Система измерения рефракционного индекса и изменений двупереломления, производимая нелинейным эффектом в оптических материальных микрозонах
Номер патента: RU2012137705A
Опубликовано: 10-03-2014
Автор(ы): Дарюш ЛИТВИН, Тадеуш КРЫЩИНСКИЙ, Томаш КОЗЛЁВСКИЙ, Яцек ГАЛЯС
Принадлежит: Институт Оптики Стосованей
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 10-03-2014
Автор(ы): Дарюш ЛИТВИН, Тадеуш КРЫЩИНСКИЙ, Томаш КОЗЛЁВСКИЙ, Яцек ГАЛЯС
Принадлежит: Институт Оптики Стосованей
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method to Extend Single Wavelength Ellipsometer to Obtain Spectra of Refractive Index
Номер патента: US20140185034A1. Автор: Yu Wang,Mohd Fadzli Anwar Hassan,Brent Boyce,Guowen Ding,Minh Huu Le,Zhi-Wen Wen Sun. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2014-07-03.