System and Method of Measuring Refractive Index of EUV Mask Absorber
Номер патента: US20210382398A1
Опубликовано: 09-12-2021
Автор(ы): Herng Yau Yoong, Huajun Liu, Vibhu Jindal, Wen Xiao
Принадлежит: Applied Materials Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 09-12-2021
Автор(ы): Herng Yau Yoong, Huajun Liu, Vibhu Jindal, Wen Xiao
Принадлежит: Applied Materials Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices
Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.