贵儒. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2009-01-14.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: JP3590341B2. Автор: 和彦 伊藤,之典 片岡,成昭 飯田,栄一 磧本. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-11-17.

Concentration measuring device and concentration measuring method

Номер патента: JP4365086B2. Автор: 真一 赤沢,裕子 立松. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2009-11-18.

Strontium 90 radioactivity measuring device and its measuring method

Номер патента: JP7148916B2. Автор: 慶造 石井. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-06.

Ultrasonic measuring device and ultrasonic measuring method

Номер патента: JP5686030B2. Автор: 博光 水上. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-03-18.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: JP6686557B2. Автор: 雄二 松添,毅 井上,井上　毅,松添　雄二,直己 佐藤,裕丈 久間. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-22.

Step measuring device and step measuring method

Номер патента: JP2004028635A. Автор: Takehiro Kurono,Takahiro Murakoshi,村越　崇宏,黒野　剛弘. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2004-01-29.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: JP4994058B2. Автор: 直樹 高橋,奉之 村田,亨 奥野. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2012-08-08.

Distance measuring device and distance measuring method using it

Номер патента: JP6973821B1. Автор: 貴應 服部,晋吾 山田,窓 長谷川. Владелец: 株式会社エヌエステイー. Дата публикации: 2021-12-01.

Bottle thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP3625443B2. Автор: 育見 森田. Владелец: Nihon Yamamura Glass Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-02.

Thermal output measuring device and its measuring method for hot air generator, and air conditioner

Номер патента: JP2007309628A. Автор: Takashi Nakamura,隆 中邨,Hiromi Komine,裕己 小峯. Владелец: Re Tech KK. Дата публикации: 2007-11-29.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3200261B2. Автор: 潤 長谷川. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-20.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: JP5133108B2. Автор: 弘行 高松,隆 古保里,浩司 井上,吉人 福本. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2013-01-30.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP6079017B2. Автор: 憲介 増田,祐治 山中. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-15.

Power measuring device and power measuring method

Номер патента: JP6656009B2. Автор: 正裕 石原,正明 矢部,矢部　正明. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP6494067B2. Автор: 智浩 青戸. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-03.

Lens-chromatism spectrum measurement device and spectrum measurement method

Номер патента: TWI472725B. Автор: Chung Hsiang Cheng,Ching Hsiu Chen,En Te Hwu. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2015-02-11.

Optical measuring device and orientation measuring method

Номер патента: JP7077199B2. Автор: 洋平 ▲濱▼地,貴之 佐野. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-05-30.

Tension measuring device and tension measuring method using the same

Номер патента: JP3603277B2. Автор: 真一 竹崎,正人 高畑,武久 渡辺,保行 村角,一容 小栗. Владелец: Taisei Corp. Дата публикации: 2004-12-22.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3956890B2. Автор: 国法 中村,一成 吉村,達也 本田. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 2007-08-08.

Sample measuring device and sample measuring method

Номер патента: JP2749912B2. Автор: 良行 東家,勇二 伊藤,厚志 斉藤,達也 川▲崎▼. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1998-05-13.

Electrocardiogram measuring device and electrocardiogram measuring method thereof

Номер патента: CN104000577A. Автор: 王兵,周赛新,梁国泓,王冠男,邹豪,王聘博. Владелец: Shenzhen Yuan Dong Creative Technology Ltd. Дата публикации: 2014-08-27.

Work accuracy measuring device and accuracy measuring method

Номер патента: JP4093111B2. Автор: 直樹 堀. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2008-06-04.

Capacity measuring device and capacity measuring method

Номер патента: JP4664199B2. Автор: 和浩 伴. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2011-04-06.

Linear frequency modulation multi-beam laser heterodyne measures device and the measuring method of Young modulus

Номер патента: CN103940677B. Автор: 高扬,刘明亮,周巍,丁群,杜军,王春晖,马立峰,李彦超,杨九如,冉玲苓,杨瑞海,于伟波. Владелец: Heilongjiang University. Дата публикации: 2016-03-02.

Fish quality measuring device and quality measuring method

Номер патента: JP5595865B2. Автор: 修一 岡部,健司 三田尾,武好 長尾. Владелец: Yamato Scale Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-24.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: JP5289383B2. Автор: 和彦 田原,将人 甘中,英毅 松岡,卓哉 厚見. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2013-09-11.

A kind of novel crude oil crude oil solidifying point measuring device and its measurement method

Номер патента: CN105136841B. Автор: 王宇,时爽,柏明星,刘保君,国丽萍,刘承婷. Владелец: Northeast Petroleum University. Дата публикации: 2018-08-21.

Material measuring device and material measuring method

Номер патента: TWI653434B. Автор: 藍泓運. Владелец: 藍泓運. Дата публикации: 2019-03-11.

Ground displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: JP6418519B2. Автор: 淳也 土田. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-07.

Cylindrical measuring device and cylindrical measuring method using the same

Номер патента: JP4443305B2. Автор: 直哉 鶴巻. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2010-03-31.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: JP2015148498A. Автор: 基広 浅野,Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2015-08-20.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: JP7233508B2. Автор: 真達 下平,毅 山上. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2023-03-06.

Non-coaxial circular grating angle measurement device and angle measurement method

Номер патента: CN106524944A. Автор: 王涛,孙建新,张登鹏,张书贵,贾立平,刘立杰,李红菊,杨嘉亮,韩素超,张俊爽,白景超. Владелец: HEBEI TAIHANG METROLOGY INSPECTION CO Ltd. Дата публикации: 2017-03-22.

Infrared temperature distribution measuring device and its measuring method

Номер патента: JP2756648B2. Автор: 晁 梅干野,豊 笠井,賢 黒川,記生 梅川. Владелец: ENU II SHII MEDEIKARU SHISUTEMUZU KK. Дата публикации: 1998-05-25.

A kind of laser melting coating molten bath defocus measuring device and its measuring method

Номер патента: CN103983203B. Автор: 王涛,孙承峰,石世宏. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-12-15.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP7098971B2. Автор: 清史 松尾. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-07-12.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP7277239B2. Автор: 政徳 丸山. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2023-05-18.

Height measurement device and height measurement method

Номер патента: CN103529650A. Автор: 孙刚,段立峰,李术新. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-22.

Angle measuring device and angle measuring method

Номер патента: JP3681986B2. Автор: 敦 岡村,高志 関口. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2005-08-10.

Spectral measuring device and spectroscopic measuring method

Номер патента: JP6917824B2. Автор: 鈴太郎 高橋. Владелец: Citizen Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Biological measuring device and biological measuring method

Номер патента: JP4630194B2. Автор: 政雄 近江. Владелец: Kanazawa Institute of Technology (KIT). Дата публикации: 2011-02-09.

pH measuring device and pH measuring method

Номер патента: JP4625946B2. Автор: 通宏 中村,聡 毛利,壽一郎 清水,文彦 梶谷. Владелец: 国立大学法人 岡山大学. Дата публикации: 2011-02-02.

Shape measurement device and shape measurement method

Номер патента: JP2014153287A. Автор: Shingo Matsumoto,Shoyo Shu,Koichi Sakaguchi,吉春 森本,元治 藤垣,真吾 松本,Yoshiharu Morimoto,Junji Kashiwagi,淳司 柏木,Motoharu Fujigaki,Joshua Lee,Kiyoshi Minami,潔 南,佳旭 李,暁尭 周,Naoto Miyagawa,直人 宮川,弘一 坂口. Владелец: WAKAYAMA UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-08-25.

Coral measuring device and coral measuring method

Номер патента: CN102379261B. Автор: 黄晖,张成龙,张浴阳,杨剑辉,黄洁英,尤丰. Владелец: South China Sea Institute of Oceanology of CAS. Дата публикации: 2014-12-17.

Insulator fouling measuring device and its measuring method

Номер патента: JP2574031B2. Автор: 裕幸 勝川,克郎 篠田,元三 木村. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1997-01-22.

Ultrasonic measuring device and ultrasonic measuring method

Номер патента: JP2015223321A. Автор: 知典 真野,tomonori Mano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-12-14.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3579524B2. Автор: 勝彦 松下. Владелец: Seiko Precision Inc. Дата публикации: 2004-10-20.

High-precision linear displacement measurement device and adjustment measurement method for executing agency

Номер патента: CN109751949A. Автор: 赖少川,曾维亮,田中山,杨昌群,牛道东,许长华,杨新锋,马锋岗. Владелец: Xian Aerospace Propulsion Institute. Дата публикации: 2019-05-14.

Leakage measuring device and leak measuring method

Номер патента: JP6753723B2. Автор: 剣一 水野,陽一 森屋,昇 本山,本山　昇. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-09.

Impedance measuring device and impedance measuring method

Номер патента: JP6778514B2. Автор: 秀明 田中,北村　直也,直也 北村,田中　秀明. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Angle measurement device and angle measurement method

Номер патента: JP2014010110A. Автор: Kazumi Sagawa,一美 佐川. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-20.

Angle measuring device and angle measuring method

Номер патента: JP3703567B2. Автор: 豊 成瀬,健二郎 山屋,芳明 丸茂. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2005-10-05.

Ultrasonic measurement device and ultrasonic measurement method

Номер патента: JP2023005898A. Автор: Yuji Matsui,Satoshi Kitazawa,祐二 松井,勇人 森,亮介 小林,Ryosuke Kobayashi,聡 北澤,Yuki Oshima,Isato Mori,佑己 大島. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2023-01-18.

A kind of soil around pile Particle Breakage measuring device and its measurement method

Номер патента: CN109706908A. Автор: 邓鑫,丁选明,彭宇,崔春义,邓玮婷,陈信升. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2019-05-03.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP4690183B2. Автор: 正紘 上田,敏秋 松本. Владелец: University of Fukui. Дата публикации: 2011-06-01.

Measuring device and its measuring method for circular dichroism

Номер патента: CN1945281A. Автор: 陶卫东,潘雪丰,白贵儒. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2007-04-11.

Spectral measurement device and spectral measurement method based on elasto-optical effect

Номер патента: CN103759831B. Автор: 杨涛,黄维,仪明东,许超,李兴鳌,何浩培,周馨慧,蔡祥宝. Владелец: Nanjing Post and Telecommunication University. Дата публикации: 2015-06-10.

On-vehicle salinity measuring device and salinity measuring method

Номер патента: JP4691418B2. Автор: 浩次 上田,浩 小野寺,忠一 下村,卓記 野口,忠雄 八木. Владелец: Nagoya Electric Works Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-01.

Gear measuring device and gear measuring method

Номер патента: JP4708575B2. Автор: 進 加藤,誠 浅田. Владелец: Aisin AW Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-22.

Electrochemical measurement device and electrochemical measurement method

Номер патента: JP2022114416A. Автор: 和宏 宮村,Kazuhiro Miyamura. Владелец: Horiba Advanced Techno Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-05.

Radioactivity measuring device and radioactivity measuring method

Номер патента: JP2023048575A. Автор: Satoshi Okada,聡 岡田,Yasushi Nagumo,靖 名雲,有里 吉原,Yuri Yoshihara. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2023-04-07.

Impedance measuring device and impedance measuring method

Номер патента: JP2014098691A. Автор: Yasuyoshi Kamata,康良 鎌田. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP2018205295A. Автор: Nobuyuki Inoue,展幸 井上,都一 田口,Toichi Taguchi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Rotary switch speed measuring device and speed measuring method thereof

Номер патента: CN103163318A. Автор: 徐先锋,贺兵,代先军. Владелец: Chuankai Electric Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-19.

Optical system structure, optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP6821109B2. Автор: 雄司 興,宏晃 吉岡,金市 森田. Владелец: Kyushu University NUC. Дата публикации: 2021-01-27.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP5553202B2. Автор: 史子 酒匂. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-16.

Humidity measurement device and humidity measurement method

Номер патента: JP2023001821A. Автор: 海龍 王,Hai Long Wang. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-01-06.

OTDR measuring device and OTDR measuring method

Номер патента: JP7178643B2. Автор: 正幸 篠原,太一 村上,涼太 高須. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-11-28.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP5147055B2. Автор: 正敏 奥富,雅夫 清水. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2013-02-20.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP5182103B2. Автор: 秀和 西内,トロンナムチャイ クライソン. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.