Light sources and methods of controlling; devices and methods for use in measurement applications
Номер патента: US20240231243A1
Опубликовано: 11-07-2024
Автор(ы): Hendrik Sabert, Marinus Petrus REIJNDERS, Patrick Sebastian UEBEL
Принадлежит: ASML Netherlands BV
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 11-07-2024
Автор(ы): Hendrik Sabert, Marinus Petrus REIJNDERS, Patrick Sebastian UEBEL
Принадлежит: ASML Netherlands BV
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of inspecting semiconductor light-emitting device and method for manufacturing semiconductor light-emitting device
Номер патента: US9546956B2. Автор: Masatoshi Abe. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2017-01-17.