Mounting for X-ray capillary
Номер патента: US5101422A
Опубликовано: 31-03-1992
Автор(ы): Aaron Lewis, Daniel J. Thiel, Donald H. Bilderback, Edward A. Stern
Принадлежит: Cornell Research Foundation Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 31-03-1992
Автор(ы): Aaron Lewis, Daniel J. Thiel, Donald H. Bilderback, Edward A. Stern
Принадлежит: Cornell Research Foundation Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for X-ray wavelength measurement and X-ray wavelength measurement apparatus
Номер патента: US20080240354A1. Автор: Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-02.