Secondary ion mass spectrometer and secondary ion mass spectrometric method
Номер патента: CA2996854C
Опубликовано: 29-11-2022
Автор(ы): Ewald Niehuis, Rudolf Mollers
Принадлежит: ION-TOF TECHNOLOGIES GMBH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-11-2022
Автор(ы): Ewald Niehuis, Rudolf Mollers
Принадлежит: ION-TOF TECHNOLOGIES GMBH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Time-resolved chemical studies via time-of-flight secondary ion mass spectrometry
Номер патента: US20210257205A1. Автор: Yongtao LIU,Matthias Lorenz,Anton V. Ievlev,Olga D. Ovchinnikova. Владелец: UT Battelle LLC. Дата публикации: 2021-08-19.