Method for manufacturing probe and probe card
Номер патента: KR100977207B1
Опубликовано: 20-08-2010
Автор(ы): 한정섭
Принадлежит: 윌테크놀러지(주)
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-08-2010
Автор(ы): 한정섭
Принадлежит: 윌테크놀러지(주)
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe card system, method of manufacturing probe card system, method of using probe card system
Номер патента: US20240027494A1. Автор: Ho-Ming Tong,Chao-Chun Lu. Владелец: Nd Hi Technologies Lab inc. Дата публикации: 2024-01-25.