Method of Constructing 3D Image, Image Processor, and Electron Microscope
Номер патента: US20160079031A1
Опубликовано: 17-03-2016
Автор(ы): Aoyama Yoshitaka
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 17-03-2016
Автор(ы): Aoyama Yoshitaka
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
System and method of analyzing a crystal defect
Номер патента: US20200020506A1. Автор: Alexander Schmidt,Shin-Wook Yi,Seon-Young Lee,Sung-Bo Shim,Il-Gyou Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-01-16.