Probe pin and device testing apparatus having the same
Номер патента: KR101799309B1
Опубликовано: 20-12-2017
Автор(ы): 안윤태
Принадлежит: (주) 루켄테크놀러지스, 안윤태
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-12-2017
Автор(ы): 안윤태
Принадлежит: (주) 루켄테크놀러지스, 안윤태
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Align hole having probe pin and probe head assembly therof
Номер патента: KR20140003761A. Автор: 송원호,송지은. Владелец: 송지은. Дата публикации: 2014-01-10.