Sample depth-measuring device and method
Номер патента: US20240331178A1
Опубликовано: 03-10-2024
Автор(ы): Cheng-Kang Lee, Chia-Hung Cho, Yi-sha Ku
Принадлежит: Industrial Technology Research Institute ITRI
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-10-2024
Автор(ы): Cheng-Kang Lee, Chia-Hung Cho, Yi-sha Ku
Принадлежит: Industrial Technology Research Institute ITRI
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Three-dimensional depth measuring device and method
Номер патента: US11846500B2. Автор: Kostiantyn MOROZOV,Oleksandr KLIMENKOV,Dmytro VAVDIIUK,Ivan SAFONOV,Andrii BUT,Andrii SUKHARIEV,Ruslan Iermolenko,Serhii ILIUKHIN,Yaroslav Lavrenyuk. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-19.