Methods and systems for sensing deformation
Номер патента: EP4428484A1
Опубликовано: 11-09-2024
Автор(ы): FAN YANG, Houyong WANG, Jun Wang, Wu Chen, Yu Hu
Принадлежит: Honeywell International Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 11-09-2024
Автор(ы): FAN YANG, Houyong WANG, Jun Wang, Wu Chen, Yu Hu
Принадлежит: Honeywell International Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Methods and optical interrogation system for monitoring structural health of a structure
Номер патента: US20150338344A1. Автор: Michael A. Carralero,Ty A. Larsen. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2015-11-26.