Micro Display and Test Method thereof
Номер патента: KR102131265B1
Опубликовано: 07-07-2020
Автор(ы): 이재훈
Принадлежит: 주식회사 사피엔반도체
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-07-2020
Автор(ы): 이재훈
Принадлежит: 주식회사 사피엔반도체
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Test circuit and test method for display panels
Номер патента: US20200184866A1. Автор: Yu-Jen Chen. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-11.